电子元器件培训资料

供电子或家电生产工厂的品质或生产人员了解

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外形特點:

a.DIP封裝: 傳統相機中DIP封袋之金屬膜電阻最廣泛，多為1/4W。

本体:金屬膜電阻本体為淺黃色;碳膜電阻為淺灰色呈圓筒狀，是用陶瓷或水泥制作而成。 引腳:固定電阻器只有二根引出腳;可調電阻器只有三根引出腳，是用合金屬制作而成。 色環:一般電阻只有四個色環，精密電阻有五個色環，是用10種彩色印刷而成。 b.SMD封裝: 數碼和傳統相機中全是SMD封裝之金屬膜電阻，多為1625型。 本体:金屬膜電阻本体為黑色;碳膜電阻為藍綠色呈長方体狀,是用陶瓷制成.

電極:用鎳鉻合金鍍銀以後包裹本体兩端並與引出線導通,若焊接時間≧5sec易脫或斷裂. 阻值:其電阻值直接印刷在本体正面(有顏色那面),背面呈白色. Ⅱ電容器

概念:電容器是電子產品中最常用電子器件之一,它是由兩塊正對的金屬極板間注入絕緣介質(如:紙`空氣`電解液)

而構成.

作用:顧名思義電容器具有容納(貯存)電場(電壓`電荷)的作用. 電氣符號: 外形特點:

或 用C表示,單位為法拉(用F表示),單位換算有:1F=10uF=10Nf=10PF

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a.DIP封裝: 傳統相機中DIP封裝之鋁電解電容器最廣泛(如:大電容)

b.SMD封裝: 傳統和數碼相機中均有SMD CAP,多為1625型 Ⅲ電感器

概念:電感器是電子產品(特別是高頻電子產品)中最常用之電子器件之一,它是由磁芯或其它導磁材料作介質,漆包

銅線作導磁線圈與磁芯繞制而成.

作用:具有容納(貯存)磁場(電流.電勢)及產生感生電流,電壓的作用. 電氣符號: 外形特點:

或 用L表示,單位為亨利用H表示.單位換算有1H=10mH=10mH

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a.DIP封裝: 傳統和數螞相機中用變壓器.觸發線圈等

b.SMD封裝: 數碼相機中多用SMD電感作電源及視頻雜訊濾波. Ⅳ晶体二極管

概念:晶体二極管是具有兩個正負電極一個PN結的半導体器件.

作用:具有單向導電特性,即電流只能從正極輸入,負極輸出,可用來整流穩壓等.

電氣符號:

用D表示

外形特點:

a.DIP封袋: 相機中用作整流.穩壓.指示燈等.

b.SMD封袋: 數碼相機中常用作穩壓.整流等. Ⅴ晶体三極管

概念:晶体三極管是具有三個電極(基極.集電極.發射極)兩個 作用:具有信號放大和開關作用.(如:AE.AF

PN的結半導体器件.

開關三極管.音頻放大管等)

電氣符號: 外形特點:

用Q.BG.V.T表示

a.DIP封袋: 傳統相機中作振蕩.開關等

b.SMD封袋: 數碼和傳統相機中用作開關.驅動等

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四.作業重點:

本公司相機產業已從機電一体化轉向數字一体化,日後之作業中我們面臨的重要問題---超小型.超集成電子器件之裝

配.維修技術.

DIP.SMD通用元器件參數讀取是每位作業人員所必須掌握,才能保證Rework&Repair不致手忙腳亂,無從下手.

第三章:電子元器件功能測試

一.測試工具 萬用表: a.指針式萬用表 b.數字式萬用表 示波器: a.模擬示波器 b.數字暫態示波器 c.數字實時示波器 頻譜分析儀:

用來分析高低頻及微波器体的輸入.輸出特性.

二.測試方法

DIP&SMD

封袋測試方法相同.

測試前須檢查測試棒絕緣性能及調“0”,方法為:將正負極表筆短路調整歸零鈕使指針歸零復位,數字萬用表不用調

“0”. Ⅰ電阻器

檔位選擇:用萬用表(指針.數字均可)檔位鈕調到電阻測試區1KΩ檔(具体視被測電阻阻值而定,以測試檔阻值大於

被測阻值為原則)

參數讀取:被測電阻阻值等於指針所指數(數字萬用表可由BLCD直接顯示)乘以檔位數.

例如:指針所指數為4.7,檔位為1KΩ→被測電阻阻值為4.7*1K=4.7KΩ

功能測試:若檔位選1MΩ指針始於指向無窮大則被測電阻開路,電阻一般不會短路.

Ⅱ電容器

功能測試:

a.指針萬用表無法測出電容器準確電容量,用電阻區10Ω檔只能測電容器充放電功能.

b.若指針右偏後不向左偏或偏到中間停止說明電容器擊穿短路或漏電,漏電大小與指針停留位置到無窮大距離成正比. 參數測試:

a.用電容阻抗測試儀或具有電容測試功能之數字萬用表可測電容器精密電容量.

b.方法:將電容器插進萬用表CX插座(SMD封裝須從插座引出線連接),檔位鈕拔到電容測試區相應檔位. c.被測電容容量由電容阻抗測試儀或數字萬用表直接顯示讀取.

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例如:BLCD顯示4.7而檔位設在20UF.則CX=4.7UF

LENON 麗能(遠東)工業有限公司

Ⅲ電感器

功能測試:

a.指針萬用表無法測出電感器準確電感量,用電阻區10Ω檔只能測電感器開路與短路. b.若指針左偏到無窮大說明此電感器已開路;若右偏到零說明此電感器已匝間擊穿短路. 參數測試:

a.用電感阻抗測試器或具有電感測試功能之數字萬用表可測電感器精確電感量.

b.將電感器插進萬用表LX插座(SMD封裝須從插座引出線連接),檔位鈕拔到電感測試區相應檔位. c.被測電感感量由電感阻抗測試儀或數字萬用表直接顯示讀取.

例如:BLCD顯示250而檔位設在500mH,則LX=250mH

Ⅳ晶体二極管

功能測試:

a.用指針萬用表電阻區1KΩ檔(數字萬用表用晶体管測試檔“ ”) b.用紅表筆與二極管負極連接,黑表筆與二極管正極連接(數字表相反).

c.若指針指到4KΩ(數字表BLCD顯示0.85)即為良品;若指到無窮大或零說明管子開路或擊穿短路. 參數測試:

a.晶体二極管參數由正向導通特性曲線表示,其中可以讀出二極管最大反向電壓,最大反向電流及反向漏電流等參數.

b.測試儀器須用示波器及二極管測試電路(整流&穩壓均可). c.參數測試將涉及到電子學更深層研究此略,只須掌握功能判斷即可. Ⅴ 晶体三極管 功能測試: a.與Ⅳa相同

b.用紅.黑表筆分別交替與b.c.e三電極連接,若指針兩次指到5KΩ(數字表BLCD顯示0.75)即為良品,若指到無窮大或零說明管子開路或擊穿短路(一般多為擊穿). 參數測試:

a.晶体三極管參數由三極管輸出特性曲線表示,其中可以讀出三極管Q點電壓.截止電壓.飽和電壓,可以算出電流.電壓放大倍數以及靜態工作點電壓.電流等等. b.放大倍數測試:用具有三極管β值測試功能之數字數字萬用表選用hFE檔位;用三極管三個電極按相應位置插進測試孔,由BLCD顯示β值直接讀出即可. c.其它參數測試將涉及到電子學更深層研究此略,只須掌握功能判斷及β值測試即可.

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