超声波检测理论复习题（06.04版）

超声波检测理论复习题 第1页 共14页

超声波检测理论复习题

1选择题

1.1物理基础部分

1.1.1关于振动与波动，下列那种说法是错误的。

A. 波动是产生振动的根源； B. 波动是振动在物体或空间中的传播； C. 波动是物质运动的一种形式； D. 振动可以是简谐的或非简谐的。 1.1.2超声波的波长：

A. 与介质的声速和频率成正比； B. 等于声速与频率的乘积； C. 等于声速与周期的乘积； D. 与声速和频率无关。

1.1.3在同种固体材料中，纵波声速CL，横波声速CS，表面波声速CR间的关系是：

A. CR＞CS＞CL； B. CS＞CL＞CR； C. CL＞CS＞CR； D. 以上均非。 1.1.4检查厚度大于400mm的钢锻件时，如降低纵波的频率其声速将：

A. 提高； B. 降低； C. 不变； D. 不一定。 1.1.5所谓超声场的声压，其实质是：

A. 介质质点某一瞬间所受的压强； B. 介质质点的静态压强；

C. 介质质点某一瞬间所受的附加压强； D. 介质质点某一瞬间所具有的声能量。 1.1.6当温度升高时，水的声阻抗将：

A. 不变； B. 增大； C. 变小； D. 无规律。

1.1.7在同一固体介质中，当分别传播纵、横波时，它们的声阻抗是：

A. 一样； B. 横波的大； C. 纵波的大； D. 以上均可能。 1.1.8区别波型类别的主要依据是：

A. 质点的振动方向； B. 振动的传递方向； C. 质点的振动轨迹； D. 以上全部。 1.1.9超声波传播过程中，遇到尺寸与波长相当的障碍物时，将产生：

A. 只绕射无反射； B. 既绕射也反射； C. 只反射无绕射； D. 以上都可以。 1.1.10在实际检测中，超声波探头中的波源近似于：

A. 球面波； B. 平面波；C. 柱面波； D. 活塞波。 1.1.11超声波检测常规方法中，可检出的缺陷一般不小于：

A. 波长的1/4； B. 波长的1/3； C. 波长的1/2； D. 以上全不是。

1.1.12用2.5MHz直径为14㎜的纵波直探头，采用水浸探测钢板，水层厚度为20㎜，则钢中的近场长度N为：

A. 15.7mm； B. 20.8mm； C.3.2mm； D. 78.1mm。 1.1.13下列直探头在钢中的指向性最好的是：

A. 2.5P20Z； B. 3P14Z； C. 4P20Z； D. 5P14Z。 1.1.14下列直探头在钢中的指向性最好的是：

A. 2.5P20Z； B. 3P14Z； C. 4P20Z； D. 5P18Z。

1.1.15活塞波声源声束轴线上最后一个声压极小值到声源的距离是：

A. N； B. N/2； C. N/3； D. N/4。（N为近场区长度）

超声波检测理论复习题 第2页 共14页 1.1.16在近场区的缺陷得不到真实反映的原因是：

A. 晶片上各点反射的声波传播方向不同； B. 近场区内因干扰产生声压(瞬间)变化； C. 近场区内超声波频率发生变化； D. 以上全部。 1.1.17超声波的扩散衰减主要取决于：

A. 波阵面的几何形状； B. 材料的晶粒度； C. 材料的粘滞性； D. 以上都是。 1.1.18超声波入射到异质界面时，可能产生的物理现象是：

A. 反射； B. 折射； C. 波型转换； D. 以上都可能。 1.1.19在斜角探伤法中纵波以一定倾斜角度入射，经波型转换后在工件中获得的波型主要

为：

A. 横波； B. 表面波； C. 板波； D. 以上都可能。

1.1.20在同一界面上，声强透过率T与声压反射率r之间的关系是：

A. T＝r2； B. T＝1－r2； C. T＝1＋r； D.T＝1－r。

1.1.21在同一界面上，声强透过率D与声强反射率R之间的关系是：

A. R＋D=1； B. R―D=1； C. D―R=1； D. 以上均非。 1.1.22声压反射率r与声压透射率t之间的关系为：

A. t＋r=1； B. t×r=1； C. t－r=1； D. t＋r=2。

1.1.23在下列关于超声波透射和反射的公式中正确的是：

A. tp＋rp=1； B.1＋tp = rp； C. R＋D=1； D. D―R=1。

1.1.24如果焊缝金属比母材金属的声阻抗高1％，则熔合界面上的声压反射率为：

A. 0.5％； B. 1％； C. 5％； D. 10％。

1.1.25检验钢采用K=2的斜探头，探测铝材时，其K值将：

A. 大于2； B. 等于2； C. 小于2； D. 以上都可能。 1.1.26在水/钢界面上入射角为7°，则在钢中存在的波型为：

A. 纵波； B. 横波； C. 表面波； D. A和B。

1.1.27在水/钢界面上，水中入射角为17°，在钢中传播的主要振动波型为：

A. 表面波； B. 纵波； C. 横波； D. B和C。 1.1.28采用声透镜方式制作聚焦探头时，设透镜材料为介质1，欲使声束在介质2中聚焦，采用平凹透镜的条件是：

A. Z1＞Z2； B. C1＜C2； C. C1＞C2； D. Z1＜Z2。

1.1.29制作凹曲面聚焦透镜时，若透镜材料声速为C1，第二透声介质声速为C2，则两者材料应满足如下关系：

A. C1＞C2； B. C1＜C2； C. C1＝C2； D. Z1＝Z2。 1.1.30聚焦探头声透镜曲率增大时，透镜焦距变化为：

A. 增大； B. 不变； C. 减小； D. 无规律。

1.1.31表征平面圆晶片发射的超声束特征的主要参数有：

A. 近场长度和指向角； B. 回波声压和反射率； C. 晶片厚度和回波频率； D. 以上全部。

1.1.32在探测条件相同的情况下，孔经比为4的两个球形人工缺陷，其反射波高相差：

超声波检测理论复习题 第3页 共14页 A. 6dB； B. 12dB； C, 24dB； D. 18dB。

1.1.33在检测条件相同的情况下，面积比为2的两个平底孔，其反射波高度相差：

A. 6dB； B. 12dB； C. 9dB； D. 3dB。

1.1.34在检测条件相同的情况下，直径比为2的两个实心圆柱体，其曲底面回波相差：

A. 12dB； B. 9dB； C. 6dB； D. 3dB。

1.1.35 UT检测时，缺陷A的一次回波高度是缺陷B的一次回波高度的2倍，缺陷A的

dB数比缺陷B的：

A. 大6dB； B. 大12dB； C. 大18dB； D. 大24dB。 1.1.36通用AVG曲线的作用是：

A. 可以直接由声程和缺陷反射信号比查得缺陷尺寸；

B. 由相对缺陷距离和缺陷波幅增益(衰减)量，查出相对缺陷尺寸后，换算缺陷当量尺寸；

C. A和B均可； D. A和B均不可。

1.1.37 UT检测中，使用AVG法的限制条件是：

A. 缺陷尺寸应小于声束直径； B. 缺陷声程应大于1.6N； C. 检测面条件与制作AVG图的试块相当； D. 以上全部。 1.1.38长轴类锻件从端面作轴向探测时，容易出现的非缺陷回波是：

A. 三角形反射波； B. 61°反射波； C. 轮廓回波； D. 迟到波。 1.1.39在UT中采用较高的检测频率可有利于：

A. 发现较小的缺陷； B. 区分相邻的缺陷； C. 改善声束指向性； D. 以上都是。 1.1.40用2P20Z直探头，检验厚度为340㎜的饼形锻件，要求检测灵敏度为φ4㎜，如利用通用型AVG曲线以底波调整探测灵敏度，则A为： A. 0.2； B. 10； C. 5； D. 0.1。

1.2仪器、探头和试块部分

1.2.1探头软保护膜和硬保护膜相比，突出的优点是：

A. 透声性能好； B. 材料声衰减小； C. 有利消除耦合差异； D. 以上均是。 1.2.2表示检测仪与探头组合的性能指标有：

A. 水平线性、垂直线性和衰减精度； B. 灵敏度余量、盲区和远场分辨率； C. 动态范围、频带宽度和探测深度； D. 垂直极限、水平极限和重复频率。 1.2.3超声检测系统组合性能的常用指标为：

A. 水平和垂直线性； B. 灵敏度余量和动态范围；

C. 噪声电平和分辨力； D. 灵敏度和盲区： E. 以上均非。 1.2.4不是超声检测系统组合性能的常用指标是：

A. 水平和垂直线性； B. 灵敏度余量和动态范围； C. 噪声电平和盲区； D. 以上均非。 1.2.5超声波探伤仪的动态范围是：

A. 探伤仪灵敏度最高时，发现最小缺陷的能力；

超声波检测理论复习题 第4页 共14页 B. 检测相邻缺陷的能力；

C. 示波屏上反射波高从满幅降到刚消失的分贝量； D. 缺陷回波与杂波的分贝差。

1.2.6调节探伤仪面板的“抑制”旋钮会影响探伤仪的：

A. 垂直线性； B. 动态范围； C. 灵敏度； D. 以上都是。 1.2.7在超声波检测中一般不允许使用“抑制”旋钮，其原因是： A. 使仪器垂直线性变化； B. 动态范围变小； C. 灵敏度降低； D. 以上全部。

1.2.8锻件接触法探伤时，如果探伤仪的“重复频率”调得过高，可能发生： A. 荧光屏“噪声”信号过高； B. 时基线倾斜；

C. 始脉冲消失； D. 容易出现“幻象波”。 1.2.9超声波检测系统的盲区是指：

A. 主声束扫描不到的区域； B. 近场内距离；

C, 1.6N区域； D. 始脉冲宽度覆盖区和阻塞区所代表的距离。 1.2.10超声检测系统的盲区大小受下列哪些因素影响？ A. 系统的发射强度； B. 调节灵敏度； C. 仪器阻塞特性； D. 以上均是。 1.2.11超声波检测系统的灵敏度取决于：

A. 探头、高频脉冲发生器和放大器性能； B. 同步发生器性能； C. 仪器的重复频率； D. 仪器的阻塞特性。

1.2.12超声波检测仪使用中应定期检验，合格后方可使用，检验周期一般为： A. 三个月； B. 一年； C. 发现故障或检修后； D. B和C； E. A和C。 1.2.13影响探头分辨力的因素有：

A. 晶片的尺寸； B. 阻尼特性； C. 晶片的材料种类； D. 以上都是。 1.2.14在单晶片直探头接触法检测中，不能有效检出与探测面十分接近的缺陷的主要原因是由于：

A. 近场干扰； B. 材质衰减； C. 盲区存在； D. 折射。 1.2.15窄脉冲探头和普通探头相比，其性能特点是：

A. θ值较小； B. 灵敏度降低； C. 频带较宽； D. 分辨力强； E. 以上均是。 1.2.16探头软保护膜和硬保护膜相比，其突出的优点是： A. 透声性能好； B. 材质声衰减小； C. 有利于消除耦合差异； D. 以上都是。 1.2.17对比试块的主要用途是：

A. 调整探伤仪的测定范围； B. 调节探测灵敏度； C. 判断缺陷并确定的当量尺寸； D. 以上均是。 1.2.18在超声检测中使用对比试块的主要目的是：

超声波检测理论复习题 第5页 共14页 A. 调整探伤仪的测定范围和检测灵敏度，从而判断缺陷； B. 使检测人员能决定缺陷的准确尺寸； C. 测定检测仪的灵敏度； D. 以上全部。

1.2.19 CSK—1A试块将IIW试块的φ50孔改为φ40、φ44、φ50台阶孔，其目的是： A. 测定斜探头K值； B. 测定直探头盲区范围； C. 测定斜探头分辨力； D. 以上都是。

1.2.20纵波直探头检测中，若使用细长型试块，应注意的问题是：

A. D/L比小的试块易产生边界干扰； B. 平底孔深应能足以分辨； C. 材质衰减要小； D. 以上全部。 1.2.21 IIW试块的主要用途是：

A. 校准和测定检测系统的性能参数； B. 用作人工反射体对比试块； C. A和B； D. 以上均非。 1.2.22有的半圆试块在中心侧壁开有5mm深的切槽，其目的是： A. 标记试块中心； B. 消除边界效应； C. 获得R曲面等距离反射波； D. 以上都是。

1.2.23 K1斜探头检测时，用作垂直1:1调节的钢制半圆试块的半径尺寸是： A. 33.5mm； B. 42.4mm； C. 66mm； D. 以上均非。

1.2.24 K2斜探头检测时，用作水平1:1调节的钢制半圆试块的半径尺寸是： A. 33.5mm； B. 42.4mm； C. 66mm； D. 以上均非。

1.3通用技术部分

1.3.1按照判断缺陷情况的回波性质，脉冲反射法一般可分为： A. 缺陷回波法，底面回波高度法及底面多次回波法； B. 纵波探测法、横波探测法及表面波探测法； C. 直接接触纵波法、斜角检测法及液浸检测法； D. 当量法、探头相对运动法及波高表示法。 1.3.2在UT中采用较高频率，可有利于：

A. 发现较小缺陷； B. 区分相邻的缺陷； C. 改善声束指向性； D. 以上均正确。 1.3.3调节检测灵敏度的目的是：

A. 发现工件中规定大小的缺陷及对缺陷大小定量； B. 发现工件中各类缺陷并定位； C. 以上A和B； D. 以上均非。

1.3.4所谓“缺陷当量尺寸”是指在相同探测条件下缺陷的反射波与规则人工反射体回波高度相等时，所对应的规则反射体的尺寸。其主要影响因素为： A. 缺陷的性质和大小； B. 缺陷的表面状况和几何形状；

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