霍耳效应及螺线管磁场的测定

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实验27霍耳效应及螺线管磁场的测定

1879年,美国霍普金斯大学研究生霍耳,在研究载流导体在场中受力的性质时发现了一种电磁现象,即当一电流垂直于外磁场方向而流过导体时,在垂直于电流和磁场的方向导体的两侧会产生一电势差,这种现象称为霍耳效应,所产生的电势差被称为霍耳电势。半个多世纪后,人们发现半导体也有霍耳效应,而且比金属强得多。现在人们利用霍耳效应制成测量磁场的磁传感器,广泛用于电磁测量,非电量检测、电动控制和计算装置方面。在电流体中的霍耳效应也是目前在研究中的“磁流体发电”的理论基础。

在磁场、磁路等磁现象的研究和应用中,霍耳效应及其元件是不可缺少的,利用它观测磁场直观、干扰小、灵敏度高。

 一、实验目的

1.了解产生霍耳效应的物理过程及用其测量磁场的原理和方法; 2.验证霍耳电势与霍耳控制电流的线性关系; 3.验证霍耳电势与励磁电流的线性关系 4. 利用霍耳效应测量螺线管磁场分布;

5. 学习用“对耳交换测量法”消除负效应产生的系统误差。 二、仪器用具

 ZKY-430501螺线管磁场实验仪一台,ZKY-H/L霍耳效应螺线管磁场测试仪一台,导线若干。

三、实验原理  1 1.霍耳效应

如图3-9所示,一个由N型半导体材料制 B F× × 成的霍耳元件,其四个侧面各焊有一个电极1、 m 4 3 2、3、4。沿左右两个侧面通以电流I,电 ?e- EH H流密度为J,则电子将沿负J方向以速度ve运 动,此电子将受到垂直方向磁场B的洛伦兹力 × F× + + + + Fm作用,造成电子在霍耳元件上侧积累,从而

2 + + + 形成了沿上下方向的电场EH,形成了霍耳电势

。 - - - - - 。

。 。 U

。 UH。

如果半导体所在范围内,磁感应强度B是 均匀的,则霍耳电场也是均匀的,大小为

I 。

+ mA EH?UH (1) 图3-9 霍耳效应原理 L霍耳效应是由于运动电荷在磁场中受到洛伦兹力的作用而产生的,放在磁场中的霍耳元件通以电流I后,产生洛伦兹力Fm,而霍耳电场使电子受到一与洛伦兹力Fm相反的电场力Fe,将阻止电子继续迁移,随着电荷积累的增加,霍耳电场的电场力也增大,当达到一定程度时,Fm与Fe大小相等,电荷积累达到动态平衡,形成稳定的霍耳电势,这时根据Fm=Fe

有

eveB?eEH (2)

将式(1)代入得

UH?veBL (3)

式(3)中L为矩形半导体的宽,UH、L容易测量,但电子速度ve难测,为此将ve变成与I有关的参数。根据欧姆定律电流密度J=neve,n为载流子的浓度,得I=JLd=neveLd,d为半导

-3

体薄片的厚度(d=0.3×10m),故有

ve?将式(4)代入式(3),得

I (4) neLdUH?令RH?1IB ned1,则有 neIB (5) d UH?RH式中,RH是由半导体本身电子迁移率决定的物理常数,称为霍耳系数,通常定义KH=RH/d,称KH为霍耳元件的灵敏度,这时式(5)可写为

UH?KHIB (6)

KH的单位为mV/(mA·T),它的大小与材料的性质及薄片的尺寸有关,对一定的霍耳元件是一常数,本实验仪器中的霍耳元件材料为硅。对测磁场而言,KH越大越好,因此,常用半导体材料制成测磁场的霍耳传感器。

等势面

不等势电势差

1 如图3-10所示,当霍耳元件通电时,在内部

3 4 形成等势面,在电极1、2间往往存在一定电势差

I U0 ,此电势差称为不等势电势差。

2 虽然从理论上讲霍耳元件在无磁场作用时(B=0),

UH=0,但是实际情况用数字电势表测并不为零,这是

U0 半导体材料结晶不均匀、副效应及各电极不对称等引起

的电势差,该电势差称为剩余电势。 图3-10 不等势电势差U0

为了消除不等势电势U0,实验中常用换向法(异号法),即取电流和磁场的4种工作状态,测出结果,求其平均值。在图3-10中,设所示的电流I和磁场的方向为正方向,则此时不等势电势U0也为正,下面的讨论,凡与图示方向相反的均为负方向。4种工作状态测量的情况表示如下: 

(1)+I, +B, +U0, 测得1、2端电势为

U1=UH+U0 (7-a)

(2)-I, +B, -U0, 测得1、2端电势为

U2=-UH-U0 (7-b)

(3)+I, -B, +U0, 测得1、2端电势为

U3=-UH+U0 (7-c)

(4)-I, -B, -U0, 测得1、2端电势为

。 。 。 。 U4=UH-U0 (7-d)

由上面四个式子,可得霍耳电势为

UH?1(U1?U2?U3?U4) (8)4可见,通过四种工作状态的换测,不等势电势被消除了,同时温差引起的附加电势也可以消除。式(8)中的U1、U2、U3、U4分别为每一工作状态时所测得的电势值,其中U2和U3本身就是负电势。因此式(8)可改写为  UH?

2.螺线管磁场

由描述电流产生磁场的毕奥-沙伐-拉普拉斯定律,经计算可得出通电螺线管内部轴线上某点的磁感应强度为:

1(U1?U2?U3?U4) (9) 4B??02nI(cos?2?cos?1) (10)

-7

式中μ0 = 4π×10亨利/米为真空中的磁导率,n β1 β2 D 为螺线管单位长度的匝数,I为电流强度,β1和β2分 别表示该点到螺线管两端的连线与轴线之间的夹角,如图3所示。

2

21/2

L 图3 在螺线管轴线中央,-COSβ1= COSβ2= L/(L+D),(10)式可表示为:

B??0nILL?D22??0NIML?D22 (11)

(11)式中N为螺线管的总匝数。

如果螺线管为“无限长”,即螺线管的长度较管的直径为很大时,(10)式中的β1→π,β2→0,所以:

B??0nI (12)

这一结果说明,任何绕得很紧密的长螺线管内部沿轴线的磁场是匀强的,由安培环路定律易于证明,无限长螺线管内部非轴线处的磁感应强度也由(12)式描述。

在无限长螺线管轴线的端口处β1=π/2,β2→0,磁感应强度:

B??0nI/2 (13)

为中心处的一半。

四、仪器装置

图3-11 ZKY-LS螺线管实验仪面板图(图中未含螺线管和霍尔筒)

图3-12 ZKY-H/L面板示意图

图3-11为实验装置图。霍耳元件处于霍尔筒中间位置(刻度尺上标有“■”处),霍耳筒在螺线管内轴向滑动,滑动范围>300mm。霍尔元件的基本参数用铭牌标明,实验计算时可参考使用。

两个正、反开关分别对螺线管电流IM,工作电流ICH进行通断和换向控制,可进行实验误差消除。其显示灵敏度可用面板右边的“L”、“H”按钮调节,四位数码管显示输入电压值。

五、实验内容及步骤

1.仪器的连接与预热

将霍耳片接线接头插入仪器面板的对应插座上。

将ZKY-LS上工作电流输入端用连接线接ZKY-H/L“工作电流”座 (红黑各自对应,下同)。

将ZKY-LS上霍耳电压输出端用连接线接ZKY-H/L“霍耳电压”座。 将ZKY-LS上励磁电流输入端用鱼叉线接ZKY-H/L“励磁电流”接线柱。 2.验证UH~ICH的线性关系

(1)调节霍耳元件,使其处于螺线管中心位置。

(2)调节励磁电流IM=600mA,调节霍耳控制电流ICH=1.00,2.00,??,10.00mA,依次改变励磁电流IM和霍耳控制电流ICH的方向,记录霍耳电势的数据(见数据表1)。

3.验证UH~IM的线性关系 (1)调节霍耳元件,使其处于螺线管中心位置。

(2)调节霍耳控制电流ICH=6.00mA,调节励磁电流IM=100,200,??,1000mA,依次改变励磁电流IM和霍耳控制电流ICH方向,记录霍耳电势数据(见数据表2)。根据集公式(6)应绘出UH~B的关系曲线,由于IM和B是线性关系,所以只要绘出UH~IM即可。

4、计算霍耳元件的灵敏度KH

由于KH与载流子浓度n成反比,根据(6)式,可由UH ~ICH求出直线的斜率,及B(B从公式11中求得),即可求得KH,进而可计算载流子浓度n。 5、测量螺线管中磁感应强度B的大小及分布情况

调节霍耳控制电流ICH=5.00mA,调节励磁电流IM=800mA。

1)先将霍耳筒从左侧缓慢移出,至刻度尺的“0”点刚好处于螺线管支架边沿,记录此时的对应的UH值(依次改变励磁电流IM和霍耳控制电流ICH方向 ) ,然后再将霍耳筒逐渐移出并记录相应位置的UH于表3中。

2)再将霍耳筒从右侧缓慢移出, 重复1)步骤。

已知UH,KH及ICH值,由(6)式计算出各点的磁感应强度,并绘出B-X图,显示螺线管内B的分布状态。

六、数据记录及处理

表1 测量霍耳电流与霍耳电势的关系

IM=600mA ICH/mA (工作电流) 1.00 2.00 3.00 4.00 5.00 6.00 7.00 8.00 9.00 10.00 U1/ mV +B,+ICH U2/ mV +B,-ICH U3/ mV -B,+ICH

U4/ mV -B,-ICH UH=(|U1|+|U2|+|U3|+|U4|)/4 /mV

本文来源:https://www.bwwdw.com/article/vlxt.html

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