无机材料测试技术习题库

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第一章 X射线物理学基础

一、名词解释

1、特征X射线 2、连续X射线 3、吸收限（λk） 4、光电效应 5、俄歇电子 6、质量吸收系数 7、相干散射 8、非相干散射 9、荧光X射线 10、X射线强度 11、AES

二、填空

1、产生X射线的基本条件 、 、 。 2、X射线的强度是指 内通过垂直于X射线方向的单位面积上的 。 3、探测X射线的工具是： 。 4、影响X射线强度的因素是： 。 5、检测X射线的方法主要有： 。 6、X射线谱是 的关系。 7、吸收限的应用主要是 、 、 。 8、当X射线的 或吸收体的 愈大时X射线愈容易被吸收。

9、一束X射线通过物质时，它的能量可分为三部分： 、 和 。 10、X射线与物质相互作，产生两种散射现象，即 和 。 11、物质对X射线的吸收主要是由 引起的。

1

三、判断

1、入射X射线光子与外层电子或自由电子碰撞时产生相干散射。 2、由X射线产生X射线的过程叫做光电效应。

3、X射线与物质作用，有足够能量的X射线光子激发原子K层的电子，外层电子跃迁填补，多余的能量使L2、L3、M、N等层的电子逸出，这个过程叫做光电效应。 4、由X射线产生X射线的过程叫俄歇效应。 5、连续谱中，随V增大，短波极限值增大。

6、当X射线的波长愈短，或者穿过原子序数愈小的物质时，其吸收就愈大。 7、具有短波极限值的X射线强度最大。 8、具有短波极限值的X射线能量最大。

9、X射线成分分析的理论基础是同种原子发出相同波长的连续X射线。

10、当高速电子的能量全部转换为X射线光子的能量时产生λ0，此时强度最大，能量最高。 11、当高速电子的能量全部转换为X射线光子的能量时产生λ0，此时强度最大。

四、简答及计算：

1、 什么是莫赛莱定律，莫赛莱定律的物理意义是什么？ 2、 简述特征X射线产生的机理。 3、 简述衍射定性物相鉴定的程序。 4、 X射线定量分析的基础是什么？ 5、 X射线物相分析有哪些特点？

6、 试计算空气对CrKα辐射的质量吸收系数和线吸收系数。假定空气中含有80％（重量）的氮和20％（重量）的氧，空气密度ρ＝0.0013g/cm3。

7、 吸收限的实际应用有哪些？若Cu靶产生Kα＝1.5418埃， Kβ＝1.3922埃X射线，选择具有多大的吸收限波长（λk）的材料作滤波片才能得到单色Kα？图示说明。

8、 Ni片作Cu靶X射线的滤波片，已知：Ni的ρ＝8.9g/cm3，Ni对CuKβ的μm＝275cm2/g， 若原始X射线的强度为I0（Kα2）/ I0（Kα1）＝0.5， I0（Kβ）/ I0（Kα1）＝0.2，现用0.025mm 厚的Ni片滤波，问滤波后I（Kβ）/ I（Kα）＝？

9、用Zr片做Mo靶X射线的滤波片，已知Zrρ＝6.5g/cm3，Zr对Mo Kβ的μm＝79㎝2/g，Zr对MoKα1/600？

的μ

m＝15.9

㎝2/g，计算Zr片多厚（x）才能使I（Kβ）∶I（Kα）由原来的1/6变为

2

第二章 X射线衍射的几何条件

一、填空题

1、以[uvw]为轴的 满足衍射条件的 所产生的衍射斑点所组成的电子衍射花样，就是入射电子束方向 样品晶体的[uvw]方向而产生衍射所得到的。这幅花样就是倒易截面（uvw）*上阵点排列图像的 。

二、判断题

1、凡是符合布拉格方程的晶面族都能产生衍射线。（ ）

2、满足布拉格方程时，各晶面的散射线相互干涉加强形成衍射线。（ ）

3、一束X射线照射一个原子列（一维晶体），只有镜面反射方向上才有可能产生衍射线。

三、问答及计算

1、 什么是倒易点阵，倒易点阵的两个基本性质是什么？ 2、 写出布拉格方程并简述布拉格方程的物理意义。

3、 用CuKα照铝的多晶试样（立方晶系，面心点阵，点阵常数4.05埃），试问（440）晶面组是

否能衍射X射线？假如要获得（440）晶面组的衍射线有什么办法？这样得到的衍射线的θ值为多少？

4、 当波长为λ的X射线照射到晶体并出现衍射线时，相邻两个(hkl)反射线的程差是多少？相邻

两个(HKL)反射线的程差又是多少？

5、 α-Fe属立方晶系，点阵参数a=0.2866nm。如用CrKaX射线（λ＝0.2291）照射，试求(110)，

（200），及（211）可发生的衍射的掠射角。

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第三章 X射线衍射线束的强度

一、名词解释：

1、相对强度 2、衍射线强度 3、多重性因子（P） 4、结构因子F 5、系统消光

二、填空题：

1、影响衍射线强度的因子是： 、 、 、 、 。

2、影响粉末多晶衍射线相对强度的因子是： 。 3、晶体中 晶面称为等同晶面。

4、根据布拉格方程，在多晶衍射中，等同晶面的衍射线将分布在 ，因为这些晶面对应的衍射角都相等。

5、结构因子只与 有关，而不受 的形状和大小影响。

三、判断题：

1、晶胞的形状和大小改变时，可能引起系统消光。（ ）

2、由于原子热运动使点阵中原子排列的周期性受到部分破坏，因此晶体的衍射条件也受到部分的坏，从而使衍射强度增加。（ ） 3、角因子与θ角成直线的关系。（ ）

四、问答及计算

1、 罗伦兹因数是表示什么对衍射强度的影响？其表达式是综合了哪几个方面考虑而得出的？ 2、 多重性因数的物理意义是什么？

3、 某立方系晶体，其｛100｝的多重性因数是多少？如该晶体转变成四方晶系，这个晶面族的多

重性因数会发生什么变化？为什么？

4、 CsCl属简单立方点阵，其中Cs＋坐标为（0 0 0），Cl－坐标为（1/2 1/2 1/2）。Cs原子散射振

幅为fCs，Cl原子散射振幅为fCl，求Fhkl2，并讨论衍射线的有无及其对衍射线强度的影响。 5、 结构因子表达式反映出晶体中的哪些内容？某晶体MeO3（立方）各原子占据的坐标位置为： 【Me】：（111）【O】：（1/2，1/2，0），（1/2，0，1/2），（0，1/2， 1/2）已知f Me＋＝10，f O－＝8，（1）试讨论系统消光规律；

＋

－

4

（2）若仅考虑F2，根据以上系统消光规律，写出下面晶面的衍射强度的强弱：（100），（110），

（111），（200），（210），（311），（222），（123）；

（3）若考虑多重性因子P和F2两项，写出下列晶面的衍射强度的大小顺序：（110），（200），

（220），（100）。

6、试推导体心点阵晶胞的系统消光规律。 7、试推导简单点阵晶胞的系统消光规律。

8、试推导底心点阵晶胞（原子坐标为0、0、0、1/2、1/2、0）的系统消光规律。 9、试推导面心点阵晶胞的系统消光规律。

10、总结简单点阵、体心点阵和面心点阵衍射线的系统消光规律

11、多晶体衍射的积分强度表示什么？今有一张用CuKa摄得的钨（体心立方）的德拜相，试计算出头4根衍射线的相对积分强度（不计算A(θ)和e-2M，以最强线的强度为100）。头4根线的值如下：

线条 θ/(o) 1 2 3 4

20.2 29.2 36.7 43.6

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第四章 X射线衍射的主要仪器和方法

一、名词解释

1、步进扫描 2、连续扫描 3、峰高强度 4、积分强度

二、填空题

1、最基本的衍射实验方法有三种： 、 、 。 2、X射线衍射仪有二种扫描方式： 。 3、衍射仪器法中曲线衍射峰2θ的位置确定方法有： 、 、 、 、 。

4、衍射仪工作时，计数器的运动方式有 和 两种。 5、德拜照相法底片安装方式为（要简单图示） 、 、 。 6、德拜照相法中衍射花样的记录方式有： 。 7、衍射线的记录方式有： ， 它们一般分别用于： 。 8、小θ角是面网间距 的低指数面网衍射的，而大θ角是面网间距 的高指 数面网衍射的。

9、X射线辐射探测器分为三种类型： 、 和 。

三、判断题

1、半导体计数器是借助于固体的电离效应而制成的。（ ）

2、衍射仪处于工作状态时，X射线源焦点F、试样表面及探测器狭缝光阑G，这三者处于一个聚焦园上。（ ）

3、弦中点法是按衍射峰的若干弦的中点连线进行外推，与衍射峰曲线相交的点。（ ） 4、闪烁计数器是利用X射线激发某种物质产生电离，产生电流脉冲过程为基础的。（ ） 6、 德拜法中背射区的分辨能力小。（ ）

7、 德拜法中背射区的衍射线一般用来作点阵常数的精确测定。（ ）

6

6、 适用于单晶研究的粉末法，其入射X射线波长不变化。（ ） 7、 入射波长一定时，小θ角是由d值小的面网衍射。（ ） 8、高角区出现Kα1、Kα2双线，它们的区别是：θ

（ α1＞θα2。

）

四、问答及计算

1、 试简述衍射仪法与德拜法的相同点和不同点。 2、 简述求衍射线峰值（即2θ位）的方法。

3、 某一粉未相上背散射区线条与透射区线条比起来，其θ较高抑或较低？相应的d较大还是较

小？既然多晶体粉未的晶体取向是混乱的，为何有此必然的规律？

4、 测角仪在采集衍射图时，如果试样表面转到与入射线成30度角，则计数管与入射线角度为若

干？能产生衍射的晶面，与试样的自由表面呈何种几何关系？

5、 试绘出德拜法德三种底片安装形式所产生德衍射花样，标出低角区及高角区，写出它们的计

算公式。

6、 写出德拜照相法成像原理，就如下图，写出（1）高角区与低角区；（2）Ⅰ、Ⅱ两对弧线是否

是Kα1、Kα2线，为什么？（3）标出Kα1、Kα2线的位置。已知：相机半径R＝57.3mm K

α1＝1.5405

埃，Kα2＝1.5443埃

A B · · · B 。 ⅠⅡ 。 A 7、 叙述X射线粉末法分析试样过程，在衍射数据和卡片对比不完全符合时，X射线衍射图判读

原则是什么？

8、 简单叙述测量衍射峰2θ位置与衍射线强度的主要方法。 9、 试述粉晶德拜照相法基本原理。 10、X射线衍射仪样品如何制备？

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第五章 X射线衍射线的指标化及晶胞参数的精确测定

问答及计算

1、 什么是衍射线的指标化？

2、 衍射线指标化的方法有哪三种，三种方法各适合哪个晶系？

3、 精确测定点阵常数时，在实验技术和数据处理上都应注意什么问题？

4、 某立方晶系晶体德拜花样中部分高角度线条数据如右表所列。试用“a—cos2θ”的图解外推法

求其点阵常数。

H2+K2+L2 38 40 41 42 sin2θ 0.911 4 0.956 3 0.976 1 0.998 0 5、按上题数据，应用最小二乘法(以cos2θ为外推函数)计算点阵常数值。(准确到4位有效数字)

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第六章 X射线物相分析

第七章 X射线衍射分析在无机材料中的应用

一、名词解释

1、JCPDS 2、Kj

3、X衍射定性分析 4、X衍射物相定量分析 5、XRD 6、ASTM

二、填空题

1、 X射线d值与 和 有关，相对强度则与 和 有关。

2、X射线物相分析包括 和 两部分内容。 3、JCPDS卡片检索手册分为四种形式： 、 和 。

4、哈那瓦尔特法索引是鉴定未知物相时主要使用的索引，它按衍射花样的 排列的。 5、X射线衍射定量分析的方法有： 、 、 、 、 。

6、X射线物相定性分析中三个判定原则是 、 、 。

三、问答与计算

1、 试述对未知混合物的X衍射物相定性分析步骤。 2、 多晶试样X衍射定性分析的步骤。

3、 简述衍射定性物相鉴定过程中应注意的问题。 4、 X射线衍射定量分析的方法有哪几种？

5、 试比较物相定量分析之内标(曲线)法、K值法、任意内标法及直接对比法的应用特点。 6、 非晶态物质的X射线衍射与晶态物质的有何不同？

7、 对食盐进行化学分析与物相定性分析，所得信息有何不同？

9

8、 A-TiO2(锐钛矿)与R-TiO2(金红石)混合物衍射花样中两相最强线强度比I A-TiO2/ R-TiO2=1.5。

试用参比强度计算两相各自的质量分数。

9、 由ZnO、TiO2（金红石）、BaSO4、SiO2（非晶型）组成的四相混合物，取其试样量1.2886g，

加入0.3202g的刚玉粉作清洗剂。查得JCPDS卡片上的参比强度值为KsZnO＝2.15，Ks TiO2＝2.97，Ks BaSO4＝2.07，加入清洗剂后的混合样品的衍射花样上四结晶相的最强线为1034、617、860、331（刚玉本身的）（C.P.S），求原四相的百分含量。 10、

如表中所示：a为试样的衍射数据，b，c为已知卡片的衍射数据，请详细说明混合物的

鉴定方法。 No. I/I0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 1 7 25 100 10 2 8 60 10 10 2 15 1 1 8 1 3 20 1 20 2 4 3 a d 4.6 2.86 2.43 2.10 2.02 1.65 1.56 1.50 1.43 1.26 1.23 1.21 1.17 1.08 1.05 1.01 0.965 0.94 0.90 0.858 0.847 0.825 0.810 I/I0 10 100 52 4 12 5 2 17 15 3 b d 2.431 2.106 1.489 1.270 1.216 1.0533 0.9665 0.9419 0.8600 0.810 I/I0 4 40 100 3 58 10 45 58 3 2 9 1 7 2 4 12 5 3 10 6 ＜1 ＜1 10 20 c d 4.67 2.858 2.436 2.335 2.021 1.649 1.555 1.429 1.336 1.273 1.232 1.218 1.1662 1.1312 1.0796 1.0518 1.0100 0.9522 0.9330 0.9034 0.8869 0.8613 0.8469 0.8247 10

11、 由高岭石、长石、石英组成的试样重3.7377g，加入0.8181g的刚玉粉作清洗剂，一直

Kis分别为3.4、4.2、2.7，混合样品衍射花样上四相的最强线强度分别为：4050、2072、2840、599（cps），求原三相的百分含量？

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第八章 电子光学基础

一、名词解释

1、静电透镜 2、磁透镜 3、几何像差 4、焦深 5、透射景深Df 6、分辨率 7、球差 8、色差

二、填空题

1、电磁透镜有以下特点： 。 2、电磁透镜的像差有： 。 3、电磁透镜的焦距与 成正比，它具有如下特点：能使电子成像，但不能 ，总是 透镜， 和 连续可调。 4、静电透镜能使 ， ，一般用于 中以形成会聚的高能电子。 5、样品的特征通过对电子 能力的不同，变成有 的电子图像。

三、判断题

1、在保持象清晰度的前提下，像平面沿镜轴可移动的距离Di叫焦深。（ ） 2、色差是由于入射电子束能量非单一性引起的。（ ） 3、透镜物平面允许的轴向偏差定义为透镜的焦深。（ ） 4、电磁透镜不能加速电子。（ ）

5、能使电子波聚焦的具有旋转对称均匀的磁极装置叫做磁透镜。（ ） 6、电磁透镜的特点之一是能使电子加速并使电子偏转会聚成像。（ ） 7、色差是由于能量非单一性引起的。（ ） 8、球差是由于透镜磁场非旋转对称引起的。（ ）

9、电子透镜的场深是指在保持像清晰度的前提下，像平面沿镜轴可移动的距离。（ ）

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四、问答与计算

1、 电子波有何特征？与可见光有何异同？

2、 分析电磁透镜对电子波的聚焦原理，说明电磁透镜的结构对聚焦能力的影响。 3、 电磁透镜的像差是如何产生的，如何来消除和减少像差？

4、 说明影响电磁透镜分辨率的关键因素是什么？如何提高电磁透镜的分辨率？

5、 电磁透镜景深和焦长主要受哪些因素影响？说明电磁透镜的景深大、焦长长，是什么因素影

响的结果？假设电磁透镜没有像差，也没有衍射埃利斑，即分辨率极高，此时它的景深和焦长如何？

6、 试计算加速电压为100KV时的电子束波长，当球差系数Cs＝0.88mm，孔径半角α＝10-2弧度

时的分辨率。

7、 何谓景深与焦深？当△r0＝10埃，α＝10-2弧度，M＝3000×时，请计算Df与DL值。

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第九章 透射电子显微镜

一、名词解释

1、衬度 2、弹性散射 3、TEM

二、填空题

1．TEM的三种电子图像为： 。 2 .透射电镜仪器结构包括 、 、 。 3、透射电镜的样品的制备主要分为 和 两大类。

三、判断题

1、在电子与试样的作用过程中，我们把那种既不改变电子运动方向，又不损失电子能量的散射称为弹性散射。这样的散射线的周相与入射线的周相有确定的关系，并且能量（波长）不变，因而能互相产生干涉现象。即可能产生衍射线。（ ）

2、当物平面与物镜后焦平面重合时，可看到形貌像。（ ）

3、减弱中间镜的电流，增大其物距，使其物平面与物镜的后焦平面重合，叫衍射方式操作。（ ） 5、 照射到样品上的电子束直径越小，分辨率越高。（ ）

6、 原子序数Z越大的原子，其对入射电子的散射的弹性散射部分越小。（ ）

7、 对于某些样品，它们的厚度大致均匀，平均原子序数和密度也相近，若用散射衬度像成像仍

可得到满意的图像。（ ）

四、问答与计算

1、如图，在150KV加速电压下拍得金环，从里向外测得R1＝8.8mm，R2＝10.3mm，R3＝14.3mm，??。已知金是面心立方结构，a＝4.07埃，请标定K。

R2 R1 R3

多晶金衍射花样

2、某合金析出相（立方单晶）电子衍射花样如图，OA＝14.0mm，OB＝OC＝23.5mm，

φ＝73°，K＝30.2mm埃，试确定各斑点的指数。

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C B 73° O

A 3、有一立方多晶样品拍摄的衍射花样中，各环的半径分别为8.42、11.88、14.52、16.84mm，试标定其K值。（a＝2.02埃）

4、简述单晶电子衍射花样的获得及分析过程。

5、TEM萃取复型样品的散射衬度像形成原理是什么？ 6、透射电镜中经投影的二次复型样品怎样看到形貌像？该像是如何形成的？ 7、透射电镜中塑料一级复型样品的形貌像是如何形成的？ 8、有试样需做TEM分析，如何制备样品？ 9、简述透镜二级复型样品的制备过程。

10、透射电镜的样品制备方法中的间接法、半间接法各指哪些方法？简单写出塑料－碳膜二级复

型样品的制备过程。

11、透射电镜样品的制备方法有哪些？写出二级复型样品的制备过程和投影重金属的作用。 12、试简述复型试样的一般形貌成像原理。并举例说明复型像的质厚成像过程及其对应关系。 13、粉末样品在透射电镜中如何形成散射衬度像？ 14、非晶体与晶体在透射电镜下成像状况如何？

15、解释散射衬度像的形成原理；写出二级复型样品制备过程。

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第十章 扫描电子显微镜

一、名词解释

1、SEM 2、二次电子 3、背散射电子 4、阴极发光

二、判断题

1、背散射电子像是原子序数衬度，背散射系数与原子序数成正比。（ ） 2、扫描电镜的分辨本领高于透射电镜。（ ） 3、扫描电镜的背散射电子像是原子序数衬度。（ ） 4、二次电子象是表面形貌衬度。（ ） 5、二次电子的产额与原子序数成正比。（ ）

6、SEM一般是采用二次电子成像，这种工作方式叫发射方式。（ ）

三、问答与计算

1．SEM如何制备样品？ 2．SEM如何成像？

3．简述扫描电镜样品制备应主要考虑的问题。 4．简述扫描电镜的工作原理及样品制备。

5．扫描电镜的主要工作方式有哪几种，它们收集什么信号成像？ 6、扫描电镜的成像原理与透射电镜有何不同？

8、 电子束入射固体样品表面会激发哪些信号？它们有哪些特点和用途？

9、 二次电子像景深大，样品凹坑底部都能清楚地显示出来，从而使图像的立体感很强，其原因

何在？

10、扫描电镜的分辨率受到哪些因素影响，用不同的信号成像时，其分辨率有何不同？所谓扫描电镜的分辨率是指用何种信号成像时的分辨率？

11、扫描电镜的放大倍数与透射电镜放大倍数相比有何特点？

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第十一章 电子探针X射线显微分析

一、名词解释

1、EPMA 2、分光晶体 3、点分析 4、线扫描 5、面扫描

二、填空题

1.电子探针的基本分析方法为： 。 2、常用的X射线谱仪有两种： 和 。

三、问答与计算

1、 电子探针与扫描电镜有何异同？电子探针如何与扫描电镜和透射电镜配合进行组织结构与微

区化学成分的同位分析？

2、电子探针X射线显微分析基本原理是什么？

3、试比较波谱仪和能谱仪在进行微区化学成分分析时的优缺点。 4、为什么说电子探针是一种微区分析仪？

5、要分析钢中碳化物成分和基体中碳含量，应选用哪种电子探针仪？为什么？

6、要在观察断口形貌的同时，分析断口上粒状夹杂物的化学成分，选用什么仪器？用怎样的操作方式进行具体的分析？

7、电子探针所分析的元素范围一般从硼(B)——铀(Ｕ)，为什么不能分析轻元素（氢、氦、锂和铍）。

8、举例说明电子探针的三种工作方式（点、线、面）在显微成分分析中的应用。

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第十三章 绪论

名词解释

1、热分析

2、差热分析（DTA） 3、TG 4、EDS 5、DTG

6、差示扫描量热法（DSC）

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第十四章 差热分析

一、名词解释

1、DTA曲线 2、零线 3、基线 4、吸热峰 5、放热峰

二、填空题

1、影响差热曲线的主要因素是： 。 2、利用DTA法测定混合物中各种矿物含量的方法，通常有下列几种： 。 3、DTA曲线是 曲线和 曲线的总称。 4、DTA中用参比物稀释试样的目的是： 。 5、DTA仪主要有 种基本形式。 式，是把温差电流通过 而记录差热曲线； 式，是通过 而记录差热曲线。

6、.DTA仪结构，一般有 、 、 和 四个系统。

7、对称度是指试样和参比物在 、 、 、

等方面的符合程度。

三、判断题

1、DTA曲线上温度基本不变的部分叫基线。（ ）

2、DTA曲线中的峰面积是指峰和基线之间所围的面积。（ ） 3、DTA中随升温速度增大，试样反应温度会出现滞后。（ ） 4、试样不发生热效应情况下，曲线偏离基线，称为基线漂移。（ ） 5、非晶质体重结晶时DTA曲线上产生放热峰。（ ） 6、基线是△T＝0的直线。（ ）

7、△T热偶的工作原理是由于两种金属间的接触电位差。（ ）

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四、问答与计算

1、影响差热曲线形态的主要因素有哪些？

2、 差热分析仪的基本原则是什么？差热曲线与温度曲线如何测绘？ 3、 利用DTA曲线如何进行定性分析？ 4、 利用DTA曲线如何进行定量分析？

5、 差示扫描量热法与差热分析方法相比有何优越性？ 6、 在陶瓷工业中，差热定性分析的主要内容有哪些？

7、 以普通陶瓷原料（由高岭、石英、长石组成）为例，分析其可能出现哪些热效应。 8、 粘土类矿物在加热过程中主要热效应的实质是什么？ 9、 粘土矿物常见的热效应有哪几种？

10、绘出高岭、多水高岭的DTA曲线并解释之。

11、绘出高岭石与多水高岭石的DTA曲线，并讨论峰热效应实质，对这两种矿物进行DTA分析时应注意什么问题？

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第十五章 热重分析

一、填空题

1、TG仪的种类有： 。 2、TG曲线是 曲线和 曲线的总称。

3、失重分析通常有两种方法，即 和 ；所谓 就是把试

样在 然后用 作图； 则是在加热过程中 ，然后用 作图。

二、问答与计算

1、 热重分析的基本原理是什么？

2、 热得分析仪对热天平有什么特殊的要求？ 3、 影响TG曲线的主要因素有哪些？ 4、 热重分析在无机材料中具体有哪些应用？ 5、 热重法与微商热重法相比各具有何特点？

6、 由碳酸氢钠的热重分析可知，它在100－225℃之间分解放出水和二氧化碳，所失质量占样品

质量的36.6%，而其中ω(CO2)＝25.4%，试据此写出碳酸氢钠加热时的固体反应式。 7、 简单解释下图的热重曲线。

图 TG曲线

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第十六章 热膨胀分析

一、名词解释

1、差示热膨胀法 2、一阶热膨胀法

二、问答

1、 试用双原子模型说明固体热膨胀的物理本质？ 2、 热膨胀分析的基本原理是什么？

3、 真线膨胀系数和平均线膨胀系数有何不同？如何测定？ 4、 试述影响膨胀系数的因素？

5、 试说明普通光学膨胀仪和示差光学膨胀仪的测量原理。它们有何不同？ 6、 举例说明热膨胀分析在陶瓷领域的应用。

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