ANT-20系列测试仪使用指导书

ANT-20E SDH/PDH测试仪使用指导书

目 录

目 录

第一章 仪表使用简介 ——ANT-20E ................................................................................................... 3

1.1 ANT-20E SDH测试仪简介 ...................................................................................................... 3 1.2 ANT-20E前面板功能介绍........................................................................................................ 3

1.2.1 前面板介绍 ..................................................................................................................... 3 1.2.2 ANT-20E 顶部的接口端子图 ........................................................................................ 5 1.3 ANT-20E的基本操作................................................................................................................ 8

1.3.1 启动 ................................................................................................................................. 8 1.3.2 测试时间设置 ............................................................................................................... 10 1.3.3 测试功能模块设置 ........................................................................................................ 11 1.3.4 收发激光器设置 ............................................................................................................ 13 1.3.5 Signal Structure(信号配置) ......................................................................................... 15 1.3.6 测量开始和终止 .......................................................................................................... 16 1.3.7 结果保存 ...................................................................................................................... 17

第二章

测试指导书 ......................................................................................................................... 19

2.1 光输入口允许频偏................................................................................................................... 19

2.1.1 概念 ............................................................................................................................... 19 2.1.2 测试方法 ....................................................................................................................... 19 2.2 光口的输出抖动...................................................................................................................... 22

2.2.1 概念 ............................................................................................................................... 22 2.2.2 测试方法 ....................................................................................................................... 23 2.3 输入口的抖动容限.................................................................................................................. 25

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2.3.1 概念 ............................................................................................................................... 25 2.3.2 测试方法 ........................................................................................................................ 26 2.4 设备的抖动传函...................................................................................................................... 28

2.4.1 概念 ............................................................................................................................... 28 2.4.2 测试方法 ........................................................................................................................ 29 2.5 误码测试.................................................................................................................................. 31

2.5.1 概念 ............................................................................................................................... 31 2.5.2 测试方法 ....................................................................................................................... 31 2.6 映射抖动.................................................................................................................................. 33

2.6.1 概念 ............................................................................................................................... 33 2.6.2 测试方法 ....................................................................................................................... 34 2.7 结合抖动 ................................................................................................................................. 35

2.7.1 概念 ............................................................................................................................... 35 2.7.2测试配置图 ..................................................................................................................... 37

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第一章 仪表使用简介 ——ANT-20E

1.1 ANT-20E SDH测试仪简介

ANT-20E是德国WG公司生产的SDH测试仪，是基于计算机操作系统下的软仪表。ANT-20使用WIN32作操作系统，ANT-20E和ANT-20SE使用WIN95作操作系统，ANT-20SE增加了触摸屏的功能，面板的中间专门有用于触摸屏的触摸笔。打开电源后，首先运行视窗操作系统，因ANT-20E SDH测试仪的可执行文件是放在操作系统的启动项中，操作系统完成初始化后，自动运行ANT-20E SDH测试仪的可执行文件。ANT-20E SDH测试仪测试项的设置可通过键盘和鼠标以及触摸屏来完成操作，一般仪表内的网卡和打印机都已经安装好了，测试结果可打印；可以EXECL的格式存盘；也可通过网络传送到计算机上等。

ANT-20E SDH测试仪具有电口和光口，能测试的接口信号速率从T1信号到STM-16光信号。通过设置，电口可设置成ADM方式进行测试，光口只能进行TM方式的测试。测试功能有：输出抖动、抖动容限、抖动传递特性、输出口AIS速率、输入口允许频偏、抖动漂移特性、结合抖动、影射抖动和误码性能等接口指标和功能测试。

由于采用PC和WIN95作操作系统，使得该款仪表具有简单，可操作性强的特点。下面重点以STM-16的设置和测试进行ANT-20E SDH测试仪的操作介绍。

1.2 ANT-20E前面板功能介绍

1.2.1 前面板介绍

1、前面板图

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图2-1 ANT-20E的前面板

2 、说明

图2-1是ANT-20E仪表的前面板的样子，共6个部分。

（1）第I部分是告警指示灯，左边是当前告警，只有当前有告警指示灯才会亮；右边是历史告警，如果测试开始后出现过告警，指示灯会一直亮；最右边的字母是告警的名称。

（2）第II部分是仪表的液晶显示屏，只有ANT-20SE采用了触摸屏的技术。 （3）第III部分仪表操作的一些功能键。 （4）第IV部分是功能键。 （5）ANT-20SE触摸屏配套的笔： （6）内置键盘

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3、指示灯告警信息

信号丢失

帧丢失

复用段告警指示 B1/B2奇偶校验错 复用段远端缺陷指示 AU指针丢失

AU告警指示信号/通道 高阶通道未装载

高阶通道标示符丢失 B3奇偶校验错

高阶通道远端缺陷指示 TU多帧丢失 TU指针丢失

低阶信号告警指示 低阶通道未装载

低阶通道信号标示符丢失 低阶通道校验错

低阶通道远端缺陷指示 告警指示信号 帧丢失

同步序列丢失 远端缺陷指示 帧结构信号错 测试位错

图2-2 ANT-20E的前面板

1.2.2 ANT-20E 顶部的接口端子图

1、ANT-20E顶部接口端子图

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图2-3 ANT-20E的连接端子

2、说明

位置 1 2 3 4 描述 鼠标（PS2）连接头 A和B的PCMCIA接口 外接的键盘接口（PS2） 外接的VGA显示器接头 1-6

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5 6 8 10 11 12 13 14 15 16 17 外接的打印机接头 V.24的串行接口 3.5寸软盘驱动器 辅助输入 辅助输出 辅助平衡输入 辅助平衡输出 1.5Mbits到156Mbits的电信号输入 1.5Mbits到156Mbits的电信号输出 STM-1/STM-4的电口的输入 OC-1/-3/-12/STM-1/STM-4 1310/1550nm的光口输入 18 OC-1/-3/-12/STM-1/STM-4 1310/1550nm的光口输入 21 22 25 26 90 91 92 V.11接口的DCC/ECC信号的输入/输出 没加抖动的时钟输出 2Mbits和1.5Mbits的参考时钟输入 触发输出 光功率分路输入 10%的光功率分路输出 90%的光功率分路输出

注意：

1）光接口输入光功率最大为0dBm(10G光模块输入光功率最大为-8dBm），被

测设备的发送信号送入仪表之前一定要确保输入光功率不能过限。过大的光功率将会造成仪表内部电路的损坏。

2）在仪表环回自检时，仪表的输出光信号送入仪表前要加入15dB的衰减；

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3）任何时候，不得直视传输光信号的光纤头或光接口，激光会严重损伤您

的眼睛。

1.3 ANT-20E的基本操作

1.3.1 启动

ANT-20E的AC电源插座在仪表的顶部，电源开关也在插座旁边，开关上有两

个符号：“I”表示电源开启的位置；“O”表示电源关闭的位置。

仪表上没有专门的接地端子，调测前需要将接地线接到顶部的螺丝上。 电源打开后，先启动WIN95操作系统，仪表的硬件配置包括CPU的速率，内存的容量等在启动的过程中都可以看到；然后装载硬件的驱动程序，最后是装载ANT-20E的软件，屏幕上会提示你“DOSKEY INSTALLED”（DOS命令行安装）；和DOWNLOADING MEASURING FIRMWARE”（下载测试用的固件）和“ UPDATING JITTER STM16 MODLE”（更新抖动模块的设置，如果仪表上配置了抖动模块的话）。

由于ANT-20E的可执行文件是放在启动菜单里，系统会自动运行该程序，在屏幕的顶部会出现一个长条型的主菜单,它是ANT-20E的控制面板。如图2-1所示：

图2-4 ANT-20E的主程序

它显示测试的状态，在左边有三个快捷建，将鼠标移到箭头对应的快捷建，主程序菜单将打开，如图2-5所示：

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图2-5 展开后的主菜单

Unititled是缺省的文件名，保存的时候根据需要更改。从左到右一共有5个下

拉菜单依次为： 注意：

（1）该快捷建在ANT-20SE中的快捷建的形

状为

（2）假如你上次的设置有问题，你可以按“F3”按键，出现对话筐选择“yes”即可恢复工程设置。工厂设置一般有两个窗口，一个是主程序菜单，另一个是

\菜单。

主程序菜单说明

1）Applicatiorn 相当于文件菜单

New ： 新建一ANT-20E的应用窗口，注意新建后，目前的窗口会关闭。 Open: 打开保存的文件 Save: 保存 Save as :另存为 Delete: 删除 Import: 导入 Output: 导出

2) Instruments 测试功能模块

Add&Remove : 功能模块的选择，激活的相应模块会在菜单下显示，同时会在

“ToolBar”上出现功能模块的快捷键。

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3) Measurement 对测量的一些控制 Start : 测量开始 Stop : 测量停止 Settings : 测量设置

Load Result... : 装载测量结果 Save result as ... : 存储测量结果 Delete Result... : 删除测量结果 4) Configure ：常用功能设置

Minibar always onTop : 设置主菜单是可视还是隐藏 Language : 语言的选择（一般只可选汉语和德语） LED Display : 面板上告警指示灯设置是否可用

Kerborad Lock : 键盘锁定控制，按Ctrl’+‘TAB’+‘Esc’进行恢复 Delete result warning : 激活告警提示 5) Print : 打印，必须外挂打印机 6）help ：帮助菜单

1.3.2 测试时间设置

ANT-20E启动后， 选择主菜单Measurement子菜单中选择相应选项可进行测试起止时间的设置，也 可以选择手工方式或定时测试方式。选择Measurement菜单下的Measurement settings，可进行测试方式和起止时间的设置。 测试时仪表不允许改变设置和关闭计算机，需Stopped后方可执行，如要保存测试结果，可在Measurement菜单中选择相应选项即可。如图2-6所示。

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图2-6 ANT-20E SDH测试仪工作方式和起止时间设置

Manual为手动测试方式，通过手动START和STOP进行启动和停止操作，Timer为计时测试方式，根据设置的时间进行测试，计时完成后，自动停止测试。Current Date选项是设置当前时间，Gate Time是设置测量时间的。设置完成后，点击‘OK’选项，保存设置。

1.3.3 测试功能模块设置

ANT-20E SDH测试仪启动后，选中图2-5主界面中的Instruments菜单，点击Add&Remove子菜单，或者选择“ToolBar”菜单的

出这时候出来一个增减测试子项目“Add & Remove Instuments”的界面，如图2-7所示的界面。

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图2-7 ANT-20E SDH测试仪功能选项设置界面

上面有三个选项，根据你的测试进行选择；左下窗口会出现可用但未激活的功能模块（购买仪表时可根据实际的需要购买相应的测试功能模块），如

果你需要左边的如何一项，可以点中它，用鼠标按下“Add>>”按钮（或者双击），就将该功能模块激活了，完成后选择OK键，在桌面上

会弹出该功能模块的应用窗口（一个功能模块对应一个窗口）；如果你不

需要右边已经加入的测试子项目，可以点中它，用鼠标按下“<

如果对PDH和SDH进行测量的话，选“Physical Layer”，左下窗口会出现如下功能模块：

Anomaly/Defect Analyzer : 误码分析；

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Anomaly/Defect Insertion : 误码插入； Jitter Generator/Analyzer : 抖动产生和分析； Singal Structure ：信号结构设置； Overhead Generator ： 帧溢出产生 Overhead Analyzer ： 帧溢出分析 Pointer Generator ：指针产生 Pointer Analyzer ：指针分析 Performence Analyzer ：性能分析

如果仪表配置了ATM模块，选\，会出现如下功能模块： ATM Signal Analyzer ATM Background Generator ATM Traffic Analyzer

选“ATM Advanced”会出现如下功能模块： ATM Test Control ATM Test Result ATM Channel Explorer

不过，目前公司大部分的ANT-20E仪表，只有最新购买的ANT-20SE才有测试ATM业务的功能，对ATM业务的测试在这我们就不做介绍了。

注意：一般激活的窗口不要超过5项，激活相应的测试功能项后，在主菜单上会自动增加功能快捷键，可以通过选择主程序菜单上快捷建来切换不同的测试功能。

1.3.4 收发激光器设置

ANT-20E SDH测试的激光器类型一般有两种，一种为1550nm的激光器，另一种为1310nm的激光器。若购买时，只选购其中的一种，则只有一种类型的激光器。在Signal Structur菜单点击‘Laser’菜单，可设置激光器的打开和关闭。点击‘Interface’菜单，再点击‘Settings’，如下图2-8所示，可对TX和RX和激光器的打开、关闭和激光器类型进行设置。

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图2-8 ANT-20E SDH测试仪接口设置界面

显示的激光器参数对应数据结构对应，左边为发送激光器设置: Bit Rate:速率为2488.320 Mbit/s， Offset: 偏移量为0 ppm

Clock Source : 时钟源为Internal(仪表的内部时钟)，可以选exterl(仪表更总外部时钟)

Output : 输出信号形式为Electrical & optical（可自动识别） Code ： 编码方式为NRZ，缺省

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Level ：级别为 HIGH（高），缺省

Laser ：激光器为On（打开）， Off（关闭）

Wavelength ：波长为1307.71 nm ，一般有1310nm和1550nm的选择 Scrambler ：On为加扰，Off为解扰

注意：一般仪表一上电，相应的输出光口就会工作，输出口会发光，如果有输入光相应的光口的无光输入指示灯会灭，所以上电前一定确认输入光是否在允许输入的范围，否则会将仪表损坏。

1.3.5 Signal Structure(信号配置)

在测试前需要对ANT-20E的接收和发送数据结构进行设置，使测试仪启

动相应的接口进行指标和功能测试。

ANT-20E启动后， 选择主菜单Instrumens，如图2-9所示，也可点击相应的快捷

选

项

。

图2-9 ANT-20E SDH测试仪主菜单

选中主菜单项下的Signal Structure子菜单选项，并点击，出现如图2-9所示的数据结构设置 选项，显示的为最近一次设置的结构。

图2-10 数据结构设置选项

可以通过选择Singnal Structure窗口中的Edit菜单里的Singnal Structure 进行设置，点击快捷选项

，则出现如图2-11信号结构设置选项，

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图2-12 ANT-20E SDH测试仪数据结构设置选项

设置过程：点击‘Clear'选项，清除上次的设置，点击‘TX’选项，根据被测试的信号速率进行相应的设置，再点击‘TX=>RX’选项，使SDH测试仪的收发信号结构一致。也可根据收发速率的不同，分别进行TX和RX的设置。如：对TWC进行误码测试的数据结构设置，操作顺序：点击‘TX’选项--->选择‘ITU-T’--->选择‘Optical’--->选择‘STM-16’--->选择‘AU4’--->选择‘VC4’--->选择‘140M’--->选择‘Unfrm’--->选择‘PRBS23’--->选择‘TX=>RX’--->选择‘OK’，完成SDH测试仪的收发数据信号设置。

注意：数据结构设置选项不是每一项都可以进行选择的，根据购买时选购的硬件和软件模块来定，所以要测量某项指标前要确认仪表内是否能设置相应的数据结构，是否有测试该项的功能模块。

1.3.6 测量开始和终止

在主菜单靠中间位置有一交通灯模样的快捷按键

，完成仪表和要测的功

能项的测试配置后， 可点击该快捷键来启动测试，同时交通灯变成红色，

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图2-12 主菜单上交通灯图

旁边的空格里出现绿色的running字样，边上显示是运行的时间，左边是已运行的时间，右边是时间设置菜单中Gate Time所设置的时间。再次点击的时候交通灯变成绿色，表示测试停止；也可通过面板上的‘START’和‘STOP’键来完成。

在测试过程中，尤其是长时间的误码测试过程中，为避免人为的随意按动键盘和鼠标等误操作，导致测试仪的测试结果不正确，一般可设置键盘锁定工作方式，这时，随意按动键盘和鼠标，不影响测试仪的正常工作。

设置步骤：按图2-5显示的主菜单，点击‘Configure’菜单，再点击‘KeyboardLock’选项，按提示点击‘OK’，键盘和鼠标操作失效。选中后，一定要记住开锁的按键，一起按动‘Ctrl’+‘TAB’+‘Esc’三键，才能使键盘和鼠标恢复功能。

1.3.7 结果保存

保存分程序的设置保存和测试结果保存，保存的方法方法不一样，下面分开介绍。

1、保存程序设置

保存程序设置前先要停止程序运行，选择程序主菜单中“Application”菜单下的“save”项，存储窗口出现如下：

图2-13 ANT-20E的保存窗口

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在存储窗口的顶部可以选择存储在A盘还是C盘，在存储窗口中可以看到存储的日期和时间，RX/TX口的设置，在COMMENT栏输入存储的文件名，按下OK键。

2、保存测量结果

保存测量结果前先要停止程序的运行，选择程序主菜单中的“measure”菜单下的“Save Result as ...”项，在弹出来的存储菜单中选择驱动器，输入存储文件名，点击OK即可。

图2-14 ANT-20E保存窗口

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第二章

测试指导书

2.1 光输入口允许频偏

2.1.1 概念

光输入口允许频偏是用来规范光输入口能够无差错地接收一定频偏范围内的光信号，通常情况下，光发送信号的频率是在标称频率附近上下浮动，这就要求光输入口能够对这种偏差有一定的容忍能力，这个指标主要是测试接收机的锁相环能力，对光口输入频偏的允许能力。

2.1.2 测试方法

光输入口允许频偏的指标要求如下：

再生器的内部振荡器在自由运行方式下的长期频率稳定度不得劣于±20×10-6（20ppm），所以指标为±20ppm，适用于STM-1到STM-16信号的测试。

对光输入口的频偏测试步骤如下：

图3-1 测试方法

1） 按图3-1接好电路；

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2） 在SDH设备上配置一个支路上下业务，记下此业务的支路与光

路的通道编号对应关系；

3） 打开ANT-20E测试仪，选择“Signal Structure”菜单中的快捷键

，

弹出信号结构设置窗口，如图3-2所示。根据被测接口速率等级，设置发送和接收的信号结构，注意此时光发信号和光收信号是一对信号，要保持一致。

下面例子是设置收发都为STM-1/AU4/VC-12/2M Framed步聚：

图3-2 图编辑信号结构图

A) 在“Edit Signal Structure TX”窗口中选择Edit栏的TX选项； B）选择“Clear”选项；

C）选择“ITU-T”，“Normal”，“Optical”按键；

D）选择“STM1”、“AU4”、“VC12”、“2M”、“Framed”； E）选用223-1的伪随机序列（PRBS）信号。 F）选择TX=》RX； G）选择OK完成。

4） 用鼠标点出业务结构界面“Sigal Structure”，其界面如下图3-4：

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图3-4 ANT-20E的前面板

在“加入频偏”的地方加入频偏，这个用键盘不能输入数值，只能先选一个频偏，然后用“增减频偏按钮”进行增加或者减少输出频偏； 按照上面的方法，输入正频偏数值，看仪表有没有误码，继续增大正频偏，尽可能达到不出现误码时的极限，按下仪表的“START”按钮，测试1分钟，没有误码出现，则可以认为这是该单板能够容忍的正频偏，记录频偏值；同样测试负频偏。 注意：

在被测的SDH设备和分析仪上，要确保业务在设备和SDH分析仪上形成通路，可将相应的光或电接口上用自环验证。

在调整频偏时需要先停止测试，不能在测量的时候进行增大或减小。

设置的信号结构最好存储下来。 注意：

测试频偏过程中，在将对设备加的频偏从正的频偏到负的频偏或从负的频偏到正的频偏时，最好在0频偏点做一短暂停留，让设备适应后再做极性变化。

千兆以太网接口的输入口允许频偏为±100ppm。

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2.2 光口的输出抖动

2.2.1 概念

抖动是指数字脉冲信号的特定时刻(如最佳抽样时刻、判决时刻)相对于

其理想时间位置的短时间偏离。实际上也就是数字脉冲信号的实际有效时间相对于其理想标准时间位置的偏差，如下图所示。

图3-5 抖动信号示意图

抖动的单位为UI，所谓UI指光传送比特率的倒数：

STM-1：UI=155M=6.43ns； STM-4：UI=622M=1.61ns； STM-16：UI=2500M=0.40ns；

111输出抖动是抖动出现在网元输出端口的抖动量。测量的结果选测试过程中出现最大的抖动。SDH输出口输出抖动指标分为全频段（B1指

标）和高频段（B2指标）两个部分来规范。 输出抖动在各个频段的抖动幅度不同，抖动在低频部分的能量较大。抖动的测试选用带通或者高通滤波器来实现。 如果关闭测量用的滤波器，此时测试到的就是整个频率段的抖动值，即显示整个频段内抖动最大的那个频率的抖动值。 抖动指标如下：

等级 最大输出抖动峰峰值UIp-p 测量滤波器参数 1-22

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STM-1 STM-4 STM-16 B1 0.75 0.75 0.5

B2 0.15 0.15 0.15 f1（Hz） 500 1000 5000 f2（k） 65 250 1000 f3（M） 1.3 5 20 2.2.2 测试方法

STM-N光口输出抖动测试配置框图如图3-5所示：

图3-5 SDH设备STM-N口抖动产生测试配置

测试步骤如下：

1）按上图3-5连接电路，设置仪表收发的信号结构；

2）用鼠标点出业务结构界面“Sigal Structure”，将频偏设为0，不加输入抖动，

按照实际情况配置好收发信号结构；

3）点击快捷选项‘JIT’激活“Jitter Generator/Analyzer”功能模块，菜单如图3-6，在此界面下，通过不同的选择，可进行输出抖动、抖动容限和抖动传递特性的测试； 4）将鼠标移到“RX：Range”，即接收抖动的范围，有2UI和32UI两种，测试输出抖动时，选择2UI；

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4）按被测输出口速率等级，并依照指标表格要求，设置适当的测试滤波器（分别选择B1：HP1+LP；B2：HP2+LP），如测试STM-16的B1抖动设置为： “LP”选中其中的

“20M”，“HP”选中其中的“5kHz”，测试B2输出抖动时，HP高通滤波器的值选为

1MH；

5）按一下“STOP”按钮，再按一下“START”按钮，测试1分钟，读出测出的最大抖动峰—峰值。

说明：

其中测试结果表中，左边的为当前的抖动值，右边的为测试抖动的最大值，最上为峰—峰值，中间为正的峰值，最下为负的峰值。

在此界面下，通过不同的选择，可进行输出抖动、抖动容限和抖动传递特性的测试。

图3-7 抖动窗口

注意：

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在测量SDH设备的输出抖动时，ANT-20E输出信号不应加有抖动；测量时需要选择带通或者高通滤波器。

抖动是短期的，非累积性的偏离，偏离随时间变化较快（变化频率大于10Hz）的变化，有正偏，也有负偏，平均值为零，不是一直负偏或

一直正偏。

2.3 输入口的抖动容限

2.3.1 概念

抖动容限的定义为施加在输入STM-N信号上能使光设备产生1dB光功率代价的正弦抖动峰-峰值。输入抖动容限的测试，要求设备输入口能承

受输入信号的各个频率点加的抖动幅度均能满足指标。

该指标测试中需要注意的要点有： 测试结果不显示具体值，只显示OK。 如果仪表有告警，无法进行测试。

对于此项功能，一般仪表具有自动测试的功能，仪表自动选择测试的频率点，增加抖动幅度进行自动测试，且能打印测试结果的功能。在工程中，条件允许时建议使用自动测试功能。

人工（手动）测试时，信号发送器的抖动频率和幅度需要人工设置。选择测试的频率点，增加抖动幅度，直到仪表出现误码。人工测试时，通常选择拐点的频点进行测试。

指标是测试的设备输出抖动必须满足G.958的模板，模板参数如下：

STM-N level STM-1 STM-4 STM-16 (kHz) 0065 0250 1000 0 (kHz) 000 6.5 125 100 A1 (UIp-p) 0.15 0.15 0.15 A2 (UIp-p) 1.5 1.5 1.5 模板如下：

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图3-8 G.958抖动模板

2.3.2 测试方法

测试连接框图如图1-4所示：

图3-9 SDH设备STM-N输入口抖动容限测试配置

光输入口的抖动容限测试步骤如下：

1） 按图 1-4连接电路。

2）鼠标点出业务结构界面“Sigal Structure”，按照实际情况配置好业

务。在SDH设备上配置一个支路上下业务。

3）点击图2-5中所示的

这两个选项中一个，进入抖动容限的测试，

FMTJ是快速测试，MTJ是正常速度的测试。快速测试时，其测试的频率点比正常速度测试时的频率点要少，如图3-10所示：

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图3-10 抖动传函窗口

如果要出现抖动容限图形界面，则可以用鼠标点中抖动容限图形按钮，起位置如下图：

图3-11 抖动传函菜单

如果需要修改表中的测试点的数值，则将鼠标点中这个界面的“Setting”，选中下拉采单的“MTJ”选项，则可以进入修改测试点的界面，左边为测试点的频率数值，右边为抖动容限模板数值（正常情况下不需要改动模板的数值），根据局方的要求，更改测试点的频率数值；当然也可以用仪表的默认测试数据进行测试，用鼠标点中左边的“Default”，则可以恢复仪表的测试点的默认数据，用鼠标点中右边的“Default”，则可以恢复仪表的模板的默认数据；改

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完数据后，点中“OK”，则更改的数据开始有效，修改测试点的界面自行消失。

4）设置检测的误码种类，为TSE或B1或B2等，一般选择B1、B2或TSE等，并设置检测的限值，一般为1个，再设置相应的时间，设置完成后，点击

选项，进行自动测试，界面中出现“RUNNING”，测试完成

后，测试仪会自动停止测试，“RUNNING”消失，

这两个选项，一

个是表格内显示数字值，表格输出结果应该都大于模板规定的值；另一个显示的是图形值，测试点的结果应该全部在模板上。

2.4 设备的抖动传函

2.4.1 概念

抖动传递特性定义为输出STM-N信号的抖动与所加输入STM-N信号的抖动的比值随频率变化的关系，有关抖动传递特性的规范只适用于SDH再生器。抖动传递特性是表明再生器对抖动的抑制能力。 该项测试主要对波分设备中OTU单元进行测试，包括622M和2.5G的。

指标要求：满足G.958的模版要求。

表6-11 抖动传递特性指标

STM等级 STM-16(A) fc(kHz) 2000 0.1 P(dB)

G.958的模板如下；

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图3-12 抖动传递特性原理图

2.4.2 测试方法

测试连接框图如图3-12： 测试抖动传递特性的步骤如下

1) 按图连接好测试配置，收发都要加衰减器；

2) 鼠标点出业务结构界面“Sigal Structure”，按照实际情况配置好业务。 3）用鼠标点出测试抖动的界面“Jitter Generator/Analyzer”，在这个界面中，用鼠

标点中界面中的小按钮“JTF”，这时弹出抖动传函测试界面，如图所示。

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图3-13 抖动传函窗口

4）设置RX：Range选项，接收抖动范围，有32UI和2UI两种选择，一般选32UI，并设置时间。点击

选项，进行测试。点击后，会出现提示对话框，‘收发自环

进行校准测试’，收发环回的时候一定要在中间加衰减器，校准需要花3~4分

钟，再点击‘OK’选项。校准测试完成后，会给出连接被测设备的提示，断开自环，连

接被测设备，再点击‘OK’选项，进行抖动传递特性的测试，界面中出现

“RUNNING”，当测试结束后，“RUNNING”消失，表格输出结果应该都小于模板规定的值，在图形结果输出中，测试点的结果应该全部在模板下。

注意：

ANT-20E测试抖动传递特性时，每一次测试都需收发自环进行校

准。

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2.5 误码测试

2.5.1 概念

误码特性测试是对整个传输网业务长期稳定运行工作性能的一项测试，提供给用户的业务接入点（即155M电接口）为测试点。 光口和电口的误码测试方法一样，不同的只是信号结构不一样，在这里我们以STM-16为例进行光口信号的误码测试。 指标：24小时无误码。

2.5.2 测试方法

STM-16光接口误码测试连接图如图所示：

图3-14 测试配置

光口和电口的误码测试步聚：

1） 如图2所示，连接好设备；

2）选择顶级菜单Instrumens，激活“Anomaly/Defect Analyzer”功能模

块，“ToolBar”快捷栏会出现选项；

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3）点中Signal Structure，编辑信号结构为STM－16光发光收，在VC4

级别停止解复用，即选中BULK，选用223-1的伪随机序列（PRBS）信号，如下图示

图3-15 信号设置

确认无误后选中TX＝RX，点中OK，仪表即修改为你选中的设置。此时如连接无误，仪表应无告警。

4）点击

选项，进入误码测试界面，如下图3-16：

5）点击选项，进行测试。通过不同的选项设置，测试结果值

有不同的显示方式，可显示图形、数字等。通过设置，使SDH测试仪只检测部分类别误码，一般设置为全‘ALL’状。

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图3-16 抖动窗口

（注意：

ANT-20E仪表前面板上有告警、误码指示灯，我们也可以通过指示灯观察到误码的情况，如果24小时的测试过程中出现误码，历史指示灯会亮。如果

当前有误码，则当前和历史告警指示灯都会亮。

测试的过程中，最好将键盘锁定，以免长时间的测试中断。

2.6 映射抖动

2.6.1 概念

支路映射抖动是为了恢复支路信号，在SDH/PDH边界，需要去掉塞入比特和通道开销，从而留下了空隙，引入抖动和漂移。 指标：

PDH接口 比特率容差范围 映射抖动 F1~F4F3~F4滤波器特性 F1高通 F3高通 F4低通 1-33

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〔UI〕 2M 34M 140M 〔UI〕 0.075 0.075 0.075 20Hz 200Hz 200Hz 18kHz 10kHz 10kHz 100kHz 800kHz 3500k ±50 ±20 ±15 0.4 0.4 0.4 2.6.2 测试方法

测试连接图

测试步聚如下：

1）按照测试配置图接好电路

2）先打开“ANT20－UNTITLED”窗口，选择“INSTRUMENT”菜单，选

图3-17 测试配置

择“SIGNAL STRUCTURE”和“JITTER GENERATOR/ANALYZER”两个选项。

3）利用网管将被测试系统进行配置，把业务配在被测试的端口。

将SDH分析仪设置为相应的接口速率；在桌面上打开“SIGNAL

STRUCTURE”窗口，选择“EDIT”菜单，选择“SIGNAL STRUCTURE”选

项，会进入“EDIT SIGNAL STRUCTURE”窗口，先按下“TX”按钮，选择合适的线路信号结构。再按下“RX”按钮，选择合适的支路信号结

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构，选择好后，观察SDH分析仪告警和误码情况〔应无任何误码和告警〕，待系统稳定几分钟后开始测试。〔此时的仪表应是线路发，支路收。信号结构应不同〕

4）打开“JIT”窗口，即可看到输出抖动，选择合适的LP和HP滤波

器，按下“START”按钮，开始测试，

5）打开“PDH GENERATOR/ANALYZER”窗口，在“TX”选项中的

“OFFSET”选项可以调整发送的频偏值〔与ANT20不同此时加的频偏是在支路上加的频偏〕。通常选取±5ppm，±10ppm，±15ppm……重复上一步骤，将得到不同频偏的一组抖动数据；在这组数据中在某个特定的频偏下，抖动会较大，进一步在特定频偏附近以较小的频偏步阶例如1ppm，重复上一步骤，留意找到最大的映射抖动。记录数据；

2.7 结合抖动

2.7.1 概念

由于指针调整是按单字节为单位或3字节为单位进行调整的，因而这种相位跃变会在SDH/PDH边界处产生可观的抖动和漂移。 指标：

PDH接口(kb/s) 比特率容差范围(ppm) 结合抖动 测试序列参数 f1~f4 UI〔p-p〕 f3~f4 UI〔p-p〕 d / 0.75 0.75 a 0.075 0.075 0.075 b 0.075 0.075 0.075 c 0.075 0.075 0.075 d / 0.075 0.075 T1 (S) T2 (ms) T3 (ms) 2,048 34,368 139,264 ±50 ±20 ±15 a 0.4 0.4 0.4 b 0.4 0.4 0.4 c 0.4 0.4 0.4 >=10 >=10 >=10 750 34 34 2 0.5 0.5 1-35

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测试用指针序列a、b、c、d分别定义如下：

a－极性相反的单指针； b－规则指针加一个双指针； c－漏掉一个指针的规则单指针； d－极性相反的双指针。

下面以2M信号为例，解释各个指针序列的定义：

a指针序列：比如说目前的指针值为522相隔T1时间后将指针值减一即为521，

再相隔T1时间后将指针值在加一即为522，就这样循环往复就形成了指针序列

a。

b指针序列：比如说目前的指针值为522相隔T2时间后将指针值加一即为523，

再相隔T2时间后将指针值加一即为524，如此循环4次后再隔T3的时间将指针值加一。就这样按照四个T2加一个T3为一个循环周期，循环往复就形成了指针序列b。

c指针序列：比如说目前的指针值为522相隔T2时间后将指针值加一即为523，

再相隔T2时间后将指针值加一即为524，如此循环4次后再隔T2的时间指针值不变。就这样按照五个T2为一个循环周期，循环往复就形成了指针序列c。

d指针序列：比如说目前的指针值为522相隔T3时间后将指针值加一即为523，

再相隔T1时间后将指针值减一即为522，再相隔一个T3时间后将指针值加一即

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为523，再相隔一个T1时间后将指针值加一即为524。就这样以两个T1加T3为周期，循环往复就形成了指针序列d。

2.7.2测试配置图

1) 按测试配置图接好电路；

2)选择“INSTRUMENTS”下拉式菜单，在此菜单中选择

图3-18 测试配置

“ADD&REMOVE”选项，此时会进入“ADD&REMOVE INSTRUMENT”窗口，在“INSTRUMENTS GROUPS”窗口中选择“1：PHYSICAL

LAYER”，在“INSTRUMENTS AVAILABLE”所提供的选项中选择“0：SIGNAL STRUCTURE”“1：JITTER GENERATOR/ANALYZER”“1：PDH GENERATOR/ANALYZER”“1：POINTER GENERATOR”几项。

3) 利用网管将被测试系统进行配置，把业务配在被测试的端口。将SDH分析仪设置为相应的接口速率；在桌面上打开“SIGNAL STRUCTURE”窗口，选择“EDIT”菜单，选择“SIGNAL STRUCTURE”选

项，会进入“EDIT SIGNAL STRUCTURE－TX”窗口，选择合适的信号结构。选择好后，再点击此窗口的“RX”按钮，选择合适的信号结构，观察SDH分析仪告警和误码情况〔应无任何误码和告警〕，待系统稳定几分钟后开始测试。

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4）选择四种指针调整测试序列之一，同时按PDH支路输出口速率等级，并依照指标定义的规定设置指针序列参数T1，T2，T3；〔这里ANT20E并没有直接给出这四种指针，所以只能自己将各种指针结合起来组成这四种指针。 具体方法如下：

对于a极性相反的单指针序列：先打开“POINTER GENERATOR”设置窗口，在“UNIT”下拉菜单中选择“SECOND”，在此窗口下的“TU POINTER”选项中选择“INC/DEC”选项，在“N”的选项中选择“1”，“T1/S”中选择“10”，在“MODE”的选项中选择“CONT”，设置“T4”为“20”。按下“TU ON”按钮即把指针加入到信号中。

对于b规则的单指针加一个双指针序列： 先打开“POINTER GENERATOR”设置窗口，在“UNIT”下拉菜单中选择“MILLISECOND”在此窗口下的“TU POINTER”选项中选择“INC”选项，在“N”的选项中选择“4”，“T2/MS”中选择相应的比特速率规定的数值〔例如2M速率为750ms〕。在“ADD〔INC，DEC〕”中打“√”设置“T3/MS”为相应的比特速率规定的数值〔例如2M速率为2ms〕。 在“MODE”的选项中选择“CONT”，设置“T4/MS”为“3000”。按下“TU ON”按钮即把指针加入到信号中。

对于c漏一个指针的规则单指针序列： 先打开“POINTER GENERATOR”设置窗口，在“UNIT”下拉菜单中选择“MILLISECOND”在此窗口下的“TU POINTER”选项中选择“INC”选项，在“N”的选项中选择“4”，“T2/MS”中选择相应的比特速率规定的数值〔例如2M速率为750ms〕。在“CANCEL〔INC，DEC〕”中打“√”设置“T5/MS”为3倍T2的值〔若为2M速率为2250ms〕。 在“MODE”的选项中选择“CONT”，设置“T4/MS”为“3000”。按下“TU ON”按钮即把指针加入到信号中。 对于d极性相反的双指针序列： 先打开“POINTER GENERATOR”设置窗口，在“UNIT”下拉菜单中选择“MILLISECOND”在此窗口下的“TU POINTER”选项中选择“INC/DEC”选项，在“N”的选项中选择“2”，“T1/MS”中选择“10000”，“T2/MS”中选择相应速率的T3的值，〔例如2M信号即为2ms。在“MODE”的选项中选择“CONT”，设置“T4/MS”为“20000”。按下“TU ON”按钮即把指针加入到信号中。 5）SDH分析仪在PDH支路输出口连续进行不少于120秒的测试，读

出抖动峰峰值的最大值；打开“JITTER GENERATOR/ANALYZER”窗口即可读出抖动的峰峰值。

6）在SDH分析仪发送侧加一定的频偏，通常选取±5ppm，±10ppm，

±15ppm……重复上一步骤，将得到不同频偏的一组抖动数据；在这组数据中在某个特定的频偏下，抖动会较大，进一步在特定频偏附近以较小的频偏步阶例如1ppm，重复上一步骤，留意找到最大的结合抖动。记录数据；打开“PDH GENERATOR/ANALYZER”窗口，在“TX”选项中的“OFFSET”选项可以调整发送的频偏值。

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本文来源：https://www.bwwdw.com/article/9mo5.html