微型计算机的性能指标

仪器的性能指标

简单介绍

1. 仪器的波长范围 2. 光谱的分辨率

光谱仪器的分辨率由分光系统决定，对多通道检测器的仪器，还跟仪器的像素有关。分光系统的光谱带宽越窄，其分辨率越高。 3. 波长准确性

光谱仪器波长准确性是指仪器测定标准物质某一谱峰的波长跟该谱峰的标定波长之差。

为了保证仪器间校正模型的有效传递，波长的准确性在短波近红外范围要求好于0.5nm，长波近红外范围好于1.5nm。 4. 波长重现性

波长的重现性指对样品进行多次扫描，谱峰位置间的差异，通常用多次测量某一谱峰位置所得波长或波数的标准偏差表示.波长重现性是体现仪器稳定性的一个重要指标，对校正模型的建立和模型的传递均有较大的影响，同样也会影响最终分析结果的准确性。一般仪器波长的重现性应好于0.1nm。 5. 吸光度准确性

吸光度准确性是指仪器对某标准物质进行透射或漫反射测量，测量的吸光度值与该物质标定值之差。对那些直接用吸光度值进行定量的近红外方法，吸光度的准确性直接影响测定结果的准确性。 6. 吸光度重现性

吸光度重现性指在同一背景下对同一样品进行多次扫描，各扫描点下不同次测量吸光度之间的差异。通常用多次测量某一谱峰位置所得吸光度的标准偏差表示。吸光

仪器的性能指标

简单介绍

1. 仪器的波长范围 2. 光谱的分辨率

光谱仪器的分辨率由分光系统决定，对多通道检测器的仪器，还跟仪器的像素有关。分光系统的光谱带宽越窄，其分辨率越高。 3. 波长准确性

光谱仪器波长准确性是指仪器测定标准物质某一谱峰的波长跟该谱峰的标定波长之差。

为了保证仪器间校正模型的有效传递，波长的准确性在短波近红外范围要求好于0.5nm，长波近红外范围好于1.5nm。 4. 波长重现性

波长的重现性指对样品进行多次扫描，谱峰位置间的差异，通常用多次测量某一谱峰位置所得波长或波数的标准偏差表示.波长重现性是体现仪器稳定性的一个重要指标，对校正模型的建立和模型的传递均有较大的影响，同样也会影响最终分析结果的准确性。一般仪器波长的重现性应好于0.1nm。 5. 吸光度准确性

吸光度准确性是指仪器对某标准物质进行透射或漫反射测量，测量的吸光度值与该物质标定值之差。对那些直接用吸光度值进行定量的近红外方法，吸光度的准确性直接影响测定结果的准确性。 6. 吸光度重现性

吸光度重现性指在同一背景下对同一样品进行多次扫描，各扫描点下不同次测量吸光度之间的差异。通常用多次测量某一谱峰位置所得吸光度的标准偏差表示。吸光

特 性 规 格

亚克力的物理特性表

亚克力物性特质与其它原料比较

亚克力耐化学药品性 板材规格

亚克力厚度公差表 磨砂板规格

亚克力的物理特性表

Average Physical Properties 物性 property ASTM Unit Value 光学 Optical 透光率 Light Transmittance 屈折率 Refractive index D1003-61 D542-50 % D542-50 93 1.49 热 Thermal 热形成温度 Hot Forming Temp 热变形温度 Heat Distortion Temp 线膨胀系数 Coefficient Of Liner Thermal Expansion 比热 Specific Heat - - D696-44 - ℃ ℃ Cm/cm℃ Cal/gr℃ 140-180 87 6×10 0.35 -5 机械 Mechanical 比重 Specific Gravity 引张强度 Tensile Strength Rupture

1、支持CPU的类型与频率范围。CPU插座类型的不同是区分主板类型的主要标志之一，CPU只有在相应主板的支持下才能达到其额定频率。

2、对内存的支持。内存插槽的类型表现了主板所支持的也即决定了所能采用的内存类型，插槽的线数与内存条的引脚数一一对应。内存插柄一般有2-4插槽，表现了其不同程度的扩展性。

3、对显示卡的支持。主板上的AGP插槽是应用于显示卡的专用插槽。

4、对硬盘与光驱的支持。主板上的IDE接口是用于连接IDE硬盘和IDE光驱的，IDE接口为40针和80针双排插座，主板上都至少有两个IDE设备接口，分别标注IDE1或者说primary IDEt和IDE2或者 secomdary IDE。

5、扩展性能与外围接口。除了AGP插槽和DIMM插槽外，主板上还有PCI，AMR，CNR，ISA等扩展槽标志了主板的扩展性能。

PCI是目前用于设备扩展的主要接口标准，声卡、网卡、内置MODEM等设备主要都接在PCI插槽上，主板上一般设有2-5条PCI插槽不等，且采用MircoATX板型的主板上的扩展槽一般少于标准ATX板上扩展的数量。

6、BIOS技术。BIOS是集成在主板CMOS芯片中的软件，主板上的这块CMOS芯片保存有计算机机系统最重要的基本输入输出

原材带肋

直径 面积 理论重量 屈服强度 抗拉强度 6 28.28 0.222 11.3 15.3 8 50.27 0.395 16.23 22.83 10 78.54 0.617 34.78 45.56 50 12 113.1 0.888 50.12 65.46 60 HRB400 14 153.9 1.21 68.94 87.69 70 16 201.1 1.58 84.86 110.64 80 18 254.5 2 113.54 150.26 90 20 314.2 2.47 144.82 191.23 100 22 380.1 2.98 183.44 220.71 110 25 490.9 3.85 240.63 305.12 125 原材光圆 直径 面积 理论重量 屈服强度 抗拉强度 伸长率 HPB300 6.5 33.18 0.26 12.53 15.01 32.5 8 28.28 0.395 17.23 23.16 40 10 78.54 0.617 29.65 37.12 50 焊接 抗拉强度 焊接 抗拉强度 12 65 12 55 14 87 14 71 16 116 16 93 18 150 18 125 HRB400 HR

1. 微型计算机系统由 微型计算机 ； I/O设备 ；和 系统软件和应用软件 等组成。 2. 8086CPU中的指令队列可存储 6 个字节的指令代码，当指令队列至

少空出 2 个字节时，BIU单元便自动将指令取到指令队列中；8088CPU中的指令队列可存储 4 个字节的指令代码，当指令队列空出 1 个字节时，BIU单元便自动将指令取到指令队列中。 3. 8086系统中，1MB的存储空间分成两个存储体： 偶地址 存储体

和 奇地址 存储体，各为 512K 字节。

4. 设DS=1000H，ES=2000H，SS=3000H，SI=0010H，DI=0050H，BX=0100H，BP=0200H，数据段中变量名为VAL的偏移地址值为0030H，写出下列指令源操作数字段的寻址方式和物理地址值： MOV AX，VAL 寻址方式 直接寻址方式 ，物理地址 10030H 。 MOV AX，ES:[BX]寻址方式 寄存器间接寻址 ，物理地址 20100H 。 MOV AX，VAL[BP][SI] 寻址方式 相对基址变址寻址 ，物理地址 30240H 。

5. 用2K×8

电池产品外观检验标准 Q/HST 0009—2006

The inspection specification of battery product’s appearance 1 范围

本标准规定了电池外观工艺要求及检验方法，适用于公司来料、半成品、成品外观的检查。 2 引用标准

GB2828-87逐批检查计数抽样程序及抽样表（适用于连续批的检查）。 3 定义 3.1 产品方位：

3.1.1 A面：指产品正面（即在使用过程中能直接看到的表面）；

3.1.2 B面：指产品的四个侧面，不在直视范围，需将物品偏转45o～90o才能看到的部分；

3.1.3 C面：指产品底面，需将物品偏转90o～180o才能看到的部分； 3.1.4 五金：指输出及产品表面外露部分五金（金属触片）；

（说明：A面与C面是相对而言的，有时可互换，须根据产品结构特点而定。） 3.2 缺陷描述：

3.2.1 色点：含色斑、砂眼、尘点等点状样覆于产品外表之品质不良缺陷； 3.2.2 细碎划痕：没有深度的划痕；

3.2.3 刮花（划痕）：硬摩擦造成有深度或浅度的划痕； 3.2.4 批锋：由于注塑等原因造成塑胶件边缘突起； 3.2.5 缩水：由于注塑或产

机组能力因子

目的

机组能力因子用于监视电站获得高发电可靠性的进展。此指标可以反映出电站追求最大发电能力的各种程序以及实践的有效性，并可显示出电站中运行和维修的整体成效。 定义

? 机组能力因子：某段时间内可发电量占参考发电量之比率，以百分比表示，这两项发电量均参照基准环境条件来计算。

? 可发电量：是在基准环境条件下及电厂所能控制的范围内（即电厂设备、人员及作业管制）所能够产生的发电量。

? 参考发电量：是在基准环境条件下机组满功率连续运行所能够产生的发电量。 ? 基准环境条件：以该机组环境条件的年平均值为代表。 需采集的数据

计算机组能力因子需要下列数据： ? 参考发电量，以MWe-hr为单位。

? 计划性电能损失：在该段期间内，在电厂所能控制的情况下发生的计划性停机或降负荷而造成的发电量损失。只有在停机或降负荷的四周前已预先安排好的停机或降负荷才可算是计划性的发电损失。计划性发电损失以MWe-hr为单位。 ? 非计划性发电损失：在电厂所能控制的情况下发生的非计划性停机、停机延期或降负荷运行造成的发电量损失；非计划性指不是在四周前预先计划或安排好的。非计划性发电损失以MWe-hr来表示。

指标计算

? 对某一时期内的机组能力因子（UCF）

机组能力因子

目的

机组能力因子用于监视电站获得高发电可靠性的进展。此指标可以反映出电站追求最大发电能力的各种程序以及实践的有效性，并可显示出电站中运行和维修的整体成效。 定义

? 机组能力因子：某段时间内可发电量占参考发电量之比率，以百分比表示，这两项发电量均参照基准环境条件来计算。

? 可发电量：是在基准环境条件下及电厂所能控制的范围内（即电厂设备、人员及作业管制）所能够产生的发电量。

? 参考发电量：是在基准环境条件下机组满功率连续运行所能够产生的发电量。 ? 基准环境条件：以该机组环境条件的年平均值为代表。 需采集的数据

计算机组能力因子需要下列数据： ? 参考发电量，以MWe-hr为单位。

? 计划性电能损失：在该段期间内，在电厂所能控制的情况下发生的计划性停机或降负荷而造成的发电量损失。只有在停机或降负荷的四周前已预先安排好的停机或降负荷才可算是计划性的发电损失。计划性发电损失以MWe-hr为单位。 ? 非计划性发电损失：在电厂所能控制的情况下发生的非计划性停机、停机延期或降负荷运行造成的发电量损失；非计划性指不是在四周前预先计划或安排好的。非计划性发电损失以MWe-hr来表示。

指标计算

? 对某一时期内的机组能力因子（UCF）

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第一章|第二章|第三章|第四章|第五章|第六章|第七章|第八章|第九章|第十章|第十一章 首页 > 课程课件 第一讲： 第一章 微型计算机概述 回 顾：计算机系统的基础知识，包括计算机系统的组成(包括硬件与软件)、及其功能实质。 本讲重点：微处理器及微机系统的发展历程，微机系统与一般意义上的计算机 系统的联系与差别，强调微型计算机系统是具有独特结构的计算机系统，由此决定功能及其特点。 讲授内容： 1.1 微机发展概述 计算机系统是能够自动地、快速地、准确地进行信息处理的电子工具，其工作过程态的快速变化。 1946年，世界上出现了第一台由电子管构成的，能够按照人们事先的安排，快速ENIAC电子计算机以来，计算机及其相关技术经历了一个快速发展的过程。 一般来说，电子计算机发展历程的各个阶段，是以所采用的电子器件的不同来划分管、中小规模集成电路和大规模及超大规模集成电路计算机。 微型计算机属于第四代电子计算机产品，即大规模及超大规模集成电路计算机，是展，芯片集成度不断提高的产物。 我们知道，主机按体积、性能和价格分为巨型机、大型机、中型机、小型机和微型理上来讲，微型机与其它几类计算机并没有本质上的差别。所不