TTL集成逻辑门的逻辑功能测试

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二TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试

标签:文库时间:2024-10-04
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实验二 TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试

一、实验目的

1.掌握TTL与非门逻辑功能的测试方法; 2.熟悉TTL与非门主要参数的测量方法;

3.熟悉TH-SZ型数字电路实验箱的结构和使用方法;

二、预习要求

1.什么叫TTL集成电路?它使用的电源电压是多少? 2.说明TTL与非门不使用的输入端应如何处置?

3.复习TTL与非门的逻辑功能,主要参数的概念和测量方法;

4.TTL与非门的输出特性曲线?从中读取相关的参数值;

三、实验原理

1.与非门的逻辑功能

当输入端中有一个或一个以上是低电平时,输出端为高电平;只有当输入端全部为高电平时,输出端才是低电平。即有“0”得“1”,全“1得“0”.其逻辑表达式为Y=AB?.

2.本实验采用4输入双与非门74LS20,即在一块集成块内含有两个互相独立的与非门,每个与非门有4个输入端。其逻辑符号及引脚排列如图2-1 (a) (b)所示:

Y=ABCD 1 2 3 4 5 6 7 (a)国家标准逻辑符号 (b) 74LS20引脚排列

实验1-TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试

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实验1 TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试

一、实验目的

1、掌握TTL集成与非门的逻辑功能和主要参数的测试方法 2、掌握TTL器件的使用规则

3、进一步熟悉数字电路实验装置的结构,基本功能和使用方法

二、实验原理

本实验采用四输入双与非门74LS20,即在一块集成块内含有两个互相独立的与非门,每个与非门有四个输入端。其逻辑框图、符号及引脚排列如图5-2-1(a)、(b)、(c)所示。 (b) (a) (c)

图5-2-1 74LS20逻辑框图、逻辑符号及引脚排列

1、与非门的逻辑功能

与非门的逻辑功能是:当输入端中有一个或一个以上是低电平时,输出端为高电平;只有当输入端全部为高电平时,输出端才是低电平(即有“0”得“1”,全“1”得“0”。)

其逻辑表达式为 Y= 2、TTL与非门的主要参数

(1)低电平输出电源电流ICCL和高电平输出电源电流ICCH

实验10TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试0

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TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试

一.实验目的

1.掌握TTL集成与非门的逻辑功能,外特性和主要参数的测试方法。 2.掌握TTL器件的使用规则。

3.进一步熟悉数字电路实验装置的结构,基本功能和使用方法。

二.实验原理

本实验采用四输入双非门74LS20,即在一块集成块内含有两个独立的与非门,每个与非门又是个输入端。其图如下

9101213U1:B&74LS2081245U2:A1245U1:A&74LS206&74LS206 74LS20 逻辑框图、逻辑符号、及引脚排列

1.与非门的逻辑功能

与非门的逻辑功能:当输入端中有一个或一个以上是低电平时,输出端为高电平;只有当输入端全部为高电平时,输出端才是低电平。其逻辑表达式:Y=AB 2.TTL与非门的主要参数

(1)低电平输出电源电流ICCL和高电平输出电源电流ICCH

与非门处于不同的工作状态,电源提供的电流是不同的。ICCL是指所有输入悬空,输出端空载时,电源提供器件的电流。ICCH是指输出端空载,每个门各有一个以上的输入端接地,其余输入端悬空,电源

提供器件的电流。通常ICCL>ICCH,它们的大小标志着器件

实验1 TTL门电路逻辑功能测试

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实验1 TTL门电路逻辑功能测试

一. 实验目的

1. 掌握常用TTL集成逻辑门的逻辑功能及其测试方法; 2. 熟悉数字电路实验箱的使用方法。 二. 实验原理

1.门电路是最基本的逻辑元件,它能实现最基本的逻辑功能,即其输入与输出之间存在一定的逻辑关系。本实验中使用的TTL集成门电路是双列直插型的集成电路,TTL集成门电路的工作电压为“5V±10%”。 2.集成电路外引线的识别

使用集成电路前,必须认真查对识别集成电路的引脚,确认电源、地、输入、输出、控制等端的引脚号,以免因接错而损坏器件。引脚排列的一般规律为:

扁平和双列直插型集成电路:识别时,将文字,符号标记正放(一般集成电路上有一圆点或有一缺口,将圆点或缺口置于左方),由顶部俯视,从左下脚起,按逆时针方向数,依次1.2.3……。扁平型多用于数字集成电路。双列直插型广泛用于模拟和数字集成电路。

图 1 集成电路外引线的识别 名 称 数字电路实验箱 双踪示波器 万用表 数字信号发生器 集成芯片 型号与规格 74LS00 数 量 1台 1台 1台 1台 2片 二输入端四与非门 备 注 三. 实验设备与器件 序号 1 2 3 4 5 四. 实验内容与步骤

实验1 TTL门电路逻辑功能测试

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实验1 TTL门电路逻辑功能测试

一. 实验目的

1. 掌握常用TTL集成逻辑门的逻辑功能及其测试方法; 2. 熟悉数字电路实验箱的使用方法。 二. 实验原理

1.门电路是最基本的逻辑元件,它能实现最基本的逻辑功能,即其输入与输出之间存在一定的逻辑关系。本实验中使用的TTL集成门电路是双列直插型的集成电路,TTL集成门电路的工作电压为“5V±10%”。 2.集成电路外引线的识别

使用集成电路前,必须认真查对识别集成电路的引脚,确认电源、地、输入、输出、控制等端的引脚号,以免因接错而损坏器件。引脚排列的一般规律为:

扁平和双列直插型集成电路:识别时,将文字,符号标记正放(一般集成电路上有一圆点或有一缺口,将圆点或缺口置于左方),由顶部俯视,从左下脚起,按逆时针方向数,依次1.2.3……。扁平型多用于数字集成电路。双列直插型广泛用于模拟和数字集成电路。

图 1 集成电路外引线的识别 名 称 数字电路实验箱 双踪示波器 万用表 数字信号发生器 集成芯片 型号与规格 74LS00 数 量 1台 1台 1台 1台 2片 二输入端四与非门 备 注 三. 实验设备与器件 序号 1 2 3 4 5 四. 实验内容与步骤

实验一_TTL集成逻辑与非门参数的测试

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实验九 TTL集成逻辑与非门 参数的测试实验 实验目的实验原理 实验参考电路

实验注意事项TTL使用注意事项 实验设备与器材

实验预习要求实验内容和步骤

实验思考题实验报告要求

一 实验目的了解TTL与非门各参数的意义。掌握TTL集成与非门主要参数的测试 方法。 掌握TTL器件的使用规则。

二 实验原理随着现代电子技术的飞速发展,集成电路具 有体积小、重量轻、可靠性高、寿命长、功 耗小、成本低和工作速度快等优点,因此它 在数字电路领域中,几乎取代所有分立元件 电路。集成逻辑门是构成各种数字电路的基 本逻辑单元,而TTL与非门是目前使用较普 遍的一种基本逻辑门电路。与非门主要参数 的测量是选择器件与设计逻辑电路时必须掌 握的。

本实验采用74系列双列直插式四-2输 入TTL与非门74LS00集成芯片进行参数测 试,其外形引脚排列及逻辑符号如图2-1-1 所示。

图2-1-1 74LS00外形引脚排列和TTL与非门逻辑符号

(1)平均功耗P TTL与非门工作于开态(输出低电平)和关态(输出高电平)时,电 源电流值是不同的。电路处于稳定开态时的空载功耗称为空载导通功耗 PL: PL =IEL ×VCC 式中,IEL —— 空载导通电源电流; VCC ——

实验一 基本逻辑门逻辑功能测试及应用

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实验一 基本逻辑门逻辑功能测试及应用

一、 实验目的

1. 掌握TTL集成逻辑门的逻辑功能及其测试方法。 2. 掌握TTL器件的使用规则。

3. 熟悉数字电路实验仪的结构、基本功能和使用方法。

4. 练习熟练使用DS1052E型数字示波器。

二、 实验原理

门电路是构成各种复杂数字电路的基本逻辑单元,掌握各种门电路的逻辑功能和电器特性,对于正确使用数字集成电路是十分必要的。目前应用最广泛的集成电路是TTL和CMOS。

TTL集成逻辑门电路根据其型号的不同,有不同的内部结构和引脚,在本实验中我们只选取了常用的与非门、与或非门来进行测试。与非门是门电路中应用较多的一种,与非门的逻辑功能为,当输入端中有一个或一个以上是低电平时,输出为高电平;只有当输入全部为高电平时,输出才为低电平。而与或非门的逻辑功能为,当同一个与门端组的输入端全部为高电平时,输出为低电平;当同一个与门端组中有一个或一个以上的输入端为低电平时,输出即为高电平。实验前请认真阅读TTL集成电路使用规则。

数字系统中有时需要把两个或两个以上集成逻辑门的输出端直接并接在一起完成一定的逻辑功能。对于普通的TTL门电路,由于输出级采用了推拉式输出电路,无论输出是高电平还是低点平,输出阻

实验四:TTL集成门电路逻辑变换(tian) - 图文

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数字电路实验报告

数字电路实验报告

姓 名: 田佳禾 班 级: 09011101 学 号: 2011302068

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数字电路实验报告

实验四:TTL集成门电路逻辑变换

一、实验目的

(1)掌握各种TTL门电路的逻辑功能。 (2)掌握验证逻辑门电路功能的方法。 (3)掌握空闲输入端的处理方法

二、实验设备

(1)数字电路实验箱 (2)数字双踪示波器 (3)函数信号发生器 (4)74SLS00 (5)若干连接线

三、 实验原理

门电路是数字逻辑电路的基本组成单元,门电路按逻辑功能分为:与门、或门、非门及与非门、或非门、异或门等。按电路结构不同,可分为分立元件门电路,COMS集成电路、TTL集成电路等。集成门电路通常封装在集成芯片内,一般有双列直插和表面贴装两种封装形式。实验中通常用的封装形式为双列直插式。每个集成电路都有自己的代号,与代号对应的名称形象的说明了集成电路的用途。如74SL00是二输入端与非门,它说明这个集成电路中包含了四个二输入端的与非门。

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数字电路实验报告

四、实验内容

1、与非门实现与运算

JK触发器的逻辑功能测试

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实验三 JK触发器的逻辑功能测试

[实验目的]

1、学习触发器逻辑功能的测试方法。 2、掌握基本JK、D触发器的逻辑功能。

3、掌握JK触发器转换成D触发器的方法及D触发器的逻辑功能。

[主要仪器设备及耗材]数字电路实验板、74LS112芯片、74LS00芯片、数字

万用表、数据线。

[实验基本原理]

触发器具有两个稳定状态,用以表示逻辑状态“1”和“0”,在一定的外界信号作用下,可以从一个稳定状态翻转到另一个稳定状态,它是一个具有记忆功能的二进制信息存贮器件,是构成各种时序电路的最基本逻辑单元。

1、JK触发器

在输入信号为双端的情况下,JK触发器是功能完善、使用灵活和通用性较强的一种触发器。本实验采用74LS112(或74LS76)双JK触发器,是下降边沿触发的边沿触发器。引脚功能及逻辑符号如图1-1所示。

图1-1 74LS112双JK触发器引脚排列及逻辑符号

JK触发器的状态方程为

Qn+1=JQn +KQn, S=R=1

J和K是数据输入端,是触发器状态更新的依据,若J、K有两个或两个以上输入端时,组成“与”的关系。Q与Q为两个互补输出端。通常把Q=0、Q=1的状态定为触发器“0”状态;而把Q=1、Q=0定为“1”

数电实验(实验一 逻辑门功能测试及其应用研究) - 图文

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数字电子技术实验(实验一)

——逻辑门功能测试及其应用研究

实验指导老师:盛苏英

数电实验教材数电实验采用——《电路与电子技术实验教程》其中:??数电硬件部分参见教材第三篇;数电软件部分参见教材第四篇。数电实验要求

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实验前做好实验预习工作(预习报告上写明本次实验做什么、怎么做、为什么这样做),带实验预习报告进实验室;

提前15分钟进实验室,做好实验前的准备工作,包括:

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?①②③④⑤检查数电试验箱是否工作正常检查芯片功能是否完好准备一定数量的导线准备3根探头线

准备1付万用表表笔

①检查数电试验箱是否工作正常管座用于插芯片接Vcc接GND数码管用于显示输出信指示灯用于接输出信号:号:0~F为1时灯亮;为0时灯灭拨动开关提供输入信号:向上拨为1;向下拨为三组电位器0电源指示灯①检查数电试验箱是否工作正常

检查步骤如下:

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数电实验箱通电,查看电源指示灯是否点亮;

用导线分别连接“拨动开关”与“指示灯”的插孔,观察高低电平与指示灯亮灭是否对应(点击链接幻灯片);

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用导线分别连接电位器两端、滑动片头,旋转电位器,观察与滑动片头连接的指示灯是否有亮灭变化(点击链接幻灯片)。

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②检查芯片功能是否完好

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缺口端将芯片的缺口对着左边,对应针脚插入管座;

将芯片的左上针脚接Vcc,