RIS 地质雷达 - 图文
更新时间:2023-11-15 00:52:01 阅读量: 教育文库 文档下载
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RIS探地雷达
一、概述
博泰克RIS探地雷达在兼具了传统探地雷达各项优点的同时,增添了高灵敏度、高分辨
率的天线阵,使浅层和深层探测一次完成,实现了三维立体探测,大大提高了工作效率,具有数据采集完整、快速、低误差等特点。适用于公路路面、隧道衬砌质量的检测、桥梁结构检测、路基检测、管线探测、岩性分析和条件恶劣场地的应用。
使用博泰克RIS天线阵雷达进行公路和隧道检测如图8-1所示。
图8-1 RIS探地雷达
二、RIS K2主机技术参数
1、扫描速度: 850扫/秒 2、脉冲重复频率:400KHz 3、时 窗: 9999 nsec 4、采样点数: 128-8192 5、叠 加 数: 1-32768 6、分 辨 率: 5psec 7、工作温度: -10~50℃ 8、A/D转换 : 16bit 9、工作环境标准: IP65 10、动态范围: >160dB 11、信 噪 比: >160dB 12、可连接8对天线同时测量
13、尺寸:22x17x5.5cm,重量:1.2kg
现场测量开始前应该对雷达的采集参数进行设定,这一工作最好在进入现场前在室内完成,进入现场后可根据情况略加调整。参数设定的内容包括时间窗口大小、扫描样点数、每秒扫描数、A/D转换位数、增益点数等内容。参数设置的是否合理影响到记录数据的质量,至关重要。
★探测深度与时窗长度
探测深度的选取是头等重要的,既不要选得太小丢掉重要数据,也不要选得太大降低垂向分辨率。一般选取探测深度H为目标深度的1.5倍。根据探测深度H和介电常数ε确定采样时窗长度(Range/ns):
1
Range= 2H(ε)1/2/0.3(ns)= 6.6 H(ε)1/2(ns)
例如对于地层岩性为含水砂层时,介电常数为25,探测深度为3m时,时窗长度应
选为100ns,时窗选择略有富余,宁大勿小。
★ A/D采样分辨率:
雷达的A/D转换有8Bit、16Bit、24Bit可供选用。选择24Bit动态大,强弱反射
信号都能记录下来,探测深度大、时窗长时采用。16Bit,动态中等,中高频天线、探测2-5m时采用;选择8Bit动态小,采集速度快,探测深度小于1m、时窗小时采用;
★ 扫描样点数
扫描样点数Samples/Scan有128、256、512、1024、2048/scan可供选用,为保证
高的垂向分辨,在容许的情况下尽量选大。对于不同的天线频率Fa、不同的时窗长度Range,选择样点数Samples应满足下列关系:
Samples≧10-8*Range*Fa
该关系保证在使用的频率下一个波形有10个采样点。例如对于900MHZ天线,40ns采样长度的时窗,要求每扫描道样点数大于360Sanples/Scan,可以选择接近的值512。对于100MHZ天线,500ns采样长度,样点数应大于500Sanples/ Scan,可以取512或1024。样点数大对提高资料的质量有利,但耗时较大,影响前进速度。
★ 扫描速率Scans/S:
扫描速率是定义每秒钟雷达采集多少扫描线记录,扫描速率大时采集密集,天线的
移动速度可增大,因而可以尽可能的选大。但是它受仪器能力的限制。对于一种类型的雷达,他的A/D采样位数、扫描样点数和扫描速度三者的乘积应为常数。当扫描速率Scans/s决定后,要认真估算天线移动速度TV。估算移动速度的原则是要保证最小探测目标(SOB)内只少有20条扫描线记录:
TV≦Scans*SOB/20
采集速度=(1/天线数量)*道间距(/脉冲间隔时间+采样点数/A/D转换速度)
在上式中,天线数量一般为连接的天线数量,Fastwave的脉冲间隔时间为100毫秒,K2和SRS的脉冲间隔时间为270毫秒。A/D转换速度为采集电子的速度, Fastwave主机的为400KHz,SRS为200KHz,K2为133KHz。
2
例如探测目标最小尺度为10cm、扫描速率64Scans/s时,推算天线运动速度应小于32cm/s,相当于0.5cm/scan。如果最小目标为0.5m,则天线移动速度可达1.5m/s。
★ 增益点数的选择:
增益点的作用是使记录线上不同时段有不同放大倍数,使各段的信号都能清楚的显
现出来,增益点的位置最好是在反射信号出现的时段附近。SIR型雷达设计的增益点从2到8个,时窗短时选2点增益,时窗长时选4或5足以。点之间的增益是线性变化的,增益的变化是平滑的。增益大小的调节是使多数反射信号强度达到满度的60%-70%,增益太大将造成削顶,增益太小将丢失弱小信号。
★ 滤波设置:
滤波设置是为了改善记录质量。滤波分垂向滤波和水平滤波。垂向滤波分高通和低通,高通频率选为天线频率的1/6,高于这个频率的信号顺利通过,相当于带通滤波器里的低截频率。垂向低通频率选为天线频率的2倍,低于该频率的波顺利通过,相当于带通滤波器里的高截频率。
水平滤波分水平平滑和背景剔除,目的是消除仪器和环境的背景干扰。水平平滑通常取3道平滑,背景剔除功能只在回放时起作用。
★选择合适的采集方式:
雷达的采集方式有多种,对RIS仪器有连续采集、逐点采集、控制轮采集。连续采集是最常用的采集方式,具有工作效率高的特点,便于界面连续追踪。逐点采集一般在表面起伏变化大的情况下采用,或是使用低频拉杆天线时采用。控制轮采集是通过控制论行走为记录打标记,资料位置标记均匀准确,一般在表面平整的机场跑道、高速公路路面等场合采用。
★选择适宜的显示方式:
雷达显示是现场观察探测结果的只管展示,仪器预设了几个可供选择的彩色显示方式,可以根据不同对象选用,通过比较选择效果最好的方案。显示方案的振幅分成16等级,正幅值8级,负值8级。对16级的不同分法形成了三种显示方案。第一种方案是线性分割,第二种方案是平方根分割,第三种方案是按平方分割。第一种方案在大多数情况下采用,第二种方案在要求突出弱信号时采用,第三种方案在需要反映主要强反射界面时采用。
★正常数据采集工作程序
正常数据采集工作中并非每次都需要对所有仪器参数进行重新设置。雷达仪器有记忆,上次设定的采集参数仍在起作用。同时硬盘上存有不同天线对应的参数文件,可以根据需要调用。如果某些参数需要修改,可以调出来修改。应该特别注意下列几点:
a核定采样窗口长度; b.核定增益点设置;
c.确定采集时硬盘写打开;
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d.选择显示效果;
三、结构及工作原理
RIS探地雷达系统分三部分:主机、天线、后分析软件。
1、结构
1) 主机:如图8-2所示。
雷达主机是对采集信号进行控制和处理中心,它通过网络和笔记本电脑连接,具先进的设备状态诊断功能,在现场的使用极为方便; 博泰克RIS雷达有单通道和多通道型号主机,使用时可依照自己的工作需要进行选择。加上其不间断供电系统,一次可以完成几百公里长度的探测。主机自带的现场采集软件可以自动调节雷达波形、增益等参数(也可选择手动调节),使探测工作最大程度的减少了人为影响。
图8-2 主机
主机特点:
1、 全中文界面,主机操作简单 2、 现场准确定位各种缺陷位置 3、 极高的扫描速度和脉冲重复频率 4、 主机体积小、重量轻,坚固耐用 5、 高信噪比、高精度、高分辨率
6、 可以兼容所有RIS系列的天线和天线阵
2)天线:如图8-3所示。
天线是用来发射和接收高频电磁波信号的装置,RIS雷达天线的中心频率从10MHz~2.5GHz不等;天线频率的不同,其探测深度和分辨率相应改变。高质量的天线保证了高分辨率的探测精度,由于博泰克RIS雷达天线采用了目前国际上领先的屏蔽技术,尽可能避免了其它干扰信号,得到清晰的雷达波形图,使微弱的细微信号和深部信号不再被强烈的干扰信号所压制,从而提高了探测灵敏度。
天线包括以下四种类型: 屏蔽天线:具有目前世界上最低频率的屏蔽天线(80 MHz),在市区等要求抗干扰能力很强的地方,需要进行深部探测时,具有无可比拟的优势。
非屏蔽天线:频率有10 MHz,25 MHz,40 MHz等,用于地质、水文等方面。
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天线阵系列:RIS雷达具有世界领先的天线阵技术,即把相同或不同频率的天线,通过特定的组合方式排成阵列形式。其优点是:增加了探测角度,提高探测概率,探测速度快。
井中天线:可深入井中数百米,用于井间CT扫描。
天线特点:
1、 同频率体积小、重量轻 2、 探测精度高、屏蔽性能好
3、 先进的天线阵技术大大提高了探测精度与效率
图8-3 各种天线
3)后分析软件
后分析软件是将主机处理和存储的雷达信号,根据不同特点进行各种处理,如去除干扰信号、对被测物体进行切片、信号再处理等,并将探测数据链接到CAD制图,对被测物体进行三维立体显示,自动绘制路面、隧道衬砌分层图、公路、铁路路基图、管线三维立体分布图、岩性分层图、分类图等,可自动或手动分析得出各层的实际厚度,在雷达图上加注钻孔取芯实际效果,对不同介质的分层设置不同的雷达波速,从而得到更精确的分层厚度,并可以直接把探测结果导入地理信息系统,方便实现查询、统计、输出等功能,从而更精确、更方便的进行管线探测和数据管理。软件安装在windows界面下,友好的人机对话,对非雷达专业的探测者,提供了最大的帮助。如图8-4所示。
图8-4 后分析软件
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RIS软件的特点:
①立体结构综合分析软件能够把处理过的雷达数据存储在数据库中,通过CAD自动链接软件IDSGEOMAP,把处理过的雷达信息导入到CAD中,自动绘制三维图形。
②数据分析及分层绘图软件具有以下特点: a .自动或手动精确划分不同材料组成的层面
b .自动添加图符说明(该功能能为用户提供报告很有帮助)
c .在雷达图上显示实际钻孔取芯的结果,并可据此调整雷达波的波速,同时自动
进行速度评估。
③岩性分析软件是目前世界上唯一一个能够进行土壤识别的软件,包含先进的“样品识别”算法,内部包含一个完全的土壤样品的数据库,能够自动对雷达图进行处理和识别,然后和数据库相比,以得到准确的分类结果;能够同时显示普通的雷达截面图,水平切片图、分层图、土壤识别彩色图等。应用于路基检测、非开挖技术、地质分析等领域。
2、工作原理
探地雷达作为无损检测的一项新技术,具有连续、无损、高效和高精度等优点。根据电磁波在有耗介质中的传播特性,探地雷达以宽频带短脉冲的形式向介质内发射高频电磁波(几MHz-几GHz),当其遇到不均匀体(界面)时会反射部分电磁波,其反射系数由介质的相对介电常数决定,通过对雷达主机所接收的反射信号进行处理和图像解译,达到识别隐蔽目标物的目的(见图8-5)。
数据采集
雷达可测量信号到达目标的传
输时间,利用估算的传播速率 计算出目标的距离
双曲线雷达图 当满足下面条件时,隐蔽物可由雷达探出:
1.在天线信号范围之内
2.信噪比适当 6
图8-5 探地雷达工作原理示意图
电磁波在特定介质中的传播速度V是不变的 ,因此根据探地雷达记录上的地面反射波与地下反射波的时间差ΔT,即可据下式算出地下异常的埋藏深度H:
H?V??T2 ( 8-----1)
式中,H即为目标层厚度;
V是电磁波在地下介质中的传播速度,其大小由下式表示:
V?C? (8-----2)
式中,C是电磁波在大气中的传播速度,约为3×108m/s;ε为相对介电常数,取决于地下各层构成物质的介电常数。
雷达波反射信号的振幅与反射系数成正比,在以位移电流为主的低损耗介质中,反射系数r可表示为:
r?式中,ε1、ε
?1??2 (8-----3)
?1??22为界面上、下介质的相对介电常数。
反射信号的强度主要取决于上、下层介质的电性差异,电性差异越大,反射信号越强。 雷达波的穿透深度主要取决于地下介质的电性和中心频率。导电率越高,穿透深度越小;中心频率越高,穿透深度越小,反之亦然。
四、仪器操作方法和步骤:
1、 连接
1)RIS主机电池接口和网线接口,如图8-6所示。
7
电池接口 网络接口 图8-6 主机结构
2)RIS主机测量轮及雷达天线接口,如图8-7所示。
天线1及天线2接口 测量轮 图8-7 主机结构
2、 软件可以自动调节雷达波形、增益等参数
1)K2使用流程:
K2是RIS雷达系统的的最新一代采集软件,安装在笔记本电脑上,现在将其基本使用流程归纳如下:
双击K2图标,打开采集软件,在屏幕右侧的Configuration当中选择所使用的雷达,并可以设置基本参数,包括时窗(range),每秒采样数(samples per scan),波速(propagation spee)d,也可以进一步修改天线的驱动程序,包括采样间距等等。
在new survey菜单下,可以在survey name下选择要建立的探测区域名称,可以是数字、字母或两者混合,area下选择子目录,设定探测区域分区探测名称,area description下对探测区域进行简单的描述。
2)增益标定
选择 start acquisition中,进行自动增益,在待检测的介质表面把天线拖动一段距离即可,然后点击stop停止增益。增益到一定长度时,系统会自动停止增益。
3)操作参数设定与调整
增益结束之后,选择edit parameters,设置探测区域的参数,包括扫描方向、步长、
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坐标偏移等等
3、 正式开始探测
1)按start scan 开始探测,在探测过程中可以通过mark 在雷达图中插入标记,save scan 保存探测数据,stop scan 结束本次探测。重复此过程可以进行多条测线的探测。
2)查看雷达图:在选择end acquisition命令后,回到主菜单,可以选择rename acquisition命令来重新命名探测区域,也可以选择review acquisition来重新查看雷达图,并进行必要的修改。
3)K2 采集软件的可操作阶段有以下几部分组成:
(1)打开 K2采集软件 (2)选择驱动 (3)增益标定 (4)选择探测区域 (5)设定采集参数 (6)采集雷达数据 (7)查看雷达数据
打开 K2采集软件:
当笔记本电脑已经完全打开时,就可以通过双击桌面上的K2图标,如图8-8所示,来打开K2采集软件。如图8-9所示。
图8-8采集软件图标
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图8-9 K2采集软件初始化窗口
选择驱动:
下面给出了在选择将要使用的雷达驱动时所需遵循的步骤。
通过按 Configuration 按钮来打开 Radar selection 窗口图8-10,在这里可以选择数据采集所需要的天线种类和驱动程序。
⑴ 如图8-10 所示的例子中, IDSTR200_WHE50 文件已经被选择,该驱动表示选择了一个带有50厘米直径定位测量轮的200MHz单天 线。
图8-10 雷达天线选择窗口
在时窗窗口下,可以针对框中已有的数值重新键入一个新的时窗值如图8-11。
图8-11 时窗设置
⑵ 每扫采样点数的数值可以选择由对话框下拉菜单中提供的数值。如图8-12所示。然而,这些数值不能低于在 Min req. sample/scan所提示的最小数值。
图8-12 每扫采样点数的数值
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