半导体铅含量测试作业指导书

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半导体铅含量测试作业指导书

1.0 目的:

本实验的目的是通过《EPA3050B》方法萃取样品中重金属铅及其化合物,并测其含量. 2.0 范围:

本方法适用于半导体样品中铅及其化合物的分析测定. 3.0 职责及权限:

3.1部门主管不定期监督实验室负责人的工作是否真正落实到位. 3.2实验室负责人负责管理和监督及纠正实验员对本程序的作业是否正确ˋ

规范ˋ标准.以及各步骤的安全作业性是否真正得到落实.

3.3实验员根据作业程序认真做好每一个实验.做到操作正确ˋ技术规范ˋ作

业标准ˋ分析快速ˋ操作安全. 4.0 引用标准文件

制定本规范参考了下列文件中的一些信息，但没有直接引用里面的条文。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。 4.1参考国际通用分析操作标准《EPA3050B》萃取方法. 4.2参考相关技术标准文件.

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