实验四 线阵CCD特性测试实验 - 图文
更新时间:2023-11-29 12:20:01 阅读量: 教育文库 文档下载
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物理与电子信息学院——电子信息实验技术
光电成像器件实验报告
实验题目 姓名 杨智超 实验二 线阵CCD特性测试实验 组别 双2 班级 13光电子班 日期 学号 2016.6.1 134090340 【实验目的】 通过对典型线阵CCD在不同驱动频率和不同积分情况下输出信号的测量,进一步掌握CCD的有关特性,掌握积分时间的意义,以及驱动频率与积分时间对CCD输出信号的影响。 【实验器材】 光电技术创新综合实验平台 1台双踪同步示波器(20MHz以上)1台 线阵CCD模块 1块连接导线 若干 光源特性测量模块 1块CCD光路组件 1套 航空插座连接线 1根 【实验原理】 两相线阵CCD电荷传输原理示意图如图1所示: 图1 两相线阵CCD电荷传输原理示意图 每一相有两个电极(即原理中的一个CCD转移寄存器的MOS电容实际中用两个),这两个电极与半导体衬底间的绝缘体厚度不同,在同一外加电压下产生两个不同深度的势井,绝缘体薄的那个MOS电容比绝缘体厚的那个MOS电容势井深,只要不是过多的电荷引入,电荷总是存于右边那个势井。图b显示了相位相差180O的驱动脉冲Φ1为高电位,Φ2为低电位时MOS电容的势井深度及电荷存储情况。图c表示Φ1和Φ2电位相等时的情况,这时电荷还不能移动;图d显示了Φ1为低电位,Φ2为高电位时的情况,这时电荷流入Φ2相的势井。当Φ1和Φ2电位再相等时停止流动。 电荷传输机理证明,电荷从一个势井传输到下一个势井需要一定的时间,且电荷传输随时间的变化遵循指数衰减规律,只有由Φ1和Φ2的频率所确定的电荷传输时间大于或等于电荷传输所需要的时间,电荷才能全部传输。但在实际应用中,从工作速率考虑,由频率所确定的电荷传输时间往往小于电荷本身传输所需要的时间。这就是说,电荷的转移效率与驱动频率有关。驱动频率越低,输出信号越强。积分时间为光电转换的时间,显然,积分时间越长,光敏区的MOS电容存储的电荷越多,相应输出信号越强。 光电成像器件实验
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【实验步骤及注意事项】 五、实验步骤 (一)、不同频率与不同光强下测量物体的变化 1、用航空插座连接线,将CCD光路组件连接到线阵CCD模块。(线阵CCD模块上面的短路块J9的2、3用短路帽连接) 2、将CCD光路组件连接到光源特性测试模块,具体方法是:CCD组件红色迭插头连接到光源特性测试模块的J306台阶插座,黑色的迭插头连接光源特性测试模块的J307台阶插座,光源特性测试模块K301拨到“恒流”,k302拨到“电流源”。按下光源特性测试模块电源开关。 3、将中号物片放入CCD组件的物片窗口(注意保持与CCD组件表面的垂直),打开模块的电源开关。将积分时间开关置于0档,驱动频率开关置于2档,用CH1探头测量SH并使之同步,用CH2测量输出信号Uo,调整光源驱动(光源特性测试模块的W302电位器),使UO信号较为圆滑,观测SH与Uo的关系,并画出其波形图。 4、改变CCD像敏元的照度,观察输出信号UO的波形变化。画出当光强变化时输出信号UO波形图。 5、积分时间不变,改变驱动频率完成1,2步骤的实验内容。 6、分析上述实验现象,并说明驱动频率与输出信号的变化关系。为什么当驱动频率过低时UO无输出信号。 (二)、不同积分时间与不同光强下测量物体的变化 1、将中号物片放入CCD组件的物片窗口(注意保持与CCD组件表面的垂直),打开模块的电源开关。将驱动频率开关置于3档,积分时间开关置于0档,用CH1探头测量SH并使之同步,用CH2测量输出信号Uo,观测SH与Uo的关系,并画出其波形图. 2、改变CCD像敏元的照度(通过调节光源特性测试模块的W302电位器,减小LED面光源光强),观察输出信号U0的波形变化。画出当光强变化时输出信号U0波形图。 3、驱动频率不变化,改变积分时间完成1,2步骤的实验内容。 4、分析上述实验现象,并说明积分时间与输出信号的变化关系。 5、关机结束。关闭线阵CCD模块电源,关闭示波器电源。 六、注意事项: 为了确保线阵CCD模块实验的顺利进行,保障人身安全,避免损坏设备,并且达到实验目的,要求实验人员必须严格遵守以下实验规则及注意事项。 在实验之前,实验人员必须阅读本实验指导书中所要求的实验准备内容,并查阅必要的参考资料。明确实验目的,了解实验内容的详细步骤后方能进行实验。 实验进行过程中,必须严格按照指导老师制定的步骤进行实验,不得自行随意进行,否则可能造成模块器不可逆的损坏以及不必要的严重后果。 所有与本模块相关的线缆必须在断电的情况下正确连接好,严禁带电插拔所有电缆线、连接线。 实验要集中精力,认真实验。遇到问题及时找指导老师解决,不得自作主张。 在进行CCD实验过程中,不允许打开CCD结构件,不允许带电插拔CCD器件,否则会造成CCD器件损毁。 不允许用带电的烙铁焊接任何与CCD有电气连接的导线、元器件。 光电成像器件实验
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【实验结果与数据处理】 图1 图2 图3 图4 图5 图6 【实验结论与分析】 实验过程中,由于存在示波器、光源特性测量模块本身存在的硬件问题,导致我们的实验一开始并不是很顺利,但是经过老师的指导以及我们自身的努力最后还是得出了实验结果。本次实验,通过对典型线阵CCD在不同驱动频率和不同积分情况下输出信号的测量,让我进一步掌握了CCD的有关特性,掌握了积分时间的意义,以及从实验过程中观察到了驱动频率与积分时间对CCD输出信号的影响。 光电成像器件实验
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