晶体缺陷
更新时间:2023-11-11 00:59:01 阅读量: 教育文库 文档下载
2 晶体缺陷,固溶体合章
1、 说明下列符号的含义:
VNa,VNa’,VCl?,.(VNa’VCl?),CaK?,CaCa,Cai??
解:钠原子空位;钠离子空位,带一个单位负电荷;氯离子空位,带一个单位正电荷;最邻近的Na+空位、Cl-空位形成的缔合中心;Ca2+占据K.位置,带一个单位正电荷;Ca原子位于Ca原子位置上;Ca2+处于晶格间隙位置。 2、写出下列缺陷反应式:
(1)NaCl溶入CaCl2中形成空位型固溶体; (2)CaCl2溶人NaC1中形成空位型固溶体; (3)NaCl形成肖脱基缺陷;
(4)AgI形成弗仑克尔缺陷(Ag+进入间隙)。 解:(1)NaCl(2)CaCl2
NaCa’+ ClCl + VCl· CaNa· + 2ClCl + VNa’
(3)O?VNa’ + VCl·
(4)AgAg?VAg’ + Agi·
3、 弗仑克尔缺陷:晶体内部质点由于热起伏的影响,质点从正常位置位移到晶体内部的间隙位置上,正常位置上出现空位。
4、 什么是肖特基缺陷、弗兰克尔缺陷?他们属于何种缺陷,发生缺陷时位置数是否发生变化?
答:肖特基缺陷:晶体的结构基元,从正常的结点位置上位移到晶体的表面而正常位置上出现了空位,这种缺陷即是。位置数增殖,体积增大。 弗兰克尔缺陷:晶体结构中的结构基元,从正常的结点位置上位移到晶体的间隙位置上,而正常位置上出现了空位,这种缺陷即是。位置数不增殖,体积不增大。 5、 什么是非化学计量化合物:化合物原子数量的比例,不符合定比定律,即非简单的固定比例关系。
6、 ZrO2中加入Y2O3形成置换固溶体,写出缺陷反应式?
答:Y2O3 -(2ZrO2)-> 2Yzr‘+3Oo+Vo,Y2O3 -(2ZrO2)-> 2YZr3++2e+3Oo+Vo。。 7、 试写出少量MgO掺杂到Al2O3中和少量YF3掺杂到CaF2中的缺陷方程。(a)判断方程的合理性。(b)写出每一方程对应的固溶式。 解: 3MgO2MgOYF32YF3
?22
?+ +3OO (1)
+2OO (2)
+
YCa +Fi+2FF (3) 2YCa +
?+6FF (4)
(a)书写缺陷方程首先考虑电价平衡,如方程(1)和(4)。在不等价置换时,3Mg2+ →2Al3+ ;2Y3+ →3Ca2+。这样即可写出一组缺陷方程。其次考虑不等价离子等量置换,如方程(2)和(3)2Mg2+ →2Al3+ ;Y3+ →Ca2+。这样又可写出一组缺陷方程。在这两组方程中,从结晶化学的晶体稳定性考虑,在离子晶体中除
1
萤石型晶体结构可以产生间隙型固溶体以外,由于离子晶体中阴离子紧密堆积,间隙阴离子或阳离子都会破坏晶体的稳定性。因而间隙型缺陷在离子晶体中(除萤石型)较少见。上述四个方程以(2)和(3)较合理。当然正确的判断必须用固溶体密度测定法来决定。 (b)(1)
(2)
(3) (4)
8、 试写出以下缺陷方程(每组写出二种),并判断是否可以成立,同时简单说明理由。 (1)
解:1、(1) A、 B、
(2)
(3)
两种缺陷反应方程式为:
其中A可以成立,因为NaCl型的MgO晶体,只有较小的四面体空隙未被阳离子占据,Al3+离子填隙会破坏晶体的稳定性。 (2) A、 B、
两种缺陷反应方程式为:
A、B两种都可能成立,其中在较低温度下,以A方式固溶;在高温下(>1800℃),以B方式固溶。因为ZrO2为萤石型结构,在高温下具有较大的立方体和八面体空隙,能够形成填隙型缺陷。 (3) A、 B、
两种缺陷反应方程式为:
A可能性较大。因萤石晶体中存较多的八面体空隙,F-离子半径较小,形成填隙型固溶体比较稳定。 9、 试述晶体结构中点缺陷的类型。以通用的表示法写出晶体中各种点缺陷的表示符号。试举例写出CaCl2中Ca2+置换KCl中K+或进入到KCl间隙中去的两种点缺陷反应表示式。
解:晶体结构中的点缺陷类型共分:间隙原子、空位和杂质原子等三种。在MX晶体中,间隙原子的表示符号为MI或XI;空位缺陷的表示符号为:VM或VX。如果进入MX晶体的杂质原子是A,则其表示符号可写成:AM或AX(取代式)
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以及Ai(间隙式)。
当CaCl2中Ca2+置换KCl中K+而出现点缺陷,其缺陷反应式如下: CaCl2
++2ClCl
CaCl2中Ca2+进入到KCl间隙中而形成点缺陷的反应式为: CaCl2
+2
+2ClCl
10、在缺陷反应方程式中,所谓位置平衡、电中性、质量平衡是指什么? 解:位置平衡是指在化合物MaXb中,M格点数与X格点数保持正确的比例关系,即M:X=a:b。电中性是指在方程式两边应具有相同的有效电荷。质量平衡是指方程式两边应保持物质质量的守恒。 11、TiO2-x和Fe1-xO分别为具有阴离子空位和阳离子空位的非化学计量化合物。试说明其导电率和密度随氧分压PO2变化的规律。(以缺陷方程帮助说明) (1)TiO2-x的缺陷反应方程为:
根据质量守恒定律可得 ,故其密度随氧分压增加而增加,而电导率随氧分压的增加而减小,与氧分压的1/6次方成反比。 (2)Fe1-xO缺陷反应方程式为:
根据质量守恒定律可得 ,故其密度随氧分压增加而下降,而电导率随氧分压的增加而增加,与氧分压的1/6次方成正比。
12、 晶体结构中的热缺陷有 (A) 和 (B) 二类。 (A)肖特基缺陷,(B)弗伦克尔缺陷
13、当MgO加入到ZrO2晶格中形成固溶体时,试写出其缺陷反应方程式和对应的固溶式。
MgO加入到ZrO2晶格中形成固溶体时,其缺陷反应方程和对应的固溶式如下: (1)低温: , (2)高温: ,
14、对某晶体的缺陷测定生成能为84KJ/mol,计算该晶体在1000K和1500K时的缺陷浓度。
解:根据热缺陷浓度公式: exp(-)
由题意 △G=84KJ/mol=84000J/mol 则 exp() 其中R=8.314J/mol·K 当T1=1000K时,
exp(
)= exp
=6.4×10-3
当T2=1500K时, exp()= exp=3.45×10-2
15、试写出在下列二种情况,生成什么缺陷?缺陷浓度是多少?(a)在Al2O3中,添加0.01mol%的Cr2O3,生成淡红宝石(b)在Al2O3中,添加0.5mol%
3
的NiO,生成黄宝石。
解:(a)在Al2O3中,添加0.01mol%的Cr2O3,生成淡红宝石的缺陷反应式为: Cr2O3
=0.004%=4×10-3 %
生成置换式杂质原子点缺陷。其缺陷浓度为:0.01%×
(b)当添加0.5mol%的NiO在Al2O3中,生成黄宝石的缺陷反应式为: 2NiO
+
+2OO
=0.3 %
生成置换式的空位点缺陷。其缺陷浓度为:0.5%×
16、 非化学计量缺陷的浓度与周围气氛的性质、压力大小相关,如果增大周围氧气的分压,非化学计量化合物Fe1-xO及Zn1+xO的密度将发生怎样变化?增大?减少?为什么?
解:(a)非化学计量化合物Fe1-xO,是由于正离子空位,引起负离子过剩:
按质量作用定律,平衡常数
K=
由此可得 [V]﹠ po21/6
即:铁空位的浓度和氧分压的1/6次方成正比,故当周围分压增大时,铁空位浓度增加,晶体质量减小,则Fe1-xO的密度也将减小。
(b)非化学计量化合物Zn1+xO,由于正离子填隙,使金属离子过剩:
根据质量作用定律 K=[得 [
] [e′]2]?po2?1/6
即:间隙离子的浓度与氧分压的1/6次方成反比,故增大周围氧分压,间隙离子浓度减小,晶体质量减小,则Zn1+xO的密度也将减小。
17、 非化学计量氧化物TiO2-x的制备强烈依赖于氧分压和温度:(a)试列出其缺陷反应式。(b)求其缺陷浓度表达式。
解:非化学计量氧化物TiO2-x,其晶格缺陷属于负离子缺位而使金属离子过剩的类型。
(a)缺陷反应式为: 2Ti Ti?/FONT>1O2↑→2
2++3OO
4
1O2↑ 2(b)缺陷浓度表达式:
OO→+2e′+
[ V]?
18、(a)在MgO晶体中,肖特基缺陷的生成能为6ev,计算在25℃和1600℃时热缺陷的浓度。 (b)如果MgO晶体中,含有百万分之一mol的Al2O3杂质,则在1600℃时,MgO晶体中是热缺陷占优势还是杂质缺陷占优势?说明原因。 解:(a)根据热缺陷浓度公式:
exp(-)
由题意 △G=6ev=6×1.602×10-19=9.612×10-19J K=1.38×10-23 J/K
T1=25+273=298K T2=1600+273=1873K 298K:
exp
=1.92×10-51
1873K: exp=8×10-9
(b)在MgO中加入百万分之一的Al2O3杂质,缺陷反应方程为:
此时产生的缺陷为[ ]杂质。
]杂质
而由上式可知:[Al2O3]=[
∴当加入10-6 Al2O3时,杂质缺陷的浓度为 [
]杂质=[Al2O3]=10-6
]热=8×10-9
由(a)计算结果可知:在1873 K,[显然: [
]杂质>[
]热,所以在1873 K时杂质缺陷占优势。
19、、MgO的密度是3.58克/厘米3,其晶格参数是0.42nm,计算单位晶胞MgO的肖脱基缺陷数。
解:设有缺陷的MgO晶胞的晶胞分子数为x,晶胞体积V=(4.20)3,x=ρVN0/M=3.96,单位晶胞的肖脱基缺陷数=4-x=0.04。 20、MgO晶体的肖特基缺陷生成能为84kJ/mol,计算该晶体在1000K和1500K的缺陷浓度。
解:n/N=exp(-E/2RT),R=8.314,T=1000k:n/N=6.4×10-3;T=1500k:n/N=3.5×10-2。
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