WI-MOP09-01SPC作业指导书

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B 版/1 次第 1 页共 10 页 2010-11-5

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通过对 X -R、I-MR、P、NP、过程能力等作描述，以便本公司实际操作。 2.范围：使用于楹裕公司统计过程管制。 3.作业时必备条件：无 4.作业要领： 4.1 术语 4.1.1.SPC:统计过程管制 4.1.2.CPK:长期(稳定)过程能力指数 4.1.3.PPK:短期过程能力指数 4.1.4.CMK:设备能力指数 4.1.5. X -R Chart:均值极差管制图 4.1.6.I-MR Chart:单值和移动极差管制图 4.1.7. P Chart:不良率管制图 4.1.8.nP Chart:不良数管制图 4.2.内容： 4.2.1.偶然原因、特殊原因偶然原因指的是造成随着时间的推移具有稳定的且可重复的分布过程中的许多变异的原因，有时被称为普通原因。在管制图分析中，它表现为随机过程变异的一部分。特殊原因：一种间断性的，不可预计的，不稳定的变异来源。有时被称为可查明原因，存在它的信号是：存在超过管制线的点或存在管制线之内的链或其他非随机性的情形。 4.3.均值极差图 4.3.1. 确定品质特性

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顾客需要和关注的品质特性；对产品质量有重大影响的关键因子经常出现问题的品质特性便于度量的品质特性

4.3.2 管制图选择确定品质特性后，根据品质特性的数据类型及抽样计划确定管制图的类型。

4.3.3.收集资料 (1) 选择子组大小﹑频率和数据 a. 子组大小合理子组一个子组内的变差代表很短时间内的零件的变差。非常相似的生产条件下生产出来的,相互间不存在其他的系统的关系。每个子组内的变差主要应是偶然原因造成。实际作业时采用连续取样

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上海楹裕电子有限公司文件名称文件编号制作单位b. 子组频率在适当的时间收集足够的子组来反映过程中的变化。

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过程的初期研究，很短的时间间隔进行分组，以便发觉短时间的不稳定因子。当证明过程已处于稳定状态下(或已对过程进行改善),子组间的时间间隔可以

增加。 c. 子组数的大小子组数越多，可确保变差的主要原因有机会出现。一般情况为了产品检测的时效性，故抽样较少，对 X-R Chart 通常取 25 个子组，每个子组取 2—5 个。 4.3.4 管制图制作计算平均值计算管制界限在管制图上作出平均值和极差管制 4.3.5.管制图解释 1.管制图上的点子如属正常，其点子的动态是：多数(2/3)的点子集中在中心线附近；少数(1/3)的点子落在管制界限附近；点子之分布呈随机状态，无任何规律可循；没有点子超出管制界限外。

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上海楹裕电子有限公司文件名称文件编号制作单位2.管制图异常状态解析第一类：点出界就判异；第二类：界内点排列不随机判异。

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国标 GB/T 4091—2001《常规管制图》中规定了的 8 种判异准则：

1.有一个点超出管制线

2.连续出现9个点出现在中心线的单侧

3.连续6点上升或下降

4.连续14个点上下一次轮流出现

5.连续三点中有两点出现在Zone B之外(同侧)

6.连续五点中有四个点出现在Zone C之外(同侧)

7.连续15点出现在Zone C内

8. 连续8点出现在Zone C之外

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4.3.6 点子出界或违反其他准则的处理若点子出界或界内非随机，需按“20 字方针”去做，即查出异因、采取措施、加以消除、不再出现、纳入标准。 4.3.7 管制图的重新制定管制图是稳定状态下的条件(5M1E)来制定的。如果上述条件变化，例如操作人员更换或通过学习操作水平显著提高，设备更新，采用新型原材料或更换其他原材料，改变工艺参数或采用新工艺等，这是管制图必须重新制定。 4.3.8 管制图保管问题管制图的计算以及日常的记录应作为技术资料加以妥善保管。对于点子出界或界内点排列非随机的异常情况以及当时的处理记录情况都应予以记录，因为这些都是以后出现异常时查找原因的重要参考资料。 4.4 平均数极差管制图( X-R Chart) 4.4.1 数据收集及初步分析 (1) 一般情况为了产品检测的时效性，故抽样较少，即取 25 个子组，每个子组取 2—5 个。 (2) 建立管制图及记录原始数据，记录日期/时间﹑读数和 X ﹑R。 (3)计算每个子组的均值( X )和极差(R) X X 2

X n X = 1 R= X m ax X m in n (4) 选择管制图的宽度 a. X 图上，坐标上之 max-min 为 X (max-min)之两倍。 b. R 图上，坐标上之最大刻度值为 R m ax 之两倍。 (5)将均值和极差画到管制图上 4.4.2.计算管制限 (1)计算平均极差( R )及过程平均值 X

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上海楹裕电子有限公司文件名称文件编号制作单位R 1 R 2 R K K (2)计算管制限 UCL R D 4R R

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SPC 作业指导书 WI-MOP09-01 品管部X X 1 X 2 X K K

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B 版/1 次第 6 页共 10 页 2010-11-5

发行日期K 为子组的数量

UCL X X A 2R LCL X X A 2R

LCL R D 3Rn D4 D3 A2 2 3.27 0 1.88 3 2.57 0 1.02

4 2.28 0 0.73

5 2.11 0 0.58

6 2.00 0 0.48

7 1.92 0.08 0.42

8 1.86 0.14 0.37

9 1.82 0.18 0.34

10 1.78 0.22 0.31

(3)在管制图上作出平均值和极差管制限的管制线。 4.5.单值和移动极差图(I-MR) 4.5.1.在下列数种情况下,使用个别值与移动全距管制图 (I-MR Chart) (1)分析或测试一件产品之质量特性，手续较为麻烦，需花费很多时间，而有误工作时效者。 (2)所选取之样本，系属于一种极为均匀一致之产品，如像液体或气体，几个测定值没有意义，只要一点就可以时。 (3)有些产品需要经过一段很长之时间,才能制造完成,如此才获得一个测定值。 (4)产品系非常贵重之物品，测试一个样本即损失很多金钱者。 (5)破坏性之试验，每检验一个产品，即损失一个。 (6)管制制造条件如：温度﹑压力﹑湿度等。单值管制图，要注意下面四点: 单值管制在检查过程变化时不如 X Bar-R 图敏感；如果过程的分布不是对称的，则在解释单值管制图时要非常小心；单值管制图不能区分过程的零件间重复性,因此,在很多情况下，最好还是使用常规的子组样本容量较小(2 到 4)的 X R 管制图，尽管在子组间都要求较长的时间；

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由于每一子组仅有一个单值， X 和值会有较大的变异性(即使过程是稳定的)直到子组数达到 100 以上为止。在本公司取 25 组，但计算长期的过程能力可以子组达到 100 个数据再计算过程能力。 (若生产量较少，不足于取 100 个子组就取 25 个子组) 。 4.5.2.收集资料

在数据图上从左至右记录单值读数(X)。单值图(X 图)的刻度可为最大单值读数与最小单值读数之差

的 1.5 到 2 倍。移动极差(MR)图的刻度间隔应与 X 图一致。 4.5.3.计算管制限管制界限之计算:

X 1 X 2 X 3 X k k

R m 每组之最大值-每组之最小值 R m , Rm:移动极差. Rm K n 1K:样本组数. N:一次取用的测定值个数. X 管制图:

CLX X(其中 E2=2.659) R 管制图：

UCL X X E 2R m

LCL X X E 2R m

CLR R4.6 P 管制图

UCL R D4 R

LCL R D 3R

(其中 D4=3.27 D3=0)若制程不良率未知，则 P 值需从观测数据中估计。一般的作法是初步选取 k 组样本容量为 n 的样本，

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B 版/1 次第 8 页共 10 页 2010-11-5Di i=1, 2,…, k ni

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通常 k 为 20~25,假设第一组样本含有 Di 个不合格品，则不良率为： pi 其中 k 是子组个数，ni 是第 i 个子组大小全体样本之平均不良率为： p P 管制图：UCL p 3 ( p 1 - p) ni

D n

CL p

UCL p -3

( p 1 - p) ni

注：样本大小可相等可不相等。关于 ni 的两点说明： a. 若每个子组大小 ni 都相等，都记为 n,若 p 很小，则要选择样本量充分大，使得每个子组平均有一个不合格品，通常取

1 5 n 。 p p

b. 若 ni 不全相等，则 p 管制图的 UCL 和 LCL 是凹凸状；如果 ni 变化不大，则采取单一的等于平均子组大小的一组管制限，实际上，当 ni 变化在其目标值 25%之内，可采用该方法。 4.7 nP 管制图

一般的作法是初步选取 k 组样本容量为 n 的样本，通常 k 为 20~25, 则全体样本平均不良个数：为np。 nP 管制图：

UCLnp n p+3 n p (1- p) CLnp n p LCLnp n p-3 n p (1- p)

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上海楹裕电子有限公司文件名称文件编号制作单位注：样本大小一定要相等。

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4.8.过度调整：过度调整是把每一个偏离目标当作过程中特殊原因处理的做法。如果根据每一次所作的测量来调整一个稳定的过程，则调整就成了另外一个变异源。 4.8.过程能力解析 (1)进行过程能力分析,须满足以下条件下方可: 收集数据的制程处于稳定状态；制程输出特性的单个测量值近似服从正态分布；充分了解顾客对制程输出特性的要求(规格限); 抽取的样本应尽可能仅受随机因素的影响(随机抽样) (2)过程固有变异(普通变异)――仅由普通

原因产生的部分过程变异。如

R S 或 d2 C 4

过程总变异――普通变异+特殊变异

( X I X )2 s S n 1 i 1n

(3)Cpk=min(

X LSL U SL X , 3 R d 3 R d2 2

)为稳定过程的能力指数;

Ppk=min( (4)Cp=

X LSL U SL X , )为过程性能指数。 3 s 3 sPp=

U SL LSL 6 R d2

U SL LSL 6 s

(5)Cpu=