材料分析测试总复习题

总复习题（考试范围） 1) X射线衍射在材料分析测试方面有哪些具体的应用？

1、单晶材料：晶体结构、对称性和取向方位、缺陷观察（完整性） 2、物相鉴定（定性分析）

3、定量分析、测定相图或固溶度 4、晶粒大小、应力应变

2) X射线的本质是什么？获得X射线的方法有哪些？ 电磁波，具有波粒二象性。

1.产生并发射自由电子（例如加热钨灯丝发射热电子）；

2.在真空中（一般为10-6毫米汞柱）迫使自由电子朝一定方向加速运动，以获得尽可能高的速度； 3.在高速电子流的运动路程上设置一障碍物（阳极靶），使高速运动的电子突然受阻而停止下来。这样，靶面上就会发射出X射线。

3) 简述X射线管的基本原理。（不确定）

工作参数：35～50KV，10～35mA，功率密度100W/mm2；通常用旋转阳极散热

X射线焦点：阳极靶上被电子束轰击的区域为焦点，影响衍射图像的形状、清晰度额分辨率 1×10mm；0.1×10mm

4) 试证明：倒格矢⊥正点阵同指数晶面，其中倒格矢长度等于晶面间距的倒数。

5) 写出求解公式：I）已知同一晶带的两晶面指数，求晶带轴；II）已知两晶带轴平行于同一晶面，求

此晶面指数。

6) 试推导劳厄方程及布拉格定律，解释其物理意义。

7) 简述XRD研究方法、条件及其应用范围。

8) 试述影响X射线的衍射线束强度的主要因素。

9) 用德—拜相机测定某晶体的晶面间距，已知X射线的波长为0.2085nm，相机半径为57.3mm，测得

两衍射线间的距离为180mm。求此晶体的晶面间距。

10) 简述X射线仪的原理及基本构造。 11) 试述PDF卡片各区域的意义。

12) 简述如何使用数字索引和字母索引查找PDF卡片？ 13) 简述XRD衍射仪分析未知物质的基本过程。

14) 能量为100KeV的电子束通过多晶薄铝片，已知铝的点阵常数a=0.405nm，问最低角衍射束的衍射角

2θ等于多少度？

15) X射线照射在单晶Au薄膜样品上，样品厚度20nm，表面为（111）面，入射波波长λ=0.1542nm。a）

求其最低衍射角；b）求反射束的角度（Δθ=±λ/2δcosθ）

16) 用Fe2O3作为内标物质测定其本身与其它化合物组成矿石中Fe的含量。矿石中Fe的Kα谱线的强度

测量为1min计数9000脉冲（背底1200脉冲）；当97g矿石中加入3g Fe2O3后Fe的Kα为1min28800脉冲（背底为1800脉冲）。求矿石中Fe的含量。 17) 试讨论MgO的（220）、（111）、（331）、（110）、（112）晶面对衍射束强度的影响。 18) 晶粒间的残余应力及物质内部的微观应力对衍射峰有何影响？

19) 某面心立方结构的晶体晶面（201）上发生形变，其点阵常数为a=0.6708nm，变形后，其某特征晶面

衍射线半高宽度增加了0.0523°。其弹性模量E=4500MPa。试问变形后所产生的微观应力是多少？ 20) 电子显微分析的主要任务是什么？主要有哪些分析仪器？ 21) 电子光学与几何光学有什么区别？ 22) 加速电压与电子的波长的关系怎样？ 23) 电子在电场和磁场中怎样运动？

24) 电子与固体试样作用产生的信号有哪些？各种信号的深度和广度范围多大、有何应用？画出示意图表

示之。

25) 简述透射电镜（TEM）的工作原理、构造及其应用。 26) 简述扫描电镜（SEM）的工作原理、构造及其应用。 27) 简述TEM复型样品的制作过程。

28) 制作TEM薄膜样品有哪些基本要求？ 29) 简述衍衬成像原理。

30) 31) 32) 33) 34) 35) 36) 37)

电子衍射有哪些特点？有哪些应用？

什么是电子衍射的相机常数？试推导之。 常见的电子衍射图谱有哪些？各有何特点？ 怎样标定单晶和多晶电子衍射花样？

什么是表面形貌衬度和原子序数衬度？有何应用？

波谱仪（WDS）和能谱仪（EDS）基于什么原理？比较两者的分析特点。 简述电子探针分析方法的基本原理和应用。 某立方晶体的电子衍射花样是一系列同心圆，测得其直径分别为13.24, 15.28, 21.64, 25.39, 26.42, 30.55, 33.35mm。已知电镜的有效相机常数K＝1.48mm.nm，问该样品的晶体点阵常数为多少？

38) 用作标样金（Au）的电子衍射花样是一系列同心圆，靠近圆心的圆的直径分别为13.24, 15.29, 21.62,

25.35mm。已知金的点阵常数a＝0.4078nm。问该电镜的有效相机常数为多少？

本文来源：https://www.bwwdw.com/article/qloh.html