实验一基本门电路的逻辑功能测试

实验一 基本门电路的逻辑功能测试

一、实验目的

1、测试与门、或门、非门、与非门、或非门与异或门的逻辑功能。 2、了解测试的方法与测试的原理。

二、实验原理

实验中用到的基本门电路的符号为：

在要测试芯片的输入端用逻辑电平输出单元输入高低电平，然后使用逻辑电平显示单元显示其逻辑功能。

三、实验设备与器件

1、数字逻辑电路用PROTEUS 2、显示可用发光二极管。

3、相应74LS系列、CC4000系列或74HC系列芯片若干。

四、实验内容

1. 测试TTL门电路的逻辑功能：

a） 测试74LS08的逻辑功能。(与门)000 010 100 111 b） 测试74LS32的逻辑功能。（或门）000 011 101 111 c） 测试74LS04的逻辑功能。（非门）01 10 d） 测试74LS00的逻辑功能。（两个都弄得时候不亮，其他都亮）（与非门）（如果

只接一个的话，就是非门）001 011 101 110 e） 测试74LS02（或非门）的逻辑功能。（两个都不弄得时候亮，其他不亮）001 010

100 110

f） 测试74LS86（异或门）的逻辑功能。

2. 测试CMOS门电路的逻辑功能：在CMOS 4000分类中查询

a） 测试CC4081(74HC08)的逻辑功能。（与门） b） 测试CC4071(74HC32)的逻辑功能。（或门） c） 测试CC4069(74HC04)的逻辑功能。（非门） d） 测试CC4011(74HC00)的逻辑功能。（与非门）（如果只接一个的话，就是非门）

e） 测试CC4001(74HC02)（或非门）的逻辑功能。 f) 测试CC4030(74HC86)（异或门）的逻辑功能。

五、实验报告要求

1. 画好各门电路的真值表表格，将实验结果填写到表中。

2. 根据实验结果，写出各逻辑门的逻辑表达式，并分析如何判断逻辑门的好坏。 3. 比较一下两类门电路输入端接入电阻或空置时的情况。

4．查询各种集成门的管脚分配，并注明各个管脚的作用与功能。

例：74LS00 与门 Y=AB

输入 A 0 0 1 1

B 0 1 0 1 输出 Y 0 0 0 1 11U1:A13274LS08D1LED-RED

74LS32 或门 Y=A B

输入 A 0 1 1 1

B 0 1 1 1 输出 Y 0 1 1 1

74LS04

输出 A 0 0 1 1

74LS02

Y 0 0 0 1

74LS86

任意一个连都亮，两个都连不亮

本文来源：https://www.bwwdw.com/article/0246.html