2015最新射线检测工艺规程

标准 1、目的 本工艺规程是根据NB/T47013-2015《承压设备无损检测》的第1部分：通用要求和第2部分：射线检测，并结合我公司的实际情况进行制定。凡按国内规范设计、制造的锅炉、压力容器需作射线检测时，均应执行本工艺。本工艺自实施之日起，代替CKM-163001/06C。 2、适用范围 本工艺规程规定了2～50mm的锅炉、压力容器全熔化焊对接接头和角接接头的X射线检测方法及质量等级评定要求。 锅炉、压力容器的有关支承件和结构件的对接接头射线检测，也可参照使用。 射线检测工艺规程 制定 2012/07/06 文件编制部门 校对人 质控部 编制人 部门负责人 会签栏 审批人 部门 经理部 技术部 制造部 采购部 营业部 生效日期 份数 4 2 1 0 0 部门 管理部 生产管理部 质控部 财务部 份数 0 0 2 0 分发部门

修订 编号 R0 R1 R2 R3 R4 R5 R6 R7 年月日 2007.11.18 2009.07.01 2010.06.01 2011.05.19 2012.07.01 2013.07.01 2014.06.06 2015.08.30 换版 换版 换版 换版 换版 换版 标准换版 修订记录 修订历史

3引用标准及规程

GB/T 12604.2 无损检测 术语 射线照相检测

TSG Z8001-2013 特种设备无损检测人员资格考核与监督管理规则 GB/T 11533 标准对数视力表

NB/T47013.1-2015 承压设备无损检测 第1部分：通用要求 NB/T47013.2-2015 承压设备无损检测 第2部分：射线检测 GB/T 19802 无损检测 工业射线照相观片灯 最低要求 GB/T 23901.2 无损检测 射线照相底片像质 GBZ 117 工业 X 射线探伤放射卫生防护标准 GBZ 132 工业γ射线探伤放射防护标准 JB/T 5075 无损检测 射线照相检测用金属增感屏 JB/T 7902 射线照相用线型像质计

GB/T 19348.1 无损检测 工业射线照相胶片 第 1 部分：工业射线胶片系统的分类 GB/T 19348.2 无损检测 工业射线照相胶片 第 2 部分：用参考值方法控制胶片处理 GB 18871 电离辐射防护及辐射源安全基本标准 TSG G0001-2012 锅炉安全技术监察规程 GB/T 16507-2013 锅壳锅炉 GB/T 16508-2013 水管锅炉

TSG R0004-2009 固定式压力容器安全技术监察规程 TSG R0005-2011 移动式压力容器安全技术监察规程 GB 150-2011 压力容器

4术语和定义 4.1透照厚度 W

射线照射方向上材料的公称厚度。多层透照时，透照厚度为通过的各层材料公称厚度之和。 4.2工件至胶片距离b

沿射线束中心测定的工件受检部位射线源侧表面与胶片之间的距离。 4.3射线源至工件距离 f

沿射线束中心测定的射线源与工件受检部位近源侧表面之间的距离。 4.4焦距 F

沿射线束中心测定的射线源与胶片之间的距离。 4.5射线源尺寸 d

射线源的有效焦点尺寸 4.6圆形缺陷

长宽比不大于 3 的气孔、夹渣和夹钨等缺陷。 4.7条形缺陷

长宽比大于 3 的气孔、夹渣和夹钨等缺陷。 4.8透照厚度比 K

一次透照长度范围内射线束穿过母材的最大厚度和最小厚度之比。 4.9一次透照长度

符合标准规定的单次曝光有效检测长度。 4.10底片评定范围

本部分规定底片上必须观察和评定的范围。 4.11缺陷评定区

在质量份级评定时，为评价缺陷数量和密集程度而设置的一定尺寸区域，可以是正方形或长方形。

4.12双胶片透照技术

暗盒内装两张胶片和三片增感屏（前、中、后屏）进行曝光，在观片灯上采用双片叠加方式进行底片观察的透照技术。 4.13小径管

外直径 Do 小于或等于 100mm 的管子。

5 检测人员

5.1射线检测人员未经矫正或经矫正的近（小数）视力和远（距）视力应不低于5.0（小数记录值为1.0），测试方法应符合GB11233的规定。评片人员的视力应每年检查一次。

5.2射线检测人员必须按TSG Z8001-2010《特种设备无损检测人员资格考核与监督管理规则》要求进行培训考核，取得射线资格证书。并且由公司向中国特种设备检验协会进行执业注册后，只能从事射线检测方法与等级的无损检测工作。

5.3射线检测人员资格级别分为Ⅰ级（初级）、Ⅱ级（中级）和Ⅲ级（高级）。

5.4质量等级评定及检测报告签发应由取得Ⅱ级或Ⅲ级资格证的人员担任，且资格证应在有效期内。

5.5 射线检测人员上岗前应进行辐射安全知识的培训，并取得放射工作人员证。

6. 检测设备和器材 6.1 X射线检测设备

型号 XXG-2005 XXG-2505 XXG-2505FZ XXG-3005Q XXG-3005FZ XXH-3005ZB 焦点尺寸mm 2.0×2.0 2.0×2.0 2.0×2.0 2.5×2.5 1.0×3.5 1.0×3.5 最大穿透厚度mm 30 40 37 50 42 40 6.2 射线胶片

胶片系统按照GB/T19348.1分为六类，即C1、C2、C3、C4、C5和C6类。C1为最高类别， C6为最低类别。胶片系统的特性指标见附录B。胶片制造商对所生产的胶片进行系统性能测试并提供类别和参数。胶片处理方法、设备和化学药剂可按照GB/T19384.2的规定，用胶片制造商提供的预先曝光胶片测试进行测试和控制。

A级和AB级射线检测技术应采用C5类或更高类别的胶片，B级射线检测应采用C4类或更高类别的胶片。 6.3观片灯

观片灯的主要性能应符合GB/T19802的有关规定，最大亮度应能满足评片的要求。 6.4 黑度计

6.4.1.黑度计可测的最大黑度应不小于4.5，测量值的误差不超过±0.05。

6.4.2黑度计首次使用前应进行核查，以后至少每6个月应进行一次核查。在工作开始时或连续工作超过8小时后应在拟测量黑度范围内选择至少两点进行检查。 6.4.3.黑度计定期核查方法

a）.接通黑度计外接电源和测量开关，预热10分钟左右。

b）.用标准黑度片的零黑度点校准黑度计零点，校准后顺次测量黑度片上不同黑度的各点的黑度，记录测量值。

c）.按b条规定反复测量3次。

d）.计算出各点测量值的平均值，以平均值与黑度片该点的黑度值之差作为黑度计的测量误差。

e）.对黑度不大于4.5的各点的测量误差均应不超过±0.05，否则黑度计应核查、修理或报废。

6.4.4黑度计核查要进行记录，黑度计检查无需记录。 6.5 标准密度片

标准密度片应至少有 8 个一定间隔的黑度基准， 且能覆盖 0.3-4.5 黑度范围， 应至少每 2 年校准一次。必须特别注意标准密度片的保存和使用条件。 6.6增感屏

6.6.1射线检测应使用金属增感屏或不用增感屏，金属增感屏应满足JB/T 5075的要求，增感屏应完全干净、抛光和无纹道。

图6.纵向焊接接头源在外双壁单影透照方式

图7 小径管环向焊接接头倾斜透照方式（椭圆成像）

图8 小径管环向对接接头垂直透照方式（重叠成像）

10.5.2.3 安放式和插入式管座角焊缝应优先选择源在外透照方式。插入式管座角焊缝源在内透照方式时，应优先选择射线源放置在支管轴线上的透照布置。 管座角焊缝典型透照方式

图 D.9～图 D.14 给出了常用的管座角焊缝典型透照方式示意图

图 D.9 插入式接管角焊缝单壁中心内透照方式

图 D.10 插入式接管角焊缝单壁偏心内透照方式

注：射线源放在与支管母线呈 20°～30°角的轴线上

图 D.11 插入式接管角焊缝单壁外透照方式

注：射线源应放在管外侧缝坡口的轴线上，偏差在 0～+10°以内

图 D.12 安放式接管角焊缝单壁外透照方式

图 D.13 安放式接管角焊缝单壁中心透照方式

图 D.14 安放式接管角焊缝单壁偏心透照方式

10.5.3 透照方向

透照时射线束中心一般应垂直指向透照区中心， 并应与工件表面法线重合， 需要时也可选用有利于发现缺陷的方向透照。 10.5.4 一次透照长度

a） 一次透照长度应以透照厚度比 K 进行控制。 不同级别射线检测技术和不同类型对接焊接接头

的透照厚度比应符合表 1 的规定。整条环向对接焊接接头所需的透照次数可参照图9-12的曲线图确定。

b) 管座角焊缝、椭圆形封头、碟形封头小 r 区的焊缝，以及其他曲率连续变化的焊缝可不采用以K 值确定一次透照长度的方法，允许用黑度范围来确定一次透照长度，底片满足黑度要求的长度范围即为允许采用的一次透照长度。

表1允许的透照厚度比K 射线检测技术级别 纵向焊接接头 环向焊接接头 1) AB级 K≤1.03 K≤1.1 对100mm＜D0≤400的环向对接接头（包括曲率相同的曲面焊接接头），A级，AB级允许采用K≤1.2。 2) 环向对接接头允许采用K≤1.2,只针对20R,20g,Q235-A等低碳钢材料。

图9源在外单壁透照环向对接焊接接头、透照厚度比K=1.1时的透照次数图

图10.其他透照方式透照环向对接焊接接头、透照厚度比K=1.1时的透照次数图

图11.源在外单壁透照环向对接焊接接头、透照厚度比K=1.2时的透照次数图

图12.其他方式透照环向对接焊接接头、透照厚度比K=1.2时的透照次数图

10.5.4透照次数曲线图 对外径D0＞100mm的对接焊接接头进行100％检测，所需的最少透照次数与透照方式和透照厚度比有关，这一数值可从图9～12中直接确定。 a)图9为源在外单壁透照环向对接焊接接头、透照厚度比K=1.1时的透照次数曲线图。 b)图10为其他透照方式（偏心内透法和双壁单影法）透照环向对接焊接接头、透照厚度比K=1.1时的透照次数曲线图。

c)图11为源在外单壁透照环向对接焊接接头、透照厚度比K=1.2时的透照次数曲线图。 d)图12为其他透照方式（偏心内透法和双壁单影法）透照环向对接焊接接头、透照厚度比K=1.2时的透照次数曲线图。

10..5.5图9～图12确定透照次数的方法从图中确定透照次数的步骤是:计算出T/ D0、D0/f，在横坐标上找到T/ D0值对应的点,过此点画一垂直于横坐标的直线; 在纵坐标上找到D0/f对应的点,过此点画一垂直于纵坐标的直线;从两直线交点所在的区域确定所需的透照次数;当交点在两区域的分界线上时,应取较大数值作为所需的最少透照次数。 10.5.6 有效评定区搭接

10.5.6.1 焊缝进行全部射线检测时，采取的曝光次数和有效评定区的重叠应能保证检测到被检测区的整个体积范围。

10.5.6.2 如果采用暗盒直接搭接透照的方式，也应保证整个有效评定区的底片满足黑度的要求。

10.5.7小径管透照布置和透照次数 10.5.7.1小径管透照布置

当同时满足T（壁厚）≤8㎜和g(焊缝宽度)≤D0/4时，可采用倾斜透照方式椭圆成像。不满足上述条件或椭圆成像有困难可采用垂直透照方式重叠成像。椭圆成像时，应控制影像的开口宽度（上下焊缝投影最大间距）在一倍焊缝宽度左右。 10.5.7.2小径管透照次数

采用倾斜透照方式椭圆成像时，当T/D0≤0.12时，应相隔90°透照2次。当T/D0＞0.12时，应相隔120°或60°透照3次。垂直透照方式重叠成像时，一般应相隔120°或60°透照3次。因结构原因无法实施多次透照时，可采用椭圆成像或重叠成像方式透照1次。此时应采取有效措施扩大缺陷可检出范围，并保证底片评定范围内黑度和灵敏度满足要求。

按照上述规定进行多次透照时， 底片上被检测区满足标准黑度要求的区域为有效评定区， 相邻底片的有效评定区的重叠应保证覆盖被检测区的整个体积范围，如最少曝光次数不能满足 100%覆盖要求，则应增加曝光次数。 10.5.8特殊情况

由于结构原因不能按照规定的间隔角度多次透照时，经合同各方商定，可不再强制限制规定的间隔角度， 但应采取有效措施尽量扩大缺陷可检出范围， 同时应保证底片评定范围内黑度和灵敏度满足要求，并在检测报告中对有关情况进行说明

11 射线能量

附 录 C 射线检测定位规则

1汽包

要求以右手螺旋规则进行定位。一般以第一道环缝的“丁”字口为纵、环缝的起点，右手大母指方向为纵缝方向，其余四指的方向为环缝方向。有一个人孔的以人孔侧为B1缝，双人孔或没有人孔的按“无损检测委托单”的要求定位。同时需在起点处（B1-1）用钢印打上永久标记（↑）。 2集箱、大径管

要求以右手螺旋规则进行定位。右手大母指方向为每道环缝的排列方向，其余四指的方向为环缝方向。要求在集箱环缝起点（B1-1）处用钢印打上永久标记（↑）。 3小径管

要求以示意图的形式，准确记录每个焊口的具体位置。 16 FE 10

XXXX.XX.XX产品编号A(B)1R1XXXX.XX.XXS首次验证标记焊缝号需要返修时返修标记日期附录d

附 录 E

暗室安全照明时间确定

E1 范围

本附录适用于工业射线检测胶片暗室安全照明时间的确定。 E.2 定义

E.2.1 可检测黑度的变化

能够用对比法目视检测或通过黑度计测量的底片黑度的微小差别。 E.2.2 曝光前照射试验

胶片在接受射线曝光前进行的安全灯照射试验。由此确定的在试验片条上没有检测到黑度变化的最长安全灯照射时间，即为曝光前安全照射时间t1。 E.2.3曝光后照射试验

胶片在接受射线曝光后，在显影过程开始之前保持干燥状态下进行的安全灯照射试验，由此确定的在试验片条上没有检测到黑度变化的最长安全灯照射时间，即为曝光前安全照射时间t2。 E.2.4 潮湿胶片的曝光后照射试验

胶片自显影过程开始至显影结束（或定影过程开始），在潮湿状态下进行的安全灯照射试验，由此确定的在试验片条上没有检测到黑度变化的最长安全灯照射时间，即为潮湿胶片曝光后安全照射时间t3。

E.2.5暗室安全照射时间

通过试验得到的能够确保安全灯照射对底片黑度不产生影响的时间t，为t1、t2、t3中最小值的一半。

E.3 试验器材 E.3.1 阶梯试块

为了获得系列阶梯黑度底片，应适用适当的金属材料制作阶梯试块 。 采用适当的射线透过阶梯试块对胶片进行曝光， 然后按照产品检测时使用的暗室处理参数进行处理，获得与标准适用黑度范围大致对应的阶梯黑度范围。 E.3.2 遮光卡

遮光卡是用适当的不透白光材料（如黑纸）用于控制试验用胶片的受照射面积。 E.3.3 计时器

计时器的计时范围应在 8 分钟以上， 计时分度值不大于 1 秒， 但计时器发出的光不得照射到试验胶片上。

E.4 安全灯照射试验

安全灯照射试验一般采用安全灯亮度最高一档进行，同时应按照实际工作情况选择胶片安全灯的距离和角度等试验参数，相关数据应在试验报告中记录说明。 E.4.1曝光前照射试验程序

E.4.1.1 把胶片做成条状，长度略长于阶梯试块，其宽度不小于 40mm。

E.4.1.2 把第一个试验片条用遮光卡沿纵向遮住一半，另一半在安全灯下依据经验确定的最短时间照射。

E.4.1.3 其余片条也按照 E4.1.2 的方法逐次倍增时间在安全灯下进行照射。 E.4.4将经安全灯照射后的片条用阶梯试块进行射线曝光。

E.4.1.5 阶梯试块射线曝光后片条不能再接受任何安全灯照射。2 小时内把所有片条一起按照产品检测时的暗室处理参数在全暗的条件下进行处理。

E.4.6 如果最长的安全灯照射时间不能使片条上任何一级产生可检测到黑度的变化，可再次进行试验，起始时间为上次最长的全灯照射时间，重复E4.2.1-E4.2.5的步骤。 E.5曝光后照射试验程序

E.5.1 把胶片做成条状，长度略长于阶梯试块，其宽度不小于 40mm。

E.5.2 把多个片条用阶梯试块进行射线曝光，射线曝光前的片条不能接受任何安全灯照射。 E.5.3阶梯试块射线曝光后， 用遮光卡沿纵向遮住试验片条的一半，另一半在安全灯下依据实际经验确定的最短时间照射。

E.5.4其余片条也按照 E4.2.3 的方法逐次倍增时间在安全灯下进行照射。 E5.5 完成安全灯照射后，保持暗室全暗状态，2小时内把所有片条一起按照产品检测时使用的暗室处理参数在全暗的条件下进行处理。

C.5.5如果最长的安全灯照射时间不能使片条上任何一级产生可检测到黑度的变化，可再次进行试验，起始时间为上次最长的全灯照射时间，重复E4.2.1-E4.2.5的步骤。 E.6 潮湿胶片的曝光后试验程序

E.6.1 首先按照E4.2.1和 E4.2.2进行试验。

阶梯试块射线曝光后,在显影过程开始前，片条不能接受任何的安全灯照射。 E.6.2 第一个片条在全暗条件下暗室处理。第二个片条在显影进行到总显影时间的 50%时开始使用安全灯，第三个片条在显影一开始就使用安全灯。

E.6.3 如果第二个片条阶梯的任何一级黑度有可检测的黑度变化， 则需要分别按照显影进行到总显影时间的 90％、80％、70％和 60%时使用安全灯的试验。 E7试验数据评定 E7.1测量时机

经暗室处理的试验片条应在干燥后进行黑度测量。 E7.2 密度计测量及比较

黑度测量的方式应与实际生产情况下下底片测量的方法一致。 用黑度计逐条测量试验片条的每一级， 记录经安全灯照射和未经安全灯照射的黑度，并进行比较，找出可检测到黑度变化的一级。一般情况下，在黑度变化超过±0.05 即认为是可检测到黑度的变化。 E7.3 目视测量及比较

目视观察条件与实际生产情况下底片观察条件一致。观察经安全灯照射和未经安全灯照射的黑度，记录并进行比较， 找出接受安全灯照射时间最长而又没有可观察黑度变化的片条。 E.7.4 暗室安全照射时间的确定

以试验得到的t1、t2、t3之中最小值的一半作为胶片在暗室处理过程允许的安全灯照射时间，即暗室安全照射时间。

E7.5如果试验测定的安全照射时间不足以完成整个暗室处理，应考虑更换安全灯，并重新通过试验确定暗室安全照射时间。

E7.6实际生产过程中，胶片暗室处理应在试验确定的安全照射时间、安全距离等参数下进行。 E.8 试验报告

报告应至少包括以下内容：

a)安全灯型号和相关参数，例如电压、灯泡功率、滤波片名称、尺寸

b)安全灯与胶片之间的相对位置和距离，包括曝光前操作、曝光后操作和显影操作时的距离 c)胶片（牌号及其分类等级）及暗室处理数据 d)试验得到的t1、t2、t3和暗室安全照射时间t e)试验过程必要的描述和说明

11.1 X 射线照相应尽量选用较低的管电压。在采用较高管电压时，应保证适当的曝光量。

图 1规定了不同材料、不同透照厚度允许采用的最高Ｘ射线管电压。

5.5.2 对截面厚度变化大的承压设备，在保证灵敏度要求的前提下，允许采用超过图 1 规定的Ｘ射线管电压。但对钢、铜及铜合金材料，管电压增量不应超过 50kV；

注：1-铜及铜合金；2-钢；3-钛及钛合金；4-铝及铝合金 图 1 不同透照厚度允许的 Ｘ 射线最高透照管电压

12 射线源至工件表面的最小距离

12.1 所选用的射线源至工件表面的距离 f 应满足下式的要求： AB 级射线检测技术： f ≥ 10d·b

图 3 是 AB 级射线检测技术确定 f 的诺模图。 焦点尺寸d的计算见附录A

2/3

图 3 AB 级射线检测技术确定焦点至工件表面距离的诺模图

.12.2 采用源在内中心透照方式周向曝光时，只要得到的底片质量符合21.1.1 和21.1.2 的要求，f值可以减小，但减小值不应超过规定值的 50%。

12.3 采用源在内单壁透照方式时，只要得到的底片质量符合21.1.1 和21.1.2 的要求，f 值可以减小，但减小值不应超过规定值的 20%。

12.4 安放式和插入式管座角焊缝采用源在内单壁中心透照方式 （图 D9 和图 D13） 时，只要得到的底片质量符合 5.15.1 和 5.15.2 的要求 f 值可以减小，但减小值不应超过规定值的 50%。

12.5 安放式和插入式管座角焊缝采用源在内单壁偏心透照方式 （图 D10 和图 D14） 时，只要得到的底片质量符合 5.15.1 和 5.15.2 的要求 f 值可以减小，但减小值不应超过规定值的 20%。

13 胶片与被检工件之间的距离

曝光期间，胶片应紧贴于工件，除非有特殊规定或透照布置能使被检区域得到更好的透照影像。管座角焊缝源在内透照时，胶片应尽可能的靠近被检工件焊缝。

14 曝光量

14.1 Ｘ射线照相，当焦距为 700mm 时，曝光量的推荐值为：A 级和 AB 级射线检测技术不小于15mA·min；B 级射线检测技术不小于 20mA·min。当焦距改变时可按平方反比定律对曝光量的推荐值进行换算。

15 曝光曲线

15.1 对每台在用射线设备均应做出经常检测材料的曝光曲线，依据曝光曲线确定曝光参数。 15.2 制作曝光曲线所采用的胶片、增感屏、焦距、射线能量等条件以及底片应达到的灵敏度、 黑度等参数均应符合本部分的规定。

15.3 对使用中的曝光曲线，每年至少应核查一次。射线设备更换重要部件或经较大修理后应及时对曝光曲线进行核查或重新制作。

16 无用射线和散射线屏蔽

16.1 应采用金属增感屏、铅板、滤光板、准直器等适当措施，屏蔽散射线和无用射线，限制照射场范围。

16.2 对初次制定的检测工艺,以及在使用中检测条件、环境发生改变时,应进行背散射防护检查。检查背散射防护的方法是：在暗盒背面贴附“B”铅字标记，一般 B 铅字的高度为 13mm、厚度为1.6mm,按检测工艺的规定进行透照和暗室处理。 若在底片上出现黑度低于周围背景黑度的 “B” 字影像，则说明背散射防护不够,应增大背散射防护铅板的厚度。若底片上不出现 “B”字影像或出现黑度高于周围背景黑度的“B”字影像，则说明背散射防护符合要求。 在背散射轻微或后增感屏足以屏蔽背散射线的情况下，可不使用背散射防护铅板。

17 像质计的使用 17.1 像质计放置原则

丝型像质计像质计一般应放置在焊接接头的一端 （在被检区长度的 1/4 左右位置） ,金属丝应横跨焊

缝，细丝置于外侧.当一张胶片上同时透照多条焊接接头时,像质计应放置在透照区最边缘的焊缝处，还应满足以下规定：

a） 单壁透照规定像质计放置在源侧。双壁单影透照规定像质计放置在胶片侧。双壁双影透照像质

计可放置在源侧，也可放置在胶片侧。

b） 单壁透照中，如果像质计无法放置在源侧，允许放置在胶片侧（球罐全景曝光除外） 。 c） 单壁透照中像质计放置在胶片侧时，应进行对比试验。对比试验方法是在射源侧和胶片侧各放一个像质计，用与工件相同的条件透照，测定出像质计放置在源侧和胶片侧的灵敏度差异，以此修正像质计灵敏度的规定，以保证实际透照的底片灵敏度符合要求。

d） 当像质计放置在胶片侧时，应在像质计上适当位置放置铅字“F”作为标记， F 标记的影像应与像质计的标记同时出现在底片上，且应在检测报告中注明。 17.2 像质计数量

原则上每张底片上都应有像质计的影像。 当一次曝光完成多张胶片照相时， 使用的像质计数量允许

减少但应符合以下要求:

a） 环形对接焊接接头采用源置于中心周向曝光时，至少在圆周上等间隔地放置 3 个像质计。 b） 球罐对接焊接接头采用源置于球心的全景曝光时， 在上极和下极焊缝的每张底片上都应放置像质计，且在每带的纵缝和环缝上沿经度方向等间隔至少放置 3 个像质计。

c） 一次曝光连续排列的多张胶片时，至少在第一张、中间一张和最后一张胶片处各放置一个像质计。

17.3 小径管对接焊缝

小径管使用通用丝型和专用等径丝型像质计时， 金属丝应横跨垂直焊缝放置。 像质计应放置于源侧，当无法放置在源侧时，可将像质计置于胶片侧，但应在检测记录和报告中说明。 17.4 不等厚或不同种类材料之间对接焊缝

如果焊接接头的几何形状允许， 不同厚度或材料类型不同的部位应分别采用与被检材料厚度或类型相匹配的像质计，并分别放置在焊接接头相对应部位。 17.5 管座角焊缝

推荐采用丝型像质计，根据像质计能够投影到被检测区的位置而放置。如果允许，像质计尽可能置于黑度最小的区域。 17.6 像质计影像识别

使用丝型像质计时， 底片上能够识别的最细线的编号即为像质计灵敏度值。 如底片黑度均匀部位 （一般是邻近焊缝的母材金属区）能够清晰地看到长度不小于 10mm 的连续金属丝影像时，则认为该丝是可识别的。专用等径丝型像质计至少应能识别两根金属丝。 18 标记

18.1 透照部位的标记由识别标记和定位标记组成。标记一般由适当尺寸的铅（或其他适宜的重 金属）制数字、拼音字母和符号等构成。底片标识能清晰的阅读且不至于对底片的评定带来影响，

标记的材料和厚度应根据被检工件的厚度来选择，保证标记影像不模糊，也不至于产生眩光．

18.2 识别标记一般包括：产品编号、对接焊接接头编号、部位编号和透照日期。返修后的透 照还应有返修标记,扩大检测比例的透照应有扩大检测标记。

18.3 定位标记一般包括中心标记、搭接标记、检测区标记等。中心标记指示透照部位区段的中 心位置和分段编号的方向,一般用十字箭头“ ”表示。搭接标记是连续检测时的透照分段标记， 可用符号“↑”或其他能显示搭接情况的方法（如数字等）表示。检测区标记采取的方式能够清晰标识检测区范围即可。

18.4 内外焊缝余高均磨平的情况，底片上不能直接正确测定和区别检测区位置和宽度时，应采用适当的定位标记（如采用铅质窄条）进行标识。

18.5 定位标记放置的部位还应符合附录c和 d的规定。所有标记的影像不应重叠，且不应干扰有效评定范围内的影像。当由于结构原因，定位标记需要放置于胶片侧时，检测记录和报告应标注实际的评定范围，标记影像不得进入检测区源侧表面在底片上的投影区内。

18.6 识别标记允许放置于源侧或胶片侧，所有标记的影像不应重叠，且不应干扰有效评定范围内的影像。

18.7 搭接标记放置的位置还应符合图10～17的要求

图10 平面工件或纵焊接接头

图11 射线源到胶片距离F小于曲面工件的曲率半径

图12 凸面朝向射线源的曲面部件

图16 射线源到胶片距离F大于曲面工件的曲率半径

图17 射线源在曲面工件的曲率中心

19 胶片处理 19.1 底片处理

胶片处理一般应按胶片使用说明书的规定进行。手工冲洗胶片宜在曝光后 8 小时之内完成，不得超过 24 小时。 19.2手工处理推荐条件：

显影温度：18～22℃ 显影时间： 4 min～6 min 定影温度：18～22℃ 定影时间： 10min～12min 水洗温度：16～24℃ 水洗时间： 20min～30min 19.3显影液应采用胶片制造商推荐配方。

19.4高温季节应采用高温坚膜剂配方，高温季节不得使用低电压曝光、高温显影。而低温季节不得使用高电压曝光、低温显影。

19.5定影液也应采用胶片制造商推荐配方。

19.6配制显、定影液的关键是药品称重要准确，配制显影液 的水温一般在30℃～50℃，配制定影液 的水温一般在60℃～70℃，药品应按次序投入，每一种药品需彻底溶解后再放入下一种药品，配制好的显、定影液应静置24小时后再使用。

20评片要求

20.1 评片一般应在专用的评片室内进行。评片室应整洁、安静，温度适宜,光线应暗且柔和。 20.2 评片人员在评片前应经历一定的暗适应时间。从阳光下进入评片的暗适应时间一般为 5 min～10min；从一般的室内进入评片的暗适应时间应不少于 30s。 20.3 评片时，底片评定范围内的亮度应符合下列规定：

a） 当底片评定范围内的黑度 D≤2.5 时，透过底片评定范围内的亮度应不低于 30cd/m 2 ； b） 当底片评定范围内的黑度 D＞2.5 时,透过底片评定范围内的亮度应不低于 10cd/m 2

21 底片质量 21.1 黑度

底片黑度应采用黑度计（光学密度计）进行测量，不同胶片透照技术和底片观察技术对应的黑度范围如下：

21.1.1 单胶片透照技术，单底片观察评定，底片评定范围内的黑度 D 应符合下列规定： A 级：1.5≤D≤4.5； AB 级：2.0≤D≤4.5； B 级：2.3≤D≤4.5。

21.1.2 双胶片透照技术，双底片叠加观察评定，评定范围内的黑度 D 应符合 2.7≤D≤4.5 的规定：

注 1：采用分类相同的胶片时，在有效评定区内每张底片上相同点测量的黑度的差应不超过 0.5。

注 2：用于双底片叠加评定的任何单底片的黑度应不低于 1.3。 注 3：应同时观察、分析和保存每张底片。

21.1.3 用 X 射线透照小径管或其他截面厚度变化大的工件，单底片观察评定时，AB 级最低黑 度允许降至 1.5；B 级最低黑度可降至 2.0。

21.1.4 对检测区进行评定时，对应着不同的胶片透照技术或不同的底片观察技术的区域的黑度范围应分别在检测报告中进行标识。

21.1.5 评定区的最大黑度限值允许提高，但观片灯应经过校验，观片灯亮度应保证在底片最高黑度评定范围内的亮度能够满足 20.3 的要求。 21.2 底片的像质计灵敏度

单壁透照、像质计置于源侧时应符合表 1 的规定；双壁双影透照、像质计置于源侧时应符合表 2的规定的规定； 双壁单影或双壁双影透照、 像质计置于胶片侧时应符合表 3 的规定。 21.3 其它要求

底片上,定位和识别标记影像应显示完整、位置正确。底片评定范围内不应存在干扰缺陷影像识别的水迹、划痕、斑纹等伪缺陷影像。在采用双胶片叠加观察评定时，如果其中一张底片存在轻微伪缺陷或划伤，在能够识别和不妨碍底片评定的情况下，可以接受该底片。 表 5 丝型像质计灵敏度值——单壁透照、像质计置于源侧

表1 像质计灵敏度值――单壁透照、像质计置于源侧

应识别丝号 (丝径,mm) 18（0.063） 17(0.080) 16(0.100) 15(0.125) 14(0.160) 13(0.20) 12(0.25) 11(0.32) 10(0.40) 9(0.50) 8(0.63)

表2像质计灵敏度值－双壁单影或双壁双影透照、像质计置于胶片测 应识别丝号 公称壁厚（T）范围，mm 公称壁厚（T）范围，mm AB级 ≤1.2 ＞1.2～2.0 ＞2.0～3.5 ＞3.5～5.0 ＞5.0～7.0 ＞7～10 ＞10～15 ＞15～25 ＞25～32 ＞32～40 ＞40～55

(丝径,mm) 18(0.063) 17(0.080) 16(0.100) 15(0.125) 14(0.160) 13(0.20) 12(0.25) 11(0.32) 10(0.40) AB级 ≤1.2 ＞1.2～2.0 ＞2.0～3.5 ＞3.5～5.0 ＞5.0～10 ＞10～15 ＞15～22 ＞22～38 ＞38～48

表3像质计灵敏度值－双壁双影透照、像质计置于源测 应识别丝号 (丝径,mm) 18(0.063) 17(0.080) 16(0.100) 15(0.125) 14(0.160) 13(0.20) 12(0.25) 11(0.32) 10(0.40) 9(0.50) 8(0.63) 22承压设备熔化焊对接接头的射线检测质量分级 22.1 缺陷类型

对接焊接接头中的缺陷按性质可分为裂纹、未熔合、未焊透、条形缺陷和圆形缺陷五类。 22.2 质量分级依据

根据对接焊接接头中存在的缺陷性质、尺寸、数量和密集程度，焊缝质量分为I、Ⅱ、Ⅲ、Ⅳ四个等级。

22.3 质量分级一般规定

a)I级对接焊接接头内不允许存在裂纹、未熔合、未焊透和条形缺陷。 b)Ⅱ级和Ⅲ级对接焊接接头内不允许存在裂纹、未熔合和未焊透。

公称壁厚（T）范围，mm AB级 ≤1.2 ≤1.2～2.0 ＞2.0～3.5 ＞3.5～5.0 ＞5.0～7.0 ＞7～12 ＞12～18 ＞18～30 ＞30～40 ＞40～50 ＞50～60

c) 圆形缺陷评定区内同时存在圆形缺陷和条形缺陷，应进行综合评级，即分别评定圆形缺陷评定区内圆形缺陷和条形缺陷，将两者级别之和减一作为综合评级的质量级别。

d)当各类缺陷评定的质量级别不同时，以质量最差的级别作为对焊接接头的质量级别。 e) 对接焊接接头中缺陷超过Ⅲ级者为IV级。 22.4 圆形缺陷的质量分级

a) 圆形缺陷用圆形缺陷评定区进行质量分级评定，圆形缺陷评定区为一个与焊缝平行的矩形，其尺寸见下表。圆形缺陷评定区应选在缺陷最严重的区域。

圆形缺陷评定区 单位：mm 母材厚度 T 评定区尺寸 ≤25 10×10 ＞25～100 10×20 b) 在圆形缺陷评定区内或与圆形缺陷评定区边界线相割的缺陷均应划入评定区内。将评定 区内的缺陷按下表的规定换算为点数。

缺陷点数换算表 单位 (mm)

缺陷长径 缺陷点数 ≤1 1 1～2 2 2～3 3 3～4 6 4～6 10 6～8 12 ＞8 25 不计点数的缺陷尺寸单位 (mm) 母材公称厚度 T ≤25 25

本文来源：https://www.bwwdw.com/article/jfzv.html