统计过程控制(SPC)之不良数控制图的使用及建立

统计过程控制（SPC）之不良数控制图的使用及建立

定义/说明/要求/目的：

不良数（np）控制图是计数控制图，用来度量检验中不合格品数的一个控制图。 在样本n不变的场合，用np控制图代替p控制图示可以的。

控制限是基于近似的正态分布，故使用的样本容量应该使np?5。

检查表：

编号 1 2 3 4 5 6 7 8 9 不良数控制图建立步骤 不良数控制图的使用场合 检查内容 控制对象是不良品的件数。说明：一般情况下，合格的实际数量比不合格率更有意义或更容易报告 各阶段子组的样本容量（n）必须相同 适用于产品批零大，加工过程稳定的情况 np图为计数值，分布为二项分布 步骤一：选择子组容量。说明：子组容量需要一致 步骤二：确定分组频率 一般使用全检数据而非抽样数据进行控制 控制图的子组时间间隔不可过大 步骤三：确定子组的数量。说明：一般情况下，应包括25个或更多的子组，以便很好地检验过程的稳定性 步骤四：计算单单值：npi；n=被检零件的数量，np=所发现不合格品的数值和单值的均值 量 单值的均值：np?步骤五：计算控制界限 np1?np2?...?npk；k=子组的数量 k10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 不良数图控制界限的更新 不良数控制图的一般判定结果 不良数控制图的使用例子 中心线： CLnp?np 控制上限： UCLnp?np?3np(1?p) 控制下限：LCLnp?np?3np(1?p) 首次合格(FTQ)结果 不合格品的数量 合格品的数量 在临界值以上（或以下）产品的数量 在特定分类中的产品数量 在临界值以上（或以下）产品的数量 某事件发生的次数 进行初始过程研究时 对过程能力进行重新评价时，现有过程出现失误 样本容量改变时 工艺流程发生变化时 对过程的普通原因进行改善后

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