MP1570A SDH测试仪使用指导书-B

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MP1570A SDH测试仪使用指导书

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目 录

1

MP1570A仪表的使用简介 .................................................................................................... 6

1.1 MP1570A仪表简介 .............................................................................................................6 1.2 MP1570A便携式PDH/SDH分析仪主要特点 .....................................................................6 1.3 MP1570A面板功能介绍 ......................................................................................................8

1.3.1 前面板介绍.................................................................................................................8 1.3.2 MP1570A背面板 .................................................................................................... 10 1.4 MP1570A的基本操作 ...................................................................................................... 11

1.4.1 打开电源（馈电） ................................................................................................... 11 1.4.2 窗口配置 ................................................................................................................. 12 1.4.3 设置测试条件 .......................................................................................................... 16 1.4.4 启动和关闭测试 ...................................................................................................... 19 1.5 MP1570A菜单介绍 .......................................................................................................... 20

1.5.1 Setup中的菜单 ....................................................................................................... 20 1.5.2 Test menu............................................................................................................... 29

1.5.3 Result ..................................................................................................................... 36 1.5.4 Analyze窗口 ........................................................................................................... 38

2 光接口特性测试 ................................................................................................................... 40

2.1 平均发送光功率 ................................................................................................................ 40

2.1.1 概念 ........................................................................................................................ 40 2.1.2 测试方法 ................................................................................................................. 40 2.1.3 仪表测试示例 .......................................................................................................... 41 2.2 接收机灵敏度（BER=1×10） ....................................................................................... 41

2.2.1 概念 ........................................................................................................................ 41 2.2.2 1.测试方法 .............................................................................................................. 41 2.2.3 测试示例 ................................................................................................................. 42 2.3 接收机过载光功率 ............................................................................................................ 43

2.3.1 概念 ........................................................................................................................ 43 2.3.2 测试方法 ................................................................................................................. 43 2.3.3 测试示例 ................................................................................................................. 43 2.4 光输入口允许频偏 ............................................................................................................ 44

2.4.1 概念 ........................................................................................................................ 44 2.4.2 测试方法 ................................................................................................................. 44 2.4.3 测试示例 ................................................................................................................. 45 2.5 SDH设备STM-N输入口的抖动容限 ............................................................................... 46

2.5.1 概念 ........................................................................................................................ 46

-10

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2.5.2 测试方法 ................................................................................................................. 47 2.5.3 测试示例 ................................................................................................................. 48 2.6 SDH设备STM-N光口输出抖动 ....................................................................................... 49

2.6.1 概念 ........................................................................................................................ 49 2.6.2 测试方法 ................................................................................................................. 49 2.6.3 测试示例 ................................................................................................................. 50

3 电接口特性测试 ................................................................................................................... 51

3.1 误码测试 ........................................................................................................................... 51

3.1.1 概念 ........................................................................................................................ 51 3.1.2 测试方法 ................................................................................................................. 51 3.1.3 测试步骤 ................................................................................................................. 52 3.1.4 155M误码测试示例 ................................................................................................ 52 3.2 输入口允许频偏 ................................................................................................................ 54

3.2.1 概念 ........................................................................................................................ 54 3.2.2 测试方法 ................................................................................................................. 55 3.2.3 155M输入口频偏容限测试示例 .............................................................................. 55 3.3 输入抖动容限 .................................................................................................................... 57

3.3.1 概念 ........................................................................................................................ 57 3.3.2 测试方法 ................................................................................................................. 57 3.3.3 155M电口输入抖动容限测试示例 .......................................................................... 58

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关键词：

MP1570A SDH测试仪

摘 要：

本文描述了MP1570A SDH测试仪使用指导，供参考。

缩略语清单：

无。

参考资料清单

无。

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1 MP1570A仪表的使用简介

1.1 MP1570A仪表简介

MP1570A是日本安立株式会社研制出的结合PDH测试功能的便携式SDH/PDH分析仪。

安立公司开发传输仪表已有多年历史，早期的PDH误码/抖动测试仪ME520B曾在国内许多部门得到广泛使用。随着SDH技术的产生与发展，安立公司又开始致力于SDH传输测试仪表的开发，已研制出的结合PDH测试功能的SDH/PDH分析仪有：ME3620A，ME3520A，MP1550A，MP1570A和MP1656A。

其中，ME3620A和ME3520A是特别适用于研发测试要求的多功能高精密度仪表；而MP1570A则以体积小，易携带的特点而便于在工程、维护中使用。MP1570A最高速率为10Gbit/s，选用不同的插件配置即可做到2Mbit/s～2.5Gbit/s的PDH/SDH全系列速率的误码和抖动测试以及2Mbit/s漂移测试。

1.2 MP1570A便携式PDH/SDH分析仪主要特点

1）可实现PDH和SDH网络单元的综合测试

MP1570A是一部理想的网络单元测试仪器，特别适合SDH分插复用设备和交叉连接设备的测试。 2）体积小、重量轻，便于携带

MP1570A除测试功能齐全外，便于携带到现场也是其一个重要特点。 3）大型彩色显示，操作简易

MP1570A有大屏幕LCD彩色显示，可方便地显示需读出的数据；其操作通过四个方向键和一个设置键，可迅速有效地打开和设定菜单中内容，并且持久耐用，不会错位。其操作的简易方便使新老用户容易掌握。 4）可进行在线测试

可按ITU-T标准G.772建议监测传输的信息，监测可在不中断业务的情况下进行，对于被测信息无任何影响。 5）支持多种接口

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PDH：2Mbit/s、8Mbit/s、34Mbit/s、140Mbit/s不平衡75?和2Mbit/s平衡120?接口

SDH：155Mbit/s(CMI)不平衡75?电接口；155Mbit/s、622Mbit/s(NRZ)电接口

155Mbit/s和622Mbit/s的1310nm光接口（MP0111A） 155Mbit/s和622Mbit/s的1550nm光接口（MP0112A） 2.5Gbit/s的1310nm和1550nm光接口（MP0129A） 10Gbit/s的1550nm光发接口（MP150001A） 10Gbit/s的1550nm光收接口（MU150002A） 6）可进行三种类型的误码分析

对于系统误码性能的测量结果可分为按ITU-T三个标准进行评价，即按G.821、G.826和M.2100标准建议进行评价。 7）可同时进行误码和告警性能测量

按标准对于误码性能进行测量，对于超过门限值情况同时送出告警指示信号。 8）复用/解复用功能

可对支路单元复用/解复用测试，这里速率从N×64kbit/s到140Mbit/s。 9）故障查询

可以自动测试多达7936个通道，并且可按所列故障项目对发生故障通道进行检测。

10）内部打印机和FDD（标准配置）

由内部打印机可将测量结果（误码告警直方图、抖动容限图、抖动传递图及各种数据结果）立即打印出来；通过标准配置的软驱，可将测量参数和结果存入软盘。 11）结构合理

若您手中的MP1570A现在只从2Mbit/s配置到155Mbit/s 电接口（可测抖动），而未配155Mbit/s 光接口及更高速率，则升级至155Mbit/s、622Mbit/s、2.5Gbit/s光接口只需一分钟用手装上插件，即可拥有具有155Mbit/s、622Mbit/s、2.5Gbit/s抖动功能的更高速率仪表。 12）AU指针0～1023次

ITU-T规定设备指针值范围0～782 。SDH设备到782后自动复0。国标要求SDH仪表指针值须达到1023，此时当仪表在STM-4时发值为783～1023的AU指针，设备网管应指示LOP（指针丢失），表示超出设备指针值范围。 13）环境适应性好

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可在各种温度湿度下工作，受环境影响小。其长期稳定性经受了广泛使用的考验，在仪表设计方面，由于软件写在芯片中，使电源影响、数据丢失（硬盘受损）的情况不可能发生。

14）实时显示9行×9列的STM-1帧结构，每一字节可编辑

要看STM-4帧结构需翻4次页。因每一位字节可编辑，所以对邮电部新规定的S1、G1字节测试直接可以使用，无需任何软件更改或升级。对邮电部将来可能规定的字节测试也直接可以使用。

1.3 MP1570A面板功能介绍 1.3.1 前面板介绍

前面板图

前面板图如图1-1所示

图1-1 前面板图

说明

本节介绍的是如图1-1所示的MP1570A前面板标记。

（1）I/O：开/关仪表，按钮按下时仪表打开，按钮弹上时仪表关闭。 （2）Remote： 该LED灯亮表示分析仪是处在远端控制模式中。 （3）Local： 该按键当Remote LED灯亮时有效，用于将分析仪设置为本地控制模式。

（4）Panal Lock： 用于使能或禁止除本键和Local键之外的其它按键，当该LED灯亮时，其它的键被禁用。

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（5）Printer：

On/Off：用于开/关内置打印机的按键。按键上的小灯亮表示内置打印机已打开。

Print Now：用于打印屏幕上显示的数据的按键。如果内置打印机已开，屏幕上的数据将被打印到内置打印机上；如果内置打印机未开而又通过GPIB或RS-232C口安装了外置打印机，屏幕上的数据将被打印到外置打印机上。 Feed：为内置打印机进纸的按键。

（6）FDD screen copy：按下此按键，屏幕上的数据将被存到软盘上。

（7）Interface unit insertion slot： 用于可插单元的插槽。

（8）Alarm/Error： 接收器的告警/错误，时钟丢失和电源失效就是通过这部分LED灯来指示的。Error LED用于指示已检测到的所有错误， Clock Loss LED用于指示外部时钟的丢失。

History：该按钮用于切换当前告警指示和历史告警指示。 Reset：该按钮只能用于历史性能模式，主要是将历史数据清零。

（9）Help：按下此按键显示帮助屏幕，显示的帮助内容是和光标指示的条目相关的。

（10）Error ： 打开或者关闭误码插入功能。该键每按下一次，就向信号插入一个误码。该功能主要用于测试。

（11）Alarm ： 打开或者关闭告警插入功能，告警插入主要用于向信号中插入特定的告警信息，测试被测传输设备是否能够对插入的告警做正确的处理。该功能主要用于测试。 （12）Cursor ：

Set：打开用于数据设定的选择、数字输入、字符串窗口。 Cancel：关闭用于数据设定的选择、数字输入、字符串窗口。

? / /：用于移动屏幕或窗口中的光标。在数字输入窗口中，使用俸挖 键可以增加或减少数值。

（13）Stop/Start ： 启动/ 停止测量。 （14）Set Up ： 显示/关闭置主屏幕。

（15）Test Menu ： 显示/关闭测试菜单主屏幕。 （16）Result ： 显示/关闭测量结果主屏幕。 （17）Analyze ：显示/关闭分析主屏幕。

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1.3.2 MP1570A背面板

MP1570A背面板图

MP1570A背面板如图1-2所示。

图1-2 MP1570A背面板图

说明

（1）RS-232C Connector：

RS-232接口，可以用于控制连接，或打印机连接。 （2）GPIB Connector

GPIB接口，功能同于RS-232。 （3）Name plate

指示序列号和安装选项数字。 （4）AC power connector AC电源连接口。 （5）Fuse holder

AC电源的保险丝盒。更换保险丝时要注意应选用同规格的保险丝。 （6）Frame grounding terminal

地线终端；应该确保供电之前仪表已通过此处连到地上。

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（7）Fans

风扇；使用中注意不要挡住风扇口。 （8）Receive Clock Output 50Ω 从接收数据中恢复出的时钟输出。 （9）Clock sync Output 与输出比特流同步的时钟输出。 （10）External Clock Input 50Ω

用于接入从外部时钟源送来的参考时钟信号。 （11）DCC Interface

数据I/O连接头，接收时用于将数据插入到D1到D3，或D4到D12中；发送时用于从D1到D3，或D4到D12中提取数据。

1.4 MP1570A的基本操作 1.4.1 打开电源（馈电）

在向MP1570A馈电之前，必须先给分析仪接上保护地，再把电源插头接上分析仪的AC电源插座。

MP1570A的电源开关位于分析仪的前面板左下侧，开关上有两个符号：“I”表示电源开启的位置；“O”表示电源关闭的位置。

下面的流程图1-3描述了电源打开后的MP1570A的自检流程。

开启电源蜂鸣器鸣叫CPU I/O自检FDD接口自检电池检测全部LED和LCD检测结束

图1-3 MP1570A的自检流程

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注意：

1）光接口输入光功率最大为0dBm(10G光模块输入光功率最大为-8dBm），被测设备的发送信号送入仪表之前一定要确保输入光功率不能过限。过大的光功率将会造成仪表内部电路的损坏。

2）在仪表环回自检时，仪表的输出光信号送入仪表前要加入15dB的衰减； 3）任何时候，不得直视传输光信号的光纤头或光接口，激光会严重损伤您的眼睛。

1.4.2 窗口配置

1、配置

在MP1570A的前面板上有四个功能键，对应四个设置窗口；其中，Test Menu、Result、Analyze三个键前有绿色指示灯。绿灯亮，相应的设置窗口打开，在屏幕上显示出来；如果三个绿灯同时亮，则屏幕会同时显示四个窗口； 一般情况下，Setup的Mapping子菜单在屏幕的上方，简单显示当前设置项。在此情况下，按Setup键，Setup设置窗口将整屏显示；再次按Setup键，则Setup设置窗口和其它已打开的窗口同屏显示； 菜单结构:

主菜单—>下拉子菜单。

每个功能键表示一个主菜单。打开主菜单（绿灯亮），对应设置窗口出现在屏幕上（如果不出现，按Setup键）。要选择某一下拉子菜单，先将光标移到（按箭头键 /冢┲鞑说ド柚么翱冢将返回。

每一层菜单的子菜单选择，类似上述操作。

下面介绍一下MP1570A仪表四个主屏幕的作用及其包含的子屏幕。 Setup：设置收、发信号：信号比特率、复用结构、映射路径、设置打印机； Test Menu：测试项目的设置：输出频偏；抖动发生；指针序列；输入抖动容限自动测试；抖动转移特性自动测试；

Result：测试结果的显示：误码、告警结果；输出抖动值；输入抖动容限值；Analyze：测试结果的分析：可以判断误码、告警产生的大概时间； 表1-1 描述了MP1570A中主屏幕和子屏幕中各配置项的功能。

et键，将出现主菜

单的下拉子菜单，将光标移到欲选择项上，按Set键确认选择；按Cancel键

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表1-1 MP1570A中主、子屏配置表

主屏幕 Setup Test menu Result Analyze 2005-03-25

Mapping Memory Print OH preset data Tandem Dummy preset APS program data System Floppy disk Custom function Measurement condition PTR64 frame OH change data Frame memory Signaling preset Selftest Auto setup Trouble search Manual Pointer sequence Delay OH test APS test Performace check Frame memory Trouble Search Error/Alarm Justification Zoom Performance B2 error Simultaneous Delay APS test Recall Trouble Search 子屏幕 描述 设置测试对象的接口条件及相关事项。 允许存储和阅读测试条件，及分析主屏幕中的图形数据。 进行自动打印的设置。 预设发送信号中的开销值。 预置数据。 设置空通道。 设置自动保护倒换测试项目。 对蜂鸣器、时钟、屏幕颜色，GPI1B和RS232等进行设置。 运行保存和阅读测试条件、分析主屏幕图形数据。 设置在其它窗口不能设置的功能。 设置误码和告警检测释放条件、级连条件和性能测试条件。 设置SDH 64帧的指针值。 设置SDH开销测试功能中的开销数据变化模式。 设置要发送的帧数据。 设置信号数据。 （执行）自检。 按照输入信号自动设置比特流。 设置错误搜索的 条件。 设置人工测试条件。 执行指针顺序测试的设置。 设置延时测试的条件。 设置开销测试条件。 设置自动保护倒换测试条件。 设置性能检测条件。 设置帧发送条件。 显示错误搜索测试的结果。 显示误码/告警测试结果。 显示指针调整测试的结果。 放大误码/告警测试结果的屏幕。 显示性能测试结果。 显示B2测试结果。 同步显示TUG3或VC-3中的VC2（7通道）、VC12（21通道）、和VC11（28通道）中的错误和告警测试结果。 显示延时测试结果。 显示自动保护倒换测试结果。 显示自动测试结果。 分析错误搜索测试结果。 第13页, 共59页

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主屏幕 MP1570A SDH测试仪使用指导书 子屏幕 Error/Alarm OH Monitor Opt.power meter Pointer monitor Sequence test APS capture OH capture Frame capture Recall 描述 图形化显示误码/告警测试结果。 显示开销监视结果。 文档密级：内部公开

显示功率监测值，波长设置和光信号的光功率。 监视SDH的指针值。 分析自动测试结果。 设置在APS测试中要捕获的K1、K2值，并分析测试结果。 设置要捕获的SDH中的开销字节，并分析测试结果。 设置要捕获的SDH帧数据，并显示结果。 显示内存或软盘中的图形数据。 该屏幕仅在设备加电且LOCAL按键同时按下才会出现，主要显示MP1570A的版本号及已用/未用的功能选项。 Option/Revision 分区菜单指示

MP1570A分析仪可同时显示下列主屏幕： 1）测试菜单主屏幕 2）测试结果主屏幕 3）结果分析主屏幕

屏幕可以按下述组合划分为多个区域。Setup和Option/Revision主屏幕不能与其它功能屏幕同时显示在一起。分区屏幕可以如下各图所示。 1）一个分区显示

（映射信息）测试菜单主屏幕测试结果主屏幕结果分析主屏幕

图1-4 一分区显示图

2）两分区显示

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（映射信息）测试菜单主屏幕结果分析主屏幕结果显示主屏幕结果分析主屏幕

图1-5 二分区显示图

3）三分区显示

映射信息测试菜单主屏幕结果分析主屏幕结果显示主屏幕

图1-6 三分区显示图

屏幕切换

在MP1570A上对各功能屏幕的选择切换过程如下。 1）选择主屏幕

主屏幕的选择可以通过Setup、Test menu、Result和Analyze按键来实现。

表1-2 主屏幕选择操作表

按键 Setup Test menu 描述 按下该按键一次，可以切换到Setup主屏幕，再次按下来可以切换回来。 按下一次该按键可以开启该按键左边的LED灯，再次按下切换回原状。 · LED亮：指示Test menu主屏幕正被显示 · LED灭：指示Test menu主屏幕没有被显示 Analyze 按一次该按键可以开启该按键左侧的LED灯，再次按下已切换回原状 · LED亮：指示结果分析主屏幕正被显示 · LED灭：指示结果分析主屏幕当前没有被显示 ?诀窍：

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如果Test menu、Result和Analyze等按键左侧的LED灯有两个或更多以上亮，表示这些相关的主屏幕正同屏显示。 2）子屏幕间切换

移动光标到子屏幕切换区域（在每一个主屏幕名的右侧），按下Set按钮可以打开Set窗口。在该窗口中选择所要的子屏幕，此时再次按下Set按钮，Set窗口关闭，所选择的子屏幕就出现了。

1.4.3 设置测试条件

设置测试条件有不同的方法，下面一一介绍。 基本设置操作

在MP1570A分析仪上，按照下述步骤可以改变一个子项。操作示意图如图1-7所示。

①按下光标键，然后移动光标到所要改变的子项上； ②按下设置键Set；

③窗口就会弹出该子项的其它可选值，选择所要希望设置的选项； ④当窗口关闭，该子项就被设置了。

图1-7 基本设置操作示意图

?诀窍：

如果您想中途取消设置，按Cancel按钮。 通过可选项设置

当通过选择子项的方法来进行设置的时候，必须打开子项选择窗口。操作示意图如图1-8所示，其操作步骤如下： 1) 按下光标键移动光标到指定子项；

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2) 按下Set按钮； 3) 设置窗口自动关闭。

注意：

根据所选择的子项，选项确认窗口会出现。确认指定的选项移动光标至Yes（设置）或No（取消），按下Set按钮。

图1-8 通过可选项配置操作图

通过数字输入设置

当指定的子项需要数字输入时，数字输入窗口就会出现，其操作步骤如下所述。操作示意图如图1-9所示。

1）按光标键（<和>），把光标放在指定的数字上； 2）按光标键（俸挖）改变数值；

3）重复步骤1和2，直到指定数值被设好； 4）按Set按钮；

5）数值输入窗口可自动关闭。

图1-9 数字输入设置操作图

通过输入字符设置

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当指定子项需要字符串设置时，字符输入窗口会出现，如图1-10所示。其操作步骤描述如下：

图1-10 输入字符配置操作图

1）按下光标键，移动字符选择光标至“＜”或“＞”； 2）按下Set键，移动位置设定光标； 3）按光标按键，移动光标至所选择的字符； 4）按下Set键选择输入这个字符；

5）重复步骤3)和4)，直到全部的字符设置项完成；

6）当字符串设置完后，按下光标键，把光标放到“END”位置上。 7）按下键Set；

8）字符输入窗口自动关闭。 通过一次点击式输入

在一次点击式输入的情况下，没有窗口会打开，当Set按键按下时，该设置就被完成了。

一次点击式输入可通过下述两种途径之一完成。 1）保持状态（回复式开关），如图1-11所示。 a. 当按键Set按下一次，设置变为有效； b. 再次按下Set键，取消设置。

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图1-11 保持状态

按钮状态如表1-3所示。 表1-3 按钮状态描述 按钮状态 设置无效 设置有效 描述 2）非保持状态（暂时状态），如图1-12所示。

图1-12 非保持状态

按下Set键，指定子项高亮度显示在屏幕上，然后又迅速恢复到以前的状态。

1.4.4 启动和关闭测试

最基本的方法是使用Start/Stop键来开启和关闭测试。在Start/Stop键上的LED灯用来指示测试的状态。灯亮起，测试开始；在灯亮的情况下，按下Start/Stop 键，测试中止。如图1-13所示。

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图1-13 启动和关闭示意图

注意：

1）当LED灯灭的时候，按下Start/Stop键，启动测试。同时下述情况下也可以启动测试。

选择可编程启动功能，且测试启动时间到； 选择启动功能，新的测试过程开始； 在测量过程中与测量相关的设置条件改变了。

2）当LED灯亮的时候，按下Start/Stop键，中止测试。下述情况下也可以中止测试。

设置了一个测试有效期，且已过时； 测量过程中与测量相关的设置条件改变了。 3）Start/Stop键也用于启动和中止自身检测。

1.5 MP1570A菜单介绍

使用MP1570A仪表测试SDH及PDH信号常见指标时，要对仪表进行正确的测试，仪表设置主要是四个主屏幕中菜单的设置，下面分别介绍SETUP、TEST MENU、RESULT和ANALYZE中各菜单的内容和设置方法。

1.5.1 Setup中的菜单

SETUP主屏幕包含的菜单如下： *

Mapping

Memory * *

Print

OH preset data

Tandem

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Dummy preset APS program data System Floppy disk Custom function Measurement condition PTR64 frame OH change data Frame memory Signaling preset Selftest Auto setup *为常用选择项 Mapping菜单

当屏幕的左上方出现“Setup”菜单项，屏幕就整屏显示被选择子菜单的详细设置项。如下例显示：

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选择Setup的子菜单：将光标移到Setup后子菜单上，按Set键，出现一下拉子菜单，用光标选择[Mapping}子菜单，按Set键确认。 在进入Mapping菜单后，设置的步骤如下所示： 1）TX&RX 或TX/RX选项

[TX&RX]： 表示收、发信号一致；

[TX/RX]：表示收、发信号独立设置（收信、发信可不一致），如在测试映射抖动时。

2）Measuring mode

[In-service]：业务在线监测。在设置成Tx&Rx时有效，在此状态下，不测试比特误码；在用此项功能时，将测试电缆连接到DDF端子的测孔上；[Out-of-Service]： 3）Bit Rate：

设置发送、接收信号速率等级；

注：156M CMI为电信号，156M为光信号；当收/发信号不一致时，选择TX/RX 4）Through：

穿通模式选择；可选择如下三种之一： Transparent：将接收的信号原样发出；

OH overwrite：把接收的开销转换为预设开销并发送，发送信号中的净载荷为接收信号中的净载荷；

Payload overwrite：把接收信号中的净载荷转换为测试序列并发送出去。 5）Mapping：

设置复用结构，当TX选择STM-N等级信号后，才出现此菜单；将光标移到设置处，按“Set”键，出现一图形复用结构上，按待测支路信号等级选择。测试中选择的映射结构如下：

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业务中断测试。测试时选择此项；

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2M：[AUG-AU4-VC4-TUG3-TUG2-TU12-VC12-2M（Async．）]； 34M：[AUG-AU4-VC4-TUG3-TU3-VC3-34M（Async．）]； 140M：[AUG-AU4-VC4-139M（Async．）]； 6）Dummy STM：

设置非STM测试通道的信号。有两种选择：

Copy：在非测试通道中插入和测试通道相同的测试序列；

Dummy：在非测试通道中插入用“Setup:Dummy preset\功能设置的序列； 7）Frame ：

打开/关闭PDH信号的帧结构；测试时，选择[OFF]；注：有些厂家设备PDH接口要检测信号的帧结构；仪表发来的信号如不带帧结构（Frame=OFF），设备会认为信号无效，报AIS； 8）MUX/DEMUX

选择PDH的复用/解复用配置结构的最低等级的PDH信号。

[ON]：可以选择PDH的复用/解复用配置结构，如对于139M信号，可打开成139M-34M-8M-2M，并选择其中的支路时隙。 [OFF]：关闭。 9）2M setting：

2Mch： 选择2M帧结构的通道数（30或31路）；选择[30]。 CRC-4：

打开/关闭2M帧结构循环冗余校验功能；

Signalling： 打开/关闭2M帧结构信令；

Interface： 选择“平衡：120Ω” 、“不平衡，75Ω”。 10）Clock Internal：

选择内置时钟（测试时选用此项）

Lock（Unbalance） Lock（balance）

External： 选择外部时钟源

Receive： 选择从接收信号提取时钟（仅SDH） 11）Monitor mode

[ON]：将接收的信号衰减20dB，再接入监测点； 设备的输出信号被衰减20dB（在检测点），接入仪表； [OFF]：直接接收设备的输出信号；测试时选择[OFF]； 12）Performance

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选择将被测试的性能类型；选项[OFF]、[G.821]、[M.2100]、[G.826]；当选择[OFF]时，将不进行性能测试功能；测试时设置[G.826] 13）Graph resolution

设置测试结果分析图形显示的最小分辨率；选项[1/15/60Min]； 选择的值越小，分辨率高，但测试结果被记录的时间将减小。 建议设置[15min]。 Memory

仪表能保存设置情况和测试结果分析的图形数据 1）Measurement condition[1--10]

测试条件的保存，最多10个。按Set键，打开窗口，出现下拉菜单：[Performance recall]、[store]、[restore clear]、[rename]。当保存或改名时，会出现字符输入窗口；//当文件名为“Empty”，表示内容为空。

2）Measurement condition[0：Initial] 仪表保存的缺省设置，只读，不可更改。 3）Analyze data Recall

读出保存的分析图形数据；在Recall上按Set键，光标将出现在保存的文件名上，选择目标文件，测试结果的分析图形数据将被读出。

注：在这种情况下读出的数据，将在Analyze主窗口的Recall子菜单下显示；Clear

删除保存的分析数据；在Clear上按Set键，光标将出现在保存的文件名上，选择目标文件，其数据将被删除； Clear all

删除保存的所有分析数据；按Set键后，经确认，将删除保存的所有分析数据；文件窗口说明：

可最多保存15个结果分析文件 Name

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指示结果分析保存的文件名，文件名不能更改。在数据保存时输入。“ ”表示空 Graph

指示分析图形数据的类型； Starting time

分析图形数据的开始测试时间； Use

指示该文件占用的总存储空间的比例； Total

指示已使用/未使用存储空间的比例；当某些数据文件太大，将会影响保存的文件数（<15）； 3、Print

用于测试结果的自动打印

1）仪表用内置打印机，使用热敏纸（非普通纸）；打印纸安装时一定要小心； 2）自动打印开始时间，为测试的开始时间； 3）操作键：

在仪表上部，Power On：打印机电源开关，指示灯亮表示内置处于工作状态；Print Feed：走纸键。

注意，

在更换内置打印机的打印纸时，不要按此键，否则会造成夹纸或损坏打印机。在按此键前应确信纸已装好。

仪表前面板，Print Now：打印屏幕上的内容； 4）设置项如下： Setup Print [ Accumulate ] Print items

Time 16:40:23 02/Dec/94 Intermediate data [ 1 ] [ hour ]

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在测试期间，按一固定的时间间隔打印测试的中间结果；选项说明： [OFF]：不打印测试的中间结果；

[Individual]：只打印该打印周期的测试结果； [Acculuate]：打印从测试开始的累计测试结果； 选择[Individual]或[Acculuate]时，需设置打印周期； Measurement condition

[ON]：在测试开始，打印测试的设置情况； [OFF]：不打印测试的设置情况； Error occurance

[ON]：有误码产生，打印误码； [OFF]：有误码产生，不打印； Unit

[Count]：打印误码计数； [Rate]：打印误码率； Threshold 设置打印阈值；

当Unit选择[Count]，阈值设置为误码个数；

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当Unit选择[Rate]，阈值设置为误码率； Paper saving

[ON]：如果连续10秒产生误码，误码打印将停止，以节约打印纸；当连续的误码产生停止后，打印功能将正常； [OFF]：打印纸节约功能无效； Alarm occurance

[ON]：有告警产生，打印告警； [OFF]：有告警产生，不打印； Jitter Hit occurance

[ON]：有抖动冲击告警产生，打印冲击告警； [OFF]：有抖动冲击告警产生，不打印； Last data

[ON]：测试完成后，打印测试的结果数据； [OFF]：测试完成后，不打印测试的结果数据；

根据测试情况，对Error、Alarm、Performance、Justifications、Jitter/Wander进行分别设置。 OH preset

可以对各个通道的段开销、高阶通道开销、低阶通道开销进行设置。 注：

1）奇偶检验码字节B1、B2、B3等不可设置；

2）H1、H2、K1、K2在“Test menu:Manual”功能窗口中设置。 5、Tandem

在这个功能窗口中可以设置级联模式。 6、Dummy preset

在这个功能窗口中可以设置非监测通道的通道开销、AU指针、TU指针、通道追踪字节以及净负荷的模式。 7、APS program data

在这个功能窗口中可以设置各个通道K1、K2的变化模式。在对APS program data的设置以后，就可以进行APS test和APS capture的测试。 8、System 常用设置项如下：

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1）Buzzer

[ON]：当有误码、告警或操作有错时，响铃告警； [OFF]：有告警时不响铃； 2）Date&Time adjust 修改仪表的日期、时间； 3）Color

选择仪表屏幕显示底色，有五种选择。MP1570A为单色，MP1550B为彩色。 4）Control select 用于仪表的遥控； 其后菜单不解释。 9、Floppy disk

将测试条件和结果分析图形数据保存在软盘，或从软盘读出； 在Analyze子菜单Recall窗口，可以看分析图形数据的结果。 1）Load 从软盘读出文件

将光标移到Load上，按Set键，打开一个显示文件名的窗口。光标移到你的目标文件上，按Set键确认，文件的内容将读出。 2）Save

将数据保存到一个软盘文件上

将光标移到Save上，按Set键，打开一窗口，用上、下光标选择要保存的数据。按Set键打开字符输入窗口，然后输入文件名。文件将保存在当前路径下。3）Delete

删除文件。参考“Save”操作。

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10、Measurement condition

可以设置在SDH信号中检测的告警项或取消对某个告警项的检测。可检测的告警项包括SDH信号的段、高阶通道、低阶通道的告警，如复用段和再生段中的告警：LOS、LOF、OOF、AIS、RDI；高阶通道的告警：AIS、LOP、RDI、SLM、TIM、UNEQ；低阶通道中的告警：AIS、LOP、RDI、SLM、RFI、LOM、TIM、UNEQ等； 1）Mask condition

当设置为“ON”时，当高阶通道中检测到告警时，低阶通道中的告警将不被检测。

2）SLM detection pattern

设置一个预定值，以检测信号标记是否失配，有两种方式： Auto：自动使用“Mapping”所设置的模式来检测； Manual：可以手动设置信号标记值。 11、PTR64 frame

在这个功能窗口中可以设置SDH 64帧的指针值。 12、OH change data

设置每帧开销数据的变化模式。可以使用仪表缺省的开销数据变化模式，也可由使用者编辑自己的模式。 13、Frame memory

在此功能窗口中，可以设置帧头数据，作为要发送的信号的帧头指示信号。 14、Signaling preset

在这个窗口中可以按位设置要发送的信号。 15、Selftest

在这个功能窗口中，可以启动仪表的自检功能。 16、Auto setup

在这个功能窗口中，可以调用厂家预设的几种模式来对仪表的各个设置项进行设置。

1.5.2 Test menu

Test Menu包含的主菜单如下： Trouble Search Manual

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Pointer sequences Delay OH test APS test

Performance check Frame memory 下面分别介绍各个菜单。 Trouble Search

故障查询，仪表根据接收到的信号，对接收信号和其解复用的支路检测，查询故障。如果有故障，在Result主菜单下Trouble search的窗口内详细显示查询到的故障；

[Wait time]：仪表恢复等待时间；在仪表转换测试通路时， 如果仪表设置的恢复等待时间太短，测试在仪表未稳定的条件下进行，测试结果可能会出错，不能正确反映实际情况。 Manual

光标在Manual上，按Set键，进入Test menu的子菜单；

光标在Jitter前，按Set键，窗口在Manual设置项和Jitter设置项之间转换。Mapping [Tx&Rx] Out-of-service Tx&Rx

STM4-AUG#[1]-AU4-VC4-139M(Async.) Test menu Manual

[SDH]

Time 16:40:23 02/Jan/2000

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1）Mapping information

在Mapping映射设置窗口，设置映射路径； 2）Manual Test pattern：

设置图案（伪随机码序列）

[PRBS11]：64kbit/s [PRBS15]：2Mbit/s、8Mbit/s

[PRBS23]：34Mbit/s、139Mbit/s、155Mbit/s Alarm：

SDH网络单元接收到特定的错误/告警时，将向上游和下游发送相应的告警。如果网络单元不能在合适的时间，以合适的方式发送这些告警，将导致服务劣化。告警测试时，我们从PDH/SDH测试仪上发送告警信号，监测网络设备告警指示器和上游或下游信号是否有正确的响应。

[ON]：允许告警产生，并可根据发送信号选择告警种类。与仪表前面板上的Alarm键配合使用，在按下Alarm键，该键上有指示灯亮，产生告警。 [OFF]：仪表发送端不产生告警；在这种情况下，即使按下仪表前面板上的Alarm键，也不会在发送信号中插入告警。

Error：用于误码的生成，由仪表在发送信号中附加误码操作同[Alarm]。 K1、K2：Tx为STM-N信号时，设置其K字节，测试设备K字节处理能力；参考ITU-T关于K字节的使用

PTR：选择指针类型；选项：[AU]、[TU]。 Mode：测试模式设置

[Repeat]：重复测试，一个周期测试完后，自动进行下一个周期的测试；数据的统计或分析不累计，每个周期独立。

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[Single]：单次测试，一个周期测试完后，即停止测试。

[Manual]：人工测试，在开始测试后，测试的数据将累计，直到按下停止键。 当选择Repeat、Single模式时，可以设置测试周期； 设置项：[数值][时间单位] PRG start

预先设置测试开始的时间

ON：选择[ON]，可预置测试开始的时间 OFF：关闭此项功能 3）Jitter

存在某种程度的抖动时，网络设备仍可正确地工作。CCITT曾对所有网络设备能工作的不同频率点抖动幅度容限作过规定，使得网络能无差错地工作。施以ITU-T建议规定频率下的抖动，增大其幅度，或达到容限限制。将这些幅度绘制在平面上，构成网络单元抖动容限仪表输出抖动。 光标移到Jitter，按Set键，进入以下窗口

Tx Jitter ：有三个选择项，[OFF]、[OFF（F．Offset）]、[ON] [OFF]：关闭抖动、频偏的产生

[OFF（F．Offset）]：在发送端产生频偏，测试设备输入口允许频偏； 选择此项，在其下一行出现频偏值设置窗口，按Set键，用上、下箭头 增大、减小频偏值，确认按Set键，放弃按Cancel键； [ON]：在发送端产生抖动，用于输入抖动容限的人工测试；

Range：抖动取值范围，[2UI]、[20UI]，用于提高测试结果的精确性；根据值的大小，选择相应的范围。如果测试值远小于2UI，选2UI的量程，远大于2UI，选20UI的量程。

Mod．Freq．：选择测试频点，光标移到其设置窗口，按Set键，可用上、下箭头修改测试频点，修改完后，按Set键确认；放弃或返回按Cancel键； Amplitude：设置输出抖动值，输出抖动的大小在Result主菜单下Jitter/Wander窗口内显示（需打开Result--Jitter/Wander窗口）；输出抖动值的设置有微调/粗调两种，即Fine/Coarse，Fine/Coarse转换键为左右箭头。光标移到其设置窗口，按Set键，窗口将闪烁；按左、右箭头Fine/Coarse转换；按上、下键则可增大、减小仪表的输出抖动。 Rx Meas Select 选择测试类型，选项为[Jitter]或[Wander] Jitter：测试设备的输出抖动大小。

信号输出抖动的值随频率的增大而减小，即频点越低输出抖动越大，频点越高输出抖动值减小。通常用带通滤波器测试设备的的抖动性能。

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Wander：漂移和滑码（Wander and Slips） 测试漂移和滑码。（工程中不测试）

Filter：选择测试用滤波器，测试信号对应频率的抖动特性。仪表可以显示滤波器的名字（如：LP+HP1），及其对应的频率段；当滤波器选择为OFF时，测试的就是整个频段的抖动特性。 Hit threshold：

根据测试值的大小，设置阈值（阈值≥指标值）。Hit，也称（抖动）冲击，指在某一频点的抖动冲击值，或是瞬间的抖动脉冲；可以在某一频段内（选择的滤波器），设置一个阈值，在测试期间如果有超过此阈值的抖动值产生，将产生（抖动）冲击的Hit告警。可用此项测试来衡量系统的长期抖动性能；测试时，如果阈值设置太小，仪表将会产生告警（Hit 计数告警）；注意阈值的设置对测试结果的影响。 Meas．Coupled：

[OFF]：抖动测试与误码告警测试同步进行（两者测试时间相同） [ON]：抖动测试与误码告警测试异步进行（两者测试时间独立）

Meas．interval：抖动测试时间间隔。Meas．coupled选择[OFF]，才有此项设置；

Pointer Sequence（指针序列）

测试设备的指针处理能力，用于结合抖动测试；映射和指针是引起SDH抖动的主要原因。

Type：指针序列类型，仪表提供的四种序列，代表了四种较恶劣的指针情况。[Off]：关闭指针序列

[Regular with double]：规则的双指针

[Single of opposite polarity]： 极性相反的单指针 [Regular with missing]：漏一个指针的规则单指针

[Double of opposite polarity]：极性相反的双指针，不用于2M的测试 PTR：指针类型 [AU]：管理单元指针；

[TU]：支路单元指针，测试时选择[TU]。 Polarity：指针极性 [+Just]：正极性 [-Just]：负极性 T1、T2、T3

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时间参数的设置，随不同的指针序列而定。 Mode：

[Single]、[Repeat]、[Manual]：同Manual。 Delay

网络时延测试。在有些应用中，信号通过网络所需时间非常重要。比如，话音通信中，时延太大会使语音理解非常困难，仪表的时延特征允许我们在任何接口或任何测试速率上测量时延；在测试开始时，定时器开始运行，网络设备在对端环回（要求对端环回，本端测试仪表没有误码）。当发送码型回到接收端时，定时器停止运行，全程时延即可获得； 时延测量最大可达2秒，分辨率根据接收速率而变化；

[Measurement period]：设置测试周期， 选择合适的测试周期可提高测试的精 确度；网络的一般时延----2M：1微秒、8-140M：10微秒、STM-1-0.5毫秒。 OH test

在此功能窗口中，可以设置开销测试的条件。MP1570A提供四种不同的开销测试：

OH Change：预设OH变化模式，在“Setup:OH change”窗口中提供。 OH BERT：在任意OH的字节中插入伪随机模式序列，并可测试这个模式的误码率。

PTR 64 Frame：产生在“Setup:PTR 64 frame”窗口中的指针预设值。 OH Add/Drop：把外部端口输入的数据插入任意的OH的字节中，也可把任意字节通过外部端口送出。 1）OH Change

可设置OH变化的模式。

Mapping SDH/PDH Tx&Rx Out-of-service Time 20:50:31 04/Feb/2000 Tx&Rx

STM4-AUG#01-AUG#1-VC3-TUG2#1-TU12#1-VC11-1.5M(Async.)

Sequence

A 1 to [10]frame [ 5]times

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B 1 to [20]frame [ 10]times

OH change:选择要测试的开销。 被测通道的POH可被测试；而空通道（非被测通道）的POH不能被测试；当测试SOH时，要指定被测试的SOH通道。

Sequence:设定一个测试序列。模式A和模式B可在不同的帧里重复不同的次数。 2）OH BERT

Mapping SDH/PDH Tx&Rx Out-of-service Time 20:50:31 04/Feb/2000 Tx&Rx

STM4-AUG#01-AUG#1-VC3-TUG2#1-TU12#1-VC11-1.5M(Async.)

Pattern：选择一个伪随机序列。

Tx PRBS byte：选择一个要插入PRBS模式的字节。当比特率是622M或更高时要指定一个通道。

Rx PRBS byte：选择一个要测试误码的字节。 当比特率是622M或更高时要指定一个通道。

Mode：有三种模式：[Single]：只发送一次；[Repeat]：重复发送；[Manual]：发送测试字节直到按下START/STOP按纽。 3）PTR 64 Frame

在此测试方式下，需要指定要测试的指针和将要使用的指针序列。 4）OH Add/Drop

把外部端口输入的数据插入OH的某个字节中；并可将某个字节通过外部端口输出。 6、APS test

在此功能窗口中，可以设置APS测试的条件。 保存、查询Analyze 的测试数据

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测试得到的结果可以保存在仪表的Memory内，可查询分析。 要求：

在设置收发信号时， Performance：[G.826] Graph resolution：[15min] 保存：

将Analyze窗口最大化，（关闭Test Menu、Result窗口，键前的指示灯灭）；光标移到[Store]窗口，按“Set”键，进入Store窗口，输入保存的文件名（选END结束文件名的输入），数据将被保存。 保存数据的查询：

按“Setup”键，在屏幕的左上方出现Setup； 选择[Memory]；

光标移到Analyze data窗口，在[Recall]上按“Set”键，光标将移到文件目录窗口，在目标文件上按“Set”键。再按“Setup”，显示被查询的Analyze数据。 数据分析：

可以结合Result的数据进行测试结果的数据分析。如：有误码，先在Result窗口查看误码的类型，再到Analyze窗口，选择相应的误码事件。告警事件的分析也相同。

1.5.3 Result

RESULT窗口包含的各主菜单如下： Trouble search

? Error/Alarm

Justification * Zoom Performance B2 error Simultaneous Delay APS test Recall Trouble search

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在Trouble search测试开始后，打开此窗口显示查询到的故障；如果未查询到故障，显示No Trouble；反之，详细显示故障，并显示Trouble、总查询通路、故障通路

通路：指收信包含的有效MUX/DEMUX的最低等级信号数目 2、Error/Alarm Start：测试开始的时间 Elapsed：已测试时间

已测试时间占测试周期（Test Menu--Manual--Mode下设置），有一图形条显示其进程；

Count：以误码计数显示结果 Rate：以误码率显示结果 Display data

[Current]：显示测试开始到现在的测试结果 [Last]：显示测试完成后的测试结果 Jitter/Wander 其显示菜单如下： Result Jitter/Wander Unit

[ Peak

]

Start 14:32:47 04/Jul/95

Display data [ Last ]

Tx Jitter Rx Jitter Amplitude

1.552UIpp

Peak-Peak 1.553UIpp +Peak 0.778UIpp -Peak 0.775UIpp 解释如下： Unit

[Peak]：显示测试的抖动峰—--峰值(Peak —Peak)；测试时选择峰—峰值。[Hit]：显示测试的抖动冲击事件；

[RMS]：显示测试的抖动RMS（均方根值）； [Wander]：漂移测试时，显示测试的漂移值。 Tx Jitter

显示仪表的发送抖动峰—--峰值。人工（Manual）测试抖动容限时，仪表的发送抖动值在此读出。 Rx Jitter/Rx Wander

2005-03-25

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显示仪表测试的接收抖动/漂移值。 Justification

在此功能窗口中可进行指针调整事件的测试。 Zoom

将一条告警事件和一条误码性能放大后屏幕显示。

Alarm item： 选择一条告警事件（P-LOS：仪表掉电时间，测试期间如果仪表掉电，仪表将会打印出掉电起、止时间，一般不影响测试结果） Error item： 选择一条误码性能 Performance

显示在Setup主菜单Mapping窗口Performance项选择的类型的性能结果 选项[G.821]、[G.826]、[M.211]；与Setup设置相一致，一般设置[G.826]。 B2 error

在此功能窗口中可以显示各个通道B2的测试结果。

注：B2测试结果只能以计数值来显示，而不能显示B2误码率。 Simultaneous

显示TUG3或VC-3中VC2（7ch），VC12（21ch），VC11（28ch）的告警和误码的同时测试结果。 Delay

延时的测试结果。如果在设置的时间周期内测试未成功，将会显示Timeout； APS test

通过在某些通道里下插告警或误码引起APS倒换，测试APS倒换时间和恢复时间。 Recall

显示自动测试结果。

1.5.4 Analyze窗口

Analyze窗口包含的各主菜单如下： Trouble search Error/Alarm OH monitor Opt.power meter Pointer monitor Sequence test

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APS capture OH capture Frame capture Recall

下面分别介绍。 Error/Alram

测试期间得到的结果以图形显示，测试周期期间汇总的测量误码、告警的显示。用于误码/告警事件的图形显示；可以判断测试期间，各个时间段的误码、告警产生情况；

其横轴代表时间，时间的分辨率为1Min，15Min，60Min；在Setup的Mapping菜单下设置；纵轴代表误码率、告警事件；

移动光标，则可看到相应时间（段）内误码率、告警的记数情况； OH monitor

在此功能窗口中可以监测接收信号中的SOH 、POH开销字节。 Opt.power meter

在此功能菜单下可测试输入光功率。

Mapping SDH/PDH Tx&Rx Out-of-service Time 20:50:31 04/Feb/2000 Tx&Rx

STM4-AUG#01-AUG#1-VC3-TUG2#1-TU12#1-VC11-1.5M(Async.) Analyze [ Opt.power meter ] Wave length [1.55μm] Pause Optical power -9.5dBm Relative +0.0dB Refence -9.5dbm

Wave length：在测试之前，应该设定输入光信号的波长。 Optical power：显示输入光信号的的光功率。 4、Pointer monitor

在此功能窗口中可监测收到的信号中的指针值。 Sequence test

在此功能窗口中可以进行自动测试结果的分析。 APS capture

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通过特定的触发设置，可以捕获和显示特定的K1、K2序列；也可以测试倒换时间。 OH capture

MP1570A可以截取和保存1023 个SDH帧的开销字节并显示出来。在此功能窗口中需设置要捕获、显示的开销字节和触发条件。捕获的开销字节可以存储下来，也可以打印出来。 Frame capture

在此功能窗口中可设置和显示捕获的SDH帧头信号。 Recall

在此功能窗口中可以显示存储在内存或软盘中的图形、数据等。

2 光接口特性测试

本节主要讲述了光接口测试的常用测试项目、测试原理和测试步骤，具体测试项目包括平均发送光功率、接收机灵敏度、接收机过载光功率、光输入口允许频偏、光输入口抖动容限、光接口输出抖动、消光比等。

本节先讲述指标的概念和测试方法，然后讲述如何利用实际仪表进行该指标的测试示例，其中示例中用到的SDH分析仪是采用MP1570A仪表做测试示例，由于MP1570A仪表光口能测试STM-1、STM-4、STM-16、STM-64速率，在测试示例中，主要以SL16光板为例，SL16是STM-16速率的光接口板；但由于目前MP1570A不提供10G的光口抖动、漂移等的测试，光口抖动、漂移指标的测试均以STM-4接口板SLQ4为例说明。

2.1 平均发送光功率 2.1.1 概念

平均发送光功率是发送机耦合到光纤的伪随机数据序列的平均功率在S参考点上（光板OUT口）测试值。

要注意的是，发送机发送的光功率与所传送的数据信号中“1”所占的比例有关，“1”越多发送光功率大。当传送的数据信号是伪随机序列时，“1”和“0”大致各占一半，将这种情况下的光功率定义为平均发送光功率。

2.1.2 测试方法

平均发送光功率的测试配置框图如下：

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测试光纤图案发生器被测设备图2-1 平均发送光功率测试配置

光功率计

测试步骤如下： 1）按图1-1接好电路。

2）对于SDH设备一般输入口不需要送信号；如要送则送伪随机码。 3）待输出功率稳定，从光功率计读出的光功率值即为平均发送光功率。 测试中要注意的是：

1）该项测试一定要保证光连接头清洁，连接良好，包括光板拉手条内的连接、清洁；

2）测试尾纤的衰耗，保证得到正确的光发送功率； 3）注意光模块的识别，以便在仪表中选择合适的波长。

2.1.3 仪表测试示例

测试示例可以用便携式光功率计PMS-X来测试该指标，按照图1-1接好PMS-X和SDH设备，注意根据SDH设备光板的波长，读出正确的光功率。

2.2 接收机灵敏度（BER=1×10-10） 2.2.1 概念

接收机灵敏度是指在R参考点（光板IN口），达到规定的误码率（ BER=1×10-10，对STM-64，要求达到误码率为BER=1×10-12）所能接收到的最低平均光功率。

2.2.2 1.测试方法

接收机灵敏度的测试配置框图如下所示：

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SDH设备支路SDH分析仪 支路接受侧R光功率计发送侧光衰减器

图2-2 接收机灵敏度及过载功率测试配置

测试步骤如下： 1）按图1-2接好电路

2）按监视误码的通道等级，SDH分析仪发送PRBS，向支路输入口（或线路输入口）送测试信号；

3） 调整光衰减器，逐渐加大衰减值，使SDH分析仪测到误码尽量接近，但不大于规定的BER（通常规定BER=10-12），观测时间10分钟；实际测试中要观察BER需要较长的时间，一般测试可以用如下简便方法：先调整光衰减器至仪表产生误码，再减小衰减值至误码刚好消失。此时SDH设备的收光功率就是灵敏度。

4） 断开R点，将光衰减器与光功率计相连读出R点的接收光功率即接收机灵敏度。

测试中注意事项如下:

1）如现场没有可变衰减器，可以通过调节双头尾纤在法兰盘的松紧，将发光衰减至优于指标的值（用光功率计测）。

2）可变衰减器的表面读值，不一定准确，必须用光功率计在R点测试出实际的光功率。

2.2.3 测试示例

测试示例可以用便携式光功率计和MP1570A来测试该指标，按照图2-2接好光功率计和SDH设备，注意根据SDH设备光板的波长，读出正确的接收光功率，而且可以多次测量以得到接收光功率的平均值；MP1570A上要设置好支路和群路业务的速率和接口方式。

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2.3 接收机过载光功率 2.3.1 概念

接收机过载光功率是指在R参考点（光板IN口），达到规定的误码（BER=1×10-10 ，对STM-64，要求达到误码率为BER=1×10-12）所能接收到的最高平均光功率。

指标测试中，为什么要测试接收机过载光功率接收机？是因为接收机的正常工作范围是有限制的：光功率太强，会使光接收器件达到饱和状态从而产生误码，甚至可能毁坏收光模块；光功率太弱，也会产生误码或者收无光。光板接收到的信号太强、太弱都不行。接收光功率只有在一定的范围内，光板才能稳定工作。

注：光接收模块达到饱和状态不是SDH设备的缺陷，而是由量子学原理所决定的。

2.3.2 测试方法

接收机过载光功率的测试配置框图与灵敏度测试相同，可参见图1-2。 测试步骤如下： 1） 按图1-2接好电路；

2）按监视误码的通道等级，SDH分析仪发送PRBS，向支路输入口（或线路输入口）送测试信号；

3）调整光衰减器，逐渐减小衰减值，使SDH分析仪测到误码尽量接近，但不大于规定的BER（通常规定BER=10-12），观测时间10分钟；

4）断开R点，将光衰减器与光功率计相连，读出R点的接收光功率即接收机过载光功率。

2.3.3 测试示例

测试示例同灵敏度测试，可以用便携式光功率计来测试该指标，按照图1-2接好光功率计和SDH设备，注意根据SDH设备光板的波长，读出正确的接收光功率，而且可以多次测量以得到接收光功率的平均值。

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2.4 光输入口允许频偏 2.4.1 概念

光输入口允许频偏是用来规范光输入口能够无差错地接收一定频偏范围内的光信号，通常情况下，光发送信号的频率是在标称频率附近上下浮动，这就要求光输入口能够对这种偏差有一定的容忍能力。

2.4.2 测试方法

光输入口允许频偏的指标要求如下：

再生器的内部振荡器在自由运行方式下的长期频率稳定度不得劣于±20×10-6（20ppm），所以下游SDH设备输入口接收到这样的信号应能正常工作。 对光输入口的频偏测试方法和步骤如下：

STM-NSTM-N SDH分析仪SDH设 备

图2-3 测试方法

1） 按图1-3接好电路；

2） 在SDH设备上配置一个支路上下业务，记下此业务的支路与光路的通道编号对应关系；

3） 按被测接口速率等级，设定SDH分析仪的光口发送和接收信号速率，注意此时光发信号和光收信号是一对信号，即分别是STM-N的发信号和收信号； 4） 在SDH分析仪上，根据SDH设备的交叉连接关系，设定SDH分析仪的接收、发送业务通道（作用等同于在设备上配置一个交叉业务），现在该支路业务分别在SDH设备和分析仪内部都配置起来了；

5） 在被测的SDH设备和分析仪上，将此支路业务在相应的光或电接口上用自环线环回，确保业务在设备和SDH分析仪上形成通路；

6） 在被测设备输出口用SDH分析仪（接收）接收测试信号并检测误码； 7）SDH分析仪（发送）加入正或负的频偏，范围20×10-6（±20ppm），整个过程中被测设备不应出现误码。可以不断增加正或负的频偏，直至设备刚好出现误码，以测得设备实际允许频偏范围。

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特别要注意的是：

在测试群路口STM-N信号的输入频偏容限时，仪表发送和接收的都是群路口信号。还需在SDH网元上作本地上下业务的配置，并将该业务

对应的支路通路环回。仪表需设置映射结构和映射通路，映射的设置方法可参见第一章MP1570A仪表使用中的介绍。

注意：

测试频偏过程中，在将对设备加的频偏从正的频偏到负的频偏或从负的频偏到正的频偏时，最好在0频偏点做一短暂停留，让设备适应后再做极性变化。 千兆以太网接口的输入口允许频偏为±100ppm。

2.4.3 测试示例

1） 按照图1-3接好MP1570A分析仪和OptiX 10G设备，即MP1570A的光发送口和接收口分别与SLQ4板的光接收口和发送口相连，分析仪的电口用自环线环起来。

2）在OptiX 10G上配置一个155M电上下业务，所选择的155M通路配置到所插槽位SLQ4的第1个VC4，注意在EU08上用自环线把该155M电口自环起来。 3）仪表设置：

按“Setup”键，在屏幕的左上方出现Setup；

选择[Mapping]、选择[Tx&Rx]； Measuring mode：[Out-of-service]； Bit Rate：[622M]

Mapping：[STM4-AUG-AU4-VC4-139M（Async） MUX/DEMUX：[Off] Frame：[Off]

Clock：选择[Internal]； Performance：选择[G.826]； Graph resolution：选择[15min]。

按“Test Menu”，（如果Test Menu前的指示灯已亮，则按“Setup”），屏幕的左上方出现“Mapping”

光标移到Mapping窗口，设置详细的映射信息（被选择环回支路信号的详细的映射路径）

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]

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Tx&Rx STM4-AUG#[1 ]-AU4-VC4-139M（Async.） 此时仪表应无告警和误码；

在Test Menu窗口，选择[manual]；

然后光标移至jitter，将jitter TX设置为OFF(F.offset)方式，改变Freq.offset值，观测PDH，SDH各告警指示灯，当仪表处于告警/不告警边界时，这时频偏值(Freq.offset)指示为最大频偏容限。

2.5 SDH设备STM-N输入口的抖动容限 2.5.1

概念

抖动是指数字脉冲信号的特定时刻(如最佳抽样时刻、判决时刻)相对于其理想时间位置的短时间偏离。实际上也就是数字脉冲信号的实际有效时间相对于其理想标准时间位置的偏差。

上述定义中的的“特定时刻”是指：特定的有效瞬时，如对数字信号进行识别判决的时刻。

抖动是短期的，非累积性的偏离，偏离随时间变化较快（变化频率大于10Hz）的变化，有正偏，也有负偏，平均值为零，不是一直负偏或一直正偏。 抖动容限测试是为了度量系统和设备承受输入抖动的能力。输入口接收到的信号多少总有一些抖动和漂移，当抖动和漂移不超过网络限值时，输入口应能正常工作，即输入口所在设备或系统性能不下降。 输入抖动容限的测试，要求设备输入口能承受输入信号的各个频率点加的抖动幅度均能满足指标。 该指标测试中需要注意的要点有：

对于此项功能，一般仪表具有自动测试的功能，仪表自动选择测试的频率点，增加抖动幅度进行自动测试，且能打印测试结果的功能。在工程中，条件允许时建议使用自动测试功能。

人工（手动）测试时，信号发送器的抖动频率和幅度需要人工设置。选择测试的频率点，增加抖动幅度，直到仪表出现误码。人工测试时，通常选择拐点的频点进行测试。

测试时，必须清楚被测信号在SDH设备中的流向。注意SDH设备本身的配置。

注意：

在这里顺便讲一下漂移的定义和它与抖动的区别。

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漂移是指数字信号的特定时刻（例如最佳抽样时刻）相对其理想时间位置的长时间的偏移。所谓长时间，是指变化频率低于10Hz的相位变化。 抖动和漂移的产生机理不同。抖动的产生主要原因是内部噪声；漂移产生的原因是传输媒质和设备中时延的变化。漂移还受外部条件的影响，如温度。由于二者产生的机理不同，产生抖动的因素不一定会产生漂移，反之也是。漂移的测试对时钟、仪表等的要求比较高，比较复杂。且国标《同步数字体系（SDH）光缆线路系统测试方法》中未有漂移的测试方法介绍。工程中一般也不进行测试。故本手册对漂移测试不作介绍。

2.5.2 测试方法

测试连接框图如图1-4所示：SDH分析仪与SDH设备通过一对光纤相连，在设备上配置一个支路上下业务，SDH分析仪上设定此支路业务的映射关系（作用等同于在设备上配置一个支路上下业务），确保在设备和分析仪上业务形成通路。不难发现，这种连接方式与测试光口的输入频偏容限的测试方法的连接是一样的。

SDH分析仪SDH发 光衰减器设备RxSDH收设备Tx

图2-4 SDH设备STM-N输入口抖动容限测试配置

光输入口的抖动容限测试步骤如下： 1） 按图 1-4连接电路；

2）在SDH设备上配置一个支路上下业务，记下此业务的支路与光路的连接关系；

3）按被测接口速率等级，设定SDH分析仪的光口发送和接收信号速率，注意此时光发信号和光收信号是一对信号，即分别是STM-N的发信号和收信号； 4）在SDH分析仪上，根据SDH设备的支路连接关系，设定SDH分析仪的支路业务映射关系（作用等同于在设备上配置一个支路上下业务），现在该支路业务分别在SDH设备和分析仪内部都配置起来了；

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5）在被测的SDH设备和分析仪上，将此支路业务在相应的光接口或电接口上用光纤或自环线环回，确保业务在设备和SDH分析仪上形成通路； 6）设置SDH分析仪光发光收，选择输入抖动容限测试

7）启动SDH分析仪的抖动容限自动测试，记录各频点的抖动容限值，应符合测试标准。 建议启用SDH分析仪的打印功能，测试结果在模板曲线的上方作为合格。

2.5.3 测试示例

1）按照图1-4接好MP1570A分析仪和OptiX 10G设备，即MP1570A的光发送口和接收口分别与SLQ4板的光接收口和发送口相连。

2）在OptiX 10G上配置一个155M电上下业务，所选择的155M通路配置到所插槽位SLQ4的第1个VC4，注意在EU08上用自环线把该155M电口自环起来。 3）仪表设置：

按“Setup”键，在屏幕的左上方出现Setup；

选择[Mapping]、选择[Tx&Rx]； Measuring mode：[Out-of-service]； Bit Rate：[622M]

Mapping：[STM4-AUG-AU4-VC4-139M（Async） ] MUX/DEMUX：[Off] Frame：[Off]

Clock：选择[Internal]； Performance：选择[G.826]； Graph resolution：选择[15min]。

按“Test Menu”，（如果Test Menu前的指示灯已亮，则按“Setup”），屏幕的左上方出现“Mapping”

光标移到Mapping窗口，设置详细的映射信息（被选择环回支路信号的详细的映射路径）

Tx&Rx STM4-AUG#[1 ]-AU4-VC4-139M（Async.） 此时仪表应无告警和误码；

光标移到Test Menu窗口，选择[Jitter tolerance]； 按“Result”键，如果Result前的指示灯已亮，则省去；

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光标移到Result窗口，选择[Jitter tolerance]； 按“Start”开始测试。 测试结果：

结果在Result窗口显示。测试值大于指标，测试值连成的曲线在指标模板以上。打开打印机的电源，按“Print now”就可以打印出测试结果。 注意：

对于复用段共享保护环，停止倒换协议； 对于通道保护环，将通道设置为无保护。

2.6 SDH设备STM-N光口输出抖动 2.6.1 概念

输出抖动是抖动出现在网元输出端口的抖动量。测量的目的是为了度量待测实体（SDH网络单元或网络接口等）产生的输出抖动大小，确保端口的输出抖动量不超过在网元输入端口规定的限值。

SDH输出口输出抖动指标分为全频段（B1指标）和高频段（B2指标）两个部分来规范。 输出抖动在各个频段的抖动幅度不同，抖动在低频部分的能量较大。抖动的测试选用带通或者高通滤波器来实现。 如果关闭测量用的滤波器，此时测试到的就是整个频率段的抖动值，即显示整个频段内抖动最大的那个频率的抖动值。

输出抖动测试要点：设备的输入信号不应加有抖动；测量时需要选择带通或者高通滤波器。

2.6.2 测试方法

STM-N光口输出抖动测试配置框图如图1-5所示：

SDH分析仪图案发生器抖动检测器光衰减器光衰减器发送侧

图2-5 SDH设备STM-N口抖动产生测试配置

测试步骤如下：

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1）按上图连接电路，设置仪表；

2）按被测输出口速率等级，并依照测试表格要求,图案发生器选择适当的PRBS，向与被测输出口对应的输入口送不加抖动的测试信号；

3）按被测输出口速率等级，并依照测试表格要求，抖动测试仪设置适当的测试滤波器（分别选择B1：HP1+LP；B2：HP2+LP）；

4）连续进行不小于60s的测量，读出测到的最大抖动峰—峰值。 测试中注意事项如下：

在测量SDH设备的输出抖动时，要求SDH分析仪应具有低的固有抖动性能。应避免SDH分析仪自身测试不准确影响测试结果。 那么，怎样检查仪表抖动测试的准确性呢？

可以将仪表自环，在输入口加抖动，抖动的测量值应与输入口加的抖动相同。或者用另一台仪表发送测试信号。检查时注意滤波器和频率范围。

注意：

如果仪表本身的固有抖动影响到测试结果，必要时应加以修正。

2.6.3 测试示例

1）按照图2-5接好MP1570A分析仪和OptiX 10G设备，即MP1570A的光发送口和接收口分别与SLQ4板的光接收口和发送口相连。 2）仪表设置：

按“Setup”键，在屏幕的左上方出现Setup；

选择[Mapping]、选择[Tx&Rx]； Measuring mode：[Out-of-service]； Bit Rate：[622M]

按“Test Menu”，（如果“Test Menu”前的绿灯已亮，按“Setup”），在屏幕的左上方出现Mapping；

光标移到Test Menu窗口，选择[Manual]；

如果显示的不是关于抖动的窗口（如下所示），则将光标移到Jitter前，再按“Set”键；进入Jitter设置项： Tx Jitter：[Off]

Rx Meas.select：[Jitter]； Range：[2UI]

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