《数字逻辑》实验指导书

实 验 指 导 书

计算机与信息学院《数字逻辑》课程组编印

数字逻辑电路实验指导书 目录

实验箱简介 ................................................................................................................... 1 数字电路实验基本知识 ............................................................................................... 4 实验一 TTL门电路的逻辑功能测试 ....................................................................... 7 实验二 数据选择器及其应用 ................................................................................. 11 实验三 组合逻辑电路的设计与测试 ....................................................................... 13 实验四 触发器R-S 、J-K、T、D ......................................................................... 16 实验五 集成计数器 ................................................................................................. 20 附录一 常用门电路和触发器使用规则 ............................................................... 24 附录二 部分集成电路引脚排列图 ......................................................................... 26

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数字逻辑电路实验指导书 实验箱简介

数字逻辑电路实验箱使用说明

一、实验箱组成模块

一、信号源模块和电源单元 二、逻辑电平输出 三、逻辑电平显示 四、可调电位器部分 五、共阴共阳数码管

六、DIP插座部分和面包板 七、地插孔和测试钩 八、选配集成芯片

二、数字逻辑电路实验箱主电路板

1、信号源模块和电源单元

为实验箱其它功能模块提供丰富的信号资源。主要由固定频率信号源，连续可调信号源，单次脉冲源组成。固定频率信号源包含各种频率的方波：1HZ，10HZ，100HZ， 1KHZ，10KHZ，100KHZ，1MHZ；连续可调信号源同样通过改变电位器值来改变输出的频率的范围，W200的可调范围是0Ω～1MΩ，调节W200可以细调输出的频率；单次脉冲源有正脉冲输出和负脉冲输出两种，按下S201就会产生一个正的或负的脉冲，它与按下的时间长短无关。当要使用这一个模块中的信号源时，只需要将其接入相应的输入端，对该模块上电（按POWER201）即可。

按下箱体右侧的交流开关，电源单元的直流指示灯亮了，表明电源部分正常工作。 2、逻辑电平输出

此模块的主要功能是提供高低电平。当需要一个高电平时，将拨位开关拨上即可，同样需要一个低电平将拨位开关拨下即可。 3、逻辑电平显示

它的主要作用是对输出电平的高低进行显示，如果发光二极管发光，则对应的输出为高电平，相反发光二极管不发光，则对应的输出为低电平。

4、可调电位器部分

此部分提供1K,10K，50K，100K四个可调电位器，可供实验中使用。 5、LED模块共阴数码管和共阳数码管

实验箱上提供的TOS5101AH为共阴数码管，TOS5101BH为共阳数码管，从左下脚开始数为第1脚，引脚数按照逆时针方向递增，它们的第3脚和第8脚为公共端。实验箱上提供了8个孔，这8个孔的对应标号已经给出。此模块设计力求灵活可变，当需要两个共阴的数码管时，只需将共阳数码管拔起，换上共阴数码管即可，同样需要两个共阳数码管，只需将共阴数码管拔起，换上共阳数码管。另外还可以做共阴共阳数码管的单独实验。

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数字逻辑电路实验指导书 本实验箱提供的是高亮型数码管，它的点亮电流为1～3mA。 6、DIP插座部分和面包板

DIP自锁紧式插孔部分：ZY11DC11BE实验板上有1个DIP8，4个DIP14，2个DIP16，2个DIP20，1个DIP40（可以把DIP40当成元件库部分），它们在实验箱上对应的标号依次为IC8，IC14，IC16，IC20，IC40。细心的学生可以发现在板上IC40处有60个插针，中间一排20个插针与上面一排20个插针是连通的。实验中如果需要插入电阻电容可插在下面两排插针之间，从相应的孔中引出连线。

本实验箱还提供了面包板，面包板的上方有两个小的插孔分别是5V和GND，可以通过两根跳线把5V和GND分别引入面包板的最右排和最左排的插孔中，这样电源和地就引入到面包板上。

7、地插孔和测试钩

为了方便测试，本实验箱在一些地方放置了一些GND插孔和测试钩。在测试信号的时候需要把负极接地时，就可以把相应的负极插入或者钩住这些标有GND的插孔或测试钩，根据这些插孔和测试钩的分布，应当可以方便的测试本实验箱的信号。如果你使用示波器又不想频频的更换负极接线口，你可以用一根线把实验箱上的GND引出，再用探头的负极夹住此引出线。

8、选配集成芯片

本实验箱配备了一套能够做本实验指导书所涉及的所有集成芯片，可供购买时选择。

三、系统组成见下表 固定信号源单元 1MHz、100KHz、10KHz，1KHz，100Hz，10HZ，1Hz 显示单元 七段共阴和共阳数码块，一组8位数据指示灯 开关控制电路 两路单脉冲触发电路，8个二进制拨动开关 通用实验电路 1块进口面包板，4个14P，2个16P和20P，1个8P和40P的自锁紧式插槽 系统电源 +5V（有过流保护功能） 表1 实验箱组成表

四、实验注意事项

1、电源的打开顺序是：先开交流开关（实验箱右侧船形开关），需要用到信号源模块时，再打开信号源模块的开关（POWER201）。如果不需要使用信号源模块最好关掉信号源部分的开关。电源关掉的顺序刚好与此相反。

2、在实验之前请学生认真看附录一：常用门电路和触发器的使用规则。 3、切忌在实验中带电连接线路，正确的方法是断电后再连线，进行实验。

4、实验箱主电路板上所有的芯片出厂时已全部经过严格检验，因此在做实验时切忌随意插拔芯片。

5、实验箱中的叠插连接线的使用方法为：连线插入时要垂直，插入后稍做旋转，切忌用力，拔出时用手捏住连线靠近插孔的一端，然后左右旋转几下，连线自然会从插孔中松开、弹出，切忌用力向上拉线，这样很容易造成连线和插孔的损坏。

6、实验中应该严格按照老师的要求和实验指导书来操作，不要随意乱动开关、芯片及

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数字逻辑电路实验指导书 其它元器件，以免造成实验箱的损坏。

7、IC插座的40PIN插座中，可以在下面的两排分别有20脚的插座中插上相应芯片，只需管脚对应即可；也可以插上40PIN芯片；但切忌不要在上面两排插座装用芯片作实验，因为它们是连通的。

8、如果在实验中由于操作不当或其它原因而出现异常情况，如数码管显示不稳，闪烁，芯片发烫等，首先立即断电，然后报告老师，切忌无视现象，继续实验，以免造成严重后果。 9、不要将逻辑电平输出模块的输出直接接共阴或共阳数码管。

74LS00 74LS02 74LS03 74LS04 74LS08 74LS10 74LS20 74LS32 74LS86 74LS74 74LS112 74LS151 74LS192 74LS194 74LS85 74LS125 74LS161 CC4085 CC40106 HEF4528 TTL与CMOS功能相同芯片对照表

CC4011 二输入端四与非门 CC4001 二输入端四或非门

二输入端四与非门（OC） CC4069 六反相器

CC4081 二输入端四与门 CC4023 三输入端三与非门 CC4012 四输入二与非门 CC4071 二输入端四或门 CC4030 二输入端四异或门 CD4013 双D触发器 CD4027 双J-K触发器 八选一数据选择器

CC40192 同步十进制可逆计数器 CC40194 四位双向通用移位寄存器 4位幅度比较器 四总线缓冲门

同步4位二进制计数器 双2路2输入与或非门 六施密特触发器

双可重触发单稳态触发器

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数字逻辑电路实验指导书 数字电路实验基本知识

中、小规模数字IC中最常用的是TTL电路和CMOS电路。TTL器件型号以74（或54）作前缀，称为74/54系列，如74LS10、74F181、54S86等。中、小规模CMOS数字集成电路主要是4XXX/45XX（X代表0-9的数字）系列，高速CMOS电路HC（74HC系列），与TTL兼容的高速CMOS电路HCT（74HCT系列）。TTL电路与CMOS电路各有优缺点，TTL速度高，CMOS电路功耗小、电源范围大、抗干扰能力强。由于TTL在世界范围内应用极广，在数字电路教学实验中，主要使用TTL74系列电路作为实验用器件。

数字IC器件有多种封装形式。为了教学实验方便，实验中所用的74系列器件封装选用双列直插式。双列直插式封装有以下特点：

1、正面（上面）看，器件一端有一个半园的缺口，这是正方向的标志。缺口左边的引脚号为1，引脚号按逆时针方向增加。双列直插式封装IC引脚数有8、14、16、20、24、28等若干种。

2、双列直插器件有两列引脚。引脚之间的间距是2.54毫米。两列引脚之间的距离能够稍作改变，引脚间距不能改变。将器件插入实验台上的插座中去或者从插座中拔出时要小心，不要将器件引脚搞弯或折断。

3、74系列器件一般右下角的最后一个引脚是GND，左上角的引脚是Vcc。例如，14引脚器件引脚7是GND，引脚14是Vcc；20引脚器件引脚10是GND，引脚20是Vcc。但也有一些例外，例如16引脚的双JK触发器74LS76，引脚13（不是引脚8）是GND，引脚5（不是引脚16）是Vcc。所以使用集成电路器件时要先看清楚它的引脚图，找对电源和地，避免因接线错误造成器件损坏。

本实验箱上的接线采用自锁紧插头、插孔（插座）。使用自锁紧插头、插孔接线时，首先把插头插进插孔中，然后将插头按顺时针方向轻轻一拧则锁紧。拔出插头时，首先按逆时针方向轻轻拧一下插头，使插头与插孔之间松开，然后将插头从插孔中拔出。不要使劲拔插头，以免损坏插头和连线。

必须注意，不能带电插、拔器件。插、拔器件只能在关断电源的情况下进行。

二、数字电路测试及故障查找、排除

设计好一个数字电路后，要对其进行测试，以验证设计是否正确。测试过程中，发现问题要分析原因，找出故障所在，并解决它。数字电路实验也遵循这些原则。 1、 数字电路测试

数字电路测试大体上分为静态测试和动态测试两部分。静态测试指的是，给定数字电路若干组静态输入值，测试数字电路的输出值是否正确。数字电路设计好后，在实验台上连接成一个完整的线路。把线路的输入接电平开关输出，线路的输出接电平指示灯，按功能表或状态表的要求，改变输入状态，观察输入和输出之间的关系是否符合设计要求。静态测试是检查设计是否正确，接线是否无误的重要一步。

在静态测试基础上，按设计要求在输入端加上动态脉冲信号，观察输出端波形是否符合设计要求，这是动态测试。有些数字电路只需要进行静态测试即可，有些数字电路则必须进

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数字逻辑电路实验指导书 行动态测试，一般地说，时序电路应进行动态测试。 2、 数字电路的故障查找和排除

在数字电路实验中，出现问题是难免的。重要的是分析问题，找出出现问题的原因，从而解决它。一般的说，有四个方面的原因产生问题（故障）：器件故障、接线错误、设计错误和测试方法不准确。在查找故障过程中，首先要熟悉经常发生的典型故障。

（1） 器件故障

器件故障是器件失效或器件接插问题引起的故障，表现为器件工作不正常。不言而喻，器件失效肯定会引起工作不正常，这需要更换一个好器件。器件接插问题，如管脚折断或者器件的某个（或某些）引脚没插到插座中等，也会使器件工作不正常。对于器件接插错误有时不易发现，需仔细检查。判断器件失效的方法是用集成电路测试仪测试器件。需要指出的是，一般的集成电路测试仪只能检查器件的某些静态特性。对负载能力等静态特性和上升沿、下降沿、延迟时间等动态特性，一般的集成电路测试仪不能测试。测试器件的这些参数，须使用专门的集成电路测试仪。

（2） 接线错误

接线错误是最常见的错误。据有人统计，在教学实验中，大约70％以上的故障是由接线错误引起的。常见的接线错误包括忘记接器件的电源和地；连接线和插孔接触不良连线经多次使用后，有可能外面的塑料包皮完好，但内部线断；连线多接、漏接、错接；连线过长、过乱造成干扰。接线错误造成的现象多种多样，例如器件的某个功能模块不工作或者工作不正常，器件不工作或发热，电路中一部分工作状态不稳定等。解决方法大致包括：熟悉所用器件的功能及其引脚号，知道器件每个引脚的功能；器件的电源和地一定要接对、接好；检查连线和插孔是否接触良好；检查连线有无错接、多接、漏接；检查连线中有无断线。最重要的是接线前要画出接线图，按图接线，不要凭记忆随想随接；接线要规范、整齐，尽量走直线、短线，以免引起干扰。

（3） 设计错误

设计错误自然会造成与预想的结果不一致。原因是对实验要求没有吃透，或者是对所用器件的原理没有掌握。因此实验前一定要理解实验要求，掌握实验线路原理，精心设计。初始设计完成后一般应对设计进行优化。最后画好逻辑图以及接线图。

（4） 测试方法不正确

如果不发生前面所述三种错误，实验一般会成功。但有时测试方法不正确也会引起观测错误。例如，一个稳定的波形，如果用示波器观测，而示波器没有同步，则造成波形不稳的假象。因此要学会正确使用所用仪器、仪表。在数字电路实验中，尤其要学会正确使用示波器。在对数字电路测试过程中，由于测试仪器、仪表加到被测电路上后，对被测电路相当于一个负载，因此测试过程中也有可能引起电路本身工作状态的改变，这点应引起足够的注意。不过，在数字电路实验中，这种现象很少发生。

当实验中发现结果与预期不一致时，千万不要慌乱。应仔细观测现象，冷静思考问题所在。首先检查仪器、仪表的使用是否正确。在正确使用仪器、仪表的前提下，按逻辑图和接线图逐级查找问题出现在何处。通常从发现问题的地方，一级一级向前测试，直到找出故障的初始发生位置。在故障的初始位置处，首先检查连线是否正确。前面已说过，实验故障绝大部分是由接线错误引起的，因此检查一定要认真、仔细。确认接线无误后，检查器件引脚是否全部正确插入插座中，有无引脚折断、弯曲、错插问题。确认无上述问题后，取下器件

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数字逻辑电路实验指导书 测试，以检查器件好坏，或者直接换一个好器件。如果器件和接线都正确，则需要考虑设计问题。

实验箱总体框图

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数字逻辑电路实验指导书 实验一 TTL门电路的逻辑功能测试

一、实验目的

1、掌握TTL器件的使用规则。

2、掌握TTL集成与非门的逻辑功能。 3、掌握TTL集成与非门的测试方法。

二、实验原理

TTL集成电路的输入端和输出端均为三极管结构，所以称作三极管、三极管逻辑电路（Transistor -Transistor Logic ）简称TTL电路。54 系列的TTL电路和74 系列的TTL电路具有完全相同的电路结构和电气性能参数。所不同的是54 系列比74 系列的工作温度范围更宽，电源允许的范围也更大。74 系列的工作环境温度规定为0—700C，电源电压工作范围为5V±5%V，而54 系列工作环境温度规定为-55—±1250C，电源电压工作范围为5V±10%V。 54H 与74H,54S 与74S 以及54LS 与74LS 系列的区别也仅在于工作环境温度与电源电压工作范围不同，就像54 系列和74 系列的区别那样。在不同系列的TTL 器件中，只要器件型号的后几位数码一样，则它们的逻辑功能、外形尺寸、引脚排列就完全相同。

TTL 集成电路由于工作速度高、输出幅度较大、种类多、不易损坏而使用较广，特别对我们进行实验论证，选用TTL 电路比较合适。因此，本实训教材大多采用74LS(或74)系列TTL 集成电路，它的电源电压工作范围为5V±5%V，逻辑高电平为“1”时≥2.4V，低电平为“0”时≤0.4V。

它们的逻辑表达式分别为：

图1.2.1 分别是本次实验所用基本逻辑门电路的逻辑符号图。

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数字逻辑电路实验指导书

图1.2.1 TTL 基本逻辑门电路

它们的真值表见表1.2.1。

表1.2.1.基本逻辑门的真值表

与门的逻辑功能为“有0 则0，全1 则1”；或门的逻辑功能为“有1则1，全0 则0”；非门的逻辑功能为输出与输入相反；与非门的逻辑功能为“有0 则1，全1 则0”；或非门的逻辑功能为“有1 则0，全0 则1”；异或门的逻辑功能为“不同则1，相同则0”。

三、实验设备与器件

1、仪器

数字逻辑实验箱 2、器件

74LS00 二输入端四与非门 74LS04 六反相器

四、实验内容及实验步骤

1、测试74LS04（六非门）的逻辑功能

将74LS04正确接入DIP插座，注意识别1脚位置（集成块正面放置且缺口向左，则左下角为1脚），输入端接逻辑电平输出插口，输出端接逻辑电平显示，拨动逻辑电平开关，根据LED发光二极管亮与灭，检测非门的逻辑功能，结果填入下表中。

A 0 1 Y 2、测试74LS00（四2输入端与非门）逻辑功能

将74LS00正确接入DIP插座，注意识别1脚位置（集成块正面放置且缺口向左，则左下角为1脚），输入端接逻辑电平输出插口，输出端接逻辑电平显示，拨动逻辑电平开关，根据LED发光二极管亮与灭，检测非门的逻辑功能，结果填入下表中。

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数字逻辑电路实验指导书 B 0 1 0 1 Y A 0 0 1 1 3、利用与非门组成其他逻辑门电路 ⑴组成与门电路

将74LS00中任意两个与非门组成如下图所示的与门电路，输入端接逻辑电平开关，输出端接指示灯LED，拨动逻辑开关，观察指示灯LED的亮与灭，测试其逻辑功能，结果填入下表中。

与门电路连接图 与门真值表

A 0 0 1 1 B 0 1 0 1 Y ⑵组成或门电路

将74LS00中任选三个与非门组成如下图所示的或门电路，输入端接逻辑电平开关，输出端接指示灯LED，拨动逻辑开关，观察指示灯LED的亮与灭，测试其逻辑功能，结果填入下表中。

或门电路连接图 或门真值表

A 0 0 1 1 B 0 1 0 1 Y ⑶组成异或门电路

将74LS00中的与非门按照下图所示的电路连线，输入端接逻辑电平开关，输出端接指示

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数字逻辑电路实验指导书 灯LED，拨动逻辑开关，观察指示灯LED的亮与灭，测试其逻辑功能，结果填入下表中。

异或门电路连接图 异或门真值表

A 0 0 1 1

B 0 1 0 1 Y 五、实验报告要求

记录整理实验结果，并对结果进行分析。

? 在做本实验之前一定要先仔细阅读附录一。 ? 实验中所需器件的引脚分布图参考附录三。 ? 逻辑电平单元拨上为高电平，拨下为低电平。

? 实验中所说明的Vcc在没有特别申明情况下都接5V（后同）。

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数字逻辑电路实验指导书 实验二 数据选择器及其应用

一、实验目的

1、掌握中规模集成数据选择器的逻辑功能和使用方法。 3、 学习用数据选择器构成组合逻辑电路的方法。

二、实验原理

数据选择是指经过选择，把多个通道的数据传送到唯一的公共数据通道上去。实现数据选择功能的逻辑电路称为数据选择器。它的功能相当于一个多个输入的单刀多掷开关，其示意图如下：

数据选择器74LS151

74LS151是一种典型的集成电路数据选择器，它有3个地址输入端CBA，可选择D0~D7这8个数据源，具有两个互补输出端，同相输出端Y和反相输出端WN。其引脚图如下图2-4所示，功能表如下表所示，功能表中‘H’表示逻辑高电平；‘L’表示逻辑低电平；‘×’表示逻辑高电平或低电平：

74LS151的引脚图表 表74LS151的功能表

三、实验设备与器件

1、仪器

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数字逻辑电路实验指导书 数字逻辑实验箱 2、器件

74LS151 8选1数据选择器

四、实验内容及实验步骤

1、74LS151译码器逻辑功能测试

在数字逻辑电路实验箱IC插座模块中找一个16PIN的插座插上芯片74LS151，并在16PIN插座的第8脚接上实验箱的地（GND），第16脚接上电源（VCC）。将74LS151的控制输入端和输入端接逻辑电平输出，将输出端接到逻辑电平显示的发光二极管上，逐次拨动对应的拨位开关，根据发光二极管显示的变化，测试74LS151的逻辑功能。

2、（教材P213习题4.21）用数据选择器设计3个开关控制一个电灯的逻辑电路，要求改变任何一个开关的状态都能控制电灯由亮变灭或者由灭变亮。 ⑴写成设计过程 ⑵画出接线图 ⑶验证逻辑功能 3、（教程P65例4.2.2）用数据选择器设计一个监视交通信号灯工作状态的逻辑电路。每组信号灯均由红、黄、绿三盏灯组成。正常工作情况下，任何时刻必有一盏灯点亮，而且只允许有一盏灯点亮。当出现其他五种点亮状态时，电路发生故障，这是要求发出故障信号，提醒维护人员前去维修。

⑴写成设计过程 ⑵画出接线图 ⑶验证逻辑功能

五、实验报告要求

1、用数据选择器对实验内容进行设计、写成设计全过程、画出电路图并进行逻辑功能测试。

2、对实验结果进行分析、讨论，总结实验收获、体会，提出建议。 ? 实验中所需器件的引脚分布图参考附录三。

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数字逻辑电路实验指导书 实验三 组合逻辑电路的设计与测试

一、实验目的

1、掌握组合逻辑电路的分析与设计方法。 2、加深对基本门电路使用的理解。

二、实验原理

1、组合电路是最常用的逻辑电路，可以用一些常用的门电路来组合完成具有其他功能的门电路。例如，根据与门的逻辑表达式Z?AB?A?B 得知，可以用两个非门和一个或非门组合成一个与门，还可以组合成更复杂的逻辑关系。

2、分析组合逻辑电路的一般步骤是： (1) 由逻辑图写出各输出端的逻辑表达式； (2) 化简和变换各逻辑表达式； (3) 列出真值表；

(4) 根据真值表和逻辑表达式对逻辑电路进行分析，最后确定其功能。 3、设计组合逻辑电路的一般步骤与上面相反，是：

(1) 根据任务的要求，列出真值表；

(2) 用卡诺图或代数化简法求出最简的逻辑表达式；

(3) 根据表达式，画出逻辑电路图，用标准器件构成电路； (4) 最后，用实验来验证设计的正确性。

实际的逻辑问题 逻辑真值表逻辑公式化简卡诺图化简最简逻辑表达式逻辑电路图组合逻辑电路的设计流程三、实验设备与器件

1、仪器

数字逻辑实验箱 2、器件

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数字逻辑电路实验指导书 附录一 常用门电路和触发器使用规则

一、TTL门电路和CMOS电路的使用规则

1、TTL门电路的使用规则

1、接插集成块时，要认清定位标记，不能插反。

2、对电源要求比较严格，只允许在5V+10％的范围内工作，电源极性不可接错。 3、普通TTL与非门不能并联使用（集电极开路门与三态输出门电路除外），否则不仅会使电路逻辑功能混乱，并会导致器件损坏。

4、须正确处理闲置输入端。闲置输入端处理方法： a）悬空，相当于正逻辑“1”，对于一般小规模集成电路的数据输入端，实验时允许悬空处理。但易受外界干扰，导致电路的逻辑功能不正常。因此，对于接有长线的输入端，中规模以上的集成电路和使用集成电路较多的复杂电路，所有的控制输入端必须按逻辑要求接入电路，不允许悬空。

b）直接接电源电压Vcc（也可串入一只1~10K的固定电阻）或接至某一固定电压（+2.4V

c）若前级驱动能力允许，可以与使用的输入端并联。 5、负载个数不能超过允许值。

6、输出端不允许直接接地或直接接＋5V电源，否则会损坏器件。有时为了使后极电路获得较高的输出电平，允许输出端通过电阻接至VCC，一般取电阻值为3～5.1K。

2、CMOS门电路的使用规则

1、VDD接电源正极，VSS接电源负极（通常接地），不得接反。CC4000系列的电源允许电压在+3V～+18V范围内选择，实验中一般选用+5V～+15V。

2、所有输入端一律不准悬空，闲置输入端的处理方法： 按照逻辑要求，直接接VDD（与非门）或VSS（或非门）； 在工作频率不高的电路中，允许输入端并联使用。

3、输出端不准直接与VDD或VSS相连，否则将导致器件损坏。

4、在装接电路，改变电路连接或插、拔电路时，均应切断电源，严禁带电操作。 5、焊接、测试和存储时的注意事项：

a)电路应存放在导电的容器内，有良好的静电屏蔽。

b)焊接时必须切断电源，电烙铁外壳必须良好接地，或拔下烙铁，靠其余热焊接。 c)所有的测试信号必须良好接地。

d)若信号源与CMOS器件使用两组电源供电，应先开通CMOS电源，关机时，先关信号源最后再关CMOS电源。

二、触发器的使用规则

1、通常根据数字系统的时序配合关系正确选用触发器，除特殊功能外，一般在同一系统中选择相同触发方式的同类型触发器较好。

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数字逻辑电路实验指导书 2、工作速度要求较高的情况下采用边沿触发方式的触发器较好。但速度越高，越易受外界干扰。上升沿触发还是下降沿触发，原则上没有优劣之分。如果是TTL电路的触发器，因为输出为“0”时的驱动能力远强于输出为“1”时的驱动能力，尤其是当集电极开路输出时上升边沿更差，为此选用下降沿触发更好些。

3、触发器在使用前必须经过全面测试才能保证可靠性。使用时必须注意置“1”和复“0”脉冲的最小宽度及恢复时间。

4、触发器翻转时的动态功耗远大于静态功耗，为此系统设计者应尽可能避免同一封装内的触发器同时翻转（尤其是甚高速电路）。

5、CMOS集成触发器与TTL集成触发器在逻辑功能、触发方式上基本相同。使用时不宜将这两种器件同时使用。因为CMOS内部电路结构以及对触发时钟脉冲的要求与TTL存在较大的差别。

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数字逻辑电路实验指导书 附录二 部分集成电路引脚排列图

74LS00 二输入端四与非门 74LS02 二输入端四或非门

74LS03 二输入端四与非门（OC） 74LS04 六反相器

74LS08 二输入端四与门 74LS10 三输入端三与非门

74LS20 四输入端二与非门 74LS30 八输入与非门

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数字逻辑电路实验指导书

74LS32 二输入端四或门 74LS48共阴4-7译码器/驱动器

74LS85 集成数值比较器

74LS112 双J－K触发器 - 27 -

74LS47 共阳4-7译码器/驱动器

74LS74 上升沿D触发器

74LS90 十进制计数器

74LS125 四总线缓冲器

数字逻辑电路实验指导书

74LS138 3－8线译码器 74LS151 8选1数据选择器

74LS161 4位二进制同步加法计数器 74LS192 十进制同步加/减计数器

74LS194 4位双向移位寄存器 74LS248 共阴极译码驱动器

74LS86 二输入端四异或门

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数字逻辑电路实验指导书 VDD 4A 4B 4Y 3Y 3B 3A VDD 4B 4A 4Y 3Y 3B 3A

1 14 13 12 11 10 9 8 14 13 12 11 10 9 8 2 3 4 5 6 7 1 2 3 4 5 6 7 1A 1B 1Y 2Y 2A 2B VSS 1A 1B 1Y 2Y 2A 2B VSS CD4001 二输入端四或非门 CD4011 二输入端四与非门

VDD 2Q 2? 2CP 2RD 2D 2SD VDD CR CP 1NH CO Q9 Q8 Q4 14 13 12 11 10 9 8 16 15 14 13 12 11 10 9 1 2 3 4 5 6 7 1 2 3 4 5 6 7 8 1Q 1? 1CP 1RD 1D 1SD VSS Q5 Q1 Q0 Q2 Q6 Q7 Q3 VSS

CD4013 双上升沿D触发器 CD4017 十进制计数器/分配器

VDD 2Q 2 ? 2CP 2RD 2K 2J 2SD VDD 4B 4A 4Y 3Y 3B 3A 16 15 14 13 12 11 10 9 14 13 12 11 10 9 8 1 2 3 4 5 6 7 8 1 2 3 4 5 6 7 1Q 1 ? 1CP 1RD 1K 1J 1SD VSS 1A 1B 1Y 2Y 2A 2B VSS

CD4027 双上升沿J－K触发器 CC4070 二输入端四异或门

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数字逻辑电路实验指导书 VDD 4A 4B 4Y 3Y 3B 3A VDD 4B 4A 4Y 3Y 3B 3A

1 14 13 12 11 10 9 8 14 13 12 11 10 9 8 2 3 4 5 6 7 1 2 3 4 5 6 7 1A 1B 1Y 2Y 2A 2B VSS 1A 1B 1Y 2Y 2A 2B VSS CD4001 二输入端四或非门 CD4011 二输入端四与非门

VDD 2Q 2? 2CP 2RD 2D 2SD VDD CR CP 1NH CO Q9 Q8 Q4 14 13 12 11 10 9 8 16 15 14 13 12 11 10 9 1 2 3 4 5 6 7 1 2 3 4 5 6 7 8 1Q 1? 1CP 1RD 1D 1SD VSS Q5 Q1 Q0 Q2 Q6 Q7 Q3 VSS

CD4013 双上升沿D触发器 CD4017 十进制计数器/分配器

VDD 2Q 2 ? 2CP 2RD 2K 2J 2SD VDD 4B 4A 4Y 3Y 3B 3A 16 15 14 13 12 11 10 9 14 13 12 11 10 9 8 1 2 3 4 5 6 7 8 1 2 3 4 5 6 7 1Q 1 ? 1CP 1RD 1K 1J 1SD VSS 1A 1B 1Y 2Y 2A 2B VSS

CD4027 双上升沿J－K触发器 CC4070 二输入端四异或门

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本文来源：https://www.bwwdw.com/article/q2f8.html