FLUKE与竞争对手Barracuda RTI重要性能比较表

参数 探测器 KVp 计量X线产品性能比较表

美国NEROTM8000 电离室-国际标准 22-160KVp 1%or0.5KVp 非介入，插板，量程宽，精度高 一个多功能探测器， 一次曝光可测量全部参数 曝光时间 剂量 0.1ms-60s 0.1ms 分辨率、精度高 8.7μGy-9999Gy 5% 1mR-9999R 5% 高量程宽、分辨率0.1mR 电离室探测器能量响应好、剂量准 正常范围: CT剂量范围: 20-70mGy X线机(80KV,1mAs): 30-110μGy 乳腺机、牙科机：几个mGy-几十个mGy X线的剂量率：几个mGy-100mGy/min 低于30μGy的X线机视为不合格，因为输出量太低、照出来的是白片 国外著名的厂商都没有用半导体探测器来检测和计量X线类诊断仪器 半导体探测检测限低、线性窄，适合放疗 但它有致命的缺点:能响不好,寿命短.稳定性差 表现如下： 1、 半导体探测器的有效原子序数（Z=14）要比水的有效值高、对中低能射线（200keV以下）的反应截面大、在大照射野边缘会受到很大的影响、为克服这一缺陷，往往在探测器的底部及侧面增加一层屏蔽材料，起到滤过低能射线的作用，不过这对半导体探测器的性能效应又产生很大变化。 2、 高能辐射轰击硅晶体元素，会使其晶格发生畸变，导致探测器受损，灵敏度下降 3、 半导体探测器的灵敏度特别受到环境温度、照射野大小及电离辐射场中的剂量率大小的影响。 其它仪器Barracuda RTI 半导体-无标准 22-150KVp 2%or1KVp 非介入，转盘，量程、精度差一倍 分开测量，操作繁杂， 检测150KVp时极不稳定 1ms-9999s 1%or0.3ms 分辨率、精度差三倍 0.07μGy-9999mGy 5% 8.2μR-9999mR 5% 半价层 0.1-99.9mmAl 5% 量程宽 0.2-10mmAl 5% 不能检测CT半价层（片太小、不能对准） 10-2000mA 5% 非介入测量 组合式设计，操作繁杂， 需更换不同适配器分段测量 无 10cm, 4.9cc普通 mA 0-1000mA 0-4000mA 1% 可做介入或非介入测量 操作系统 层厚 CT电离室 QC工具 一体化设计，操作简单快捷，一次曝光，能完成全部参数的测量。 主机可输入层厚、自动计算测量结果 10cm, 10cc/3.2cc高灵敏度 全世界所有的X线(CT)QC工具,均产自INOVISION 技术 成熟（一百二十年的生产经验，世界上最大辐射测量仪器制造商、产品2900余种） 所有的国际标准都出自美国，FLUKE RMS的主要技术人员又是ICRP、AAPM、IATA的国际机构的成员，负责制定国际标准。 美国的核制造及核监测技术、计算机技术，奠定了FLUKE RMS公司在辐射测量仪器制造技术方面，走在世界的前沿。 不稳定，软件调整多次，有时检测不出来（可以询问中国的用户） 显示及供电 电脑及软件 售后服务 高亮度液晶显示屏，交直流两用供电 有 完善 普通液晶显示屏、交直流两用供电 有

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