X射线荧光光谱仪实验报告

MagiX X射线荧光光谱仪分析方法的制定步骤

1. 进入XRF-SYSTEM SET UP界面

2. 鼠标点《分析程序》《APPLICATION》

《新建分析程序》《NEW APPLICATION》 《输入分析方法名称》

( 如rock)

《道组》

《输入所用道组名，如SUPERQ》 执行《OK》

3. 进入如下界面，并按如下顺序设置：

图1. 分析方法设置顺序图

General (总设置) identification schems(编号方案) conditions(条件) Sample description(样品描述) preference(优先)

MagiX X射线荧光光谱仪分析方法的制定步骤

1. 进入XRF-SYSTEM SET UP界面

2. 鼠标点《分析程序》《APPLICATION》

《新建分析程序》《NEW APPLICATION》 《输入分析方法名称》

( 如rock)

《道组》

《输入所用道组名，如SUPERQ》 执行《OK》

3. 进入如下界面，并按如下顺序设置：

图1. 分析方法设置顺序图

General (总设置) identification schems(编号方案) conditions(条件) Sample description(样品描述) preference(优先)

利用IED2000P型便携式X射线荧光光谱仪,选择安徽绩溪荆州银多金属矿矿区进行找矿条件试验。试验中分别就不同测点密度、基岩与土壤测量、不同湿度条件、基岩与岩石粉末样测量进行了对比研究,确定了最佳的应用条件。X荧光光谱测量法与化探原生晕取样分析对比研究和相关分析表明,应用X荧光光谱法进行找矿研究不失为一种方便快捷和行之有效的找矿方法。

第34卷第4期 2010年8月

物 探 与 化 探

GEOPHYSICAL&GEOCHEMICALEXPLORATION

Vo.l34,No.4 Aug.,2010

便携式X射线荧光光谱仪应用条件试验及效果

钱建平,吴高海,陈宏毅

(桂林理工大学地球科学学院,广西桂林 541004)

摘要:利用IED2000P型便携式X射线荧光光谱仪,选择安徽绩溪荆州银多金属矿矿区进行找矿条件试验。试验中分别就不同测点密度、基岩与土壤测量、不同湿度条件、基岩与岩石粉末样测量进行了对比研究,确定了最佳的应用条件。即:确定测点密度应综合考虑异常体规模和实际工作量因素;基岩X荧光光谱测量较之土壤测量更能客观地反映地质体的异常特征;湿度因素不会影响异常的存在,但会降低异常的强度;岩石粉末样X荧光光谱测量较之岩石样测量值更

光栅光谱仪实验报告

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?

光栅光谱仪的使用

学号201５21282２学生姓名张家梁

专业名称应用物理学(通信基础科学) 所在系（院）理学院

2017 年 3 月１４日

光栅光谱仪的使用

张家梁

1 实验目的

１.?了解光栅光谱仪的工作原理。

2．?学会使用光栅光谱仪。

2实验原理

１．光栅光谱仪

光栅光谱仪结构如图所示。光栅光谱仪的色散元件为闪耀光栅。入射狭缝和出射狭缝分别在两个球面镜的焦平面上,因此入射狭缝的光经过球面镜后成为平行光入射到光栅上，衍射光经后球面镜后聚焦在出射狭缝上。光栅可在步进电机控制下旋转,从而改变入射角度和终聚焦到出射狭缝处光线的波长。控制入射光源的波长范围,确保衍射光无级次重叠,可通过控制光栅的角度唯一确定出射光的波长。

光谱仪的光探测器可以有光电管、光电倍增管、硅光电管、热释电器件和ＣCCD等多种,经过光栅衍射后,到达出射狭缝的光强一般都比较弱，因此本仪器采用光电倍增管和C ＣＤ来接收出射光。

２．光探测器

光电倍增管是一种常用的灵敏度很高的光探测器,它由光阴极、电子光学输入系统、倍增系统及阳极组成,并且通过高

实验二 分子荧光光谱法

[实验目的]

1、掌握荧光光度计的基本原理及使用。

2、了解荧光分光光度计的构造和各组成部分的作用；

3、掌握分子荧光光度计分析物质的特征荧光光谱：激发光谱、发射光谱的测定方法。

[实验原理]

1、激发光谱与发射光谱

具有不饱和基团的基态分子经光照后，价电子跃迁产生荧光，是当电子从第一激发单重态S1的最低振动能级回到基态S0各振动能级所产生的光辐射。

激发光谱：是指发光的某一谱线或谱带的强度随激发光波长（或频率）变化的曲线。横坐标为激发光波长，纵坐标为发光相对强度。激发光谱反映不同波长的光激发材料产生发光的效果。即表示发光的某一谱线或谱带可以被什么波长的光激发、激发的本领是高还是低；也表示用不同波长的光激发材料时，使材料发出某一波长光的效率。

荧光为光致发光，合适的激发光波长需根据激发光谱确定——激发光谱是在固定荧光波长下，测量荧光体的荧光强度随激发波长变化的光谱；获得方法：先把第二单色器的波长固定，使测定的?em不变，改变第一单色器波长，让不同波长的光照在荧光物质上，测定它的荧光强度，以I为纵坐标，?ex为横坐标所得图谱即荧光物质的激发光谱， 从曲线上找出?ex，实际上选波长较长的高波长峰。

发射光谱：是指发光

实验二 分子荧光光谱法

[实验目的]

1、掌握荧光光度计的基本原理及使用。

2、了解荧光分光光度计的构造和各组成部分的作用；

3、掌握分子荧光光度计分析物质的特征荧光光谱：激发光谱、发射光谱的测定方法。

[实验原理]

1、激发光谱与发射光谱

具有不饱和基团的基态分子经光照后，价电子跃迁产生荧光，是当电子从第一激发单重态S1的最低振动能级回到基态S0各振动能级所产生的光辐射。

激发光谱：是指发光的某一谱线或谱带的强度随激发光波长（或频率）变化的曲线。横坐标为激发光波长，纵坐标为发光相对强度。激发光谱反映不同波长的光激发材料产生发光的效果。即表示发光的某一谱线或谱带可以被什么波长的光激发、激发的本领是高还是低；也表示用不同波长的光激发材料时，使材料发出某一波长光的效率。

荧光为光致发光，合适的激发光波长需根据激发光谱确定——激发光谱是在固定荧光波长下，测量荧光体的荧光强度随激发波长变化的光谱；获得方法：先把第二单色器的波长固定，使测定的?em不变，改变第一单色器波长，让不同波长的光照在荧光物质上，测定它的荧光强度，以I为纵坐标，?ex为横坐标所得图谱即荧光物质的激发光谱， 从曲线上找出?ex，实际上选波长较长的高波长峰。

发射光谱：是指发光

X射线荧光光谱分析

X射线是一种电磁辐射，其波长介于紫外线和γ射线之间。它的波长没有一个严格的界限，一般来说是指波长为0.001-50nm的电磁辐射。对分析化学家来说，最感兴趣的波段是0.01-24nm，0.01nm左右是超铀元素的K系谱线，24nm则是最轻元素Li的K系谱线。1923年赫维西(Hevesy, G. Von)提出了应用X射线荧光光谱进行定量分析，但由于受到当时探测技术水平的限制，该法并未得到实际应用，直到20世纪40年代后期，随着X射线管、分光技术和半导体探测器技术的改进，X荧光分析才开始进入蓬勃发展的时期，成为一种极为重要的分析手段。

1.1 X射线荧光光谱分析的基本原理

当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时，驱逐一个内层电子而出现一个空穴，使整个原子体系处于不稳定的激发态，激发态原子寿命约为10-12-10-14s，然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。这个过程称为驰豫过程。驰豫过程既可以是非辐射跃迁，也可以是辐射跃迁。当较外层的电子跃迁到空穴时，所释放的能量随即在原子内部被吸收而逐出较外层的另一个次级光电子，此称为俄歇效应，亦称次级光电效应或无辐射效应，所逐出的次级光电子称为俄歇电子。它的能量是

１．前言

欧盟《关于在电子电器设备中限制使用某些有害物质指令》（简称ＲｏＨＳ指令）将于２００６年７月１日执行，主要针对限制包括铅、汞、镉

在内的６种有害物质的使用。目前，产品或配件中所限制的有害物质进ＲｏＨＳ指令中的六种有毒有害物质存在于产业链的所有环节，企业必须在产品供应链的上游、下游工序里剔除相关的物质，这就意味着要对

行精准测量。

常用的检测方法有很多，如能量色散Ｘ射线荧光分析法（ＥＤＸＲＦ）、分光光度法（Ｓｐｅｃｔｒｏｐｈｏｔｏｍｅｔｒｙ）、

表３－２　管脚分配寄存ＰＡＲ各比特位和字段值

自动生成的值。在调试版本中，用户可以在．ＣＦＧ文件中修改，也可以在程序中重新赋值。在自启动版本中，所有需要配置的寄存器都在Ｓｙｓｉｎｉｔ．ｃ文件中列举出来。用户通过选择不同的ｔａｒｇｅｔ来切换调试版本和自启动版本，在两个工程下，编译链接的文件系统也不一样，可以在Ｌｉｎｋ页中查看每个文件。

完成以上工作，就可以下载运行，跟踪调试了。通过编程器写入ＦＬＡＳＨ，取掉调试电缆，自启动版本也可以运行。

注３：在调试版本必须将这一位设为１。在ＰＳＴ［３：１］脚上指示ＭＣＦ５２０６ｅ处理器状态，反馈给ＩＤＥ集成开发环境。在自启动版本需要将其设为０。

注４：在调试版本必须将这一位设为

X射线荧光光谱分析铁合金的试样制备方法 德国利恒公司上海代表处 邮编 200070

炼钢工艺过程中在熔融状态下需要添加多种元素生成合金。最常见的合金有铬铁、锰铁、硅铁、钒铁、钼铁、钨铁、镍铁、磷铁、钛铁、硼铁等铁合金。精确测定铁合金中的化学成分有两个目的，一是研究特殊组分的成本问题，二是研究炼钢工艺中特定成分的比例允许偏差，及其对合金性质的影响。由于铁合金的物理状态不适合于直接分析，必须预先进行处理。这一步骤称为样品制备，是所有分析方法中最关键的一个步骤。通常，样品制备有三种方法，第一是将合金与纯铁粉混合后置于感应炉中重熔，第二研磨破碎得到一定尺寸的颗粒粉末压片，第三预氧化熔融制成玻璃状氧化物。标样与试样的制备方法相同，可选择不同稀释比和成分的铁合金样品进行制备。

1 样品制备方法 1.1 感应重熔法

使用本方法的代表为德国利恒公司生产的Lifumat系列制样设备。基本步骤是先将铁合金与纯铁粉放在耐高温的陶瓷或石墨坩埚中预混合，在真空或保护气氛下感应加热熔化后通过离心浇铸到模具中制样。浇铸模具的材料为铜或石墨。制备出的样品成蘑菇状，在砂带上打磨后就可以直接进行光谱分析。 铁合金重熔制样参数包括合金熔点、重熔时间、浇铸温度、最佳混合比和

X射线衍射物相分析

天文与空间科学学院 081211004 陈升

一 、实验目的

1、学习了解晶体的结构性质，了解了X射线衍射分析物相的原理。

2、利用德国的D8 X射线衍射仪，获得了衍射图谱，用EVA软件处理数据，分析样品中所含的物质。

二、实验原理

任何结晶物质均具有特定晶体结构（结构类型，晶胞大小及质点种类，数目，分布）和组成元素。一种物质有自己独特的衍射谱相对应，多相物质的衍射谱为各个互不相干，独立存在物相衍射谱的简单叠加。衍射方向是晶胞参数的函数（取决于晶体结构）；衍射强度是结构因子函数（取决于晶胞中原子的种类、数目和排列方式）。任何一个物相都有一套d-I特征值及衍射谱图。因此，可以对多相共存的体系进行全分析。

凡是高速运动的电子流或其它高能射流（如γ射线，X射线，中子流等）被突然减速时均能产生X射线。产生条件：电子流、高压、靶面、(真空室、冷却系统)X射线管的效率η，是指电子流能量中用于产生X射线的百分数即

.

X射线管的效率也仅有1﹪左右，99％的能量都转变为热能。(与冷却系统有关)

由阴极灯丝所发射的数量巨大电子以极高的速度撞向阳极靶，辐射电磁波即释放X射线。这些电子撞向阳极靶上的条件和时间不同，产生电磁辐射也各不相同，而