x射线荧光光谱仪的原理
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Magix X射线荧光光谱仪分析方法的制定步骤
MagiX X射线荧光光谱仪分析方法的制定步骤
1. 进入XRF-SYSTEM SET UP界面
2. 鼠标点《分析程序》《APPLICATION》
《新建分析程序》《NEW APPLICATION》 《输入分析方法名称》
( 如rock)
《道组》
《输入所用道组名,如SUPERQ》 执行《OK》
3. 进入如下界面,并按如下顺序设置:
图1. 分析方法设置顺序图
General (总设置) identification schems(编号方案) conditions(条件) Sample description(样品描述) preference(优先)
Magix X射线荧光光谱仪分析方法的制定步骤
MagiX X射线荧光光谱仪分析方法的制定步骤
1. 进入XRF-SYSTEM SET UP界面
2. 鼠标点《分析程序》《APPLICATION》
《新建分析程序》《NEW APPLICATION》 《输入分析方法名称》
( 如rock)
《道组》
《输入所用道组名,如SUPERQ》 执行《OK》
3. 进入如下界面,并按如下顺序设置:
图1. 分析方法设置顺序图
General (总设置) identification schems(编号方案) conditions(条件) Sample description(样品描述) preference(优先)
便携式X射线荧光光谱仪应用条件试验及效果
利用IED2000P型便携式X射线荧光光谱仪,选择安徽绩溪荆州银多金属矿矿区进行找矿条件试验。试验中分别就不同测点密度、基岩与土壤测量、不同湿度条件、基岩与岩石粉末样测量进行了对比研究,确定了最佳的应用条件。X荧光光谱测量法与化探原生晕取样分析对比研究和相关分析表明,应用X荧光光谱法进行找矿研究不失为一种方便快捷和行之有效的找矿方法。
第34卷第4期 2010年8月
物 探 与 化 探
GEOPHYSICAL&GEOCHEMICALEXPLORATION
Vo.l34,No.4 Aug.,2010
便携式X射线荧光光谱仪应用条件试验及效果
钱建平,吴高海,陈宏毅
(桂林理工大学地球科学学院,广西桂林 541004)
摘要:利用IED2000P型便携式X射线荧光光谱仪,选择安徽绩溪荆州银多金属矿矿区进行找矿条件试验。试验中分别就不同测点密度、基岩与土壤测量、不同湿度条件、基岩与岩石粉末样测量进行了对比研究,确定了最佳的应用条件。即:确定测点密度应综合考虑异常体规模和实际工作量因素;基岩X荧光光谱测量较之土壤测量更能客观地反映地质体的异常特征;湿度因素不会影响异常的存在,但会降低异常的强度;岩石粉末样X荧光光谱测量较之岩石样测量值更
X射线荧光光谱分析基本原理
X射线荧光光谱分析
X射线是一种电磁辐射,其波长介于紫外线和γ射线之间。它的波长没有一个严格的界限,一般来说是指波长为0.001-50nm的电磁辐射。对分析化学家来说,最感兴趣的波段是0.01-24nm,0.01nm左右是超铀元素的K系谱线,24nm则是最轻元素Li的K系谱线。1923年赫维西(Hevesy, G. Von)提出了应用X射线荧光光谱进行定量分析,但由于受到当时探测技术水平的限制,该法并未得到实际应用,直到20世纪40年代后期,随着X射线管、分光技术和半导体探测器技术的改进,X荧光分析才开始进入蓬勃发展的时期,成为一种极为重要的分析手段。
1.1 X射线荧光光谱分析的基本原理
当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时,驱逐一个内层电子而出现一个空穴,使整个原子体系处于不稳定的激发态,激发态原子寿命约为10-12-10-14s,然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。这个过程称为驰豫过程。驰豫过程既可以是非辐射跃迁,也可以是辐射跃迁。当较外层的电子跃迁到空穴时,所释放的能量随即在原子内部被吸收而逐出较外层的另一个次级光电子,此称为俄歇效应,亦称次级光电效应或无辐射效应,所逐出的次级光电子称为俄歇电子。它的能量是
X射线荧光光谱分析铁合金的试样制备方法
X射线荧光光谱分析铁合金的试样制备方法 德国利恒公司上海代表处 邮编 200070
炼钢工艺过程中在熔融状态下需要添加多种元素生成合金。最常见的合金有铬铁、锰铁、硅铁、钒铁、钼铁、钨铁、镍铁、磷铁、钛铁、硼铁等铁合金。精确测定铁合金中的化学成分有两个目的,一是研究特殊组分的成本问题,二是研究炼钢工艺中特定成分的比例允许偏差,及其对合金性质的影响。由于铁合金的物理状态不适合于直接分析,必须预先进行处理。这一步骤称为样品制备,是所有分析方法中最关键的一个步骤。通常,样品制备有三种方法,第一是将合金与纯铁粉混合后置于感应炉中重熔,第二研磨破碎得到一定尺寸的颗粒粉末压片,第三预氧化熔融制成玻璃状氧化物。标样与试样的制备方法相同,可选择不同稀释比和成分的铁合金样品进行制备。
1 样品制备方法 1.1 感应重熔法
使用本方法的代表为德国利恒公司生产的Lifumat系列制样设备。基本步骤是先将铁合金与纯铁粉放在耐高温的陶瓷或石墨坩埚中预混合,在真空或保护气氛下感应加热熔化后通过离心浇铸到模具中制样。浇铸模具的材料为铜或石墨。制备出的样品成蘑菇状,在砂带上打磨后就可以直接进行光谱分析。 铁合金重熔制样参数包括合金熔点、重熔时间、浇铸温度、最佳混合比和
X射线荧光光谱分析基本原理及仪器工作原理解析
Skyray Instrument Inc.
X射线荧光光谱分析基本原理
当能量高于原子内层电子电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时,驱逐一个内层电子而出现一个空穴,使整个原子体系处于不稳定的激发态,然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。当较外层的电子跃迁到空穴时,所释放的能量随即在原子内部被吸收而逐出较外层的另一个次级光电子,此称为俄歇效应,亦称次级光电效应或无辐射效应,所逐出的次级光电子成为俄歇电子.它的能量是具有独一特征的,与入射辐射的能量无关.当较外层的电子跃入内层空穴所释放的能量不在原子内被吸收,而是以辐射形式放出,便产生X射线荧光,其能量等于两能级之间的能量差,因此,X射线荧光的能量或波长是特征性的,与元素有一一对应的关系。如图所示:
K层电子被逐出后,其空穴可以被外层中任一电子所填充,从而可产生一系列的谱线,称为K系谱线:由L层跃迁到K层辐射的X射线叫Kα射线,由M层跃迁到K层辐射的X射线叫Kβ射线……。同样,L层电子被逐出可以产生L系辐射(见图10.2)。如果入射的X射线使某元素的K层电子激发成光电子后L层电子跃迁到K层,此时就有能量ΔE释放出来,且ΔE=EK-EL,这个能量是以X射线形式释放,产生的就是Kα射线,同样
能量色散X射线荧光光谱分析及其应用
1.前言
欧盟《关于在电子电器设备中限制使用某些有害物质指令》(简称RoHS指令)将于2006年7月1日执行,主要针对限制包括铅、汞、镉
在内的6种有害物质的使用。目前,产品或配件中所限制的有害物质进RoHS指令中的六种有毒有害物质存在于产业链的所有环节,企业必须在产品供应链的上游、下游工序里剔除相关的物质,这就意味着要对
行精准测量。
常用的检测方法有很多,如能量色散X射线荧光分析法(EDXRF)、分光光度法(Spectrophotometry)、
表3-2 管脚分配寄存PAR各比特位和字段值
自动生成的值。在调试版本中,用户可以在.CFG文件中修改,也可以在程序中重新赋值。在自启动版本中,所有需要配置的寄存器都在Sysinit.c文件中列举出来。用户通过选择不同的target来切换调试版本和自启动版本,在两个工程下,编译链接的文件系统也不一样,可以在Link页中查看每个文件。
完成以上工作,就可以下载运行,跟踪调试了。通过编程器写入FLASH,取掉调试电缆,自启动版本也可以运行。
注3:在调试版本必须将这一位设为1。在PST[3:1]脚上指示MCF5206e处理器状态,反馈给IDE集成开发环境。在自启动版本需要将其设为0。
注4:在调试版本必须将这一位设为
分光光度计及原子吸光光谱仪原理简介
化学科普
分光光度計及原子吸光光譜儀原理簡介
UV/VIS Spectrophotometer & Atomic Absorption Spectrophotometer
分光光度計及原子吸光光譜儀之化學分析,皆是利用紫外/ 可見光譜學特性 (詳見紫外/ 可見光譜學之基本概念) ,兩種儀器在電路系統上非常相似,所差別僅在於發射部份之光源體,以及吸收光譜的待測物體處在不同之狀態。
一、分光光度計 (簡稱UV)
一般而言,分光光度計多用於分析水中之非金屬分子或離子化合物,早期僅利用到可見光譜,在於補足肉眼比色之精度不足問題,後來才發展到利用紫外光譜區,近年分析理論愈加完備,更延伸到生化領域,針對化合物中某些特殊吸光之官能基,而分析一些外觀不具明顯顏色之目標物。
分光光度計之原理,乃是利用可見光及紫外光之燈管 (Lamp) 做為光源,通過濾光鏡調整色調後,經聚焦後通過單色光分光稜鏡,再經過狹縫選擇波長,使成單一且特定波長之光線,而後射入樣品管中之水樣中,最後射入光電管中將光能轉換為電器訊號,藉由樣本及空白水樣間所吸收之光能量差,與標準液之能量吸收值相比較,便可律定樣本中之待測物濃度。典型之分光光度計設計概圖如下:
典型之分光光度計設計概圖
化学科普
本實驗室
直读光谱仪原理讲义
直读光谱仪原理讲义
文章来源:沈阳国缇经贸有限公司 访问商铺 添加人:lvyejiance 添加时间:2011-2-16
第一章 直读光谱仪的概况
国内外光电直读光谱仪的发展
光谱起源于17世纪,1666年物理学家牛顿第一次进行了光的色散实验。他在暗室中引入一束太阳光,让它通过棱镜,在棱镜后面的自屏上,看到了红、橙、黄、绿、兰、靛、紫七种颜色的光分散在不同位置上——即形成一道彩虹。这种现象叫作光谱.这个实验就是光谱的起源,自牛顿以后,一直没有引起人们的注意。到1802年英国化学家沃拉斯顿发现太阳光谱不是一道完美无缺的彩虹,而是被一些黑线所割裂。
1814年德国光学仪器专家夫琅和费研究太阳光谱中的黑斑的相对位置时.把那些主要黑线绘出光谱图。
1826年泰尔博特研究钠盐、钾盐在酒精灯上光谱时指出,发射光谱是化学分析的基础、钾盐的红色光谱和钠盐的黄色光谱都是这个元素的特性。
到1859年克希霍夫和本生为了研究金属的光谱自己设计和制造了一种完善的分光装置,这个装置就是世界上第一台实用的光谱仪器,研究火焰、电火花中各种金属的谱线,从而建立了光谱分析的
荧光光谱仪-苏州大学纳米材料与技术试验教学中心
拟购置仪器设备名称: HORIBA Fluoromax-4荧光光谱仪 申请购置单位: 购置负责人:
材料与化学化工学部
填表时间: 年 月 日
填表说明
1、本表适用于申请购置单价10万元人民币及以上、批量总价20万元人民币及以上仪器设备的可行性论证使用。
2、本表第一项至第五项的内容由仪器设备购置申请人、负责人按表中各栏目要求认真填写。具体内容真实、详尽。其余内容由购置单位或学校有关部门填写。
3、购置单价40万元人民币及以上仪器设备的专家论证工作由学校组织,其他可由申请购置单位组织专家论证工作(专家组由五名及以上具备高级专业技术职务的人员组成)。
4、购置单价40万元人民币及以上仪器设备由校长审批生效,其他由分管校领导审批生效。
5、本表一式一份,一律为A4大小,双面打印,左侧装订。用钢笔、签字笔填写,或用计算机打印。
一、基本信息
仪器设备名称 购置单位 申请人 手机号码 预估单价 (人民币) 经费来源 经费卡号 负责人 拟列支金额 联系电话 40万 HORIBA Fluoromax-4荧光光谱仪 材料与化学化工学部 数量 办公电话 电子邮件 1 预估总价 (人民币) 40万 二、主要技术性能指标和配置要求