利用labview测转速

利用labview进行信号的时域分析

信号的时域分析主要是测量测试信号经滤波处理后的特征值，这些特征值以一个数值表示信号的某些时域特征，是对测试信号最简单直观的时域描述。将测试信号采集到计算机后，在测试VI 中进行信号特征值处理，并在测试VI 前面板上直观地表示出信号的特征值，可以给测试VI 的使用者提供一个了解测试信号变化的快速途径。信号的特征值分为幅值特征值、时间特征值和相位特征值。

用于信号时域分析的函数，VIs,Express VIs主要位于函数模板中的Signal Processing子模板中，其中多数对象位于Waveform Measurements子模板，如图所示

LabVIEW8.0中用于信号分析的Waveform Measurements子模板

基本平均值与均方差VI

基本平均值与均方差VI-------Basic Averaged DC—RMS.vi用于测量信号的平均以及均方差。计算方法是在信号上加窗，即将原有信号乘以一个窗函数，窗函数的类型可以选择矩形窗、Haning窗、以及Low side lob窗，然后计算加窗后信号的均值以及均方差值。

演示程序的前面板和后面板如下图所示

Basic Averaged D

利用Labview调用Matlab脚本节点

Matlab脚本节点的介绍

Matlab脚本节点位于函数面板的“数学→脚本与公式→脚本节点→Matlab脚本节点”。由于Matlab脚本节点中的脚本完全是Matlab中的M文件，运行Matla脚本节点时会启动Matlab，并在Matlab中执行脚本内容，其支持的函数由Matlab来提供。

Matlab脚本节点可以通过增加输入输出端子来实现LabVIEW和Matlab脚本节点交互数据。方法为：右击节点边框，选择Add Input或者AddOutput选项；可以手动输入M文件，也可以导入或者导出M文件。方法为：右击节点边框，选择Import或者Export选项。 利用LabVIEW调用Matlab实例

在实例中，我们将完成两个实验：一个简单的加法运算，x，y为输入的两个加数，z为输出的求和值；一个三维曲面的显示，通过改变三维曲面数值，可以展示曲面的不同形状。程序前面板如下图

（1）利用matlab节点实现简单运算

①函数面板的“数学→脚本与公式→脚本节点”，将Matlab脚本节点放置在合适的位置。 ②单击工具选板上的

，在Matlab Script Node中单击即可以编辑M脚本。

③在Matlab S

光电式传感器测转速实验报告 ——传感器与检测技术

班 级： 专 业：测控技术与仪器 学 号： 姓 名：林建宇

1321202 201320120209 1.实验目的：

1）掌握利用光电传感器进行非接触式转速测量的方法； 2）掌握测量和显示电路的设计方法； 3）了解光电式传感器以及示波器的使用方法。

2.实验基本原理：

光电式转速传感器有反射型和透射型二种，本实验装置是透

射型的(光电断续器也称光耦)，传感器端部二内侧分别装有发光管和光电管，发光管发出的光源透过转盘上通孔后由光电管接收转换成电信号，由于转盘上有均匀间隔的6个孔，转动时将获得与转速有关的脉冲数，脉冲经处理由频率表显示ｆ，即可得到转速ｎ=10f。实验原理框图如下图所示。

光耦测转速实验原理框图

3.需用器件与单元：

主机箱中的直流稳压电源、示波器、电压表、频率\\转速表；转动源、光电转速传感器—光电断续器(已装在转动源上)。

4.实验步骤：

（1）、按图1所示接线，并且接上示波器，将直流稳压电源调到10V档。

图1、光电传感器测速实验接线示意图

（2）

大学物理实验用霍尔元件测磁场

深圳大学物理实验中心

今日问题: 今日问题:

实验目的 实验原理 实验仪器 实验内容和步骤 报告要求 阅读材料

1、今天的实验内容是什么？ 今天的实验内容是什么？ 为什么要测V 关系？怎么测？ 2、为什么要测 H—Im 关系？怎么测？ 为什么要测V 关系？怎么测？ 3、为什么要测 H—IS 关系？怎么测？ 4、完成上述实验内容，你需要哪些实验仪器？ 完成上述实验内容，你需要哪些实验仪器？ 5、长直螺线管轴线上的磁场分布有何特点？ 长直螺线管轴线上的磁场分布有何特点？ 怎样测？ 记录哪些数据， 怎样测？需要测量 记录哪些数据，才能测 出磁感应强度的分布？ 出磁感应强度的分布？ 你怎么理解“对称测量法” 6、 你怎么理解“对称测量法”消除负效应

实验目的 实验原理 实验仪器 实验内容和步骤 报告要求 阅读材料

一、实验目的了解产生霍尔效应的物理过程 学习用霍尔元件测量长直螺线管的轴向磁场分布 学习“对称测量法”消除负效应的影响，测量 学习“对称测量法”消除负效应的影响， 试样的VH—IS 和VH—IM曲线 确定试样的导电类型、 确定试样的导电类型、载流子浓度以及迁移率

实验目的 实验原理 实验仪器 实验内容和步骤 报告要求 阅读材

利用天体测罗经差

利用天体测罗经差

一、观测天体求罗经差的原理及注意事项 1．原理

计算公式：?C=AC-CB

CB是天体的罗方位，TB是天体的真方位

2．注意事项（可引起所测天体真方位误差的因素）

一、所用的光学方位仪必须是经过标校好的，否则所测出来的天体的真方位是有误差的；

二、方位分罗经的安装基线必须与舰艏艉线平行，由于甲板变形会引起基线误差，这个误差必然会引起所测天体真方位的误差

三、为求得较准确的罗经差?C，应尽量减小AC 和CB的误差。 （1）应观测低高度天体的罗方位，减小方位误差

① 方位误差：用天体计算方代替天体真方位产生的误差，它的大小主要取决于天体高度。 ② 实际观测中要尽量选择低高度的天体，其高度应低于30?，最好低于15?。

③ 方位误差还与被测天体的方位和赤纬有关，被测天体的方位趋近0?，赤纬趋近90?时，引起的方位误差趋近零。

（2）观测时应尽量保持罗经面的水平，减小倾斜误差

① 倾斜误差：由于罗经面的倾斜而引起观测天体罗方位的误差，与被测天体的高度和倾斜角有关系。 ②为减小倾斜误差，应观测低高度天体的罗方位来测定罗经差，并且在观测时应尽量保持罗经面的水平。

（3）为避免粗差和减小

在LabVIEW中利用LabSQL操作ACCESS数据库

有时候想想，网上关于这方面的资料很多，我就不必再写这方面的东西了，可是又想，我遇到的问题，还是要google，baidu很久，所以，我决定把我遇到的问题整理一下，以供大家参考。

关于LabVIEW，我就不多说了，不知道LabVIEW的人也不会用它来编程，呵呵。 关于ACCESS，可以打电话问微软客服中心。 先说关于LabSQL的废话：

LabSQL 是一个免费的、多数据库、跨平台的LabVIEW 数据库访问工具包。目前的版本是LabSQL Release 1.1，LabSQL 支持Windows 操作系统中任何基于OBDC 的数据库，包括Acess，SQL Server，Orcale，Sybase，MySQL等。LabSQL 是利用Microsoft ADO 以及SQL 语言来完成数据库访问，将复杂的底层ADO 及SQL 操作封装成一系列的LabSQL VIs。利用LabSQL 几乎可以访问任何类型地数据库，执行各种查询，对记录进行各种操作。它的优点是易于理解，操作简单，不熟悉SQL 语言的用户也可以很容易地使用。只需进行简单地编程，就可在LabVIEW 中实现数据库访问。它还有一个最

实验二：变面积式电容传感器

一、 变面积式电容传感器的性能

实验目的：了解变面积式电容传感器的工作原理和工作情况。 所需单元和部件：电容变换器（面板示意图见图1（a））差动放大器，直流稳压电源、电桥、低通滤波器V/F表、测微器。

有关旋钮的初始位置：直流稳压电源置于0V档，差动放大器增益旋钮置于中间，V/F表中V表置于20V。 注意事项：

（1） 电容片的一组动片和两组定片不能相碰。

（2） 如果紧接着作下一个实验并与本实验进行灵敏度比较，就不能改变差动放

大器的增益。

图1

图2

实验步骤：（差动放大器增益调到最大调0，然后将增益打到中间）

（1） 转动测微器，将梁上振动平台中间的磁铁与测微头相吸，使双平行梁处于

（目测）水平位置，这时电容片的一组动片一般处于上下两组定片的中间。

（2） 根据如图2的电路结构，将电容片的动片和（任意）一组定片，与电容变

换器、差动放大器、直流稳压电源、电桥、低通滤波器、电压表连接起来，组成一个测量线路。

（3） 将直流稳压电源置于2V档，调整电桥平衡电位器W1，使电压表指示为零。 （4） 往下旋动测微器，使梁的自由端往下产生位移，从而改变电容片的动片和

定片的相对位置（即改变覆盖面积，示意图见图1（b），每位移0.5mm，记一个电压表数

实验二：变面积式电容传感器

一、 变面积式电容传感器的性能

实验目的：了解变面积式电容传感器的工作原理和工作情况。 所需单元和部件：电容变换器（面板示意图见图1（a））差动放大器，直流稳压电源、电桥、低通滤波器V/F表、测微器。

有关旋钮的初始位置：直流稳压电源置于0V档，差动放大器增益旋钮置于中间，V/F表中V表置于20V。 注意事项：

（1） 电容片的一组动片和两组定片不能相碰。

（2） 如果紧接着作下一个实验并与本实验进行灵敏度比较，就不能改变差动放

大器的增益。

图1

图2

实验步骤：（差动放大器增益调到最大调0，然后将增益打到中间）

（1） 转动测微器，将梁上振动平台中间的磁铁与测微头相吸，使双平行梁处于

（目测）水平位置，这时电容片的一组动片一般处于上下两组定片的中间。

（2） 根据如图2的电路结构，将电容片的动片和（任意）一组定片，与电容变

换器、差动放大器、直流稳压电源、电桥、低通滤波器、电压表连接起来，组成一个测量线路。

（3） 将直流稳压电源置于2V档，调整电桥平衡电位器W1，使电压表指示为零。 （4） 往下旋动测微器，使梁的自由端往下产生位移，从而改变电容片的动片和

定片的相对位置（即改变覆盖面积，示意图见图1（b），每位移0.5mm，记一个电压表数

ARM的等精度测频在机组转速测控中的应用

传统测量方法有2种，一种是测频法(M 法)，是对被测信号在闸门时间(T—Nfo，N 个基准信号脉冲的时间)内的脉冲进行计数(计数值为M)，被测信号的频率为，误差为另一种是测周法(T法)，是在被测信号一个周期内对基准脉冲计数(计数值为N)，被测信号的频率为，误差为。

其中，为基准信号频率准确度，通常可达；对于测频法，在相同的闸门时间内，对于任意的f不能保证在T时间内正好有M 个T ，因此会产生最大±1个T 的量化误差，并且随着被测频率f 减小，M 减小，误差越大，因此，测频法只对高频信号有较好的测量精度；对于测周法，随着被测频率．f 增大，N 越小，误差越大，因此测周法只对低频信号有较好的测量精度。在测量范围比较宽时，采用上述2种方法相结合的方式，无疑对提高测量精度是有效的，但又存在着如下问题：一是整个频段测量精度不一致；二是中界频率附近频繁切换测量方法，误差大，实时性差。

2 等精度测量方法的原理及误差分析

等精度测频法是在传统测频方法基础上发展起来的测频方法，并且在各个领域的测频中得到了越来越多的应用。

等精度测频法原理。

设置2个计数器，计数器1对被测信号进行计数，计数器2对基准信号

利用牛顿环测液体折射率

摘要：液体折射率的测量在工农业中十分重要，本文阐述了牛顿环测液体折射率的实验原理，通过比较空气与水中牛顿环半径，求出液体折射率。本文采用逐差法处理数据，测量过程简单，结果较为准确

关键词：牛顿环 液体折射率 逐差法

牛顿环是一种典型的等厚薄膜干涉现象，能充分显示光的波动性。本文通过研究对比空气和水在牛顿环里发生的干涉现象，更新了液体折射率的测试方法，使牛顿环的应用更加丰富，开拓了物理实验的新视野。

一，当牛顿环薄膜为一般介质的讨论

如图所示，设距接触点为ｒ处薄膜厚度为ｄ，设薄膜折射率为Ｎ．一束单色光垂直投射上去，入射光在薄膜上下表面反射并与上表面发生干涉，两束光光程差为：

?=2dn??2------------------------------------------(1)

在反射光中形成一系列以接触点Ｏ为中心的明暗相间的同心圆圈（如图ｂ所示）叫牛顿圈。 其中

?项是膜层下表面光由光疏介质到光密介质交界面反射时所引起的半波损失。 2满足明、暗圈的干涉条件分别是： ??2dN?K=1,2,3……

??2dN?22?2?k?―