净度分级

第七章 净度分级

7.1 概述

钻石的净度分级概念起源于20世纪初的巴黎，当时人们按质量将钻石分为两类： a) “洁净”（Clean）钻石：无任何明显的内部瑕疵的钻石，较少见；

b) “不洁”（Pigue）钻石：具明显包裹体的钻石，多数钻石属此类，比较常见。

目前世界各地流行的钻石净度分级体系比上述两分法要详细得多，分级标准主要依据钻石在10倍放大镜下观察的结果，包括外部瑕疵和内部包裹体的大小、性质、数量、位置和颜色等，作出相应的判断。其中最有代表性的净度分级级体系仍是GIA、CIBJO和IDC等。

7.2 外部和内部特征

钻石分级是根据其外部瑕疵和内部包裹体的特征来决定的。外部瑕疵亦称外部特征，是位于钻石表面未进入内部的各种缺陷。内部包裹体又称内部特征，指包含在钻石内部和从内部延伸至表面的各种包裹体；它们在国际钻石分级中有统一的名称，标记的标志和颜色。

7.2.1 外部特征（External Characteristics）

外部特征主要有：原晶面 (Natural)、表面生长纹(Surface grain lines)、多余刻面(Extra facets)、小坑(Pit)、凹洞(Cavity)、缺口(Chip or Nick)、划痕(Scratch)、磨损的小面棱和底尖 (Abraded facet junctions and culet)、抛光痕(Polishing lines)、烧痕(Burn mark)等。 统一用绿色笔划来标记。

a) 原晶面是残留在成品钻石上的一些原石晶体表面，多数分布在钻石的腰部及其附近的地方，有时在

原晶面上还可见三角座等生长标志。

b) 表面生长纹是内部纹理的外部表现，可呈平直或不规则状分布，常横穿几个刻面。

c) 多余刻面是除了应有的琢型刻面之外的多余小面，这是为了去掉表面的小瑕疵抛磨腰棱时造成的；

若几个相邻的刻面在琢磨时接合不好，也可出现多余的小面。 d) 小坑是钻石表面上极小的凹坑。

e) 凹洞和缺口是由于一小部分崩落而在钻石表面上留下一个较大的凹坑或缺口。 f) 划痕是被其它钻石刮伤而在表面留下的痕迹。

g) 磨损的小面棱和底尖是由于被其它钻石摩擦受损或佩戴过程中磨损造成的。

h) 抛光痕是由于劣质抛光而留下的痕迹，在某一刻面上呈一组平行的细线，一般不能按原有的方向延

伸到相邻的刻面。

i) 烧痕是因劣质快速抛光导致刻面烧灼痕，似白雾状或浆糊粘在玻璃板上干后的现象。

7.2.2 内部特征（Internal Characteristics）

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内部特征主要有：晶体包裹体(Included crystal)、羽状体(Feather)、解理（Cleavage）、裂隙(Fracture)、针点(Pinpoint)、云状物(Cloud)、胡须腰围(Bearded girdle)、内部生长纹及和双晶纹 (Internal graining and twinning lines)、晶瘤(Knot)、激光钻孔(Laser drill hole)等。统一用红色笔划来标记。 a) 晶体包裹体是包含在钻石内部的任何矿物晶体，如钻石、石榴子石、橄榄石、透辉石等。 b) 羽状体、解理和裂隙都是与结构有关的破裂。羽状体和裂隙可沿着或不沿着钻石的纹理方向发育，

外观象羽毛者称羽状体，大的破裂称为裂隙；解理是沿着钻石解理方向发育的裂隙。 c) 针点是微小的固体包裹体，在10倍放大镜下是一个小白点，可以单个或几个出现。 d) 云状物是钻石内部呈雾蒙蒙的区域，一般是由极细小的包裹体组成。 e) 胡须腰围是由于过激粗磨而引起在钻石腰棱周围并向内延伸的小裂隙。

f) 内部生长纹和双晶纹是钻石晶体原子排列不规则或错动而形成一种现象，呈平直的线状或条带状，

可延伸相邻的几个刻面；若为白色、有色或反光，则会影响钻石的净度。 g) 晶瘤是延伸至钻石表面的钻石晶体包裹体。

h) 激光钻孔是有些钻石用激光钻孔办法来去除一些显眼深色的包裹体后而留下的微小钻孔。从侧面

看，是一条由钻石表面延伸至内部的白色针状长管。

外部和内部特征的标记符号如下。

外部特征： 原晶面

表面生长纹、双晶纹 多余刻面 小坑 凹洞 缺口 划痕 磨损的小面棱 抛光痕

内部特征： 晶体包裹体

羽状体、解理和裂隙 针点 针点群 云状物 胡须腰围

内部生长纹和双晶纹 晶瘤 激光钻孔

7.2.3 外部和内部特征的标记方法

a) 根据钻石的琢型作冠部和亭部的平面投影图；按钟表的刻度把投影图划成十二等分，冠部按照顺时

间方向，亭部则为逆时间方向（见下图）；

b) 将所观察到的特征用相应的符号按比例标记在投影图的相应位置上，用红色的笔划标记内部特征，

而外部特征则用绿色笔划标记。

c) 从冠部观察到的所有特征应标记在冠部的投影图上；而在亭部表面上的特征或只能从亭部观察到的

特征则标记在亭部的投影图上；一些从冠部可观察到并延伸至亭部表面的特征或某一包裹体同时延伸到冠部和亭部的表面时，则应在冠部和亭部的投影图上都标记；有些仅仅分布在腰部的原晶面则按平行腰部轮廓的绿色笔划标记在冠部的投影图上；如果遇到某些复杂的特征同时又没有相应已知

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的标记符号时，就按它们的实际的形状和相对的大小来标记。

7.3 影响净度级别的因素

a) 大小：包裹体越大，钻石的净度级别越低； b) 数量：包裹体的数量越多，净度级别越低；

c) 位置：包裹体所处的位置越靠中部，对净度级别影响就越大；尤其是包裹体处于台面的区域或延伸

到钻石表面，其影响程度最大；

d) 性质（类型）：同样大小、数量及处于同样位置的不同性质或类型的包裹体，它们对钻石净度级别

的影响程度是不一样的。如黑色晶体包裹体比白色云状物影响大；解理和裂隙往往是影响程度最大的一类包裹体；

e) 颜色和亮度：包裹体颜色越深，其亮度（反差）就越高，钻石净度级别就越低。

7.4 净度分级工具

净度分级的最常用工具有10倍放大镜、镊子、光源和清洁用具等。质量好的10倍放大镜都进行过色像差和球面差的修正，一般由三片玻璃透镜组成，中间一片为无铅、低折射率的凸透镜，上下两片为含铅、高折射率、低色散的凹透镜。照明光源是用光线柔和的标准日光灯。清洁用具包括酒精、不起毛的尼龙布以及清洗液等；最好备有一支一端为金属尖针、另一端为毛刷的笔，在清除表面尘埃或转动钻石时非常有用。在实验室内常用10倍的立体双目显微镜对钻石进行净度分级。

7.5 净度分级步骤

a) 擦净或洗净钻石；

b) 先系统观察钻石冠部的每一个刻面，然后再系统观察亭部的各刻面、底尖和腰棱。观察过程中要不

断转动或移动钻石，确保从各个方向对钻石进行详细的观察；六点钟的位置往往是最佳的观察方向；

c) 在观察过程中，将所观察到的表面或内部特征用规定的颜色笔划和符号，按比例地画在相应的投影

图的对应位置上；

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d) 综合考虑所观察的结果，参照国际钻石净度分级的标准，确定该钻石的净度级别； e) 在评语栏中注明任何未标记的观察特征。

7.6 钻石净度级别标准及定义

GIA将钻石净度级别分为无瑕（FL-Flawless）、内部无瑕（IF-Internally flawless）、VVS1、 VVS2、VS1、VS2、SI1、SI2、I1、I2和I3（见下表）。它们具体标准定义为：

a) FL：10倍放大镜下见不到任何外部和内部特征。但允许存在：位于亭部并从冠部观察不到的多余刻

面；不超过腰棱最大宽度或不影响腰棱轮廓对称性，且从冠部观察不到的原晶面；既不反光、不带白色或其它色调，又不严重影响透明度的内部纹理。

b) IF：10倍放大镜下见不到任何内部特征，但允许存在：细小的经重新抛光可去除的外部特征，如小

坑、划痕等；一些经重新抛光也无法除去的表面生长纹。

c) VVS1和VVS2：含有微小或很不明显的包裹体，在10倍放大镜下很难被发现或只能从亭部可观察

到。根据包裹体的数量、位置和颜色划分亚级。典型的包裹体为针尖、小的云状物、极细小的羽状体、胡须和内部生长纹等。

d) VS1和VS2：含有小的包裹体，其大小、数量和位置在10倍放大镜下难至不太难被发现。根据包裹

体的大小、位置和颜色确定亚级。典型的包裹体有：小的晶体包裹体、一组针尖、小的羽状体和较明显的云状物等。

e) SI1和SI2：含有显著的包裹体，在10倍放大镜下易见，但从冠部一侧肉眼看不到。SI2级别的钻石

台面朝下放在白色的背景上，从亭部一侧用肉眼观察，可见到包裹体。

f) I1、I2和I3：含有在10倍放大镜下明显可见的、通过冠部一侧肉眼也能见到的包裹体。级别从肉眼

难于看到包裹体的钻石，直到有解理严重影响耐久性的钻石。I1级别从冠部一侧肉眼难见到包裹体；I2级别从冠部一侧肉眼可见包裹体，并影响钻石的亮度；I3级别从冠部一侧肉眼明 显可见包裹体，且严重影响钻石的亮度。典型的包裹体为深色的大晶体包裹体、面状的云状物和大的裂隙等。

7.7 激光处理的钻石净度分级问题

激光除斑处理是为了消除钻石“脏点”（包裹体），以提高钻石净度的方法。激光钻孔作为内部特征参与分级，处理后的净度级别应与处理前的相似；而且激光处理必须声明。

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钻石净度分级体系对照表

GIA 无瑕(FL) CIBJO 放大镜下洁净 内部无瑕(IF) (Loupe clean) IDC 放大镜 下洁净 IF Scan.D.N. FL 德国 IF 判断特征 10倍放大镜下见不到任何缺陷或包裹体 无包裹体，但有细小的可通过重新抛光去除的外部缺陷 一级极微瑕(VVS1) 二级极微瑕(VVS2) VVS1 VVS2 VVS1 VVS2 VVS1 VVS2 VVS 微小或很不明显的 包裹体，10倍放大镜下很难发现 一级微瑕(VS1) VS1 VS1 VS1 VS 二级微瑕(VS2) VS2 VS2 VS2 小的包裹体，其大小、数量和位置在 10倍放大镜下难至不太难被发现 一级小瑕(SI1) 二级小瑕(SI2) 一级瑕(I1) 二级瑕(I2) 三级瑕(I3) SI1 SI2 Pique I (PI) Pique II (PII) Pique III (PIII) SI P1 P2 P3 SI1 SI2 P1 P2 P3 SI P1 P2 P3 显著的包裹体，10 倍放大镜下易见 含有10倍放大镜下 明显可见、通过冠 部一侧肉眼也可见的包裹体 注：

1. GIA - 美国宝石学院， CIBJO - 国际珠宝联盟， IDC - 国际钻石委员会， Scan.D.N. - 斯

堪维纳钻石命名法；

2. CIBJO将钻石净度级别VVS、VS、SI又分成两个亚级，只适用于0.47ct或更大的钻石； 3. GIA中无暇（FL）级别的钻石，允许存在：

a) 位于亭部并从冠部观察不到的多余刻面；

b) 不超过腰棱最大宽度或不影响腰棱轮廓对称性，且从冠部观察不到的原晶面； c) 不反光、不带白色或其它色调，又不严重影响透明度的内部纹理。

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