TFC中文说明书

Capabilities（性能） GO TO TOP

TFCalc软件可以使你分析设计多层薄膜，他们的一些功能如下：

它可以将反射率、透过率、吸收率、光密度、损失、颜色、亮度、PSI、基于反射后投射的相移和电场强度计算并绘制表格。

它可以分析膜系设计同生产之间的误差。优化可以使误差最小化。膜层灵敏度可以计算并演示出来。

可以在一系列圆锥角（就像集中的光束一样）和用户定义的辐射发散角内分析一个膜系。 镀膜所用膜料、基底和外部介质可能是弥散或者吸收的，而内部介质却是弥散的。弥散公式可以用来给定膜料和基底的相关系数。

基底或膜层的折射率（N和K）可以由测定的数据来确定。光源要详细说明。薄膜的折射或投射可以储存作为光源，所以滤光器的输出可作为另一个滤光器的输入。同样，黑体光源可以由此产生。

下面详细说明探测器的功能：

全球搜索用来寻找最好的设计方案而不仅仅是the local minimum 基底两侧的膜层可以同时优化。在优化过程中，膜层厚度可以限定在最小和最大厚度之间。 有多达5000个优化目标可以指定。同样，一个目标可以是一个不等式，例如<10%或>90％。 复合环境可以用来开发像复合基底的膜系设计。

Needle优化可以在设计中自动加入膜层，尤其是对那些有特殊要求的设计。这种掘进方法可以用来自动产生一系列最佳的设计。

目标可能会自动产生。同样，目标也可以从文件中读出，形成颜色和亮度目标。 第一、 第二和第三阶关于波长或波数的导数可以用作目标。

可以计算出等效系数来将膜层用复合系数的等效膜堆[例如：(HLH)^p或(LHL)^p]来代替。 有三种local 优化方法可选：梯度法、变尺度法和单纯形法。

对不限定数量的材料、基底、光源、探测器和分配的数据要输入。

六层薄膜运算的结果放入一个表格内进行对比。不同类的图表将被覆盖掉,例如：折射透射。 最小、最大和平均参量（例如折射率）可以在一定波长范围内计算。 结果被保存在文本文档中以供其他软件编辑。 光控曲线可以计算并列表。

Modify Menu（修改目录） GO TO TOP

Environment（环境参量）

Exit medium （出射介质）

在基底目录下的选项，此名称在使用前必须先定义。如果基底材料与出射介质相同（没有back layers），那么基底可看作是无限大厚度的（在后表面没有反射）；如果他们不同，那么就要考虑到若干反射。同样的，如果基底材料与出射介质相同（没有back layers），那么计算所得的透过率就是基底的透过率，如果不等，那么基底的透过率就可以计算出来。 First Surface（第一面）

First Surface是指前面或后面，“前面”指光从第一层膜入射，“后面”指光从出射介质入射。

当数据输入完毕时点击OK（或Return或Enter)。Analysis Parameters（参量分析）将显

示Set Analysis Parameters（参量分析设置）窗口。

当定义了不止一个环境参量时，你可以使用Environment pop-up目录来选择一个环境，被选择的环境参量叫做当前环境参量。

Layers - Front /Back（前/后表面膜层）

显示基底前/后表面膜层，基底两侧最多可各有5000层膜。

有两个膜层窗口：前表面窗口和后表面窗口。这些窗口显示组成膜系的膜层信息。对每个膜层你必须指定以下信息： material（材料）：必须是在材料库或在机动材料窗口中定义过的材料。

在QWOT中的1/4波长或物理波长：注意每一层只有一个厚度需要输入，如果输入光学厚度，那么将会计算物理厚度，反之亦然。如果膜层内含有在一定波长有明显吸收的材料，那么就不可能计算通常的1/4光学厚度。在此情况下，程序会显示n/a或QWOT的相近值。

Targets – Discrete（单点目标）

nvironment（环境）在传统膜系设计下其值为1。然而然后定义了multiple environments多重环境那么你可以在此输入环境参量的数值。

Comments（注释）

显示膜系的注示。

你可以在注释窗口中点击鼠标来编辑内容。在特定地方输入文字时用鼠标直接在要输入文字的地方点击。按回车键或用鼠标在另外一个窗口中点击来结束编辑。所输入的内容被保存在膜系文件中。

在注释窗口中的页眉部分的文字将在一些窗口和打印出来的remark项后显示。当注释窗口为最顶时你可以使用Options menu来从另外的膜系文件中复制或添加内容或打印注释。

Variable Materials（机动材料）

对每一个机动材料你必须设定：

机动材料的名称。每一个机动材料必须有一个唯一的名称。同样不能同材料库中的材料名称相同。使用机动材料时只需要在膜层窗口中输入材料的名称。 机动材料的原始系数（N和K）。

机动材料可能具有的最小和最大折射率（N），在优化过程中才使用到此限制。 机动材料可能具有的最小和最大消光比率（K），在优化过程中才使用到此限制。 是否优化机动材料的消光比（K）。 注意：单纯形法不改变此系数。

当机动材料窗口为最顶时，你可以通过选项目录来增加、删除、复制和添加机动材料。 在对两种材料的结合在膜系生成过程中不断变化的膜系进行试验时就要用到机动材料。这种膜系可以有许多薄膜层模拟而成，每一膜层的系数都与前一膜层系数略微不同。例举例来说，模拟一个系数（1.5到2.5）随厚度成线形变化的膜系时，你可以输入11个机动材料，它们的系数为1.5，1.6，1.7，……2.5，在Front Layers窗口中加入等厚的机动材料。 机动材料还可以用来确定未知层的系数。在这种情况下，优化目标值会被分光光度法或ellipsometric法的数据。参看附录C获得更多信息。

机动材料的另外一个用途是寻找单层或多层膜的理想系数；这时通过equivalent stack

computation计算得到的HLH或LHL膜堆就可以用来取代机动材料。

Environments Window(环境参量窗口) GO TO TOP

多重参量对设计由不同条件控制膜系特性的膜系时是很重要的。（例如不同光源、不同入射出射介质、不同基底、或比如探测器）如果所设计膜系中的膜层折射率是受外界影响的（例如温度、光强、电流、磁场、湿度）那么就要用到此窗口的Active materials（活动材料）。多重环境可用来设计折射率由入射角和偏振来决定的双折射基底。 Substrate（基底）

基底是在基底命令下的选项，此名称在使用前必须先定义。基底被看作是一个没有干涉效应的块状介质。而如果它是吸收材料那么就看作只有衰减效应的介质。 Exit medium （出射介质）

在基底目录下的选项，此名称在使用前必须先定义。如果基底材料与出射介质相同（没有back layers），那么基底可看作是无限大厚度的（在后表面没有反射）；如果他们不同，那么就要考虑到若干反射。同样的，如果基底材料与出射介质相同（没有back layers），那么计算所得的透过率就是基底的透过率，如果不等，那么基底的透过率就可以计算出来。 Detector （探测器）

在探测器目录下的选项。此名称在使用前必须先定义。在为探测器设计一个滤光器时要指定一个探测器，除此之外最好选择IDEAL

最多可以有三个折射率随外部条件变化的机动材料。 光入射的第一个面：前表面或后表面。一般为前表面，也就是说光从入射介质发出。然而， 我们可以对光从两个面入射膜层进行环境定义。

当使用机动材料时，每一个环境代表一个特定的外部条件。例如，如果外部条件是温度，那么每一个环境参量代表一个不同的温度。那么，对每一个环境参量来说机动材料的名称就会改变。确保当前环境里至少有一个膜层使用在环境参量栏内（加注星号）的机动材料。如果改变当前环境参量，TFCalc将在保持每一层物理厚度不变的情况下自动将机动材料加入膜系窗口。这些将在多重环境下根据优化目标进行优化时自动完成。

需要注意的是当分析一个膜系时的当前环境参量，此参量在第一行将以星号标注。当Environments window（环境参量窗口）在窗口最上层时，你可以使用Options menu（选项目录）来添加、删除、打印、复制和应用环境参量。 Materials and Substrates Windows

当任意一个窗口在最顶时，使用选项目录来增加、删除和打印材料和基底的名称。 在相应名称上点击来查看特定材料或基底的数据。当材料或基底数据窗口在最顶时，使用Options Menu选项目录来增加、删除和打印材料和基底的名称。

当用户选定Add Material增加材料或Add Substrate增加基底命令后就要输入材料或基底的名称。折射率数据在数据表格中给出或以分布函数形式给出。如果选定后者，那么就要为复杂折射率中的n和k值选择函数类型。点击OK会出现一个空白表格或出现一个函数。 表格中可以最多存储1001个光学数据。当程序需要在一个超出表格所含的波长时它会用线形插补法推算其值；如果波长超出了设定范围，那么就采用最接近其值的终点值。程序以波长为标准来保存数据。

对所有的材料，参数N必须大于零，消光系数K对无吸收材料（电介质材料）为零。对吸收材料K>0。对For material exhibiting optical gain, K < 0. 注意在TFCalc中必须在Configure对话框中设定可以处理gain material。

分布函数只在一定波长范围内有效。此范围随着函数参量也在对话框中输入。点击打印按钮打印分布函数参量。点击Comment按钮编辑函数的说明内容。点击Convert按钮将分布函数转化为数据表格。对材料（和基底）使用Fit Data按钮可以按照测试所得的数据找到相应的分布函数。参看附录C获得详细信息。点击OK就可对分布函数进行大量的逐项相符以保证函数对整个波长范围内的折射率计算结果有效。

注意：Schott玻璃公司现在使用Sellmeier 3分布函数描述其玻璃材料。然而Schott函数也被其他玻璃生产商所使用。

注意Drude函数不能与其他函数混用；当你将Drude函数选作n，那么TFCalc会自动地选作k。同样需要注意的是n和k是隐含地给出的；TFCalc使用程序来独立确定n和k的值。在红外和远红外区对金属波长的分布进行模拟时要用到Drude函数。 如果用户改变材料的折射率，那么每一使用此材料的膜层的厚度就会受到影响；程序会自动调整厚度；如果你选择光学厚度作为优先量，那么物理厚度就会重新计算，反之亦然。注意：你在修改后必须关闭此窗口才能对当前的膜系设计产生效果。 可以对每一种材料或基底作一简短说明。也可以使用程序提供的选项来将用户制作的文件中的材料和基底数据（包括内在的透射率数据）读出。此选项在附录A中有所描述。用户也可以在文件中写入数据使在其他软件中使用这些数据更方便。

每一种材料和基底的数据都单独保存。例如，在MATERIAL栏中文件名为MGF2和在SUBSTRAT中文件名为GLASS。这样做使复制数据、与同事分享数据或将数据移动到此软件在麦金托什机上的版本更方便。注意：如果你重命名或生成一个新文件，要保证文件扩展名正确无误，材料和基底数据文件扩展名为MAT。

Illuminants(光源) GO TO TOP

当光源窗口为最顶时，Options menu选项目录用来增加、删除和打印光源名称。还有以下选项：

强度由百分比数给出。对表格中未给出波长的光源强度由直线内插法来确定其强度值；对超出范围的波长光源强度值取最接近的终点值。每个光源可以有1001个数据。在Results menu 下的Save as Illuminant命令可以将具有一定折射率或透射率的膜系保存为光源。注意：你在修改后必须关闭此窗口才能对当前的膜系设计产生效果。 Edit Illuminant Comments使用户对光源进行简短说明。

Read Illuminant from File使用户从文件中读取光源数据信息。参看附录A。 Write Illuminant to File使用户将数据写入文件以备在其他软件中使用。

Normalize Illuminant使用户可以依比例确定数据使最大光源强度达到100％。

Create Blackbody Illuminant使用户创建在给定温度下带有黑体型谱的光源。依比例确定光源数据使最大强度达到100％。

每个光源的数据都独立保存。比如说，在ILLUMINA 栏内的WHITE。这样使用户方便地复制数据、与同事分享数据或将数据移动到此软件在Macintosh（麦金托什机）上的版本更加容易。注意：重命名或创建新文件时要保证文件名最多包含8个字符并且扩展名是正确的；分布状态数据使用ILL 扩展名。

对使用IDEAL 探测器，AIR作为入射、出射介质和基底前后表面没有膜层的膜系文件，光源以曲线形式显示。你必须在Environment dialog中输入光源名称然后再analyze分析膜系。图表窗口将显示光源曲线。

Detectors（探测器） GO TO TOP

当探测器窗口为最顶时，Options menu选项目录用来增加、删除和打印探测器名称。 在相应名称上点击来查看特定探测器的数据。

强度由百分比数给出。对表格中未给出波长的探测器强度由直线内插法来确定其强度值；对超出范围的波长探测器强度值取最接近的终点值。每个探测器可以有1001个数据。注意：你在修改后必须关闭此窗口才能对当前的膜系设计产生效果。 Edit Detector Comments使用户对探测器进行简短说明。

Read Detector from File使用户从文件中读取探测器数据信息。参看附录A。 Write Detector to File使用户将数据写入文件以备在其他软件中使用。

Normalize Detector使用户可以依比例确定数据使最大探测器强度达到100％

每个探测器的数据都独立保存。比如说，在DETECTOR栏内的IDEAL。这样使用户方便地复制数据、与同事分享数据或将数据移动到此软件在Macintosh（麦金托什机）上的版本更加容易。注意：重命名或创建新文件时要保证文件名最多包含8个字符并且扩展名是正确的；分布状态数据使用DET扩展名。

对使用IDEAL 探测器，AIR作为入射、出射介质和基底前后表面没有膜层的膜系文件，探测器以曲线形式显示。你必须在Environment dialog中输入探测器名称然后再analyze分析膜系。图表窗口将显示探测器曲线。

Distributions（辐射分布） GO TO TOP

此选项使你可以显示和修改任何辐射分布的参数。辐射分布名称按照字母顺序排列。 用户定义的辐射分布可以用作Cone-Angle Average（圆锥角平均光）计算。窗口显示了可用辐射分布。当窗口为最顶时，Options menu选项目录用来增加、删除和打印分布名称。 在相应名称上点击来查看特定探测器的数据。

强度由百分比数给出。对表格中未给出角度的探测器强度由直线内插法来确定其强度值；对超出范围的角度辐射分布强度值取最接近的终点值。每个分布可以有1001个数据。注意：你在修改后必须关闭此窗口才能对当前的膜系设计产生效果。

当分布数据窗口在最顶时，当窗口为最顶时，Options menu选项目录用来增加、删除和打印分布名称。可以使用选项来从用户创建的文件中读取数据。此选项在附录A中有描述。用户也可以将数据写入文件以使在其他软件上使用数据更方便。

Normalize Detector使用户可以依比例确定数据使分布的最大强度达到100％。

每个探测器的数据都独立保存。比如说，在DISTRIBU栏内的EQUAL。这样使用户方便地复制数据、与同事分享数据或将数据移动到此软件在Macintosh（麦金托什机）上的版本更加容易。注意：重命名或创建新文件时要保证文件名最多包含8个字符并且扩展名是正确的；分布状态数据使用DST扩展名。

Analyze Only(只分析) GO TO TOP

只分析命令程序计算当前膜系折射率、透过率、吸收率、PSI、密度、损耗和相移，它不改变膜层的厚度。在你需要修改一些参数并想看一下修改后的效果时是很有用的。一个状态窗口会显示分析的进程。提示你可以在分析的过程中随时按Quit键退出。在Results menu（结果目录）选择Show Plot（显示图表）或Show Table（数据列表）可以显示结果。 Set Analysis Parameters（参量分析设置）使你可以设置分析膜系时的波长和/或角度范围。在给定角度的一定波长范围或给定波长的一定角度范围或一定波长和角度范围内选择一项作为研究膜系的条件。点击相应的按钮。

For a range of wavelengths（给出一定范围的波长）输入第一个波长和最后一个波长数值以及波长间的增量。可以对32000个波长的膜系设计进行分析。入射角定义为从法线到基底 的方向。

For a range of angles（给出一定范围的角度）输入第一个角度和最后一个角度以及角度间的增量。可以多32000个角度的膜系设计进行分析。

For ranges of both wavelengths and angles（给定波长和角度）输入角度和波长数据，波长和角度数据的数量乘积不能大于32000。

Optimize Design（优化设计） GO TO TOP

Optimize Design（优化设计）命令使程序改变膜层的厚度或者组内的参数（和机动材料的指数）来使下面的merit function评价函数最小化：

式中：m为目标的数目

k为method的乘方（幂） I为光源的强度 D为探测器的效率 T为连续目标值

C为反射率、透过率等在目标波长和偏振等条件下的计算值。 Tolj is 为目标的公差 N为目标的标准化因子

虽然函数公式看起来有些复杂，但在大多情况下I = D = Tolj = 1.0。 对连续目标，上式的和由一系列的整数代替。数值 (I D C - T) / N 称为目标偏离值。标准化因子的作用就是将不同单元的数值统一到一致的衡量标准下。折射率、透过率、吸收率和亮度目标的标准化因子N为1.0；对相位目标N为1.8；对膜堆目标N为0.09；对颜色目标N为0.01。

k为method的乘方（幂）,它对优化结果可产生重要的影响。程序允许k取一下值：1, 2, 4, 8, 16和Max。随着k值的增大偏差也会增大，致使优化的方法来补偿目标的偏差。注意：如果使用梯度或动态优化方法，if the gradient or variable metric optimization method is used（如果坡度或变尺度化方法）那么当目标值为极限值时(例如，折射率为0或100%)幂取1。 当k设定为Max，评价函数有最大偏差。由于此函数不是平滑曲线，当k为Max时只应用单纯形法。

使用此目录中的Set Optimization Parameters命令选择膜层或组是否需要优化、优化方法和优化运算数目等。

当优化膜层时，只有你选定的需要优化的膜层(以及机动材料)被优化。如果基底两侧都有膜层那么两侧膜层将 同时被优化。

当优化组时，只有你选定的需要优化的组（以及机动材料）被优化。

Global Search（全局查找） GO TO TOP

Global Search（全局查找）使膜系设计者在全局范围内寻找极值而不是在一个区域内。此目录下的Set Global Search Parameters命令使用户控制全局查找的各个方面。

Designs Generated （生成的设计）记录包括已经排除在全局查找内的所有生成的设计方案。Designs Accepted（可接受设计）只记录在全局查找范围之内的设计方案。Possible Minimums（可能最小值）记录寻找到的可能极小值，此数值随全局查找过程而变化。Best Deviations（最优偏差）命令显示可能最小值时设计方案的偏差。Status（状态）目录下有一个对正在进行的功能的说明。可以在任何时候点击Stop Searching（停止查找） 按钮来定制全局查找。

在查找后（或在点击Stop Searching按钮后）Done（完成）按钮就被激活，点击Done可以离开全局查找对话框。警告：点击Done按钮并不保存任何全局查找的结构。

选择Save Best Designs（保存最优设计）按钮来保存有可能是区域最小值的设计方案。设计方案以{前缀}001，{前缀}002等为名称保存。

Optimize Designs（优化设计）按钮使用户可以同事优化多个设计；可以使用梯度优化法或变尺度优化法。

Compute EFI(计算电场强度) GO TO TOP

计算电场强度命令使程序在膜系内部计算其（平方）电场强度。使用此目录下的\EFI Parameters\命令来指定要分析的波长和膜层。当计算电场强度时会出现一个过程窗口。你可以选择Quit（退出）来停止计算。

当选择Results menu（结果目录）下的Show EFI Plot会显示计算结果。

Set EFI Parameters（设置电场强度参量）使你可以控制电场强度的计算。你可选择你感兴趣波长、膜层、分辨率和在入射介质还是基底中计算电场强度。在高分辨率模式下EFI在400点下计算，而对中底分辨率相应的有200点和100点。

Compute Sensitivity(计算灵敏度) GO TO TOP

Compute Sensitivity（计算灵敏度）选项命令程序确定膜系设计时的灵敏度来控制微小的生产误差。（也叫做公差）。使用Set Sensitivity Parameters命令来设定期望的误差值和运算的次数。程序会随机改变膜层的厚度、分析膜系设计并记录结果。计算灵敏度选择与误差范围一致或小于误差范围的厚度。计算灵敏度时会出现一个过程窗口。可以按Quit（退出）按钮来停止计算。

当选择Results menu（结果目录）下的Show Plot（显示图表）将显示计算结果。

计算结果窗口中的黑实线代表原始的膜系设计；其两侧最外部的实线为随机改变厚度时，当有最大误差和最小误差时的曲线。当在Set Sensitivity Parameters 窗口中选择quartile（四分位数）时，就会计算并显示另外3个附加曲线：第一、第二和第三四分位曲线。第二四分位曲线是中间曲线（通常也是最接近所设计的膜系曲线），第一和第三四分位曲线通常稍微低于和高于第二四分位曲线；在每一个波长上，二分位曲线在第一和第三四分位曲线所围成的范围内。

此命令在S光、P光及其平均偏振下计算所有项目（反射率、透过率、吸收率、PSI和相移）的灵敏度，在结果目录中使用Set Plot Parameters 命令察看其他项目的灵敏度。

Compute Cone-Angle Average（计算平均圆锥角） GO TO TOP

当入射光以圆锥形式的辐射面入射膜层时使用Compute Cone-Angle Average（计算平均圆

锥角）命令来分析膜系，使用Set Cone-Angle Parameters命令来指定入射面锥形。入射光的锥体面轴线可以垂直于膜层也可以不垂直于膜层。膜系分析是在用户指定的等间隔角度下进行的。在某个角度计算所得的结果（例如反射率、透过率等）是由其在每一个角度上光辐射强度所占比例来确定的。按Quit（推出）按钮来停止计算。 在result目录下选择Show Plot或Show Table来查看计算结果。

注意：此命令计算的是基于偏振的透过率或折射率百分比。然而，因为我们计算的是三束光线的平均值，实际上没有P偏振光和S偏振光。所有最好是看平均偏振光的计算数值。 Set Cone-Angle Parameters（设定圆锥角参量）使你可以指定计算平均圆锥角时光辐射的圆锥面。圆锥的中心角（圆锥轴线于膜层法线见的夹角）通常为环境窗口中的incident angle（入射角）圆锥角的大小可以在half-angle半角或f/number中写入。计算时，膜系分析依照在最后一项中输入的角度计算数量，此数值必须为奇数且值越大计算越精确；当计算角度的数值加倍时，计算结果的误差因子就降低4位。用户可以选择程序内置的辐射分布（等效强度或Lambertian ）或用户自定义的distribution（分布状态）。

Compute Monitor Curve（计算显示曲线） GO TO TOP

Compute Monitor Curve（计算监控曲线）命令使用户可以模拟在监控片上沉积了一层或更多层膜层的输出值，使用Set Monitoring Parameters（设定监控参量）命令来选择膜层和监控波长。当计算曲线时会出现一个过程窗口，选择Quit（退出）按钮来停止计算。选择Results menu（结果）目录下的Show Monitor Chart（显示结果图）查看结果。

Set Monitoring Parameters（设定监控参量）命令使用户可以指定计算曲线计算过程中的参量，反射率、透射率、Δ值或PSI都可以监控。Either reflectance, transmittance, delta, or psi may be monitored.当监控反射率或投射率，P光、S光以及平均偏振光都被监控。可以在低、中、高以及设定的分辨率（单位为nm）下计算曲线。可以使用三个波长监控任意层薄膜。基底必须选择在基底库列表内的材料，如果基底的背面反射光线那么就要在基底框内核实。当基底材料有吸收时才考虑基底的厚度。监控角为光控源与基底平面的夹角。

每一种材料有不同的监控比率，在Set Monitor Ratios下可以进行改动，用户可以选择给所有材料统一的监控比率。监控比率与格栅间距与监控距离的比值的平方成比例。

Compute Layer Sensitivity（计算膜层灵敏度） GO TO TOP

Compute Layer Sensitivity（计算膜层灵敏度）命令使用户可以确定哪一层膜对生产误差灵敏度最高。通常在膜系设计完毕之后使用此功能。运行后产生一个柱状图表。

在理解此表时有两个问题需要考虑（1）当计算一个完全优化好的膜系的膜层灵敏度时，一阶灵敏度非常接近于零。在这种情况下的二阶灵敏度就会表明所设计膜系波谷的陡度。如果膜系存在一个很大的二阶灵敏度，那就意味着膜层厚度很小的变化会引起评价函数值很大增量（2）当此计算应用到尚未优化的膜系时，由于膜系不是在波谷的最低端所以二阶灵敏度就是不确定的。在此情况下，一阶灵敏度就会表明在增加厚度情况下评价函数是怎样增大和减小的。下方的Save Results in File（保存结果到文件）和Copy to Clipboard（复制到剪切板）可以使你将结果保存到文件中或将其复制到剪切板。

Results Menu（结果目录） GO TO TOP

使用此目录来查看由Run menu（运行目录）产生的结果。注意前五个命令中的每一个命令都在目录的第二段对应着一个set parameters（设定参量）命令。下面依次做介绍。

Show Table（显示数据表格）

Show Table（显示数据表格）显示(1)反射率、透过率、吸收率、PSI、密度或损失或(2)反射或投射中的相移。表格可以通过Options menu（选项目录）打印出来。数据的有效数字个数可通过Misc. menu（杂项目录）来控制。

注意此处显示的数值实际上是通过折射率、光源强度和探测器效率改进过的折射率。要获得实际的折射率、透过率、吸收率、能量损失和光学密度值就要将光源设定为WHITE（白光）并将探测器设定为IDEAL（理想探测器）。由折射率和透过率确定的PSI和相移不受光源或探测器的影响。

当在一定范围的角度和波长上分析膜系时窗口在一个时间内只显示单个角度（或波长）时的各个波长（或角度）的值，用键盘上的左右键来查看其余的角度（或波长）数据。

这个窗口可以改变大小来显示更多或更少的数据结果。简而言之，你可以在窗口中双击获得Set Table Parameters（设定表格参量）窗口。注意当此窗口在最顶时可在Options menu（选项目录）中打印此表格、复制表格到剪切板、保存表格到文件和做计算统计。

当选择计算统计数字时，窗口会显示表格中数据的最小、最大和平均值。用户可以改变计算的偏振和波长范围。如果当初是在一定角度和波长范围内优化的膜系那么此时窗口将显示两行空白栏使用户确定统计的波长和角度范围。

Show EFI Plot（查看电场强度图表） GO TO TOP

Show EFI Plot（查看电场强度图表）显示电场强度计算结果。

注意基底、介质和膜层都为确定量。会显示相对物理厚度。电场强度计算通常认为基底厚度为无限大来忽略后表面引起的反射。可以在窗口中双击来弹出Set EFI Plot Parameters对话框。

当鼠标指针在EFI图表窗口中移动时，在图表页眉上会显示指针的位置。X轴为距离膜系表面的距离（以nm做单位）。如果按住鼠标键移动时就显示移动的距离。

在Options menu（选项目录）里可以选择打印图表或复制其道剪切板或将数据结果保存到文件中。

Set EFI Plot Parameters （设定电场图表参量）控制电场强度计算结果的显示方式。

Show Color Chart（查看比色图表） GO TO TOP

Show Color Chart（查看比色图表）显示由膜层反射或投射的色彩坐标。它以最近的分析和1931 相干红外能量观察仪（二级或十级范围，由在Configure（设置）对话框里选择的值决定）的光谱三激励值为依据来计算色彩坐标。计算结果以1931 CIE或1976 CIE UCS色度表或作为LAB坐标在窗口中显示。为了得到最好的结果，膜系必须在380nm到780nm（或者更宽）的范围内以5nm步增。

当在一定角度范围内分析设计的膜系的，此窗口显示在所有角度下的颜色。按键盘上的想左向右键查看每个角上的数据值。

也会显示激发色纯度与支配和互补色波长。如果在彩色显示器上查看此图示，就会在右下角两个方框内显示近似的反射和/或透视光颜色。

在窗口内双击鼠标就会弹出Set Color Chart Parameters对话框。 当鼠标指针在颜色窗口中移动时，在窗口页眉上会显示指针的位置。如果按住鼠标键移动时就显示移动的距离，如果在颜色窗口中用鼠标拖曳一定范围后松开鼠标键时按住Ctrl键，

所拖曳的区域就会放大，如果你想恢复比例按住Ctrl键在窗口中连击就可以了。

在Options menu（选项目录）里可以选择打印图表、复制其道剪切板或将颜色灵敏度结果结果保存到文件中。在文件中记录了反射和/或透射（视图表中显示的项目而定）的色度坐标和表格界限。文件的第一行包含标称设计的颜色。

Set Color Chart Parameters（设定颜色图表参量）控制着颜色图表显示方式。

大多数输入都是自说明性的。比如参考光White（白光）的名称必须是在光源目录下的，用来计算激发色纯度和the dominant和互补色波长。在Sensitivity Parameters（灵敏度参量）对话框中选择颜色灵敏度选项就会对颜色灵敏度进行检查。

Show Monitor Chart（查看监控图表） GO TO TOP

Show Monitor Chart（查看监控图表）显示的是由Compute Monitor Curve命令产生的监控曲线。

图表将反射率、透过率、Δ值和PSI作为一层或多层膜层显示。图表的最顶层显示膜层数。 在窗口中双击鼠标弹出Set Monitor Chart Parameters（设定图表显示参量）对话框。可以通过Options menu(选项目录)将图表打印或复制到剪切板。 当鼠标指针在颜色窗口中移动时，在窗口页眉上会显示指针的位置。如果按住鼠标键移动时就显示移动的距离，如果在窗口中用鼠标拖曳一定范围后松开鼠标键时按住Ctrl键，所拖曳的区域就会放大，如果你想恢复比例按住Ctrl键在窗口中连击就可以了。

使用Options menu（选项目录）将图表打印或复制到剪切板或将数据结果保存到文件。 Set Monitor Chart Parameters（设定图表显示参量）控制着monitor chart的显示方式。大多数输入是自说明的。Minor Ticks（最小栅格距）是设置在已有编号栅格线中附加栅格线的数量。

Save as Illuminant（保存为光源） GO TO TOP

Save as Illuminant（保存为光源）命令使你可以将具有一定反射率或透过率 的膜系存储为光源。

在所选择的已保存结果输入名称作为新光源的名称。如果有一个结果已经保存，那么那些结果可以在Show Saved Results（查看保存结果）目录中点击核对栏来保存。注意此方法可以保存灵敏度计算结果作为光源（1为最小最坏情况，2为最大最坏情况，3为第一四分位，4为第三四分位，5为中等特性）

Miscellaneous Menu（杂项目录） GO TO TOP

此目录为杂项目录，下面逐项介绍：

Swap Front-Back Layers（转换前表面－后薄膜膜层）可以将前后表面转换。在你想查看当光由相反方向入射滤光片时滤光片的表现时用此命令。在你将已存在的膜系前膜层复制到当前膜系的后表面时也用到此命令。只需将前后表面转换后再由文件中复制前表面膜层然后再转换前后表面就可完成。在将膜堆将膜层转换到基底后表面时也使用相同的步骤

Configure（配置）使用户可以(1)改变波长的单位(2)改变显示结果的精度(3)指示优先厚度为光学厚度或物理厚度(4)改变相移(5)改变颜色观察器视野范围(6)指定QWOT（Quarter-Wave Optical Thickness）四分之一波长在膜层窗口中的显示方式。(7)指定数据是否外推和(8)指定 是否允许gain materials。查看configuring TFCalc来获得更多细节。

Compute Color from Data File（由数据文件计算颜色）命令使用户可以由文件读出的数据计算反射或透射光的颜色。按下Get File按钮后要求用户输入文件名称。数据文件要包含两个卷：波长和当前反射率（或透射率）。波长需由不大于10nm间隔组成的等间距坐标显示。没有膜系设计文件打开时此命令才有效。必须要保证在文件中波长的单位与Configure（配置）对话框中的单位一致。

Window Options（窗口选项）命令使用户指定(1)窗口的位置和大小和(2)当开始一个新膜系设计时哪些窗口会自动弹出。

Set Analysis Parameters（参量分析设置）

此项使你可以设置分析膜系时的波长和/或角度范围。在给定角度的一定波长范围或给定波长的一定角度范围或一定波长和角度范围内选择一项作为研究膜系的条件。点击相应的按钮。

Set Optimization Parameters（优化参量设置）

Set Optimization Parameters（优化参量设置）使你可以选择优化膜层或者组、优化方法和迭代因数等等。

有三种优化方法可选：梯度法、变尺度法和单纯形法。梯度法和变尺度法需要计算评价函数的导数。当评价函数值接近最小值时，其导数也趋向于零并且更加不精确。因为梯度法通常由于导数的误差而停止优化。在停止优化的那一点，不使用导数计算的单纯形法可以将优化继续下去。这些方法只能够寻找到评价函数的区域极值。

注意梯度法和变尺度法会在偏差问题上给出改进方法，但是单纯形法却不会。单纯形法会需要反复运算更多次来处理问题。如果有N层膜或N组被改进，那么我们建议梯度法与变尺度法的运算反复次数变为5N而单纯形法运算反复次数为10N2 。为了降低误差就要增加解决问题时所做的运算次数。只有在单纯形法中才能使用Max最大变化值来开始计算过程。如果你已经接近一个最小值，那么就要将其设定为一个数值很小的数（例如：1％）。 变尺度法在确定一个最小值时比梯度法更快。然而由于梯度法处理时需要的内存更少所以在需要优化很多层膜时也是一个重要的考虑对象。注意如果这些方法起点远离最小值，那么他们会会聚到不同的设计结果。

如果选定Minimize Sensitivity（灵敏度最小化），那么优化过程就会用到Set Sensitivity Parameters（设定灵敏度参量）对话框中的参量来将随厚度随机变化的平均函数值最小化。为了达到最好的结果应进行大量的运算。然而，大量的运算也会造成优化过程缓慢。

如果你想当膜层厚度优化为零时即将此层消除可以使用Stop Optimizing Zero-thickness Layers（停止对零厚度层优化） 选项。如果没有选择此项，那么零厚度层会继续被优化而且可能会形成有效厚度膜层。然而，大多数情况是膜层厚度在零和一个数值很小的数之间摆动，导致优化效率的降低。

选择Display Index Profile While Optimizing（优化过程中显示折射率轮廓）在优化过程中查看折射率轮廓。

按下Needle Parameters（Needle变量）按钮会弹出一个对话框来控制needle优化方法的过程，在附录B中有详述。如果选定Add \（增加膜层）那么needle法会在用户下一次优化设计时使用。如果选定Continue Adding Layers Until Optimal Design Is Found（持续增加膜系直到满足要求）那么needle法会反复使用到不能增加膜层为止。在这种情况下设计被认为是理想的。如果选定Add Many Layers Simultaneously（同时增加多层）

那么needle法会在区域优化开始前加入一些零厚度膜层。当你知道膜系结构（像带通或边缘滤波器）需要很多层时选此项效果最好。如果你想确定在needle法加入之前膜系经过区域优化，就要选择Use Local Optimization Before Adding Needles（在加入Needles前使用区域优化）。此选项在人为的停止优化而在继续优化时使用。

当选定Continue Adding Layers（持续增加膜层）后，Tunneling Parameters（隧道参量）按钮就会激活，按下此按钮会出现如下对话框：

Tunneling method（隧道法）在附录B中有详细叙述,它是在Needle优化法找到理想解决方安之后寻找更好的设计。Tunneling method只在(1)选定Grow the coating（膜系生长）(2)膜层总厚度比对话框中设定的厚度小和(3)导数（例如，平均函数值）比对话框中设定值大。时才起作用。同样注意在Tunneling method修改膜系前有保存每一个理想设计的选项。

Set Global Search Parameters（设定全局查找参量）

Set Global Search Parameters（设定Global Search参量）使用户可以控制global search进程。 Global searching先产生（随机或有系统地产生）许多设计并决定这些设计中哪个更接近于平均函数的区域极值。最好的区域极值叫做global minimum

这些设计是通过改变当前设计膜系膜层厚度（或组因数）来实现的；只优化那些被选定作为优化对象的膜层（或组因数）；如果一个膜系设计使用了variable materials（机动材料）并且已经选作优化对象，那么这些indices在global search中也会被改变。

使用Number of Designs to Search来指定要寻找的设计数目；最大值为32767。

Global search会生成多少数目的设计方案？那是由（1）当前设计中哪一层膜（或组或机动材料）被标记为可优化（2）当前设计区域的Maximum Change from Current Design最大改变值所占的比例。如果最大改变值占50％，那么厚度（组因数或折射率）就允许在当前值上改变±50％。厚度（组因数或折射率）会不成为负数。如果使用膜层厚度（或组因数或折射率）约束，那么global search就会在约束之内运行。

在少数膜层（或组因数或折射率）需要优化时推荐使用systematic search（系统寻找）。系统地寻找生成具有统一结构的设计。例如，如果正在改良两膜层的厚度来生成100个设计方案，那么就依照两膜层各自产生同结构的10层膜；结果为10×10＝100个设计方案。

在Random Search（随机寻找）时，设计方案是随机产生的；每一层（或组因数或没每组）的厚度是在统一分布下改变的，例如，如果一层100nm的膜可以在50％范围内改变厚度，那么随机厚度会从50nm到150nm之间。

Global search通过生成所有设计图来确定最佳设计方案。对每一个新设计方案它（1）使用平均函数计算偏差（2）寻找其他相近的叫做邻近值方案的设计。如果所有的邻近值设计方案具有很大的偏差，那么新设计方案就可能是区域极值。通过改变对话框中的Number of Nearest Neighbors（最接近邻近值），膜系设计者可以控制寻找区域极值的数量；如果使用越多邻近值那么就会得到越少的极值；如果 使用很少的邻近值那么会得到更多的（有可能是错误的）极值。通常情况下，邻近值的数量应随改进的膜层（或组或机动材料）数量增加而增加。

当设计方案产生后，有必要从global search 中排除一些设计方案。可以选定Exclude Designs Having Thicknesses >或Exclude Designs Having Deviation > 来完成此操作。第一项中排除了实际厚度比设定厚度大的膜层，第二项排除了与区域极值相差很大的设计方案。

Set EFI Parameters（设置电场强度参量）

Set EFI Parameters（设置电场强度参量）使你可以控制电场强度的计算。你可选择你感兴趣波长、膜层、分辨率和在入射介质还是基底中计算电场强度。在高分辨率模式下EFI在400点下计算，而对中底分辨率相应的有200点和100点。

Set Sensitivity Parameters（设定灵敏度参量）

Set Sensitivity Parameters（设定灵敏度参量）使你可以控制灵敏度计算。 注意膜层厚度误差和/或折射率会被模拟出来；选定Vary Thickness by和/或Vary Index by 膜层厚度的分布状态和折射率可以是统一的或一般状态（高斯分布）。膜层厚度变化可以是相关的或完全的（无论物理厚度或光学厚度）；在你想要进行的选项上点击鼠标并输入你要求的误差值。折射率误差通常为相关量。选择分析类型；worst-case analysis（最差情况分析）使用Monte Carlo simulation（蒙特卡洛模拟法）确定膜系变化的最小和最大值；四分位分析法使用蒙特卡洛模拟法确定膜系分布的四分位数；worst-possible analysis（最差情况分析）使用优化法在给定生产误差下计算膜系最差的状态。反复的次数只有在两个蒙特卡洛模拟法下使用。一般，如果一个膜系有更多的膜层，那么它会需要更多的反复运算来使灵敏度会聚到最小和最大值。如果选定Vary All Layers那么每一层的厚度就会改变；另外，只有标记为可优化的膜层才会改变厚度。如果选定Compute Color Sensitivity那么每一次的运算得到的颜色将在颜色窗口中显示。

注意：在一般分布状态下，所有生成的厚度在在标称设计中的两个标准偏差之内。在一般偏差时，在Relative and Absolute中的数值被认为是膜层厚度的标准偏差。

Set Cone-Angle Parameters（设定圆锥角参量）

Set Cone-Angle Parameters（设定圆锥角参量）使你可以指定计算平均圆锥角时光辐射的圆锥面。圆锥的中心角（圆锥轴线于膜层法线见的夹角）通常为环境窗口中的incident angle（入射角）圆锥角的大小可以在half-angle半角或f/number中写入。计算时，膜系分析依照在最后一项中输入的角度计算数量，此数值必须为奇数且值越大计算越精确；当计算角度的数值加倍时，计算结果的误差因子就降低4位。用户可以选择程序内置的辐射分布（等效强度或Lambertian）或用户自定义的分布形式。

Set Monitoring Parameters（设定监控参量）

Set Monitoring Parameters（设定监控参量）命令使用户可以指定计算曲线计算过程中的参量，反射率、透射率、Δ值或PSI都可以监控。Either reflectance, transmittance, delta, or psi may be monitored.当监控反射率或投射率，P光、S光以及平均偏振光都被监控。可以在低、中、高以及设定的分辨率（单位为nm）下计算曲线。可以使用三个波长监控任意层薄膜。基底必须选择在基底库列表内的材料，如果基底的背面反射光线那么就要在基底框内核实。当基底材料有吸收时才考虑基底的厚度。监控角为光控源与基底平面的夹角。

Relatives相关

Distribution Windows(分布状态窗口)

在Cone-Angle Average （圆锥平均角度）计算中可以使用用户定义的辐射分布。窗口中显示可用的辐射分布名称。当此窗口为最顶时，在Options menu选项目录下加入、删除和打

印分布状态的名称。

点击分布名称来查看特定分布的相对强度。

注意所给出的强度是一百分比。程序使用线形内插法来确定没有给定角度的分布强度；如果角度超出了表格中所给的范围，那么就会应用最接近其值的终点值。每个分布可以有1001个数据点组成。注意：你必须将改变的窗口关闭才能使对当前膜系设计所做的改动生效。 当分布设计窗口为最顶时，Options menu（选项目录）可用来增加、删除和打印数据。可在每个分布状态中加入小段文字说明。通过相应选项还可以查看用户生成的文件中的分布状态数据。此选项在附录Appendix A中有说明。用户也可以在文件中写入数据使在其他软件中使用此数据更为简便。

Normalize distribution（标准分布）命令可以衡量分布状态数据来使分布最大亮度为 100％。

每一个分布状态的数据都是单独存放的。例如，DISTRIBU目录下叫做EQUAL 的文件。这样的结构使得复制数据、与同事分享数据或将数据移动到此软件在Macintosh（麦金托什机）上的版本更加容易。 注意：重命名或创建新文件时要保证文件名最多包含8个字符并且扩展名是正确的；分布状态数据使用DST扩展名。

Set Table Parameters（设定表格参量）

Set Table Parameters（设定表格参量）控制表格窗口中显示的内容。

如果选择dB（分贝）为单位，那么参量就会以dB为单位显示；也就是说：以10Log(x)为单位，其中x是反射率、透射率等参量。如果前一个结果已保存，那么可以通过点击Show saved Results（显示保存结果）将其显示在当前窗口中。注意此方法可用来显示灵敏度计算结果（1为差情况最小，2为差情况最大，3为第一四分位，4为第三四分位，5为中间状态）。

Set Plot Parameters（设定图表参量）

Set Plot Parameters（设定图表参量）控制着图表窗口的显示内容。 大多数输入都是自说明性的。选定Display Overlay（覆盖显示）来覆盖两种不同类型的显示。此时Overlay Parameters （覆盖参量）按钮就被激活。点击就会显示要覆盖的参量并且按钮的名称也变成Primary Parameters。当显示覆盖材料时，注意图表类型（波长或波数）可能不随之改变。如果图表范围与主表坐标范围不同，那么Plot图表窗口将在图表的右侧显示第二个坐标（就像在Show Plot目录中描述的情况相同）。

Minor Ticks（最小栅格距）为是设置在已有编号栅格线中附加栅格线的数量。

Layer Window Options （膜层窗口选项）

当膜层窗口在最顶时，你可以用Options menu选项目录来显示不同的操作。在增加、删除、打印、复制和添加膜层之外，此目录还有如下其他10项选项： Reverse Layers（翻转膜层）将膜层翻转的命令，同样注意在Misc menu中也有一个swap the front and back layers命令。

Adjust Layers for Angle（根据角度调整膜层）改变所有没有吸收膜层的厚度来保证在新的角度条件下光的有效路程（光程）保持不变。注意此对话框对所有角度初始值一般为0.0。此功能通常叫做角度匹配。

Consolidate Layers（压实膜层）将膜系优化后厚度为零的膜层去掉。同样的如果相邻两膜层有同样的材料并属于同一组那么就会将两膜层合并。

Compute Equivalent Index（计算等效折射率）命令计算一定范围内膜层的等效折射率。 Compute Equivalent Stack（计算等效膜堆）命令计算等效于给定膜层的HLH或LHL 膜堆 Show Thickness Totals（显示总厚度）命令显示膜系中所使用的每一种材料的物理厚度和所有膜层的总厚度。最薄的膜层在对话框的最下端显示。

Read Layer Data from File（从文件中读取膜层信息）命令是从文件中读取两栏信息：材料名称和厚度（单位为纳米）。用户在标准对话框中输入文件名称。这是TFCalc中读取膜系设计的一条捷径。

Save Layer Data in File（在文件中保存膜层数据）命令将每一膜层的材料名称和物理厚度（nm）写入文件。在创建运行平台时此命令非常有效。标准对话框会要求用户输入文件名称。

Save Layer Data in Clipboard（在剪切板中保存膜层数据）命令将每一膜层的材料名称和物理厚度（nm）保存到剪切板。在为膜系创建运行平台时此命令有效。

Substitute Layer Data（替代膜层数据）命令使用户快速处理大量数据项。其运行方式为：它寻找到所有满足第一栏内全部要求的膜层，然后将膜层的区域按照第二栏内的值改变。如果第一栏全空，那么它就满足所有膜层要求。在第一栏内QWOT和厚度项可以不等就像 < 10。

Compute Equivalent Index（计算等效折射率）

要分析的膜层范围必须是一个均衡的膜堆。也就是说第一层膜的厚度与最后一次膜的厚度相等，第二层膜的厚度与倒数第二层膜的厚度相等，依此类推。在一般情况下，此命令计算在给定波长和角度时与一层膜的折射率和相位厚度等效的膜层范围。注意如果波长在stop band截止带内一定膜层的等效折射率就无法定义。

Compute Equivalent Stack（计算等效膜堆）

如果入射角为0度就必须选择polarization（偏振）；等效膜堆只会与选择偏振的膜层相配。选择是否需要产生HLH或LHL膜堆。输入所用材料名称；它们并不一定要在材料库或机动材料窗口中。点击Calculate按钮就可计算等效膜堆。实际上有无数个解决方法；我们只显示那些相位厚度小于360度（正常情况下4倍QWOT）的结果。左右键切换计算方法。在厚度增加过程中处理结果也保存下来。（QWOT设定为参考波长）。点击Replace（替换）按钮可以将显示的处理结果替换在膜层窗口中的给定膜层。

Target (Discrete) Window Options（单点目标窗口选项）

当单点目标窗口在最低逆光时，你可以使用Options menu增加、删除、打印、复制和添加目标。也可以通过选项来自动生成目标和从文件中读取目标。

Generate Targets（生成目标）使你可以生成许多相似的目标。对话框中的大多数项与Targets（目标）窗口中的相似。目标可以是不等式的；就是说，目标值可以含有>或<来表明所要的结果大于（或小于）目标值。注意你可以指定一个波长范围：开始波长，结束波长和波长增量。然后你改变了目标数目，波长增量会 随之改变以保证生成给定的目标数目。生成的目标最终会以波长、波数或波长对数为间隔。最后两选项对带通设计优化有用。当选定Replace current targets（替代当前目标）后，生成的目标将替代目标窗口中所有的目标；另外生成的目标会添加到当前目标目录下。如果你不希望生成任何目标，点击Cancel（取消）按钮然后选择OK。

Read Wavelength Targets from File（由文件中读出波长目标）使你可以从文件中读出目标值。对话框中的大多数项与Targets（目标）窗口中的相似。包含目标的文件可以会包括一些非数值数据（比如：说明）。基底栏内必须包括波长和目标值。如果文件中包含的目标多于你需要的目标值，你可以命令TFCalc只读取那些数据的子集（分光光度法生成的文件数据间隔为0.1nm，这种情况下你或许只需要第10、20或第100个数据点）每一个数据点可以会与调整因子相成后再输出。如果选定Replace current targets那么文件中读出的目标将替代目标窗口中所有的目标；另外生成的目标会添加到当前目标目录下。如果你不希望生成任何目标，点击Cancel（取消）按钮然后选择OK。

Read Angle Targets from File（由文件中读出角度目标）使你可以从文件中读出目标值。这是另外一个从文件中读出目标的命令。其对话框与Read Wavelength Targets from File相似；唯一的不同是它要求的是角度而非波长。文件中的每一行必须包含角度目标和目标值。 Add Color Targets（添加颜色目标）使你可以在目标窗口中添加颜色和亮度目标。对话框中的大多数项与Targets window目标窗口相似。选择CIE 1931或CIE 1976颜色标准。选择10nm或5nm波长间隔来计算颜色值。选择后者会使优化时间加倍。

注意如果使用10nm间隔颜色目标来优化设计，而最终设计分析是5nm间隔（或更小），那么颜色坐标会有轻微差异。如果此结果出现问题，那么最终优化时颜色目标使用5nm间隔。

Generate Derivative Targets（生成导数目标）使你可以在目标窗口中添加导数目标。注意此对话框除了在右上角的导数信息外与Generate Targets对话框完全相同。

Configuring TFCalc （配置TFCalc）

TFCalc允许设计者配置程序的某些设置来适应他们的要求。尤其是使用者可以做如下改变

改变所使用的波长单元。所有的波长将以选定的波长单元显示。 改变显示结果的精度，\的精读意味着在所有显示的数据小数点后有4位数字－总共有6位数。

标明优先的厚度为光学厚度还是物理厚度，如果设定为光学厚度，那么当参考波长或反射率改变时膜层的光学厚度保持不变。如果为物理厚度，那么物理厚度将保持不变。

改变相位惯例，在计算反射引起的P光相移时有两种惯例。TFCalc原来所使用的马勒惯例即S光和P光偏振在正常入射时偏移180度。用Abelès（阿贝）惯例即S和P光偏振在正常入射时没有偏移。

改变颜色观察器的视野范围，选择2度或者10度。

改变在膜系窗口中吸收材料的1/4波长QWOT (quarter-wave optical thickness)的显示方式。原来TFCalc在吸收材料组成的膜层上显示\，如果用户选择此项，就将显示4 d n / λo的值。其中d 为膜层物理厚度；n为在参考波长λo下的真实反射率。

标明设计表是否可以外推。如果可以，那么当波长超出数据表时，TFCalc 将使用最接近终点的数值。如果不允许，那么TFCalc将提醒用户波长不在数据表范围内。 表面膜层材料是否允许有吸收，相当于一个负的消光系数(k < 0)。 这些设置在用户每次打开程序时都由磁盘中读出。

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