常用集成门电路实验报告

集成电路实验报告

班级：

姓名：

学号：

指导老师：

实验一：反相器的设计及反相器环的分析

一、实验目的

1、学习及掌握cadence图形输入及仿真方法； 2、掌握基本反相器的原理与设计方法；

3、掌握反相器电压传输特性曲线VTC的测试方法；

4、分析电压传输特性曲线，确定五个关键电压 VOH 、 VOL 、 VIH 、 VIL 、 VTH 。 二、实验内容

本次实验主要是利用 cadence 软件来设计一基本反相器(inverter)，并利用 仿真工具 Analog Artist(Spectre)来测试反相器的电压传输特性曲线(VTC,

Voltage transfer characteristic curves)，并分析其五个关键电压:输出高电平 VOH 、输出低电平 VOL 、输入高电平 VIH 、输入低电平 VIL 、阈值电压 VTH 。 三、实验步骤

1.在cadence环境中绘制的反相器原理图如图所示。

2.在Analog Environment中，对反相器进行瞬态分析(tran)，仿真时间

数字电路实验报告

数字电路实验报告

姓 名： 田佳禾 班 级： 09011101 学 号： 2011302068

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数字电路实验报告

实验四：TTL集成门电路逻辑变换

一、实验目的

（1）掌握各种TTL门电路的逻辑功能。 （2）掌握验证逻辑门电路功能的方法。 （3）掌握空闲输入端的处理方法

二、实验设备

（1）数字电路实验箱 （2）数字双踪示波器 （3）函数信号发生器 （4）74SLS00 （5）若干连接线

三、 实验原理

门电路是数字逻辑电路的基本组成单元，门电路按逻辑功能分为：与门、或门、非门及与非门、或非门、异或门等。按电路结构不同，可分为分立元件门电路，COMS集成电路、TTL集成电路等。集成门电路通常封装在集成芯片内，一般有双列直插和表面贴装两种封装形式。实验中通常用的封装形式为双列直插式。每个集成电路都有自己的代号，与代号对应的名称形象的说明了集成电路的用途。如74SL00是二输入端与非门，它说明这个集成电路中包含了四个二输入端的与非门。

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数字电路实验报告

四、实验内容

1、与非门实现与运算

第 3 章

集成逻辑门电路

3.1 概述3.2 半导体二极管门电路 3.3 TTL集成门电路 3.4 CMOS门电路 3.5 各逻辑门的性能比较

作业

3-53-6 3-8 3-11 3-13

3-153-16 3-773

3.1 概述

用来实现基本逻辑运算和复合逻辑运算的单元电路称为门电路。常用的门电路有与门、或门、非门、 与非门、或非门、与或非门、异或门等。

从制造工艺方面来分类，数字集成电路可分为双极 型、单极型和混合型三类。

3.2 半导体二极管门电路 3.2.1正逻辑与负逻辑

在数字电路中，用高、低电平来表示二值逻辑的1和0两种逻辑状态。

获得高、低电平的基本原理电路如图表示。开关S为半导体二极管或 三极管，通过输入信号控制二极管 或三极管工作在截止和导通两个状 态，以输出高低电平。5

3.2.1正逻辑与负逻辑

若用高电平表示逻辑1,低电平表示逻辑0,则称这种表示方法为正逻辑； 反之，若用高电平表示0,低电平表示1,则称这种 表示方法为负逻辑。 若无特别说明，本书中将采用正逻辑。

a) 正逻辑 b) 负逻辑

由于在实际工作时只要能区分出来高、低电平就可 以知道它所表示的逻辑状态了，所以高、低电平都 有一个允许的范围。

正因如此，在数字电路中无

计数、译码、显示电路实验

一、实验器材（设备、元器件）:

1，数字、模拟实验装置（1台）； 2，数字电路实验板（1块）；

3，74LS90、74LS00芯片（各一片）； 4，函数信号发生器（1台）。

二、实验内容及目的：

1，熟悉和测试74LS90的逻辑功能；

2，运用中规模集成电路组成计数、译码、显示电路。

三、实验步骤：

1、利用数字电路实验装置测试74LS90芯片的逻辑功能 异步计数器74LS90为中规模TTL集成计数器，可实现二分频、五分频、十分频等功能，它由一个二进制计数器和一个五进制计数器构成，其外引脚图和功能表如下图所示：

异步：

输入 R0(1) R0(2) 输出

S9(1) S9(2) QA QB QC QD 1 1 X 1 1 X 0 X 1 X 0 1 0 0 1 0 0 0 0 0 0 0 0 置0 1 置9 同步：满足R0(1)?R0(2)?1，Sq(1)?Sq(2)?1时：

①CP1=CP，CP2=0时：二进制计数； ②CP1=0，CP2=CP时：五进制计数；

③CP1=CP，CP2=QA时：8421码二进制计数； ④CP1=QD,CP2=CP时：5421码十进制计数。

插好74LS90芯片，连好电源和

计数、译码、显示电路实验

一、实验器材（设备、元器件）:

1，数字、模拟实验装置（1台）； 2，数字电路实验板（1块）；

3，74LS90、74LS00芯片（各一片）； 4，函数信号发生器（1台）。

二、实验内容及目的：

1，熟悉和测试74LS90的逻辑功能；

2，运用中规模集成电路组成计数、译码、显示电路。

三、实验步骤：

1、利用数字电路实验装置测试74LS90芯片的逻辑功能 异步计数器74LS90为中规模TTL集成计数器，可实现二分频、五分频、十分频等功能，它由一个二进制计数器和一个五进制计数器构成，其外引脚图和功能表如下图所示：

异步：

输入 R0(1) R0(2) 输出

S9(1) S9(2) QA QB QC QD 1 1 X 1 1 X 0 X 1 X 0 1 0 0 1 0 0 0 0 0 0 0 0 置0 1 置9 同步：满足R0(1)?R0(2)?1，Sq(1)?Sq(2)?1时：

①CP1=CP，CP2=0时：二进制计数； ②CP1=0，CP2=CP时：五进制计数；

③CP1=CP，CP2=QA时：8421码二进制计数； ④CP1=QD,CP2=CP时：5421码十进制计数。

插好74LS90芯片，连好电源和

第 3 章

集成逻辑门电路

3.1 概述3.2 半导体二极管门电路 3.3 TTL集成门电路 3.4 CMOS门电路 3.5 各逻辑门的性能比较

作业

3-53-6 3-8 3-11 3-13

3-153-16 3-773

3.1 概述

用来实现基本逻辑运算和复合逻辑运算的单元电路称为门电路。常用的门电路有与门、或门、非门、 与非门、或非门、与或非门、异或门等。

从制造工艺方面来分类，数字集成电路可分为双极 型、单极型和混合型三类。

3.2 半导体二极管门电路 3.2.1正逻辑与负逻辑

在数字电路中，用高、低电平来表示二值逻辑的1和0两种逻辑状态。

获得高、低电平的基本原理电路如图表示。开关S为半导体二极管或 三极管，通过输入信号控制二极管 或三极管工作在截止和导通两个状 态，以输出高低电平。5

3.2.1正逻辑与负逻辑

若用高电平表示逻辑1,低电平表示逻辑0,则称这种表示方法为正逻辑； 反之，若用高电平表示0,低电平表示1,则称这种 表示方法为负逻辑。 若无特别说明，本书中将采用正逻辑。

a) 正逻辑 b) 负逻辑

由于在实际工作时只要能区分出来高、低电平就可 以知道它所表示的逻辑状态了，所以高、低电平都 有一个允许的范围。

正因如此，在数字电路中无

实验报告（五）

课程名称：电子技术

实验项目：逻辑门电路功能测试与设计 专业班级：

姓 名： 座号：09 实验地点：仿真室 实验时间：

指导老师： 成绩：

一．实验目的：

1、掌握用multisim 软件进行门电路的逻辑功能测试与测试方法 2、掌握常用组合逻辑门电路的设计方法

3、 实验内容：

1.与非门逻辑功能测试

2．用于非门设计一个二位输入的奇偶校验电路.

4、 实验步骤：

1. 与非门逻辑功能测试

（1）74LS10D逻辑功能测试

创建电路如图5-1，电路中门的3个输入量分别由三个开关控制，三个开关分别由键盘按键A、B、C控制。设置方法为：鼠标指向开关元件，双击后进入Switch的对话框，在Value标题栏的Key项中分别选择或输入A、B、C。

图5-1

按下“运行”按钮，进行电路测试，将测试结果填入表5.1。

输入逻辑状态 输出 A 1 0 0 0 B 1 1 0 0 C 1 1 1 0 TTL电位/V 0 1 1 1 表5.1 （2）“门”控制功能的测试 1“与非”门控制功能的静态测试 ○

创建电路如图5-2，设A为信号输入

实验报告（五）

课程名称：电子技术

实验项目：逻辑门电路功能测试与设计 专业班级：

姓 名： 座号：09 实验地点：仿真室 实验时间：

指导老师： 成绩：

一．实验目的：

1、掌握用multisim 软件进行门电路的逻辑功能测试与测试方法 2、掌握常用组合逻辑门电路的设计方法

3、 实验内容：

1.与非门逻辑功能测试

2．用于非门设计一个二位输入的奇偶校验电路.

4、 实验步骤：

1. 与非门逻辑功能测试

（1）74LS10D逻辑功能测试

创建电路如图5-1，电路中门的3个输入量分别由三个开关控制，三个开关分别由键盘按键A、B、C控制。设置方法为：鼠标指向开关元件，双击后进入Switch的对话框，在Value标题栏的Key项中分别选择或输入A、B、C。

图5-1

按下“运行”按钮，进行电路测试，将测试结果填入表5.1。

输入逻辑状态 输出 A 1 0 0 0 B 1 1 0 0 C 1 1 1 0 TTL电位/V 0 1 1 1 表5.1 （2）“门”控制功能的测试 1“与非”门控制功能的静态测试 ○

创建电路如图5-2，设A为信号输入

74ls00 2输入四与非门 74ls01 2输入四与非门 (oc 74ls02 2输入四或非门 74ls03 2输入四与非门 (oc 74ls04 六倒相器 74ls05 六倒相器 (oc

74ls06 六高压输出反相缓冲器 /驱动器 (oc,30v 74ls07 六高压输出缓冲器 /驱动器 (oc,30v 74ls08 2输入四与门

74ls09 2输入四与门 (oc 74ls10 3输入三与非门 74ls11 3输入三与门 74ls12 3输入三与非门 (oc

74ls13 4输入双与非门 (斯密特触发 74ls14 六倒相器 (斯密特触发 74ls15 3输入三与门 (oc

74ls16 六高压输出反相缓冲器 /驱动器 (oc,15v 74ls17 六高压输出缓冲器 /驱动器 (oc,15v 74ls18 4输入双与非门 (斯密特触发

74ls19 六倒相器 (斯密特触发 74ls20 4输入双与非门

74ls21 4输入双与门 74ls22 4输入双与非门 (oc 74ls23 双可扩展的输入或非门 74ls24 2输入四与非门 (斯密特触发 74ls25 4输入双或非门 (有选通

74ls26 2输入四高电平接口与非缓

专业：电子信息工程 姓名：彭嘉乔 实验报告

学号：3130104084 日期：2015.04.16 地点：东3-211 课程名称：电路与电子技术实验II 指导老师：沈连丰 成绩：__________________ 实验名称：集成运放组成的基本运算电路 实验类型：________________同组学生姓名：__________ 一、实验目的和要求（必填） 二、实验内容和原理（必填） 三、主要仪器设备（必填） 四、操作方法和实验步骤 五、实验数据记录和处理 六、实验结果与分析（必填） 七、讨论、心得

一、 实验目的和要求

1、研究集成运放组成的比例、加法和积分等基本运算电路的功能； 2、了解集成运算放大器在实际应用时应考虑的一些问题；

3、理解在放大电路中引入负反馈的方法和负反馈对放大电路各项性能指标的影响； 4、了解集成运算放大电路的三种输入方式。

二、实验内容

1、实现两个信号的反相加法运算。 2、实现同相比例运算。

3、用减法器实现两信号的减法运算。 4、实现积分运算。（选做