数字电路测试系统说明

更新时间:2023-04-13 00:37:01 阅读量: 实用文档 文档下载

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台湾德律TR-6010 逻辑器件测试机

概述:

·专为10MHz逻辑IC测试机, 具有Function Pattern测试, Dc

参数量测等功能

硬件结构:

特性:

·2M的向量存储器深度

·可4组并行测试

·完整的功能Pattwen和DC参数测试·驱动电压:+-8V,比较电压:6V ·具有Shmoo Plot工具, 用于器件特性分析

·测试程序调试工具

·完善的测试诊断报告和柱状图

·TTL和GPIB接口, 可直接连接至prober和handler ·紧凑小型,易安装

资源配置:

·测试操纵器:奔腾III以上PC ·系统软件:MS-DOS ·电源要求:(1)单相交流,AC 110V 10A /50-60Hz (2)单相交流,AC 220V 6A /50-60Hz

性能参数:

·测试频率:10MHz ·周期速率:100nS-1.31mS ·周期分辨率:20nS ·测试通道:最大128个·多组测试:2/4组并行测试

·闸门模式:边沿式

·测试向量深度:2M

·驱动器:VIH:+-8V 分辨率:5mV

·VIL:+-8V 分辨率:5mV

·比较器:VOH:+-8V 分辨率:5mV

1 / 9

2 / 9 ·定时器: 4Pins/TG

·定时器分辨率: 10nS

·VOL : +-8V 分辨率:5mV

PMU :1组/板卡,最大8组

施加电压/ 测量电流范围:

级不

电压 精确度 分辨率 0

10V +%+-5mV 2.5mV 1

10V +%+-5mV 2.5mV 2

10V +%+-5mV 2.5mV 3 10V +%+-5mV 2.5mV 施加电流/ 测量电压范围:

HVPMU :2组/板卡,最大16组 施加电压/ 测量电流范围: 施加电流/ 测量电压范围:

概述·10MHz的测试频率,128

个测试通道,

4M字节向量深度的大规模LSI测试系统

系统尺寸

·主框架:580(W),750(D),1200(H)或1850(H)毫米

·测试头:580(W),340(D),250(H)毫米

·电缆长度:4 米

测试器操纵器

·处理器AMD-K6-500

·操作系统MS/DOSV

·内存32MB

·硬盘4.0GB

·软盘3.5英寸1.44MB

接口板

·标准接口板针对探针机和机械手

·GPIB 接口板选项

PIN电子性能

·标准64 PIN

·全系统128 PIN 或64PIN*2DUTS

软件包·语言 C (库:

TURBO C)

·工具软件SCHMOO

HISTOGRAM

WAFERMAP

·测试程序转换器

ANDO-SUMMIT 至V7100 (主程序和波形程序)

SENTRY 至V7100 (波形程序)

CREDENCE-SC212 至V7100 (波形程序)

ADVANTEST-MOSPL 至V-7100 (波形程序)

驱动器

·输出电压VIH 0V 至+11V VIL -2V 至+8V

·电压摆幅100mVp-p 至11Vp-p

·精度0.5% + 5mV

·分辨率2.7mV

·最大DC 电流输出="H"±20mA 输出= "L"±20mA

·总时钟精度 (NRZ 格式) ±5ns ( 最大 )

·时滞 (NRZ 格式 ) 有关PINS ±5ns ( 最

大 )

·有关TGS ±4ns ( 最大 )

·上突波 / 下突波 3%+50mV

· VIH/VIL 级不 4 级不

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本文来源:https://www.bwwdw.com/article/d66l.html

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