QT-2A型半导体管特性图示仪操作规程

更新时间:2023-11-13 09:51:01 阅读量: 教育文库 文档下载

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QT-2A型半导体管特性图示仪操作规程 一、开机前的准备工作 1. 使用合适的电源线。图示仪只可使用图示仪专用的或经安全核准的电源线。 2. 产品接地。图示仪通过电源线接地导线接地,为了防止电击,接地导体必须与地面相连。在与图示仪输入或输出终端连接前,应确保图示仪已正确接地。 3. 请勿在无仪器盖板时操作。如盖板已卸下,请勿操作QT-2A型半导体管特性图示仪。 4. 在有可疑故障时,请勿操作。 5. 提供良好的通风环境。 二、操作须知 1. 为了取得准确的测量值,开机后必须保证有足够的预热时间。 2. 在测试器件过程中,阶梯信号及峰值扫描电压应先调至最小,然后由小到大,以免对被测器件造成冲击损坏。当器件测试完毕后,应将峰值扫描电压调至最小,才能取下被测器件。 3. 在高电压测试或者大电流测试时,应选择单次模式的测试方法。 4. 在测试器件过程中,先将集电极电压峰值调至最小0%,再根据被测器件的电压加载要求,选择合适的电压档级(0-10V档、0-50V档、0-100V档、0-500V档、0-5000V档)。然后再将电压峰值百分比由小至大调至合适值,以免对被测器件造成冲击,当器件测试完毕后,将集电极扫描电压峰值调至最小后,再取下被测器件。 5. 严禁在任何测试方式下进行C、E间的短路试验。 6. 在关机后不能立即再次起动开机,必须在大于30秒后再次开机。 7. 当选择高电压状态时要特别注意安全,测试完毕后,都应先将扫描电压回调至零后才能取下被测器件。 8. 在测试VMOS、IGBT等场控器件时,一般都需要加特别高的开启电压,此时可使阶梯电压/级置于较小档级,然后适当调高阶梯直流偏置电压△Ub,这样可得到较好的测试效果。 9. 在测试小电流器件时,集电极电流一般较小,应先校准容性电流,调整位置在前面板,再进行测试。 10.在测试大电流器件时,阶梯信号建议选择单次。测试中应逐渐增加扫描电压和阶梯信号,避免对测试器件的冲击。 11.该设备要由专人操作,操作员要经过培训后上岗,机器运转时,操作员不得长时间离开本机。 12.遇到紧急情况时,要立即关掉电源,并报告上级。 设 计 校 对 标准化 工 艺 会 签 会 签 审 核 批 准 第1页,共8页 三、使用说明 1.总体结构介绍(图一) 示波管 偏转放大器 显示控制 集电极电源 阶梯信号 测试座 设 计 校 对 标准化 工 艺 会 签 会 签 审 核 批 准 第2页,共8页 2.面板控制键功能和说明(图二) 17 18 19 20 21 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 32 22 23 24 25 26 27 28 2931 30 34 33 35 36 38 39 42 43 11 12 13 14 15 16 45 47 48 46 37 40 41 44 设 计 校 对 标准化 工 艺 会 签 会 签 审 核 批 准 第3页,共8页 表一: 序号 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 面板和控制按键名称 示波器 聚焦 辉度 光迹旋转 辅助聚焦 电源指示灯 电源开关 集电极电源极性选择 扫描电压范围 功耗限制电阻 峰值电压范围 交流平衡 电容平衡 15SJ118-DC 有效工作面8×10cm 菜单功能 为示波管聚焦控制,当改变辉度后可适当调节聚焦,使光点聚成一清晰圆点。 为示波管亮度控制,顺时针方向为辉度增加,逆时针方向为辉度减弱直到熄灭。 由于外磁场干扰作用,使扫描线发生倾斜,用以调节改变使扫描线与水平刻度线平行。 为示波管辅助焦距控制。 电源接通,发光管亮,指示仪器通电工作。 按入电源接通。 极性选择开关可以转换正负集电极电压极性,在NPN型与PNP型半导体管的测试时可按面板指示的极性选择。按钮弹出为正,按入为负。 选择10V、50V、100V、500V、5000V扫描电压范围。 可选择0Ω-100KΩ20档电阻串联在被测管的集电极电路上,限止超过功耗,亦可作为半导体管集电极的负载电阻。 选择集电极电压:0-10V、0-50V、0-100V、0-500V、0-5000V中的一档电压。当由低档改换高档,观察半导体管的特性时必须先将峰值电压调至零值,换挡后再逐渐增加电压,否则易损坏被测器件。 是针对集电极变压器次级绕组对地电容的不对称,进行电容平衡调节。 由于集电极输出端对地存在各种杂散分布电容,形成电容性电流,造成测试上的误差,为了尽量减小电容性电流,测试前应调节电容补偿,使容性电流减至最小状态。 此开关为高压输出控制开关,当按入5000V VD时,再按入此开关,此时输出端即有高压输出。 为二极管测试装置的测量插孔,其+、-符号为输出电压极性。注意:当按入5000V VD时为高压,请注意安全。 控制光点的上下位移之用,供选择不同的基准位置之用。 供显示不同的集电极电流IC、二极管电流ID之用。IC电流范围为1μA/度—5A/度,ID电流范围为1μA/度—500μA/度。另外,此开关还置有基极电流或基极源电压档级。 此按键按入时,所有电流/度档位均为提高灵敏度1倍,如“电流/度”开关置于“1μA/度”,此时实际为1μA/度×0.5=0.5μA/度。 标准化 工 艺 会 签 会 签 审 核 批 准 第4页,共8页 集电极电源保险熔丝 当集电极电源输出过载或短路时,起保护电路作用。 测试按 +、-测试端 Y移位 Y轴选择开关 Y×0.5 设 计 校 对 序号 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 面板和控制按键名称 校准 接地 转换 Y轴增益 X轴选择开关 X移位 X轴增益 级/秒(0) 级/秒(90) 阶梯极性 菜单功能 此按键按入时,X、Y轴放大器进行灵敏度校准,其幅度显示为10度。 此按键按入时,X、Y轴放大器输入端处于接地状态。 转换时,放大器输入端相互对称,达到图形相互转换,便于NPN管转测PNP管时简化测试操作。按钮按入时,显示在垂直、水平方向上的倒相。 此为调节Y轴放大器总增益之用,当发现1、2、5三档有一致的误差时可调节此电位器进行校准。 供显示不同的集电极电压UC、二极管电压UD、基极电压UBE之用。UC电压范围为10mV/度—50V/度,UD电压范围为100V/度—500V/度,UBE电压范围为10mV/度—1V/度。另外,此开关还置有基极电流或基极源电压档位。 控制光点的左右位移之用,供选择不同的基准位置之用。 此为调节X轴放大器总增益之用,当发现1、2、5三档有一致的误差时可调节此电位器进行校准。 此按键按入时,其阶梯信号持续时间为20mS。 此按键按入时,其阶梯信号持续时间为10mS,27、28按键全出时其阶梯信号持续时间为5mS。 选择阶梯输出的极性。按钮弹出为正,按入为负。 串联电阻(10KΩ) 此开关为阶梯信号至被测管前所串联的电阻,按键按入时串联电阻为10KΩ。 串联电阻(100KΩ) 此按键按入时串联电阻为100KΩ,29、30按键全出时串联电阻为0Ω。 脉冲阶梯指示灯 脉冲阶梯 △VB幅度调节 △VB 占空比 级/簇 幅度/级 调零 零电压 当阶梯信号输出为脉冲阶梯时指示灯亮。 此按键按入时,其阶梯信号输出为脉冲阶梯。 在正极性时VB增加0-6V,在负极性时VB增加0 — -6V。此功能是满足被测器件需要高的基极电压,使基极电压最大值为±6V—±10V。 按钮弹出为正常状态,当按钮按入在正极性时VB增加0—6V,在负极性时VB增加0— -6V。 此旋钮调节脉冲阶梯的占空比。 调节阶梯信号的级数在0—10的范围内连续可调。 此开关为阶梯幅度的控制开关,其中包括阶梯电压和阶梯电流二钟,供不同的测试时选用,每级中所指示的数值均为每一级的幅度,如当开关置于10μA/级时,阶梯第10级的注入电流即为10级×10μA/级=100μA 校正阶梯信号的零电位,正常测试时一般应校正至零电位。 按通零电压时,使被测半导体管基极与发射极处于短路状态。 标准化 工 艺 会 签 会 签 审 核 批 准 第5页,共8页 设 计 校 对

序号 41 42 43 44 45 46 47 48 面板和控制按键名称 零电流 单簇按钮 单簇指示灯 重复、关 左面测试座 右面测试座 左 右 在阶梯关的方式下,测试一簇曲线。 按入单簇按钮指示灯亮。 重复:阶梯信号重复,作正常测试,关:阶梯信号处于待触发状态。 被测半导体管器件测试输入端。 被测半导体管器件测试输入端。 测试端选择左。 测试端选择右。 菜单功能 按通零电流时,使被测半导体管基极处于开路状态。 表二:测试器件时,在面板上选择扫描电压范围、水平电压/度档位,二者应符合如下关系(表三):(●:有效;---:无效) 扫描电压范围 电压/度 10mV/度 20mV/度 50mV/度 0.1V/度 0.2V/度 0.5V/度 1V/度 2V/度 5V/度 10V/度 20V/度 50V/度 100V/度 200V/度 500V/度 10V ● ● ● ● ● ● ● --- --- --- --- --- --- --- --- 50V --- --- --- --- --- ● ● ● ● --- --- --- --- --- --- 会 签 会 签 100V --- --- --- --- --- --- --- ● ● ● ● ● --- --- --- 审 核 批 准 500V --- --- --- --- --- --- --- --- ● ● ● ● 5000V --- --- --- --- --- --- --- --- --- ● ● ● 第6页,共8页 设 计 校 对 标准化 工 艺 四、 测试应用举例 1.将需要测试的三极管插入测试座(三极管的引脚定义应与测试座上的E、B、C相对应),如图三。测试二极管时,要将二极管按照极性插入高压测试座,再将高压测试座插入+、-测试端,如图四。 2. 打开QT-2A型半导体管特性图示仪的电源总开关(图二7),按入电源接通,电源接通发光管亮指示仪器通电工作。 3. 对示波管辉度、聚焦(图二2、3)进行调节,使光点聚成一清晰圆点。 4. 参照“表三”的项目设置检测参数 5. 查看对应元器件的半导体管特性曲线是否符合要求。 测试三极管、场效应管的连接方式 测试二极管的连接方式 图 三 图 四 五、技术支持及联系方式 上海新建仪器设备有限公司 联系电话:021-69152975 传真:021-69152975 售后服务热线:021-62552963 传真: 021-62552963 设 计 校 对 标准化 工 艺 会 签 会 签 审 核 批 准 第7页,共8页 表三: 集电极 元件名称 峰值可变电源功耗限电压电压 极性 制电阻 范围 10V 10V 3V 10V 10V 10V 10V 10V + + + - 200Ω 200Ω 200Ω 200Ω 阶梯 阶梯阶梯阶梯档级 极性 方式 10 μA/级 10 μA/级 10 μA/级 10 μA/级 + - + - 重复 重复 重复 重复 偏转放大器 阶梯级数 10 10 10 10 Y 档级(IC) 200μA/度 10μA/度 20μA/度 1mA/度 X 移位 适中 适中 适中 适中 显示方式 移位 适中 适中 适中 适中 档级(Vce) 1V/度 1V/度 50mV/度 1V/度 转换 弹出 弹出 弹出 按入 ST BV32G TO-92 CR03AM-16 TO-92 MCR100-8 TO-92 HGTD1N120BNS TO-252 UTC 15N10L TO-252 1N4148 SOD-323 1N4007 DO-214AC BF2K DO-214AC STTH1R06 DO-214AA SMBJ16CA DO-214AC SMBJ30CA DO-214AC BAV70 SOT-23 BAV99 SOT-23 HM3906/ MMBT3906 9013 SOT-23 9012 1SS272 SOT-143 TL431G SOT-23 设 计 校 对 标准化 工 艺 会 签 会 签 审 核 批 准 第8页,共8页

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