无损检测二级考试超声习题集

超声检测习题部分

第三部分 超声波检测

一.是非题：246题

二.选择题：256题

三.问答题： 70题

四.计算题： 56题

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超声检测习题部分

一．是非题 （在题后括弧内，正确的画○ ，错误的画3）

1.1 由于机械波是由机械振动产生的，所以超声波不是机械波。 （ ） 1.2 只要有作机械振动的波源就能产生机械波。 ( ) 1.3 振动是波动的根源，波动是振动状态的传播。 ( ) 1.4 介质中质点的振动方向与波的传播方向互相垂直的波称为纵波。 ( ) 1.5 当介质质点受到交变剪切应力作用时,产生切变形变，从而形成横波。 ( ) 1.6 液体介质中只能传播纵波和表面波，不能传播横波。 ( ) 1.7 根据介质质点的振动方向相对于波的传播方向的不同，波的波形可分为纵波、横波、 表面波和板波等。 ( ) 1.8 不同的固体介质，弹性模量越大，密度越大，则声速越大 ( ) 1.9 同一时刻,介质中振动相位相同的所有质点所联成的面称为波前。 ( )

1.10 实际应用超声波探头中的波源近似于活塞波振动，当距离波源的距离足够大时，活塞波类似于

柱面波。 ( )

1.11 超声波检测中广泛采用的是脉冲波，其特点是波源振动持续时间很长，且间歇辐射。 ( ) 1.12 次声波、声波、超声波都是在弹性介质中传播的机械波，在介质中的传播速度相同，他们的

主要区别主要在于频率不同。 ( ) 1.13 同种波型的超声波，在同一介质中传播时，频率越低，其波长越长。 ( ) 1.14 分贝值差表示反射波幅度相互关系，在确定基准波高后，可以直接用仪器的衰减器读数表示

缺陷波相对波高。 ( )

1.15 一般固体中的声速随介质温度升高而降低。 ( ) 1.16 超声波在同一介质中横波比纵波检测分辨力高，但对于材料的穿透能力差。 ( ) 1.17 超声波在同一固体材料中，传播纵波、横波时声阻抗都相同。 ( ) 1.18 超声场中任一点的声压与该处质点传播速度之比称为声阻抗。 ( ) 1.19 固体介质的密度越小，声速越大，则它的声阻抗越大。 ( )

1.20 在普通钢焊缝检测中，母材与填充金属声阻抗相差很小，若没有任何缺陷，是不会产生界面回

波的。 ( ) 1.21 波的叠加原理说明,几列波在同一介质中传播并相遇时,可以合成一个波继续传播。( ) 1.22 超声波垂直入射到光滑平界面时，声强反射率等于声强透过率，两者之和等于 1 。 ( )

1.23 超声波垂直入射到光滑平界面时，界面一侧的总声压等于另一侧的总声压，说明能量守恒。

( )

( )

1.25 超声波垂直入射到光滑平界面时，其声压反射率或透过率仅与界面两种介质的声阻抗有关 。

( )

1.26 超声波垂直入射到Z2>Z1的光滑平界面时,若声压透射率大于1 ,说明界面有增强声压的作用。

( )

1.24 超声波垂直入射到光滑平界面时，在任何情况下，透射波声压总是小于入射波声压。

1.27 声压往复透射率高低直接影响检测灵敏度高低，往复透射率高,检测灵敏度高,( ) 1.28 超声波垂直入射到光滑平界面时，声压往复透过率大于声强透过率。 ( )

1.29 超声波垂直入射到光滑平界面时,界面两侧介质声阻抗相差愈小，声压往复透射率愈低。

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( )

1.30 ※当钢中气隙(如裂纹)厚度一定时,超声波频率增加,反射波高也随着增加。 ( ) 1.31 当超声波声束以一定角度倾斜入射到不同介质的界面上,产生同类型的反射和折射波，这种现

象就是波形转换。 ( )

1.32 超声波倾斜入射到界面时，界面上入射声束的折射角等于反射角。 ( ) 1.33 超声波倾斜入射到界面在第一临界角时，第二介质中只有折射横波。 ( ) 1.34 只有当第一介质为液体时，才会有第三临界角。 ( )

0

1.35 当横波倾斜入射到固/固截面时,纵波反射角为90时所对应的横波入射角称为第三临界角。

此时第一介质中没有反射横波。( )

1.36 横波倾斜入射到钢／水界面，水中既无折射横波，又无折射纵波。 ( ) 1.37 为使工件中只有单一的横波，斜探头入射角应选择为第一临界角或第二临界角。( ) 1.38 超声波入射到 C1 ＞ C2 的凸曲面时（从入射方向看），其折射波发散。 ( ) 1.39 以有机玻璃作声透镜的水浸聚焦探头，有机玻璃/水界面为凸曲面。 ( ) 1.40 超声波的扩散衰减主要取决于波阵面的形状，与传播介质的性质无关。 ( ) 1.41 引起超声波衰减的主要原因波速扩散、晶粒散射、介质吸收。 ( ) 1.42 超声平面波不存在材质衰减。 ( ) 1.43 对同一介质而言，横波的衰减系数比纵波大得多。 ( ) 1.44 在同一介质中，传播纵波、横波时的声阻抗不一样。 ( ) 1.45 超声波入射到C1＞C2的凸界面时，其透射波聚集。 ( ) 1.46 超声波垂直入射到光滑平界面时，入射声压等于透射声压和反射声压之和。 ( )

2.1 超声场近场区内声压分布不均匀、起伏变化是由于波的干涉造成的。 ( ) 2.2 超声场近场区内的缺陷一概不能发现。 ( ) 2.3 声源辐射的超声能量,总是声束中心线上的声压最高。 ( )

( 3 )

2.5 超声场可分为近场区和远场区，波源轴线上最后一个声压极大值的位置至波源的距离称为超声

场的近场区长度。 ( ) 2.6 因为近场区内处于声压极小值处的较大缺陷回波可能较低,而处于声压极大值处的较小的缺陷回

波可能较高， 应尽可能避免在近场区检测。 ( ) 2.7 超声频率不变，晶片面积越大,超声的近场长度越短。 ( ) 2.8 超声场远场区声压随距离增加单调减小是由于介质衰减的结果。 ( ) 2.9 在其他条件相同时，横波声束的指向性比纵波好，横波的能量更集中一些，因横波波波长比纵

波短。 ( )

2.10 同频率的探头其扩散角与探头晶片尺寸成反比，近场区长度与晶片面积成正比。( ) 2.11 横波斜探头声场假想声源的面积大于实际声源面积。 ( ) 2.12 检测时采用低频是为了改善声束指向性，提高检测灵敏度。 ( ) 2.13 因为超声波存在扩散衰减，所以，检测时应尽可能在进场区进行。 ( )

( )

2.15 当其他条件一定时，若超声波频率增加，则近场区长度和半扩散角都增加。 ( ) 2.16 横波探头晶片尺寸一定，K值增大时，近场区长度减小。 ( ) 2.17 超声波的能量主要集中在2θ0以内的锥形区域，此区域称为主声束。 ( )

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2.4 超声波的半扩散角大，超声能量集中，声束的指向性好，检测灵敏度高，对缺陷定位准确。

2.14 在实际超声波检测中，测定探头声速轴线偏离与横波探头的K值应规定在2N以外进行测定。

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2.18 一般声束指向角越小，则主声束越窄，声能量越集中，从而可以提高对缺陷的分辨能力以及准

确判断缺陷的位置。 ( )

2.19 在超声场的未扩散区，可将声源辐射的超声波近似看成平面波，其平均声压不变。 ( ) 2.20 频率、晶片尺寸等条件相同时，在同一介质中，横波声束指向性比纵波差。 ( ) 2.21 其它条件相同时，钢中横波声场近场长度随探头的折射角增大而减小。 ( ) 2.22 纵波声场存在近场区，横波声场不存在近场区。 ( ) 2.23 超声波的声束指向性不仅与频率有关，而且与波形有关。 ( )

2.24 面积相同、频率相同的圆晶片和方晶片，超声场的近场区场区相同 ( ) 2.25 面积相同、频率相同的圆晶片和方晶片，声束指向性也相同 ( ) 2.26 在同样的检测条件下，当自然缺陷的反射回波，与某人工规则反射体的反射回波等高时，则该

人工规则反射体的尺寸，就是此自然缺陷的实际尺寸。 ( )

2.27 短横孔是长度明显小于声束截面积的横孔，其孔径和长度一定，波高与距离的变化规律与平底

孔相同。 ( )

2.28 检测条件一定，平底孔的波高与其面积成正比，与距离成反比。( )

2.29 长横孔是长度大于声束截面积的横孔，其孔径一定，距离增加一倍其回波下降9 dB. ( ) 2.30 对轴类工件作外圆径向纵波检测时，曲底面回波声压与同声程理想大平底回波声压反射规律不

同。 ( )

2.31 当 X ≥ 3 N 时，超声波在内孔检测圆柱体,其回波声压小于同距离大平底回波声压。( ) 2.32 实用 AVG 曲线只适用于特定的探头,使用时不需要进行归一化处理。 ( ) 2.33 在通用AVG曲线上,可直接查得缺陷的实际声程和当量尺寸。 ( ) 2.34 通用AVG曲线采用的距离是以近场长度为单位的归一化距离,适用于不同规格的探头。( )

3.1 超声波探伤仪的A型显示、B型显示、C型显示都属于波形显示。 ( )

(○)

3.3 探伤仪的扫描电路即为控制探头在工件检测面上扫查的电路。 ( ) 3.4 调节超声波探伤仪“延迟”旋钮时，扫描线上回波信号间的距离也将随之改变。 ( ) 3.5 调节超声波探伤仪“深度细调”旋钮时，可连续精确的调节时基线代表的检测范围,以对缺陷准

确定位。 ( )

3.6 衰减器是用来调节检测灵敏度的，衰减器读数按衰减方式标出的，读数越大，灵敏度越高。

( )

3.7 调节探伤仪“抑制”旋钮时，抑制越大，仪器动态范围越大。 ( )

3.8 脉冲重复频率的调节与被探工件厚度有关，对厚度大的工件，应采用较低的重复频率。( ) 3.9 所谓数字式超声波探伤仪主要是指发射，接受电路的参数控制和接收信号的处理、显示均采用

数字化方式的仪器。 ( )

3.10数字式超声波探伤与模拟式超声波探伤仪最根本的区别是，探头接收的超声信号需经数/模转换，

将数字信号转换为模拟信号，处理后显示出来。 ( ) 3.11 在数字式超声波探伤仪中,脉冲重复频率又称为采样频率。 ( ) 3.12超声波探头中的关键部件是晶片，它的作用是电能和声能的互换。 ( ) 3.13 超声波探头发射超声波时产生正压电效应，接收超声波时产生逆压电效应。 ( ) 3.14 压电材料中，单晶材料发射灵敏度较高，多晶材料接受灵敏度较高。 ( ) 3.15超声波探头所使用晶片的压电效应不受温度的影响。 ( )

3.2 超声波仪器的C型显示能显示工件中缺陷在探测方向上的面积投影，但不能显示其深度。

3.16 焊接接头超声波检测用斜探头，当楔块底面后部磨损较大时，其折射角将变大。 ( )

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3.17双晶直探头由于延迟块的存在，避免了始脉冲引起的盲区问题，可以检测近表面缺陷和进行薄

板检测。 ( )

3.18 纵波双晶直探头检测工件时，对位于菱形声束会聚区内缺陷的检测灵敏度高。 ( ) 3.19双晶探头只能用于纵波检测。 ( ) 3.20聚集探头根据焦点形状不同分为点聚焦和线聚焦。 ( ) 3.21与普通探头相比，聚焦探头的分辨力较高。 ( ) 3.22使用聚焦透镜能提高灵敏度和分辨力，但减小了探测范围。 ( ) 3.23由于水中只能传播纵波，所以水浸探头只能进行纵波检测。 ( ) 3.24水浸聚焦探头检测工件时，实际焦距比理论计算值大。 ( ) 3.25工件表面比较粗糙时，为防止探头磨损和保护晶片，宜选用硬保护膜。 ( ) 3.26探头的工作频率是指探头每秒钟内发射超声脉冲的次数。 ( ) 3.27标准试块的材质、形状、尺寸及精度，使用单位可以根据自行确定。 ( )

( )

3.29 CSⅢ试块是一种适用于检测面为曲面的锻件检测标准试块。 ( ) 3.30 CSK-ⅠA试块上φ50 、φ44、φ40 三孔的台阶，可用来测定斜探头的分辨力。 ( ) 3.31 CSK-ⅠA、CSK-ⅢA、 CSK-Ⅳ试块主要用于制作横波距离-波幅曲线、校准斜探头的 K 值、横波

扫描速度和检测灵敏度等。 ( ) 3.32 CSK-ⅡA试块上的人工反射体是Φ136 。 ( ) 3.33 斜探头的入射点是指其主声束轴线与检测面的交点。 ( )

( )

3.35 斜探头的K值常用CSK-ⅠA试块上的φ50和φ1.5横孔来测定。 ( )

3.36测定组合灵敏度时，可先调节仪器的“抑制”旋钮，使电噪声电平≤10%，再进行测试。

( )

3.37测定“始脉冲宽度”时，应将仪器的灵敏度调至最大。 ( )

( )

3.39调节探伤仪的“水平”旋钮，将会改变仪器的水平线性。 ( ) 3.40 灵敏度余量就是仪器与探头的综合灵敏度。 ( ) 3.41盲区是指从探测面到能发现缺陷的最小距离，与仪器的阻塞时间和始脉冲宽度有关。 ( ) 3.42 盲区内缺陷一概不能发现。 ( ) 3.43为提高分辨力，在满足探伤灵敏度要求情况下，仪器的发射强度应尽量调得低一些。( )

4.2 多次底波法缺陷检出灵敏度低于缺陷回波法。 ( ) 4.3 液浸法检测适用于表面粗糙的试件，探头不易磨损，耦合稳定，检测结果重复性好，便于实现

自动化检测。 ( ) 4.4 纵波法实质上就是使用直探头进行垂直入射检测的方法。 ( )

4.5 管材和焊接接头的超声检测方法主要是垂直入射法，而横波法是垂直入射法的一种有效的辅助

检测方法。 ( ) 4.6 手工超声检测法与自动超声检测法相比具有检测结果准确，重复性好的优点。 ( )

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3.28 用双晶直探头检测厚度不大于20mm的钢板时，应采用CB-Ⅱ标准试块对检测系统进行 校准。

3.34 测定探头的K值或βs应在近场区内进行，因为近场内声压最高点在声束轴线上，测试误差小。

3.38 仪器的垂直线性是指仪器显示屏上时基线显示的水平刻度与实际声程之间成正比的程度。

4.1 脉冲反射法可分为缺陷反射法、底波高度法、多次底波法。 ( )

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